專利名稱：手機(jī)結(jié)構(gòu)件中非導(dǎo)電真空電鍍件的導(dǎo)電性檢測方法及設(shè)備的制作方法
手機(jī)結(jié)構(gòu)件中非導(dǎo)電真空電鍍件的導(dǎo)電性檢測方法及設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域本專利屬于檢測技術(shù)領(lǐng)域，更具體地說是涉及到手機(jī)結(jié)構(gòu)件中的非導(dǎo)電真空電鍍件 的檢測方法以及相應(yīng)的檢測設(shè)備。
背景技術(shù)：
出于美觀設(shè)計的考慮，在現(xiàn)在的手機(jī)設(shè)計中，電鍍裝飾件的應(yīng)用越來越普遍。而電 鍍裝飾件在美化手機(jī)的同時，也對手機(jī)的性能帶來一定的影響，主要體現(xiàn)在對手機(jī)無線 性能和抗靜電(ESD)性能的影響。為了解決這一問題，非導(dǎo)電真空電鍍技術(shù)(NCVM) 應(yīng)運而生。非導(dǎo)電真空電鍍技術(shù)是運用真空、化學(xué)、物理等特定條件的有機(jī)轉(zhuǎn)換，使金屬轉(zhuǎn)換 成粒子，沉積或吸附在塑料材料的表面，形成金屬膜，使塑料件具有了金屬件的質(zhì)感。 非導(dǎo)電真空電鍍與普通電鍍的區(qū)別是普通電鍍的電鍍區(qū)域是導(dǎo)電的，而非導(dǎo)電真空電 鍍的電鍍區(qū)域是不導(dǎo)電的，而且可以通過高壓電表2萬伏特的高壓測試，而不導(dǎo)通或是擊穿。這樣就可以有效解決手機(jī)中電鍍結(jié)構(gòu)件對手機(jī)無線性能和抗靜電(ESD)性能的 影響。但是，非導(dǎo)電真空電鍍的加工工藝緣于普通真空電鍍，卻又高于普通電鍍，其加工 過程比普通電鍍過程要復(fù)雜得多，所以它的產(chǎn)品合格率相對要低一些，容易出現(xiàn)部分電 鍍部品的鍍層參數(shù)超標(biāo)，導(dǎo)致手機(jī)產(chǎn)品的無線性能指標(biāo)下降嚴(yán)重。而對于非導(dǎo)電真空電 鍍件的檢測通常需要采用專門的測試儀器，如皓石三維掃描儀等，而且檢測方法很復(fù)雜， 生產(chǎn)效率較低，不能滿足目前的測試需求。因此如何對非導(dǎo)電真空電鍍件的導(dǎo)電性進(jìn)行 簡易可靠的測試，是目前需要解決的技術(shù)問題。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明專利的目的，就是提供一種簡易可靠的對手機(jī)中非導(dǎo)電真空電鍍件的檢測方法 以及檢測設(shè)備。這種檢測方法以及檢測設(shè)備能夠通過檢測非導(dǎo)電真空電鍍件對天線本身原 有諧振頻率降低的幅度范圍，判定非導(dǎo)電真空電鍍件的電鍍膜的介電常數(shù)是否合格。從而簡單有效的區(qū)分手機(jī)結(jié)構(gòu)件中非導(dǎo)電真空電鍍件的電鍍質(zhì)量。為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明所采用的技術(shù)方案如下 手機(jī)中非導(dǎo)電真空電鍍件的導(dǎo)電性檢測方法，包括以下步驟 手機(jī)天線和主電路板裝配，測量天線的基準(zhǔn)諧振頻率&ef;進(jìn)一步裝配上包括有非導(dǎo)電真空電鍍件的手機(jī)機(jī)殼，測量此時的天線諧振頻率f;判定fw和f之間的差值，如果差值在設(shè)定范圍之內(nèi)則電鍍件合格，如果差值大于設(shè) 定范圍則電鍍件不合格。在本發(fā)明所提出的檢測方法技術(shù)方案中，還具有以下技術(shù)特征所述測量天線的諧振 頻率步驟是使用網(wǎng)絡(luò)分析儀連接天線，并檢測天線的電壓駐波比得到天線的諧振頻率。天 線依次通過射頻探測頭和射頻同軸線連接到網(wǎng)絡(luò)分析儀。在本發(fā)明所提出的檢測方法技術(shù)方案中，還具有以下技術(shù)特征如果天線存在多個諧 振頻率，所述的天線基準(zhǔn)諧振頻率fW是指天線最高頻的諧振頻率，fref和f之間的差值設(shè)定在0-70MHz。