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檢驗(yàn)電路的接頭和觸點(diǎn)的方法

文檔序號(hào):3003767閱讀:228來源:國知局
專利名稱:檢驗(yàn)電路的接頭和觸點(diǎn)的方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種在生產(chǎn)過程中以及在生產(chǎn)過程的最后,用于檢驗(yàn)(qualify)電路的接頭和觸點(diǎn)的方法。本方面還涉及用于定位電路中的接觸較弱或者接觸不良的接頭或觸點(diǎn)的方法。
背景技術(shù)
點(diǎn)焊的方法是眾所周知的,在點(diǎn)焊中,測(cè)量電極和工件之間的熱電勢(shì)是檢驗(yàn)點(diǎn)焊是否合格的基礎(chǔ)。
美國專利5 399 827公開了一種用于確定點(diǎn)焊接頭的溫度的方法和裝置,以及一種用于評(píng)估點(diǎn)焊接頭質(zhì)量的方法。在焊接操作完成之后,焊接電流被斷開,并且由不同的金屬組成的焊接電極和工件擔(dān)當(dāng)熱電偶。溫度時(shí)間曲線通過測(cè)量的熱電勢(shì)決定。由溫度時(shí)間曲線走向評(píng)估點(diǎn)焊的質(zhì)量。
美國專利5 721 415公開了一種在點(diǎn)焊之后,基于評(píng)估時(shí)間間隔中溫度的變化,確定評(píng)估點(diǎn)焊質(zhì)量的評(píng)估時(shí)間間隔的方法和裝置。好質(zhì)量的點(diǎn)焊溫度走向是,在一些區(qū)域大致是線性的,并且在中間范圍內(nèi),具有輕微的向上凸起,該凸起可以歸因?yàn)橛牲c(diǎn)焊處凝固熱量所產(chǎn)生的溫度下降延遲。
在上述專利中描述的方法都使用了由接合操作也就是點(diǎn)焊所產(chǎn)生的熱量,它產(chǎn)生了熱電勢(shì)。這個(gè)電勢(shì)在工件和焊接電極之間產(chǎn)生。
特別需要一種方法來在制造工藝之后檢驗(yàn)電路的若干接頭和觸點(diǎn)是否合格,并且檢測(cè)接頭的故障,以及檢測(cè)開關(guān)或連接器的故障,其中該制造不產(chǎn)生明顯的熱量,例如卷邊和螺栓連接就不產(chǎn)生明顯的熱量。該合格檢驗(yàn)必須快并且可靠。進(jìn)而,需要一種方法來定位有缺陷的電路中的弱的或者不良接觸的接頭或觸點(diǎn)。

發(fā)明內(nèi)容
在本發(fā)明的一個(gè)示例性實(shí)施例中,提供一種用于檢驗(yàn)具有至少一個(gè)電接頭或者觸點(diǎn)的電路是否合格的方法。提供一個(gè)熱電勢(shì)和無故障電路的時(shí)間的參考函數(shù)。然后,被檢驗(yàn)的電路被至少一個(gè)測(cè)量電脈沖加熱。下一個(gè)步驟是獲取電路的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的數(shù)據(jù)。隨后的步驟是比較所獲取的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的數(shù)據(jù)和參考函數(shù),并且基于獲取的數(shù)據(jù)和參考函數(shù)之間的差檢驗(yàn)電路是否合格。
在本發(fā)明另一個(gè)方面的一個(gè)示例性實(shí)施例中,提供一種用于定位電路的接觸弱或者接觸不良的接頭或者觸點(diǎn)的方法。提供電路的接觸弱或者接觸不良的接頭或者觸點(diǎn)的不同的可能位置處的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的參考函數(shù)。此后,電路被至少一個(gè)測(cè)量電脈沖加熱,隨后獲得電路的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的數(shù)據(jù)。然后,所獲得的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的數(shù)據(jù)與參考函數(shù)相比較。電路的接觸弱或者接觸不良的接頭或者觸點(diǎn)根據(jù)獲得的數(shù)據(jù)和參考函數(shù)之間的相似性被定位。
