專利名稱：等離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)方法及檢測(cè)設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及等離子顯示屏熒光粉涂布，更具體地，涉及等離子顯示屏熒光粉涂布 缺陷的檢測(cè)方法及檢測(cè)設(shè)備。
背景技術(shù)：
在對(duì)等離子顯示屏基板進(jìn)行熒光粉涂布的生產(chǎn)中，需要對(duì)等離子顯示屏基板上涂 布的熒光粉進(jìn)行缺陷檢測(cè)。現(xiàn)有的技術(shù)多采用紫外燈照射涂布有熒光粉的等離子顯示屏基 板，激發(fā)熒光粉發(fā)光，并在攝像部內(nèi)部安裝紅、綠和藍(lán)色的濾色片，從而分別對(duì)不同顏色的 熒光粉攝影。然后，攝像部將分別拍攝到的紅、綠和藍(lán)色熒光粉發(fā)光圖像進(jìn)行圖像處理。例 如，針對(duì)紅色的熒光粉發(fā)光圖像，可以在其上設(shè)立坐標(biāo)，定義零點(diǎn)坐標(biāo)位置，然后將其上的 每個(gè)坐標(biāo)位置的被測(cè)像素區(qū)對(duì)應(yīng)的圖像區(qū)與一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)模板的發(fā)光圖像上的相應(yīng)坐標(biāo)位置 的像素區(qū)對(duì)應(yīng)的圖像區(qū)進(jìn)行例如色譜圖的比對(duì)。對(duì)于某一個(gè)坐標(biāo)位置的像素區(qū)對(duì)應(yīng)的圖像 區(qū)，其與標(biāo)準(zhǔn)模板上相應(yīng)位置的像素區(qū)對(duì)應(yīng)的圖像區(qū)在色譜圖上的坐標(biāo)距離差的大小決定 了是否該像素區(qū)被判斷為存在缺陷。這種檢測(cè)技術(shù)需要在攝像部內(nèi)部安裝濾色片，而且需要分別對(duì)不同顏色的熒光粉 進(jìn)行攝影。此外，在圖像處理部中，需要分別對(duì)每種顏色的熒光粉圖像的參數(shù)進(jìn)行運(yùn)算處 理，運(yùn)算過程繁瑣，且相應(yīng)設(shè)備復(fù)雜。尤其是，現(xiàn)有技術(shù)中所進(jìn)行的比對(duì)計(jì)算都是將被測(cè)基 板和一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)模板的發(fā)光圖像進(jìn)行比對(duì)。然而，存在對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)模板如何選擇界定的問題。也 就是說，在實(shí)際檢測(cè)中，并沒有完全可靠的方法來選擇真正沒有缺陷的標(biāo)準(zhǔn)模板。雖然出現(xiàn) 了使用用多個(gè)模板的圖像參數(shù)的平均值來做為比對(duì)標(biāo)準(zhǔn)的方法，但由于所用的多個(gè)模板是 在一個(gè)母板上印刷出的，若母板上某處有不為人所知的缺陷，則所用的多個(gè)模板上的缺陷 會(huì)在同一位置，仍然無法形成真正意義上的無缺陷的比對(duì)標(biāo)準(zhǔn)，容易造成誤判斷。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的一個(gè)技術(shù)問題是提供一種簡單方便，避免使用標(biāo)準(zhǔn)模板進(jìn)行比 較時(shí)產(chǎn)生的誤判斷的等離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)方法。本發(fā)明所要解決的另一個(gè)技術(shù)問題是提供一種使用簡單方便，避免使用標(biāo)準(zhǔn)模板 進(jìn)行比較時(shí)產(chǎn)生的誤判斷的等離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)設(shè)備。