本實用新型涉及一種用于驅(qū)動移動電話等中所使用的攝像頭進行自動對焦，并且校正攝像頭上發(fā)生的抖動的帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置。

背景技術(shù)：

帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置利用自動對焦功能進行對焦，同時在拍攝中產(chǎn)生抖動時使透鏡向與透鏡光軸成直角的方向相對應(yīng)地擺動，以抑制成像于圖像傳感器上的圖像發(fā)生模糊。例如，日本專利申請公開號JP2013-24938A，公開日2013年2月4日（以該申請為優(yōu)先權(quán)進入中國的公開號為CN102879973A，公開日為2013年1月16日，進入美國的公開號為US2013016427A1，US2015226978A1，公開日為2013年1月17日和2015年8月13日）提出了一種帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置，其利用沿光軸方向延伸形成為線狀的彈簧構(gòu)件，將對焦單元懸架支承為使其能夠向與光軸成直角的方向擺動，通過運轉(zhuǎn)抖動校正單元使對焦單元擺動，以抑制圖像發(fā)生模糊。

如圖10至圖12所示，其示出了現(xiàn)有的帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置50。特別是圖10為帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置50的立體圖，圖11為帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置50的爆炸圖，圖12為帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置50的主要部分的立體圖。在此，將未圖示的透鏡的光軸方向設(shè)為Z（Z軸）方向，且將分別與Z軸成直角且相互垂直的兩個方向設(shè)為P（P軸）方向以及Q（Q軸）方向。

如圖10所示，帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置50收納于屏蔽箱體65內(nèi)，其整體上形成為長方體形狀。屏蔽箱體65的中央部沿著Z軸方向呈圓環(huán)形開口，其中，在中央部由后述透鏡支架53保持有未圖示的透鏡。

帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置50由對焦單元51和抖動校正單元52構(gòu)成。

對焦單元51具有：透鏡支架53、對焦用線圈54A、磁鐵55A、磁鐵支架56；由板狀彈簧構(gòu)件構(gòu)成的懸架支承機構(gòu)57以及墊片（Spacer）58。抖動校正單元52具有擺動用線圈59A、配線基板62A、連接基板62B、由線狀彈簧構(gòu)件構(gòu)成的擺動支承機構(gòu)60、位置檢測用霍爾元件61以及基臺63。

透鏡支架53由沿著Z軸方向開口的筒狀構(gòu)件，將透鏡保持于內(nèi)周側(cè)。在透鏡支架53的外周側(cè)，對焦用線圈54A沿著透鏡支架53的外徑形狀而卷繞為四方環(huán)狀。合計四個形成為長方體形狀的磁鐵55A的磁極面朝向P軸方向以及Q軸方向，在與Z軸平行的軸周圍，以90度的間隔配設(shè)于對焦用線圈54A的外徑側(cè)。磁鐵55A與對焦用線圈54A沿著P軸方向以及Q軸方向隔開空隙相互對置。另外，磁鐵55A被保持于正方形框狀的磁鐵支架56的框邊部56a。

懸架支承機構(gòu)57由前側(cè)彈簧構(gòu)件57A和后側(cè)彈簧構(gòu)件57B構(gòu)成。前側(cè)彈簧構(gòu)件57A和后側(cè)彈簧構(gòu)件57B的內(nèi)周部分別與透鏡支架53的＋Z側(cè)端面以及-Z側(cè)端面相連接。另外，前側(cè)彈簧構(gòu)件57A的外周部與磁鐵支架56的＋Z側(cè)的端面相連接。后側(cè)彈簧構(gòu)件57B的外周部與外周部墊片58一起連接到磁鐵支架56的-Z側(cè)端面。這樣一來，前側(cè)彈簧構(gòu)件57A和后側(cè)彈簧構(gòu)件57B將透鏡支架53懸架支承為使其能夠向Z軸方向移動。

當(dāng)向上述那樣構(gòu)成的對焦單元51的對焦用線圈54A通電時，該對焦用線圈54A產(chǎn)生朝向Z軸方向的洛倫茲力，利用該洛倫茲力使透鏡支架53在Z軸方向移動。

中央部具有朝向Z軸方向開口的板狀基臺63的＋Z側(cè)（的）面上，安裝有與外部的控制電路相連接的連接基板62B。在該連接基板62B的＋Z側(cè)面上，安裝有配線基板62A。在配線基板62A上形成有電力供給線路，其上部連接有擺動用線圈59A。