使用這些方法相比于現(xiàn)有技術(shù)具有若干優(yōu)勢(shì)。在生產(chǎn)過程之后也可以完成檢驗(yàn)具有若干接頭和觸點(diǎn)的電路是否合格的過程。也可以檢驗(yàn)機(jī)械接頭和例如連接器或開關(guān)的觸點(diǎn)是否合格,其中機(jī)械接頭的生產(chǎn)過程沒有大量的熱量產(chǎn)生,例如卷邊、擠壓和螺栓連接。電路或者機(jī)器中潛在的電觸點(diǎn)缺陷也可以被檢測(cè),并且它可以被定位。


本發(fā)明現(xiàn)在將參考所包含的附圖進(jìn)行描述,其中圖1示出了測(cè)量裝置和具有將被檢驗(yàn)的接頭的電路之間的連接,圖2示出了在黃銅線和含鋅底板之間具有不良觸點(diǎn)的電路的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的圖,圖3示出了在生產(chǎn)過程中白熾燈電路和測(cè)量裝置之間的連接,圖4示出了無故障的白熾燈電路的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的圖,圖5示出了有缺陷的白熾燈電路的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的圖,圖6示出了在生產(chǎn)過程中最后測(cè)試期間測(cè)量裝置和白熾燈之間的連接,圖7示出了用于檢驗(yàn)電路的接頭和觸點(diǎn)是否合格的方法的方框圖,圖8示出了具有H7白熾燈的自動(dòng)反射器的無故障電路的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的圖,圖9示出了具有有缺陷的H7白熾燈的自動(dòng)反射器的電路的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的圖,圖10是用于定位電路的接觸弱或者接觸不良的接頭或者觸點(diǎn)的方法的方框圖,圖11示出了H7白熾燈的電路的結(jié)構(gòu),圖12示出了無故障H7白熾燈的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的圖,圖13-17示出了具有不同缺陷接頭的H7白熾燈的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的圖。
具體實(shí)施例方式
現(xiàn)在參考圖1,示出了測(cè)量裝置10和將被檢驗(yàn)是否合格的電路2的連接。電路2包括接頭5和觸點(diǎn)6,并且通過測(cè)量導(dǎo)線3被連接到測(cè)量裝置的連接軌4。電路2和測(cè)量導(dǎo)線3一起形成測(cè)試電路1。至于接頭,可以理解為,電接頭由焊接、錫焊或者例如卷邊或壓制的機(jī)械化成形制成,而例如連接器或者開關(guān)的可拆分的電接頭被稱為觸點(diǎn)。測(cè)量裝置10包括用于產(chǎn)生電測(cè)量脈沖的脈沖發(fā)生器、用于將電路2連接到測(cè)量裝置的連接裝置(本實(shí)施例中為測(cè)量導(dǎo)線3)、用于獲取熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)獲取板、用于提供無故障電路的參考函數(shù)的參考函數(shù)單元、用于比較所獲取的電路2的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間數(shù)據(jù)與提供的參考函數(shù)的比較單元、用于基于獲取的數(shù)據(jù)和參考函數(shù)之間的差檢驗(yàn)電路2是否合格的檢驗(yàn)單元。由于連接裝置的觸點(diǎn)是測(cè)試電路1的部件,因此接觸裝置的故障,也就是該實(shí)施例中的測(cè)量導(dǎo)線3的故障,也會(huì)導(dǎo)致對(duì)于電路2的檢驗(yàn)不當(dāng)。為了避免在獲取數(shù)據(jù)期間的電干擾,測(cè)試電路1可以通過開關(guān)8與脈沖發(fā)生器斷開連接。