根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種等離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)方法， 包括以下步驟獲取等離子顯示屏基板上涂布的熒光粉發(fā)光的圖像；在所獲取的圖像中將 第一圖像區(qū)與相鄰的第二圖像區(qū)進(jìn)行圖像參數(shù)的比較；根據(jù)比較結(jié)果判斷與第一和第二圖 像區(qū)相對(duì)應(yīng)的等離子顯示屏的第一和第二像素區(qū)是否存在熒光粉涂布缺陷。進(jìn)一步地，在判斷的步驟后還包括，根據(jù)存在熒光粉涂布缺陷的像素區(qū)的數(shù)量和 位置判斷是否需要對(duì)等離子體顯示屏進(jìn)行缺陷處理，以及在需要進(jìn)行缺陷處理的情況下， 選擇缺陷處理的方式。進(jìn)一步地，該圖像參數(shù)為灰度值。
進(jìn)一步地，在該比較步驟中，將第一圖像區(qū)的灰度值與相鄰的一個(gè)第二圖像區(qū)的 灰度值進(jìn)行比較。進(jìn)一步地，在該比較步驟中，將第一圖像區(qū)的灰度值與相鄰的多個(gè)第二圖像區(qū)的 平均灰度值進(jìn)行比較。進(jìn)一步地，該判斷步驟包括判斷比較結(jié)果是否超過預(yù)定閾值；若超過預(yù)定閾值， 則判斷當(dāng)前圖像區(qū)相對(duì)應(yīng)的等離子顯示屏的像素區(qū)存在熒光粉涂布缺陷。進(jìn)一步地，預(yù)定閾值和/或圖像區(qū)的大小是可調(diào)整的。進(jìn)一步地，獲取等離子顯示屏基板上涂布的熒光粉發(fā)光的圖像之前，還包括在等 離子顯示屏基板上涂布所需涂布的多層熒光粉中的一層或部分層；或者在等離子顯示屏基 板上涂布所需涂布的多層熒光粉。根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面，提供了一種等離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)設(shè) 備，其包括圖像獲取部件，用于獲取等離子顯示屏基板上涂布的熒光粉發(fā)光的圖像；以及 圖像處理部件，用于在所獲取的圖像中將第一圖像區(qū)與相鄰的第二圖像區(qū)進(jìn)行圖像參數(shù)的 比較，并根據(jù)比較結(jié)果判斷與第一和第二圖像區(qū)相對(duì)應(yīng)的等離子顯示屏的第一和第二像素 區(qū)是否存在熒光粉涂布缺陷，并進(jìn)而根據(jù)存在熒光粉涂布缺陷的像素區(qū)的數(shù)量和位置判斷 是否需要對(duì)所述等離子體顯示屏進(jìn)行缺陷處理，以及在需要進(jìn)行缺陷處理的情況下，選擇 缺陷處理的方式。進(jìn)一步地，該圖像獲取部件包括發(fā)光部，用于照射等離子顯示屏基板；攝像部， 用對(duì)等離子顯示屏基板上涂布的熒光粉發(fā)光圖像進(jìn)行拍攝。進(jìn)一步地，該檢測(cè)設(shè)備還包括滑臺(tái)控制部，其中，滑臺(tái)控制部控制攝像部沿等離 子顯示屏表面移動(dòng)。進(jìn)一步地，攝像部包括并列排布的多臺(tái)攝像機(jī)，該多臺(tái)攝像機(jī)的視野范圍總和覆 蓋整個(gè)涂布有熒光粉的等離子顯示屏基板。本發(fā)明具有以下有益效果1.由于等離子顯示屏基板上涂布的熒光粉上具有缺陷的區(qū)域是少數(shù)的點(diǎn)，而大部 分區(qū)域都是無缺陷的，從而本發(fā)明基于等離子顯示屏基板的這一特點(diǎn)，避開了現(xiàn)有技術(shù)中 使用標(biāo)準(zhǔn)模板的發(fā)光圖像與被測(cè)模板的發(fā)光圖像比對(duì)的方法，而是將被測(cè)模板上的像素區(qū) 所對(duì)應(yīng)的發(fā)光圖像上的圖像區(qū)與同一被測(cè)模板上相鄰的像素區(qū)所對(duì)應(yīng)的發(fā)光圖像上的圖 像區(qū)進(jìn)行灰度值進(jìn)行比較，來判斷各個(gè)像素區(qū)的缺陷。這樣，就避開了由于標(biāo)準(zhǔn)模板上具有 缺陷而導(dǎo)致誤判斷的情況。2.由于采用了灰度值比較的方法進(jìn)行判斷，例如，將像素區(qū)對(duì)應(yīng)的圖像區(qū)的灰度 范圍定為0-256，通過比較相鄰兩個(gè)圖像區(qū)的灰度值差，根據(jù)該灰度值差是否超過預(yù)定閾值 來判斷涂布缺陷，此種數(shù)值比較的方法非常簡單方便。