本發(fā)明還提供了一種手機(jī)中非導(dǎo)電真空電鍍件的導(dǎo)電性檢測設(shè)備，包括固定手機(jī)天線 和主電路板的檢測工裝座，以及固定手機(jī)機(jī)殼的檢測夾具，所述的檢測夾具位于檢測工裝 座的上方，還包括連接手機(jī)天線的網(wǎng)絡(luò)分析儀。在本發(fā)明所提出的檢測設(shè)備技術(shù)方案中，還具有以下技術(shù)特征所述的檢測夾具上包 括可改變檢測夾具高度的調(diào)節(jié)裝置。所述的檢測夾具通過螺釘固定在所述檢測工裝座的上 方。本發(fā)明所具有的優(yōu)點以及有益效果如下對手機(jī)上非導(dǎo)電真空電鍍件的檢測方法和 檢測設(shè)備采用了常規(guī)的測試儀器，而不需要特殊的檢測儀器，因此可以大大降低檢測成 本；并且該檢測方法以及檢測設(shè)備操作方便、簡單易行，可以有效的提高生產(chǎn)效率。


圖1是采用非導(dǎo)電真空電鍍件的手機(jī)示意圖； 圖2是本發(fā)明的檢測方法流程圖； 圖3是本發(fā)明的檢測裝置示意圖。
具體實施方式
下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明做進(jìn) 一 步詳細(xì)的描述。正如大家所知，塑料件的介電常數(shù)(e )很小，因此對手機(jī)天線的無線性能影響也很??；而手機(jī)結(jié)構(gòu)件上采用非導(dǎo)電真空電鍍工藝制作電鍍件的目的就是確保電鍍膜的介電 常數(shù)盡可能小，以減小對手機(jī)天線的無線性能產(chǎn)生不利影響。而在非導(dǎo)電真空電鍍件的 實際加工過程中，由于電鍍膜厚度、材料成分的控制工藝問題，導(dǎo)致電鍍膜的介電常數(shù) 變大。從而對手機(jī)的無線性能產(chǎn)生了較大影響。因此，需要對手機(jī)結(jié)構(gòu)件上的非導(dǎo)電真 空電鍍件的導(dǎo)電性進(jìn)行檢測，對介電常數(shù)超過一定數(shù)值的電鍍件進(jìn)行淘汰，不能應(yīng)用在 手機(jī)上。從天線電磁場的原理來看，天線的諧振頻率與天線周圍介質(zhì)的介電常數(shù)成反比，由 于不良電鍍件鍍膜的介電常數(shù)較大，導(dǎo)致天線周圍介質(zhì)的總體介電常數(shù)相對值變大，從 而會導(dǎo)致天線的諧振頻率變小，這正是介電常數(shù)直接對手機(jī)的無線性能產(chǎn)生影響。如圖1所示，在手機(jī)機(jī)殼外型的設(shè)計中，出于美觀設(shè)計的考慮往往會采用有電鍍件 進(jìn)行外觀裝飾的設(shè)計方案。其中，手機(jī)的主電路板4和天線3固定于機(jī)殼2中，天線3 采用了內(nèi)置天線，而電鍍件1固定在機(jī)殼2上。由于電鍍件l與天線3在空間上非常接 近，因此電鍍件1的電鍍膜介電常數(shù)會對天線3產(chǎn)生直接影響，如果電鍍件l的電鍍膜 介電常數(shù)大于一個設(shè)定值，會影響手機(jī)的無線性能。如圖2所示，本發(fā)明的測試方法流程圖如下步驟201:測量天線的基準(zhǔn)諧振頻率；先把手機(jī)天線和主電路板裝配起來，測量天線的基準(zhǔn)諧振頻率&ef。 步驟202:如果手機(jī)天線有多個諧振頻率，選擇最高的那個諧振頻率作為基準(zhǔn)諧振 頻率fW。因為電鍍件的尺寸一般比較小，對天線高頻的影響要比對低頻的影響大，因此，選 擇天線最高頻所諧振頻率作為基準(zhǔn)諧振頻率fref。步驟203:進(jìn)一步裝配上包括有非導(dǎo)電真空電鍍件的手機(jī)機(jī)殼，測量此時的天線諧 振頻率f。步驟204:判定fW與f之間的差值是否在設(shè)定范圍之內(nèi)。由于手機(jī)機(jī)殼上包括有非導(dǎo)電真空電鍍件，增加了手機(jī)天線周圍的介電常數(shù)，手機(jī)天線的諧振頻率f受到了影響，比起手機(jī)天線的基準(zhǔn)諧振頻率fref會有所降低。根據(jù)不 同的手機(jī)天線性能，在fref與f之間的差值設(shè)定一個范圍，比如設(shè)定為O-IOOMHZ，也可以在樣本測試中選擇一個合適的設(shè)定范圍。