將被檢驗(yàn)的電路2由不同的金屬部件制成。連接在電路中的不同的金屬部件產(chǎn)生了熱電偶。在本發(fā)明中,如果兩個(gè)金屬部件產(chǎn)生能夠被測(cè)量為可再生的的熱電勢(shì),也就是說,在時(shí)間上基本相同振幅和形狀的熱電勢(shì)被重復(fù)獲得,那么它們就被認(rèn)為是不同的部件。當(dāng)通過短測(cè)量電流脈沖加熱測(cè)試電路1時(shí),接觸弱或者接觸不良的接頭或者觸點(diǎn)的區(qū)域被加熱,并且在接觸弱或者接觸不良的接頭或者觸點(diǎn)處的熱電偶產(chǎn)生熱電勢(shì)。在本文中,接觸弱或者接觸不良的接頭或者觸點(diǎn)的區(qū)域是位于觸點(diǎn)阻抗增加的環(huán)境下的少量的材料。
加熱過后,接觸弱或者接觸不良的接頭或者觸點(diǎn)被冷卻下來。熱電偶電勢(shì)瞬態(tài),也就是熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間被測(cè)量,并且測(cè)量的數(shù)據(jù)被存儲(chǔ)。根據(jù)接觸弱或者接觸不良的接頭或者觸點(diǎn)的位置和類型,熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的數(shù)據(jù)是不同的。參考熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的數(shù)據(jù)從無故障電路記錄,或者,通過對(duì)由測(cè)量電脈沖進(jìn)行加熱和它之后的冷卻期間無故障電路的特性建模來提供參考函數(shù)。對(duì)參考函數(shù)建模的結(jié)果是,獲得一個(gè)數(shù)據(jù)集或者一個(gè)數(shù)學(xué)表達(dá)式或者至少一個(gè)數(shù)值。所獲得的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的數(shù)據(jù)與參考函數(shù)相比較,并且如果在參考函數(shù)和測(cè)量的熱電勢(shì)之間存在預(yù)定差,那么電路被檢驗(yàn)為有缺陷電路。
在電路中的接頭和觸點(diǎn)的數(shù)量決定電路的熱電偶數(shù)量。在電路中有越多焊接或者接觸的不同的金屬材料,就會(huì)產(chǎn)生越多的熱電偶。當(dāng)施加一個(gè)或多個(gè)短測(cè)量電脈沖給電路時(shí),由短電流脈沖所激發(fā)的接觸弱或者接觸不良的接頭或者觸點(diǎn)的區(qū)域被加熱,并且在接觸弱或者接觸不良的接頭或者觸點(diǎn)處的熱電偶引起熱電勢(shì)。熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間圖的形狀是不同的,這取決于接觸弱或者接觸不良的接頭或者觸點(diǎn)的位置。熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的參考數(shù)據(jù)集被分配到接觸弱或者接觸不良的接頭或者觸點(diǎn)的不同的可能位置。所獲得的有缺陷電路的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間數(shù)據(jù)的形狀,與被分配到不同位置的接觸弱或者接觸不良的接頭或者觸點(diǎn)的參考數(shù)據(jù)集的形狀比較。接觸弱或者接觸不良的接頭或者觸點(diǎn)的位置,根據(jù)獲得的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間數(shù)據(jù)的形狀與參考數(shù)據(jù)集之一的形狀的相似性來確定。
圖2示出了在黃銅線和含鋅底板之間具有不良觸點(diǎn)的電路的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的圖。在圖中可以看出兩個(gè)測(cè)量脈沖。在第一較短測(cè)量脈沖的下降沿之后,熱電勢(shì)示出了一些變化并且具有與初始的電壓值幾乎相同的值。在由第二測(cè)量脈沖加熱電路之后,黃銅線和含鋅底板之間的不良接觸點(diǎn)的區(qū)域被加熱,然后被冷卻。在第二測(cè)量脈沖的下降沿之后,熱電勢(shì)示出了負(fù)峰值以及黃銅線和含鋅底板的不良接觸區(qū)域的冷卻曲線。