擺動用線圈59A包括：繞與Z軸平行的軸卷繞，分別配設(shè)于配線基板62A的-P側(cè)以及＋P側(cè)的P側(cè)擺動用線圈59AP、分別配設(shè)于-Q側(cè)以及＋Q側(cè)的Q側(cè)擺動用線圈59AQ。擺動用線圈59A與磁鐵55A的-Z側(cè)的側(cè)面沿著Z軸方向隔開空隙相互對置。

擺動支承機構(gòu)60由沿著Z軸方向延伸的、形成為線狀的四條彈簧構(gòu)件構(gòu)成。各彈簧構(gòu)件的前側(cè)端部60a與前側(cè)彈簧構(gòu)件57A相連接，各彈簧構(gòu)件的后側(cè)端部60b與基臺63相連結(jié)。擺動支承機構(gòu)60將對焦單元51支承為使其能夠分別向P軸方向以及Q軸方向擺動。

如圖12所示，位置檢測用霍爾元件61由P軸側(cè)的霍爾元件61P和Q軸側(cè)的霍爾元件61Q構(gòu)成?；魻栐?1P配設(shè)于擺動用線圈59AP的-Z側(cè)，且固定于基臺63上，其隔著擺動用線圈59AP沿著Z軸方向與磁鐵55A的-Z側(cè)（的）側(cè)面隔開空隙相互對置?；魻栐?1Q配設(shè)于擺動用線圈59AQ的-Z側(cè)，且固定于基臺63上，其隔著擺動用線圈59AQ沿著Z軸方向與磁鐵55A的-Z側(cè)側(cè)面隔開空隙相互對置。

霍爾元件61P、61Q均用于檢測由其所對置的磁鐵55A產(chǎn)生的磁感應(yīng)強度的Z軸方向成分。其結(jié)果為，霍爾元件61P檢測到所對置的磁鐵55A隨著向P軸方向的擺動而發(fā)生的磁感應(yīng)強度變化。另外，霍爾元件61Q檢測到所對置的磁鐵55A隨著向Q軸方向的擺動而發(fā)生的磁感應(yīng)強度變化。因此，霍爾元件61P可知磁鐵支架56沿著P軸方向的擺動位置，而霍爾元件61Q可知磁鐵支架56沿著Q軸方向的擺動位置。

進而，當(dāng)向抖動校正單元52的P側(cè)擺動用線圈59AP通電時，P側(cè)擺動用線圈59AP產(chǎn)生朝向P軸方向的洛倫茲力，而磁鐵55A產(chǎn)生反作用力，使對焦單元51向P軸方向擺動。另外，當(dāng)向Q側(cè)擺動用線圈59AQ通電時，Q側(cè)擺動用線圈59AQ產(chǎn)生朝向Q軸方向的洛倫茲力，而磁鐵55A產(chǎn)生反作用力，使對焦單元51Q軸方向擺動。

其結(jié)果為，當(dāng)拍攝時發(fā)生手抖產(chǎn)生時，向P側(cè)擺動用線圈59AP以及Q側(cè)擺動用線圈59AQ通電，由霍爾元件61P和霍爾元件61Q監(jiān)測擺動大小，實施抖動校正。

但是，如圖12所示，自Z軸方向觀察到的截面形狀呈長方形的磁鐵55A，配設(shè)于形成為四方環(huán)狀的對焦用線圈54A的四邊外側(cè)、即P軸方向及Q軸方向的外側(cè)，為此，導(dǎo)致P軸方向的寬度尺寸以及Q軸方向的寬度尺寸增大，從而使帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置50大型化。

因此，如圖13所示，日本專利申請公開號JP2014-126668A，公開日為2014年7月7日的專利公開了另一帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置（以該申請為優(yōu)先權(quán)進入中國的公開號為CN103901701A，公開日為2014年7月2日，進入美國的公開號為US2014177056A1公開日為2014年6月26日）。圖13和圖14示出了如下的帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置主要部分的立體圖。該帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置將自Z軸方向觀察到的截面形狀呈等腰梯形的磁鐵55B保持于未圖示的磁鐵支架的拐角、即距離長的對角位置（X軸方向和Y軸方向）上，以避免P軸方向的寬度尺寸及Q軸方向的寬度尺寸的增大。此外，在圖13和圖14中，X軸方向為從P軸方向繞Z軸朝向+Q軸方向旋轉(zhuǎn)45度的方向，Y軸方向為從Q軸方向繞Z軸朝向-P軸方向旋轉(zhuǎn)45度的方向。