步驟205:如果差值在設(shè)定范圍之內(nèi)，則電鍍件合格。 步驟206:如果差值不在設(shè)定范圍之內(nèi)，則電鍍件不合格。5如圖3所示，是手機(jī)中非導(dǎo)電真空電鍍件的導(dǎo)電性測試裝置的示意圖，手機(jī)天線3和 主電路板4固定于檢測工裝座5之內(nèi)，其中天線3用于產(chǎn)生基準(zhǔn)諧振頻率(fref)，天線3 和主電路板4通過射頻探測頭8和射頻同軸線9連接到網(wǎng)絡(luò)分析儀10，網(wǎng)絡(luò)分析儀10用 于測量天線3的電壓駐波比(VSWR)，從而得到手機(jī)天線3的諧振頻率變化情況。把待檢測的電鍍件1裝配在手機(jī)機(jī)殼2上，并把手機(jī)機(jī)殼2固定于檢測夾具6內(nèi)，檢 測夾具6包括可改變檢測夾具高度的調(diào)節(jié)裝置。在測試過程中，調(diào)整檢測夾具6的高度， 保證待檢測的電鍍件1與手機(jī)天線3保持合適的空間距離。檢測夾具6通過螺釘7與檢測 工裝座5進(jìn)行固定，并且檢測夾具6通過螺釘7固定在檢測工裝座5的上方位置。利用此檢測裝置就可以對手機(jī)結(jié)構(gòu)件中的非導(dǎo)電真空電鍍件的合格性進(jìn)行檢測，為 了具體描述本發(fā)明的檢測方法和檢測裝置，在此對實際檢測中的一個實施例進(jìn)行說明。當(dāng)只有手機(jī)天線和手機(jī)主電路板放置在檢測工裝座，從網(wǎng)絡(luò)分析儀中得到天線的電 壓駐波比VSWR的數(shù)據(jù)，從而得到該手機(jī)天線有兩個諧振頻率，分別為544.16MHz和 1537.28MHz。兩個諧振頻率均可以作為參考頻率，但考慮到手機(jī)上的電鍍裝飾件的尺寸 不太大，對高頻的影響要比對低頻的影響大，因此，選擇手機(jī)天線中高的諧振頻率 1537.25MHz作為基準(zhǔn)的諧振頻率fref。然后把非導(dǎo)電真空電鍍件裝配到手機(jī)機(jī)殼上，手機(jī)機(jī)殼再固定到檢測夾具，檢測夾 具通過螺釘固定在檢測工裝座的上方位置。從網(wǎng)絡(luò)分析儀中可以得到此時的手機(jī)天線諧振頻率f的數(shù)據(jù)。諧振頻率f比較天線 的基準(zhǔn)諧振頻率有所降低，降低的幅度有大有小。諧振頻率f 一般降低20-30MHz，約 為1510MHz;有時諧振頻率f有比較大幅度的降低，達(dá)到1310MHz。從諧振頻率f數(shù)據(jù)中可以看出，非導(dǎo)電真空電鍍件合格品和不合格品對天線諧振頻 率影響的區(qū)別是比較明顯的，從而可以根據(jù)小批量檢測的統(tǒng)計設(shè)定出一個檢測的判定 值。例如可以將判定值為1460MHz，當(dāng)諧振頻率f大于1460MHz時，認(rèn)定待測電鍍件 為合格品；當(dāng)諧振頻率f小于1460MHz時，認(rèn)定待測電鍍件為不合格品。也口j.以設(shè)定一個諧振頻率f比較基準(zhǔn)諧振頻率fW允許的降低幅度，例如可以允許的 降低幅度是70MHz，當(dāng)諧振頻率f比較基準(zhǔn)諧振頻率fref降低幅度在70MHz之內(nèi)，就判定電鍍件為合格品，當(dāng)諧振頻率f比較基準(zhǔn)諧振頻率fref降低的幅度超過了 70MHz， 就判定電鍍件為不合格品。只需要將待測的手機(jī)機(jī)殼逐一放入檢測夾具中進(jìn)行檢測天線 的諧振頻率變化，就可以實現(xiàn)對手機(jī)機(jī)殼上電鍍件質(zhì)量是否合格的檢測。通過本發(fā)明所描述的檢測方法和檢測裝置就可以有效可靠的檢測手機(jī)結(jié)構(gòu)件中的非導(dǎo)電真空電鍍件的合格性，而且，本檢測方法既能夠大大降低檢測成本，又能夠有效 提高檢測效率。雖然通過實施例描述了本發(fā)明，但本領(lǐng)域普通技術(shù)人員知道，本發(fā)明在不同的具體 應(yīng)用時有許多變形和變化而不脫離本發(fā)明的精神，任何基于本發(fā)明本質(zhì)所作出的技術(shù)方 案的變形都屬于該發(fā)明的權(quán)利要求范圍。