現(xiàn)在,將通過白熾燈電路的例子來解釋本發(fā)明。除了白熾燈的普通工業(yè)和家庭應(yīng)用的要求之外,自動(dòng)化工業(yè)對(duì)于安裝的白熾燈質(zhì)量有著特殊的要求。在汽車的批量生產(chǎn)過程中,有缺陷的白熾燈會(huì)產(chǎn)生額外的成本,而不良接觸、閃光或者縮短壽命的燈在汽車的操作中會(huì)造成安全方面的風(fēng)險(xiǎn)。
已經(jīng)采取了一些努力來改進(jìn)白熾燈的質(zhì)量。在制造過程中展開一些校驗(yàn)點(diǎn),并且在生產(chǎn)過程結(jié)束時(shí)連續(xù)進(jìn)行燈的無故障操作的檢查。
盡管已經(jīng)作出了一些努力,但是實(shí)現(xiàn)不良接觸或者閃光的燈的檢測(cè)仍然存在問題。目前公知的方法使用冷卻或者加熱的電阻抗作為檢驗(yàn)白熾燈電路是否合格的臨界參數(shù)。
現(xiàn)在參考圖3,白熾燈電路和測(cè)量裝置的連接示出在白熾燈生產(chǎn)過程中。這個(gè)圖與圖1類似,差別在于,白熾燈電路代替了電路2。在電極31和燈絲32之間創(chuàng)建接頭之后,對(duì)白熾燈電路中的接頭進(jìn)行檢驗(yàn)。接合到引入線33的電極31固定到支架34中。引入線33通過連接軌36和測(cè)量導(dǎo)線37連接到脈沖發(fā)生器以及數(shù)據(jù)獲取板。在這種情況下,要測(cè)試的電路由燈絲32、電極31、引入線33、支架34、測(cè)量導(dǎo)線37以及它們之間的接觸接頭組成。同樣的測(cè)量電路可以在焊接電極31和引入線33的階段構(gòu)建,或者在白熾燈生產(chǎn)過程的臨界點(diǎn)的任何階段構(gòu)建。
現(xiàn)在參考圖4和圖5,示出了高質(zhì)量(不閃光)和閃光白熾燈電路的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間圖。
在圖4中,熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間數(shù)據(jù)的圖示出了,在接頭的序列中沒有增加的觸點(diǎn)阻抗;沒有由測(cè)量電脈沖的電流引起的加熱。由于沒有熱電勢(shì)來源于接頭所產(chǎn)生的任何熱電偶,所以該圖基本上是常量圖,僅僅可以看出疊加在常數(shù)線上的電磁干擾。
在圖5中,示出了閃光白熾燈電路的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的圖。測(cè)量脈沖的電流瞬時(shí)加熱白熾燈電路。在測(cè)量電脈沖結(jié)束之后,不良接觸接頭的區(qū)域自然冷卻。由不良接觸接頭處的熱電偶所產(chǎn)生的熱電勢(shì)被測(cè)量并被繪出。
用于檢驗(yàn)電路的接頭和觸點(diǎn)是否合格的方法被用在早期階段中,用在生產(chǎn)過程的臨界點(diǎn)或者末尾。在白熾燈生產(chǎn)過程的早期階段中,白熾燈電路由接合在一起的兩個(gè)金屬部件和固定金屬部件并將它們連接到結(jié)合裝置的兩個(gè)支架組成。盡管在生產(chǎn)過程的末尾,白熾燈電路由燈絲、附加部件以及燈制品的最終測(cè)試機(jī)器的收集刷組成,其中附加部件將燈絲連接到外部連接器。測(cè)量裝置連接到最終測(cè)試機(jī)器的收集刷。術(shù)語“測(cè)試電路”在這里暗示電路為一個(gè)整體,其包括用于連接白熾燈到測(cè)量裝置的連接器或者收集器。
現(xiàn)在參考圖6,示出了在生產(chǎn)過程的最終測(cè)試期間,測(cè)量裝置和白熾燈的布置圖。
