器以及用于檢測表面結(jié)構(gòu)特征的傳感器(標(biāo)記傳感器、入口 /出口傳感器)。這允許在不同的偏轉(zhuǎn)平面中對表面成像，例如由此在確定的缺陷的過程中或者在感測表面結(jié)構(gòu)特征的過程中可以過濾掉片材的表面上的干擾光反射。特別地，偏振攝像機(jī)被采用，即包括具有多個偏振過濾器的圖像傳感器的攝像機(jī)，并且因此適于同時感測光的多個偏振平面。
[0053]基本上，本發(fā)明的方法可以用于被制造、被使用或處理為片材或帶材的所有類型的材料。然而，前提條件是在片材正在被移動的同時可以由材料感測表面結(jié)構(gòu)特征。片材因此特別優(yōu)選地包括金屬、玻璃、塑料、和/或包含纖維素的基板、尤其紙張或紙板。
[0054]本發(fā)明還通過用于標(biāo)記片材中的材料缺陷的設(shè)備實現(xiàn)了該目的，其中所述設(shè)備包括用于檢測材料缺陷的缺陷傳感器;第一標(biāo)記傳感器，其被設(shè)計成感測材料缺陷的區(qū)域內(nèi)的移動的片材的表面結(jié)構(gòu)特征，并然后將其存儲為第一結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)記錄。
[0055]本發(fā)明的設(shè)備因此允許特別簡單地標(biāo)記片材中的材料缺陷，原因在于該設(shè)備使得片材中的材料缺陷的位置與表面結(jié)構(gòu)特征的位置彼此相關(guān)聯(lián)。因此，在材料缺陷的隨后再次發(fā)現(xiàn)時，無需重復(fù)的材料檢查(這在特定的情況下是不可行的)或者無需已經(jīng)被引入的特性特征的詳細(xì)發(fā)現(xiàn);實際上，借助于表面結(jié)構(gòu)特征的重復(fù)檢測可以特別簡單地確定材料缺陷的位置。
[0056]根據(jù)本發(fā)明的另一實施例，除了權(quán)利要求13的特征以外，該設(shè)備至少還包括:一個第二標(biāo)記傳感器，其被設(shè)計成感測片材的表面結(jié)構(gòu)特征；用于由所感測的表面結(jié)構(gòu)特征產(chǎn)生第二結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)的裝置;用于評價數(shù)據(jù)記錄的裝置，其被設(shè)計成將至少第一和第二結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)記錄對比；以及在結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)記錄一致的情況中啟動處理單元的裝置，所述處理單元處理材料缺陷的區(qū)域內(nèi)的片材。
[0057]第二標(biāo)記傳感器被設(shè)計成對應(yīng)于第一標(biāo)記傳感器，其中，各標(biāo)記傳感器布置成尤其還產(chǎn)生結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)記錄并將其傳輸至內(nèi)存單元。
[0058]附加地或替代地，一個或多個控制單元可以被設(shè)置，所述控制單元例如產(chǎn)生結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)記錄、評價并對比數(shù)據(jù)記錄、和/或啟動處理單元。
[0059]然而，為了特別準(zhǔn)確的識別，測量激光投射到片材的表面上的散射模型。因此，第一和第二標(biāo)記傳感器特別優(yōu)選地是激光傳感器，所述激光傳感器將激光投射到片材的表面上的散射模型感測為表面結(jié)構(gòu)特征。附加的標(biāo)記傳感器和/或入口/出口傳感器可以相應(yīng)地被設(shè)計。
【附圖說明】
[0060]本發(fā)明以下基于實施例更詳細(xì)地被說明。
[0061]圖1以示意性的方式示出了用于片材中的材料缺陷的標(biāo)記、檢測和處理的設(shè)備;并且
[0062]圖2以示意性的方式示出了具有第二處理單元的圖1的設(shè)備。
【具體實施方式】
[0063]圖1示出了片材2，其被引導(dǎo)經(jīng)過用于片材中的材料缺陷的標(biāo)記、檢測和處理的設(shè)備I。片材2是鋼帶。設(shè)備I還包括光學(xué)傳感器3、例如線性掃描攝像機(jī)，其被設(shè)計成用于片材2的表面中的諸如微裂縫的缺陷的檢測。
[0064]沿著帶的運行方向在光學(xué)傳感器3的下游是第一標(biāo)記傳感器4a，所述第一標(biāo)記傳感器是激光散射光測量裝置，被設(shè)計成執(zhí)行所謂的LSA處理。
[0065]設(shè)備I還包括多個偏向輥5，片材2繞著所述偏向輥被引導(dǎo)。為了檢測材料缺陷的位置，第二標(biāo)記傳感器4b被設(shè)置，其同樣被設(shè)計為激光散射光測量裝置。