附圖用來提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分，本發(fā)明的示意性實(shí)施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的等離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)方法的第一種檢 查步驟流程圖2示出了根據(jù)本發(fā)明的等離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)方法的第二種檢 查步驟流程圖；圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的等離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)設(shè)備的結(jié)構(gòu)簡圖；圖4示出了根據(jù)本發(fā)明的等離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)方法中進(jìn)行灰度 值比較時(shí)，當(dāng)前的像素單元的灰度值與相鄰的一個(gè)像素單元的灰度值進(jìn)行比較的示意圖；圖5示出了根據(jù)本發(fā)明的等離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)方法中進(jìn)行灰度 值比較時(shí)，當(dāng)前的像素單元的灰度值與相鄰的多個(gè)像素單元的平均灰度值進(jìn)行比較的示意 圖。
具體實(shí)施例方式下面將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例，來詳細(xì)說明本發(fā)明。如圖3所示，本發(fā)明的等離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)設(shè)備包括圖像獲取 部件1，用于獲取等離子顯示屏基板上涂布的熒光粉發(fā)光的圖像；以及圖像處理部件2，用 于在所獲取的圖像中將第一圖像區(qū)與相鄰的第二圖像區(qū)進(jìn)行圖像參數(shù)的比較，并根據(jù)比較 結(jié)果判斷與第一和第二圖像區(qū)相對(duì)應(yīng)的等離子顯示屏的第一和第二像素區(qū)是否存在熒光 粉涂布缺陷，并進(jìn)而根據(jù)存在涂布缺陷的像素區(qū)的數(shù)量和位置判斷是否需要對(duì)所述等離子 體顯示屏進(jìn)行缺陷處理，以及在需要進(jìn)行缺陷處理的情況下，選擇缺陷處理的方式。如圖3所示，優(yōu)選地，該圖像獲取部件1包括發(fā)光部11，用于照射等離子顯示屏 基板3，在本實(shí)施例中，為紫外燈管，其發(fā)射的紫外線波長范圍為100-380i!m，；攝像部12， 用于對(duì)等離子顯示屏基板3上涂布的熒光粉發(fā)光圖像進(jìn)行拍攝。從圖3中可以看到，在本 實(shí)施例中，將紫外燈管安裝在攝像部12旁，使其在進(jìn)行檢測(cè)時(shí)隨攝像部12共同移動(dòng)。在實(shí) 踐中，也可以將紫外燈管固定放置，此時(shí)，其輻照范圍應(yīng)覆蓋整個(gè)檢測(cè)范圍。優(yōu)選地，等離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)設(shè)備可以包括滑臺(tái)控制部(圖中未 示出)，用于控制攝像部12沿等離子體顯示屏基板3的表面移動(dòng)，從而可以得到整個(gè)等離子 體顯示屏基板的視野范圍?？梢韵胂螅部梢圆捎脭z像部12固定不動(dòng)，基板在一個(gè)機(jī)臺(tái)控 制部的控制下移動(dòng)的方法，以使攝像部12能拍攝到整個(gè)等離子顯示屏基板3。另外，攝像部 12也可以包括并列排布的多臺(tái)攝像機(jī)，并使多臺(tái)攝像機(jī)的視野范圍總和覆蓋整個(gè)涂布有熒 光粉的等離子顯示屏基板3，從而得到整個(gè)基板的視野范圍。