圖6與圖3類似;但是它們之間具有微小的區(qū)別,該區(qū)別源自于燈的傳統(tǒng)最終測(cè)試期間對(duì)白熾燈電路的合格性檢驗(yàn)。在生產(chǎn)過程的末尾,白熾燈移動(dòng)通過最終測(cè)試過程。來自生產(chǎn)線的經(jīng)過探查的燈63連接到傳統(tǒng)最終測(cè)試機(jī)器的碳刷62上。而且,傳統(tǒng)的接觸測(cè)試、對(duì)白熾燈電路的接頭和觸點(diǎn)的評(píng)估已經(jīng)完成。測(cè)試機(jī)器的碳刷62通過測(cè)量導(dǎo)線64和軌61連接到脈沖發(fā)生器和數(shù)據(jù)獲取板。在這種情況下,將被測(cè)試的電路60由白熾燈63、碳刷62、測(cè)量導(dǎo)線64、軌61以及它們之間的接觸接頭組成。如果白熾燈有缺陷或者在燈和測(cè)量裝置之間的連接有缺陷時(shí),則白熾燈電路表現(xiàn)為有缺陷。
現(xiàn)在參考圖7,圖7示出了用于檢驗(yàn)白熾燈電路的接頭和觸點(diǎn)的一種方法的方塊圖。
現(xiàn)在,從方框圖左邊的框開始,一個(gè)或多個(gè)電測(cè)量脈沖被引入到電路的接觸和接合部分。測(cè)量脈沖的幅度在1-14V的范圍內(nèi),長度在5-30ms的范圍內(nèi)。接觸弱或者接觸不良的接頭或觸點(diǎn)(如果有)的區(qū)域被加熱。由于在生產(chǎn)過程的環(huán)境下執(zhí)行該測(cè)量,所以優(yōu)選是,在電脈沖下降沿之后,該測(cè)試電路與脈沖發(fā)生器斷開連接,以避免電干擾。
數(shù)據(jù)獲取板獲得了熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)獲取板優(yōu)選被集成在工業(yè)計(jì)算機(jī)中。采樣頻率比1kHz高,數(shù)據(jù)獲取的電壓范圍在0.5-5mV。
屬于好質(zhì)量電路的參考數(shù)據(jù)集或者參考函數(shù)被數(shù)字化存儲(chǔ)在測(cè)量裝置中。參考數(shù)據(jù)集或參考函數(shù)和數(shù)字或模擬電設(shè)備獲取的數(shù)據(jù)比較。如果數(shù)字或者模擬設(shè)備被集成到工業(yè)計(jì)算機(jī)中是優(yōu)選的。獲取的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的數(shù)據(jù)與之前記錄的參考熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間數(shù)據(jù)集或者參考函數(shù)比較,該比較基于兩組數(shù)據(jù)集的差異的檢查,或者可替換地,該比較基于在獲取的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間數(shù)據(jù)和參考函數(shù)上繪制的曲線圖的形狀的差異。
根據(jù)比較的結(jié)果,電路檢驗(yàn)為好質(zhì)量的或者有缺陷的電路。有缺陷電路被標(biāo)記或者從生產(chǎn)過程中移去。
現(xiàn)在參考圖8和圖9,其示出了無故障電路以及有缺陷電路的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的圖,兩個(gè)電路都屬于具有H7白熾燈的自動(dòng)反射器。在圖8中,無故障電路的圖僅僅提供疊加在基準(zhǔn)電壓上的電干擾給每個(gè)測(cè)量脈沖。在圖9中,第一加熱脈沖沒有明顯的效果,但是可以通過較長的第二脈沖的下降沿之后出現(xiàn)的熱電勢(shì)的時(shí)間變化,識(shí)別出不良接觸點(diǎn)的自然冷卻。
