【技術(shù)領(lǐng)域】
本發(fā)明專利涉及防潮技術(shù)領(lǐng)域，更具體地，涉及一種電子元器件防潮箱。
背景技術(shù)：
絕大部分電子產(chǎn)品都要求在干燥條件下作業(yè)和存放。據(jù)統(tǒng)計，全球每年有四分之一以上的工業(yè)制造不良品與潮濕的危害有關(guān)。對于電子工業(yè)，潮濕的危害已經(jīng)成為產(chǎn)品質(zhì)量控制的主要因素之一?，F(xiàn)有的防潮箱通風不好，箱內(nèi)的濕度控制不當，溫度也無法調(diào)節(jié)，使電子元器件不利于防潮，影響了電子元器件的作業(yè)和存放，使電子元器件報廢率提高，不能保障安全，給生產(chǎn)帶來了諸多不便，提高了生產(chǎn)成本。
【發(fā)明專利內(nèi)容】
有鑒于此，本發(fā)明專利的主要目的在于提供一種電子元器件防潮箱，能夠解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的通風不好、防潮效果不好的問題。
為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明專利采取的技術(shù)方案為：本發(fā)明專利提供了一種電子元器件防潮箱，包括：箱體和滑輪，還包括：第一隔板、第二隔板、第一通氣孔、第二通氣孔、第三通氣孔、溫度傳感器、控制面板、第一排潮裝置和第二排潮裝置，所述第 一隔板和第二隔板上分別均勻地設置有復數(shù)個通孔，不同的電子元器件分別放置在所述第一隔板和所述第二隔板上，所述控制面板控制加熱器的開啟與關(guān)閉。
優(yōu)選地，還包括通風裝置和通風口，所述控制面板還用于控制所述通風裝置的開啟與關(guān)閉。
優(yōu)選地，所述控制面板上設置有濕度調(diào)節(jié)按鈕、溫濕度顯示面板和溫度調(diào)節(jié)按鈕。
優(yōu)選地，所述第一排潮裝置和所述第二排潮裝置上分別設置有控制閥。
與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明專利具有如下有益效果：本發(fā)明專利的一種電子元器件防潮箱結(jié)構(gòu)合理，由于設置了第一隔板和第二隔板，可以同時放置兩種電子元器件，隔板與隔板之間是相通的，三個通氣孔的設置加快了箱體內(nèi)的空氣流動，排潮裝置以及通風裝置的設置使箱體內(nèi)的濕度恒定，有利于電子元器件的防潮，便于作業(yè)和存放，防潮效果好，方便了作業(yè)人員的使用，保證了安全，降低了生產(chǎn)成本。
【附圖說明】
圖1示出了根據(jù)本發(fā)明專利實施例的一種電子元器件防潮箱的結(jié)構(gòu)示意圖；
結(jié)合附圖在圖上標記以下附圖標記：
1-箱體，2-滑輪，3-第一隔板，4-第二隔板，5-第一通氣孔，6-第二通氣孔，7-第三通氣孔，8-溫度傳感器，9-控制面板，10- 濕度調(diào)節(jié)按鈕，11-溫濕度顯示面板，12-加熱器，13-通孔，14-第一排潮裝置，15-第二排潮裝置，16-通風裝置，17-通風口，18-溫度調(diào)節(jié)按鈕，19-控制閥。
【具體實施方式】
下面將參考附圖并結(jié)合實施例，來詳細說明本發(fā)明專利。
圖1示出了根據(jù)本發(fā)明專利實施例的一種電子元器件防潮箱的結(jié)構(gòu)示意圖；
如圖1所示，一種電子元器件防潮箱，包括：箱體1和滑輪2，還包括：第一隔板3、第二隔板4、第一通氣孔5、第二通氣孔6、第三通氣孔7、溫度傳感器8、控制面板9、第一排潮裝置14和第二排潮裝置15，所述第一隔板3和第二隔板4上分別均勻地設置有復數(shù)個通孔13，不同的電子元器件分別放置在所述第一隔板3和所述第二隔板4上，所述控制面板9控制加熱器12的開啟與關(guān)閉。
其中，還包括通風裝置16和通風口17，所述控制面板9還用于控制所述通風裝置16的開啟與關(guān)閉。
其中，所述控制面板9上設置有濕度調(diào)節(jié)按鈕10、溫濕度顯示面板11和溫度調(diào)節(jié)按鈕18。
其中，所述第一排潮裝置14和所述第二排潮裝置15上分別設置有控制閥19。
本發(fā)明專利的上述實施例的一種電子元器件防潮箱結(jié)構(gòu)合理，由于設置了第一隔板和第二隔板，可以同時放置兩種電子元 器件，隔板與隔板之間是相通的，三個通氣孔的設置加快了箱體內(nèi)的空氣流動，排潮裝置以及通風裝置的設置使箱體內(nèi)的濕度恒定，有利于電子元器件的防潮，便于作業(yè)和存放，防潮效果好，方便了作業(yè)人員的使用，保證了安全，降低了生產(chǎn)成本。
以上所述僅為本發(fā)明專利的優(yōu)選實施例而已，并不用于限制本發(fā)明專利，對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，本發(fā)明專利可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明專利的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進等，均包含在本發(fā)明專利的保護范圍之內(nèi)。