[0066]沿著片材的運行方向在第二標(biāo)記傳感器4b之后布置的是處理單元6，其被設(shè)計為鋼帶切割裝置。
[0067]標(biāo)記傳感器4a、4b、用于缺陷檢測的光學(xué)傳感器3、以及第一處理單元6經(jīng)由控制單元7彼此相連(由虛線表示)。
[0068]在操作時，來自繞卷(在此未示出)的片材2被傳導(dǎo)經(jīng)過光學(xué)傳感器3。光學(xué)傳感器3感測片材2的表面并對其進(jìn)行評價。只要光學(xué)傳感器檢測到材料缺陷(在此情況下為微裂縫)，則光學(xué)傳感器就向控制單元7發(fā)出信號。
[0069]控制單元7激活第一標(biāo)記傳感器4a，以使得該傳感器在片材2的表面的一個區(qū)段上進(jìn)行散射光測量。在這種情況下，第一標(biāo)記傳感器4a感測片材2的、由光學(xué)傳感器3所感測的微裂縫位于其中的表面區(qū)段，也就是說，由第一標(biāo)記傳感器4a所感測的區(qū)段是在與片材2的運行方向呈橫向的、微裂縫也位于其中的表面中。
[0070]為了隨后允許更好地識別，除了微裂縫所位于的片材區(qū)段以外，標(biāo)記傳感器4a還分別感測具有微裂縫的區(qū)域之前和之后15cm的片材區(qū)段，也就是說，如果具有微裂縫的區(qū)域在帶的運行方向上具有5cm的長度，那么傳感器就感測總共35cm長的片材區(qū)段。
[0071 ]由標(biāo)記傳感器4a所感測的表面結(jié)構(gòu)特征、在這種情況下即由標(biāo)記傳感器投射到片材表面上的激光的散射被轉(zhuǎn)換成結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)記錄、傳送至控制單元7、并存儲在那里。
[0072]進(jìn)一步在操作時，片材2運行經(jīng)過偏向輥5。例如，作為替代地，附加的處理單元或引導(dǎo)裝置也可以布置在該區(qū)域內(nèi)。
[0073]在設(shè)備I的端部處，片材2進(jìn)入第二標(biāo)記傳感器4b的檢測區(qū)域中。該第二標(biāo)記傳感器像第一標(biāo)記傳感器4a那樣感測相同的表面結(jié)構(gòu)特征。該第二標(biāo)記傳感器所感測的表面結(jié)構(gòu)特征被轉(zhuǎn)換成第二結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)記錄并同樣被傳輸至控制單元7?？刂茊卧?將所存儲的第一結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)記錄與第二結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)記錄對比，并且如果確定一致的話，那么激活處理單元6，以使得具有微裂縫的片材區(qū)段從帶被分出。在這種情況中，處理單元6分出35cm的完全感測的區(qū)域。作為替代地，控制單元也能夠被設(shè)計成分開短的片材區(qū)段、例如僅僅微裂縫或者具有短的安全區(qū)段的微裂縫。
[0074]圖2與圖1相對應(yīng)地以示意圖的方式示出了用于片材2中的材料缺陷的標(biāo)記、檢測和處理的設(shè)備I。除了圖1所示的以外，片材2運行經(jīng)過第二處理單元8，該第二處理單元在這種情況中被設(shè)計為電鍍槽(鍍鋅槽)，用于鋼帶的表面電鍍。因為表面電鍍覆蓋了由標(biāo)記傳感器4a所感測的表面結(jié)構(gòu)特征以使得所述表面結(jié)構(gòu)特征無法由第二標(biāo)記傳感器4b再次發(fā)現(xiàn)，所以入口傳感器9設(shè)置在第二處理單元8的入口之前并且出口傳感器10設(shè)置在第二處理單元8的出口處。
[0075]入口傳感器9和出口傳感器10與標(biāo)記傳感器4a、4b相同地被設(shè)計，它們同樣執(zhí)行LSA過程。由入口傳感器9和出口傳感器10所感測的表面結(jié)構(gòu)特征同樣作為輸入/輸出數(shù)據(jù)記錄被傳輸至控制單元7。控制單元7轉(zhuǎn)而將由入口傳感器9所感測的數(shù)據(jù)與第一結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)對比。只有這兩個數(shù)據(jù)記錄存在一致性，則控制單元7就由對其已知的片材速度以及由入口傳感器9與出口傳感器10之間的距離確定帶有材料缺陷的片材區(qū)段進(jìn)入出口傳感器10的檢測范圍的時間。
[0076]利用材料缺陷進(jìn)入到出口傳感器10的檢測范圍的時間，該傳感器確定片材2的在材料缺陷所在區(qū)域內(nèi)的現(xiàn)在被電鍍的表面的表面結(jié)構(gòu)特征、將其轉(zhuǎn)換成輸出數(shù)據(jù)記錄、并將其傳送至控制單元7，在那里存儲。
[0077]為了通過第二標(biāo)記傳感器4b識別材料缺陷，控制單元7現(xiàn)在將自第二標(biāo)記傳感器4b傳送的結(jié)構(gòu)