現(xiàn)在參考圖10,其示出了用于定位電路的接觸弱或者不良接觸接頭或觸點(diǎn)的方法的方框圖。本圖中的方框圖與圖7中的方框圖類似。但也存在不同,那就是參考函數(shù)被分配給電路的接觸弱或者不良接觸接頭或者觸點(diǎn)的不同可能的位置,并且把它們與獲取的數(shù)據(jù)集比較。測(cè)量具有不同位置的接觸弱或者不良接觸接頭或者觸點(diǎn)的有缺陷電路提供了這些參考函數(shù)。根據(jù)所獲取的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間數(shù)據(jù)的形狀和分配給不同故障位置的參考函數(shù)之一的形狀的相似性,有缺陷觸點(diǎn)的位置被確定。換句話說,電路的接觸弱或者不良接觸接頭或者觸點(diǎn)的位置,基于獲得的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間數(shù)據(jù)和參考函數(shù)的電壓圖的相似形狀。涉及接觸弱或者不良接觸接頭或者觸點(diǎn)位置的信息可以被用來改進(jìn)生產(chǎn)質(zhì)量和可靠性。
圖11示出了H7白熾燈的電路的結(jié)構(gòu)。引入線11連接到薄片(foil)12。薄片12的作用是引導(dǎo)電流通過燈泡的玻璃。薄片12連接到鉬電極13,并且鉬電極13被焊接到鉬管15、16。鎢螺旋燈絲14的兩端通過壓這些管子的壁而被固定到鉬管15、16中。
圖12示出了無故障H7白熾燈的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的圖。從圖中可以看出,在燈絲電路中,不論是較短或者是較長的測(cè)量脈沖都不產(chǎn)生任何熱量。如果部件的順序在另一個(gè)燈的結(jié)構(gòu)中不對(duì)稱(例如,在燈絲和鉬電極之一之間具有附加部件),則無故障燈絲電路的參考函數(shù)與常量電壓對(duì)比時(shí)間曲線不同。
圖13-17示出了具有不同缺陷點(diǎn)的H7白熾燈的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的圖。
在圖13中,在第一和第二脈沖的下降沿之后的熱電勢(shì)的時(shí)間變化示出了鉬管15、16和鎢燈絲14的末端之間的缺陷電接觸。
在圖14中,在脈沖的下降沿之后的熱電勢(shì)的時(shí)間變化示出了,鉬管15和鉬電極13之間的焊接接頭接觸弱或者接觸不良。
在圖15中,在第一和第二脈沖的下降沿之后,熱電勢(shì)分別具有不同的幅度。不同的幅度示出了鉬管16和鉬電極13之間的焊接接頭中有缺陷的觸點(diǎn)。
圖16和17示出了由鉬薄片12中的相同缺陷所帶來的熱電勢(shì)的時(shí)間變化。兩個(gè)圖之間的差異是,燈通過不同極性被連接到測(cè)試電路。特征熱電變化在第一較短測(cè)量脈沖的下降沿之后,而第二較長脈沖并不引起圖16的曲線圖上的顯著的效果。較短和較長測(cè)量脈沖的使用暴露出潛在的缺陷燈,并且定位燈中的接觸弱或接觸不良的接頭。
本發(fā)明并不限制于所示和所公開的實(shí)施例,其它的元件、改進(jìn)以及變化均在本發(fā)明的范圍內(nèi)。本領(lǐng)域的那些技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)清楚的是,用于檢驗(yàn)電路并定位電路中接觸弱或接觸不良的接頭或觸點(diǎn)的方法同樣可以用來測(cè)試或者檢驗(yàn)由不同金屬材料制成的任何電路,例如汽車或者機(jī)器中的電路。這些方法的使用并不限制于檢測(cè)接觸弱或接觸不良的接頭,還可適用于檢測(cè)電路中的部件是否缺少。例如,沒有碳刷的電發(fā)生器的閉合電路肯定不同于在適當(dāng)位置具有碳刷的類似電路。
權(quán)利要求
1.一種用于檢驗(yàn)具有至少一個(gè)電接頭或者觸點(diǎn)的電路的方法,該方法包括以下步驟提供無故障電路的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的參考函數(shù),通過至少一個(gè)測(cè)量電脈沖加熱電路,獲取電路的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間數(shù)據(jù),比較獲取的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間數(shù)據(jù)與參考函數(shù),根據(jù)獲取的數(shù)據(jù)與參考函數(shù)之間的差異檢驗(yàn)電路。
2.如權(quán)利要求1的方法,其中,參考函數(shù)通過如下方式來提供,對(duì)在由測(cè)量電脈沖進(jìn)行加熱以及之后的冷卻期間無故障電路的特性進(jìn)行建模。