權(quán)利要求
1.手機(jī)中非導(dǎo)電真空電鍍件的導(dǎo)電性檢測方法，其特征在于包括以下步驟手機(jī)天線和主電路板裝配，測量天線的基準(zhǔn)諧振頻率fref；進(jìn)一步裝配上包括有非導(dǎo)電真空電鍍件的手機(jī)機(jī)殼，測量此時的天線諧振頻率f；判定fref與f之間的差值，如果差值在設(shè)定范圍之內(nèi)則電鍍件合格，如果差值大于設(shè)定范圍則電鍍件不合格。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的手機(jī)中非導(dǎo)電真空電鍍件的導(dǎo)電性檢測方法，其特征在于 所述測量天線的諧振頻率步驟是使用網(wǎng)絡(luò)分析儀連接天線，并檢測天線的電壓駐波比得到 天線的諧振頻率。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的手機(jī)中非導(dǎo)電真空電鍍件的導(dǎo)電性檢測方法，其特征在于 天線依次通過射頻探測頭和射頻同軸線連接到網(wǎng)絡(luò)分析儀。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的手機(jī)中非導(dǎo)電真空電鍍件的導(dǎo)電性檢測方法，其特征在于 如果天線存在多個諧振頻率，所述的天線基準(zhǔn)諧振頻率fW是指天線最高頻的諧振頻率。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1或者4所述的手機(jī)中非導(dǎo)電真空電鍍件的導(dǎo)電性檢測方法，其特 征在于fW與f之間的差值設(shè)定范圍是0-70MHz。
6. 手機(jī)中非導(dǎo)電真空電鍍件的導(dǎo)電性檢測設(shè)備，其特征在于包括固定手機(jī)天線和主 電路板的檢測工裝座和固定手機(jī)機(jī)殼的檢測夾具，還包括連接手機(jī)天線的網(wǎng)絡(luò)分析儀，所 述的手機(jī)機(jī)殼上帶有非導(dǎo)電真空電鍍件，所述的檢測夾具位于檢測工裝座的上方。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的手機(jī)中非導(dǎo)電真空電鍍件的導(dǎo)電性檢測設(shè)備，其特征在于 所述的檢測夾具上包括可改變檢測夾具高度的調(diào)節(jié)裝置。
8. 根據(jù)權(quán)利要求6或者7所述的手機(jī)中非導(dǎo)電真空電鍍件的導(dǎo)電性檢測設(shè)備，其 特征在于所述的檢測夾具通過螺釘固定在所述檢測工裝座的上方。
9. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的手機(jī)中非導(dǎo)電真空電鍍件的導(dǎo)電性檢測設(shè)備，其特征在 于所述的手機(jī)天線依次通過射頻探測頭和射頻同軸線連接到網(wǎng)絡(luò)分析儀。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種手機(jī)中非導(dǎo)電真空電鍍件的導(dǎo)電性檢測方法及檢測設(shè)備，手機(jī)天線和主電路板裝配，測量天線的基準(zhǔn)諧振頻率f_ref；進(jìn)一步裝配上包括有非導(dǎo)電真空電鍍件的手機(jī)機(jī)殼，測量此時的天線諧振頻率f；判定f_ref與f之間的差值，如果差值在設(shè)定范圍之內(nèi)則電鍍件合格，如果差值大于設(shè)定范圍則電鍍件不合格，利用介質(zhì)介電常數(shù)對天線諧振頻率產(chǎn)生影響，通過測量天線諧振頻率的變化情況來判斷電鍍件的電鍍質(zhì)量，能夠大大降低檢測成本，又能夠有效提高檢測效率。
文檔編號C23C14/00GK101257531SQ20081001503
公開日2008年9月3日 申請日期2008年3月30日 優(yōu)先權(quán)日2008年3月30日
發(fā)明者宋成杰 申請人:青島海信移動通信技術(shù)股份有限公司