本發(fā)明的等離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)方法包括以下步驟利用圖像獲取 部件1獲取等離子顯示屏基板3上涂布的熒光粉發(fā)光的圖像，具體包括先用紫外燈管，即發(fā) 光部11照射涂布了熒光粉的等離子體顯示屏基板3，然后用攝像部12對(duì)其發(fā)光圖像進(jìn)行拍 攝，獲取發(fā)光圖像；利用圖像處理部件2在所獲取的圖像中將第一圖像區(qū)與相鄰的第二圖 像區(qū)進(jìn)行灰度值的比較，并根據(jù)比較結(jié)果判斷與第一和第二圖像區(qū)相對(duì)應(yīng)的等離子顯示屏 的第一和第二像素區(qū)是否存在熒光粉涂布缺陷。之后，將整個(gè)等離子體顯示屏基板3劃分 為若干區(qū)域，一旦判斷出若干區(qū)域中的中間區(qū)域存在具有熒光粉涂布缺陷的像素區(qū)，或某 一個(gè)邊緣區(qū)域中存在具有熒光粉涂布缺陷的像素區(qū)的個(gè)數(shù)超過限定的閾值，則可以判斷整 個(gè)等離子顯示屏基板3需要清洗，進(jìn)而清洗相應(yīng)的熒光粉層；當(dāng)邊緣區(qū)域中的具有缺陷的 像素區(qū)個(gè)數(shù)未超過限定的閾值，也可以使用激光的方法刻蝕掉掉具有缺陷的像素區(qū)的熒光 粉，并進(jìn)行熒光粉涂布修補(bǔ)，此方法靈活方便。
可以理解，由于本發(fā)明避開了現(xiàn)有技術(shù)中使用標(biāo)準(zhǔn)模板的熒光粉發(fā)光圖像與被測(cè) 模板的熒光粉發(fā)光圖像比對(duì)的方法，而是將同一被測(cè)模板上的一個(gè)像素區(qū)對(duì)應(yīng)的圖像區(qū)與 相鄰的像素區(qū)對(duì)應(yīng)的圖像區(qū)進(jìn)行灰度值進(jìn)行比較，來判斷各個(gè)像素單元的缺陷，這樣，就避 開了由于標(biāo)準(zhǔn)模板上具有缺陷而導(dǎo)致誤判斷的情況。本發(fā)明基于這樣一個(gè)事實(shí)即等離子 顯示屏基板上涂布的熒光粉上具有缺陷的區(qū)域是少數(shù)的點(diǎn)，而大部分區(qū)域都是無缺陷的。 此外，灰度值的比較方法簡單方便且直觀，在實(shí)踐中，也可以根據(jù)具體情況使用其他參數(shù)比 較的方法。如圖4所示，優(yōu)選地，在所獲取的圖像中將當(dāng)前像素單元與相鄰的像素單元進(jìn)行 灰度值的比較包括將第一圖像區(qū)A的灰度值與相鄰的一個(gè)圖像區(qū)B的灰度值進(jìn)行比較。進(jìn) 而根據(jù)比較得到的灰度差值判斷第一圖像區(qū)A對(duì)應(yīng)的熒光粉涂布區(qū)域是否存在涂布缺陷。 例如所有圖像區(qū)的灰度范圍為0-256，設(shè)定閾值為10，第一圖像區(qū)A的灰度值為100，而第二 圖像區(qū)B的灰度值為115，二者的差值大于閾值10，并且在將第二圖像區(qū)B與其他圖像區(qū)比 較后已經(jīng)獲知第二圖像區(qū)B不存在涂布缺陷，則可以判斷像素單元A對(duì)應(yīng)的熒光粉涂布區(qū) 域存在涂布缺陷。此種比較方式簡單快捷。如圖5所示，優(yōu)選地，在所獲取的圖像中將當(dāng)前像素單元與相鄰的像素單元進(jìn)行 灰度值的比較包括將當(dāng)前的第一圖像區(qū)A的灰度值與相鄰的多個(gè)像素區(qū)，例如B和C的平 均灰度值進(jìn)行比較。進(jìn)而根據(jù)比較得到的灰度差值判斷第一圖像區(qū)A對(duì)應(yīng)的熒光粉涂布區(qū) 域是否存在涂布缺陷。例如所有圖像區(qū)的灰度范圍為0-256，設(shè)定閾值為10，第一圖像區(qū)A 的灰度值為100，而第二圖像區(qū)中B的灰度值為90，C的灰度值為80，第二圖像區(qū)B和C的 平均灰度值為85，該平均灰度值85與第一圖像區(qū)A的灰度值100的差值大于閾值10，則可 以判斷第一圖像區(qū)A對(duì)應(yīng)的熒光粉涂布區(qū)域存在涂布缺陷。此種比較方式簡單快捷，且相 對(duì)于與一個(gè)圖像區(qū)進(jìn)行比較的方法精確度更高。圖4和圖5所示的兩種方法中所描述的預(yù)定閾值以及用于比較的圖像區(qū)的大小是 可以根據(jù)檢測(cè)精度來確定的。例如，當(dāng)需要提高檢測(cè)精度時(shí)，可以將預(yù)定閾值由原來的10 改為8，并且/或者將作為比較基礎(chǔ)的像素單元改小。這樣就很容易根據(jù)實(shí)際情況來增大或 減小檢測(cè)精度。