3.如權(quán)利要求1的方法,其中,參考函數(shù)通過在由測(cè)量電脈沖進(jìn)行加熱以及之后的冷卻期間測(cè)量無故障電路來提供。
4.如權(quán)利要求1的方法,其中,不同長度的兩個(gè)或更多測(cè)量電脈沖施加到電路。
5.如權(quán)利要求1的方法,其中,電路的檢驗(yàn)基于獲取的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間數(shù)據(jù)與參考函數(shù)的曲線圖形狀的差異。
6.一種用于定位電路的接觸弱或者接觸不良的接頭或者觸點(diǎn)的方法,該方法包括以下步驟提供電路中接觸弱或者接觸不良的接頭或者觸點(diǎn)的不同可能位置的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的參考函數(shù),通過至少一個(gè)測(cè)量電脈沖加熱電路,獲取電路的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間數(shù)據(jù),比較獲取的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間數(shù)據(jù)與參考函數(shù),根據(jù)獲取的數(shù)據(jù)與參考函數(shù)之間的相似性,定位電路中接觸弱或者接觸不良的接頭或者觸點(diǎn)。
7.如權(quán)利要求6的方法,其中,參考函數(shù)通過測(cè)量具有不同位置的接觸弱或者接觸不良的接頭或者觸點(diǎn)的有缺陷電路來提供。
8.如權(quán)利要求6的方法,其中,兩個(gè)或更多測(cè)量電脈沖施加到電路。
9.如權(quán)利要求8的方法,其中,所述測(cè)量電脈沖具有不同的長度。
10.如權(quán)利要求6的方法,其中,電路中接觸弱或者接觸不良的接頭或者觸點(diǎn)的定位基于所獲取的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間數(shù)據(jù)與參考函數(shù)的繪出的曲線圖形狀的相似性。
全文摘要
公開了一種用于檢驗(yàn)具有至少一個(gè)電接頭或者觸點(diǎn)的電路的方法。提供無故障電路的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的參考函數(shù)。然后,通過至少一個(gè)測(cè)量電脈沖加熱要檢驗(yàn)的電路。下一步是獲取電路的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間數(shù)據(jù)。隨后的步驟是比較獲取的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間數(shù)據(jù)與參考函數(shù),并且根據(jù)獲取數(shù)據(jù)與參考函數(shù)之間的差異檢驗(yàn)電路。本發(fā)明的另一方面是,還公開了一種用于定位電路中接觸弱或者接觸不良的接頭或者觸點(diǎn)的方法。提供電路中接觸弱或者接觸不良的接頭或者觸點(diǎn)的不同可能位置的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間的參考函數(shù)。然后,通過至少一個(gè)測(cè)量電脈沖加熱電路,隨后獲取電路的熱電勢(shì)對(duì)比時(shí)間數(shù)據(jù)。根據(jù)獲取數(shù)據(jù)與參考函數(shù)之間的相似性,電路中接觸弱或者接觸不良的接頭或者觸點(diǎn)被定位。
文檔編號(hào)B23K11/25GK1821797SQ200610067350
公開日2006年8月23日 申請(qǐng)日期2006年2月10日 優(yōu)先權(quán)日2005年2月10日
發(fā)明者I·馬蓋, F·福澤考什 申請(qǐng)人:通用電氣公司
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