如圖1所示，優(yōu)選地，該方法在獲取等離子顯示屏基板3上涂布的熒光粉發(fā)光的圖 像之前，還包括在所述等離子顯示屏基板3上涂布所需涂布的多層熒光粉中的一層或部分 層。也就是說，在涂布了每層熒光粉之后，或者涂布了部分層的熒光粉之后，就使用本發(fā)明 的方法來進(jìn)行缺陷檢查。例如，如圖1所示，若需要在等離子顯示屏基板3上順次涂布熒光 粉a、b和c，在印刷了熒光粉a后，即按照上文所述的方法進(jìn)行印刷缺陷檢查，若檢查結(jié)果 為不合格，則馬上進(jìn)行熒光粉清洗，然后重新印刷熒光粉a，直至檢查后結(jié)果為合格。之后以 同樣方法印刷和檢查熒光粉b、熒光粉c，之后進(jìn)行后續(xù)工序。這種方法能夠避免在涂布了 不合格的某層熒光粉后，繼續(xù)不必要地涂布其他層?；蛘撸摲椒ㄔ讷@取等離子顯示屏基板3上涂布的熒光粉發(fā)光的圖像之前，還包 括在所述等離子顯示屏基板3上涂布所需涂布的多層熒光粉。也就是說，在涂布了所有層 的熒光粉之后再使用本發(fā)明的方法來進(jìn)行缺陷檢查。具體如圖2所示，若需要在等離子顯 示屏基板上順次涂布熒光粉a、b和c，則在順次印刷了熒光粉a、b和c之后，再進(jìn)行印刷缺 陷檢查，若檢查結(jié)果為不合格，則進(jìn)行熒光粉清洗，將a、b和c層熒光粉全部清洗，然后重新順次印刷熒光粉a、b和c，進(jìn)行缺陷檢查，直至檢查合格后再進(jìn)行后續(xù)工序。這種方法減少 了檢測(cè)次數(shù)。此外，上文所描述的等離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)設(shè)備可以作為獨(dú)立的檢 查設(shè)備對(duì)等離子體顯示屏基板3執(zhí)行檢測(cè)，也可以安裝在制作熒光粉的絲網(wǎng)印刷機(jī)上，成 為其附屬設(shè)備。以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對(duì)于本領(lǐng)域的技 術(shù)人員來說，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修 改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
一種等離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)方法，其特征在于，包括以下步驟獲取等離子顯示屏基板上涂布的熒光粉發(fā)光的圖像；在所獲取的圖像中將第一圖像區(qū)與相鄰的第二圖像區(qū)進(jìn)行圖像參數(shù)的比較；根據(jù)比較結(jié)果判斷與所述第一和第二圖像區(qū)相對(duì)應(yīng)的所述等離子顯示屏的第一和第二像素區(qū)是否存在熒光粉涂布缺陷。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)方法，其特征在于，在所 述判斷的步驟后還包括，根據(jù)存在熒光粉涂布缺陷的像素區(qū)的數(shù)量和位置判斷是否需要對(duì) 所述等離子體顯示屏進(jìn)行缺陷處理，以及在需要進(jìn)行缺陷處理的情況下，選擇缺陷處理的 方式。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)方法，其特征在于，所述 圖像參數(shù)為灰度值。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)方法，其特征在于，在所 述比較步驟中，將所述第一圖像區(qū)的灰度值與相鄰的一個(gè)第二圖像區(qū)的灰度值進(jìn)行比較。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)方法，其特征在于，在所 述比較步驟中，將所述第一圖像區(qū)的灰度值與相鄰的多個(gè)第二圖像區(qū)的平均灰度值進(jìn)行比較。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)方法，其特 征在于，所述判斷步驟包括判斷所述比較結(jié)果是否超過預(yù)定閾值；若超過所述預(yù)定閾值，則判斷當(dāng)前圖像區(qū)相對(duì)應(yīng)的所述等離子顯示屏的像素區(qū)存在熒 光粉涂布缺陷。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)方法，其特征在于，所述 預(yù)定閾值和/或所述圖像區(qū)的大小是可調(diào)整的。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)方法，其特征在于，獲取 等離子顯示屏基板上涂布的熒光粉發(fā)光的圖像之前，還包括在所述等離子顯示屏基板上涂布所需涂布的多層熒光粉中的一層或部分層；或者在所述等離子顯示屏基板上涂布所需涂布的多層熒光粉。
9.一種等離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，包括圖像獲取部件(1)，用于獲取等離子顯示屏基板上涂布的熒光粉發(fā)光的圖像；以及圖像處理部件(2)，用于在所獲取的圖像中將第一圖像區(qū)與相鄰的第二圖像區(qū)進(jìn)行圖 像參數(shù)的比較，并根據(jù)比較結(jié)果判斷與所述第一和第二圖像區(qū)相對(duì)應(yīng)的所述等離子顯示屏 的第一和第二像素區(qū)是否存在熒光粉涂布缺陷，并進(jìn)而根據(jù)存在熒光粉涂布缺陷的像素區(qū) 的數(shù)量和位置判斷是否需要對(duì)所述等離子體顯示屏進(jìn)行缺陷處理，以及在需要進(jìn)行缺陷處 理的情況下，選擇缺陷處理的方式。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的等離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，所 述圖像獲取部件包括發(fā)光部(11)，用于照射所述等離子顯示屏基板(3)；攝像部(12)，用于對(duì)所述等離子顯示屏基板(3)上涂布的熒光粉發(fā)光圖像進(jìn)行拍攝。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的等離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，還包括滑臺(tái)控制部，其中，所述滑臺(tái)控制部控制所述攝像部(12)沿所述等離子顯示屏表 面移動(dòng)。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的等離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)設(shè)備，其特征在于， 所述攝像部(12)包括并列排布的多臺(tái)攝像機(jī)，所述多臺(tái)攝像機(jī)的視野范圍總和覆蓋整個(gè) 涂布有熒光粉的所述等離子顯示屏基板(3)。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種等離子顯示屏熒光粉涂布缺陷的檢測(cè)方法及檢測(cè)設(shè)備，該檢測(cè)方法包括以下步驟獲取等離子顯示屏基板上涂布的熒光粉發(fā)光的圖像；在所獲取的圖像中將第一圖像區(qū)與相鄰的第二圖像區(qū)進(jìn)行圖像參數(shù)的比較；根據(jù)比較結(jié)果判斷與第一和第二圖像區(qū)相對(duì)應(yīng)的等離子顯示屏的第一和第二像素區(qū)是否存在熒光粉涂布缺陷，并進(jìn)而根據(jù)存在熒光粉涂布缺陷的像素區(qū)的數(shù)量和位置判斷整個(gè)等離子體顯示屏是否存在熒光粉涂布缺陷。其中，在所獲取的圖像中將第一圖像區(qū)與相鄰的第二圖像區(qū)進(jìn)行圖像參數(shù)的比較的步驟避開了現(xiàn)有技術(shù)中使用標(biāo)準(zhǔn)模板的發(fā)光圖像與被測(cè)模板的發(fā)光圖像比對(duì)判斷的方法。這樣，就避開了由于標(biāo)準(zhǔn)模板上具有缺陷而導(dǎo)致誤判斷的情況。
文檔編號(hào)H01J9/42GK101800142SQ20101017826
公開日2010年8月11日 申請(qǐng)日期2010年5月11日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月11日
發(fā)明者陳超 申請(qǐng)人:四川虹歐顯示器件有限公司