對焦用線圈54B順著未圖示的透鏡支架外徑形狀繞著與Z軸平行的軸卷繞為八角環(huán)狀。磁鐵55B磁極面朝向X軸方向以及Y軸方向，沿著與Z軸平行的軸周圍以90度的間隔呈對角地將合計四個磁鐵55B配設(shè)于對焦用線圈54B的外徑側(cè)。進而，磁鐵55B與對焦用線圈54B沿著X軸方向以及Y軸方向隔開空隙相互對置，且被保持于未圖示的正方形框狀的磁鐵支架的四角。

當(dāng)向?qū)褂镁€圈54B通電時，對焦用線圈54B產(chǎn)生朝向Z軸方向的洛倫茲力，使未圖示的透鏡支架向Z軸方向移動。

擺動用線圈59B由分別卷繞于Z軸方向，配設(shè)于-X側(cè)及＋X側(cè)的X側(cè)擺動用線圈59BX以及配設(shè)于-Y側(cè)及＋Y側(cè)的Y側(cè)擺動用線圈59BY構(gòu)成。擺動用線圈59B與磁鐵55B的-Z側(cè)側(cè)面沿著Z軸方向隔開空隙相互對置。

當(dāng)向X側(cè)擺動用線圈59BX通電時，X側(cè)擺動用線圈59BX產(chǎn)生朝向X軸方向的洛倫茲力，而磁鐵55B產(chǎn)生反作用力，使未圖示的對焦單元向X軸方向擺動。另外，當(dāng)向Y側(cè)擺動用線圈59BY通電時，Y側(cè)擺動用線圈59BY產(chǎn)生朝向Y軸方向的洛倫茲力，而磁鐵55B產(chǎn)生反作用力，使未圖示的對焦單元向Y軸方向擺動。

在此，在對焦用線圈54B的＋P軸方向外側(cè)配設(shè)有沿X軸方向被磁化的位置檢測用磁鐵64PP，位置檢測用磁鐵64PP被固定于未圖示的磁鐵支架上。另外，沿Y軸方向被磁化的位置檢測用磁鐵64PM配設(shè)于對焦用線圈54B的-P軸方向外側(cè)，且被固定于未圖示的磁鐵支架上。

位置檢測用霍爾元件61由＋P側(cè)的霍爾元件61PP和-P側(cè)的霍爾元件61PM構(gòu)成?；魻栐?1PP配設(shè)于位置檢測用磁鐵64PP的-Z側(cè)，且被固定于未圖示的基臺上。霍爾元件61PM配設(shè)于位置檢測用磁鐵64PM的-Z側(cè)，且被固定于未圖示的基臺上。

這樣一來，霍爾元件61PP與位置檢測用磁鐵64PP沿著Z方向隔開空隙相互對置，霍爾元件61PM與位置檢測用磁鐵64PM沿著Z方向隔開空隙相互對置。另外，霍爾元件61PP可檢測出自位置檢測用磁鐵64PP產(chǎn)生的磁感應(yīng)強度的Z軸方向成分?；魻栐?1PM可檢測出自位置檢測用磁鐵64PM產(chǎn)生的磁感應(yīng)強度的Z軸方向成分。

進而，霍爾元件61PP檢測出隨著位置檢測用磁鐵64PP向X軸方向擺動產(chǎn)生的磁感應(yīng)強度變化。霍爾元件61PM檢測出隨著位置檢測用磁鐵64PM向Y軸方向擺動產(chǎn)生的磁感應(yīng)強度變化。

因此，霍爾元件61PP可知磁鐵支架沿著X方向的擺動位置，霍爾元件61PM可知磁鐵支架沿著Y方向的擺動位置。

其結(jié)果為，當(dāng)拍攝時產(chǎn)生手抖時，向X側(cè)擺動用線圈59BX和Y側(cè)擺動用線圈59BY通電，由霍爾元件61PP和61PM監(jiān)測出擺動大小，并進行抖動校正。

這樣，日本專利公開號為JP2014-126668的帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置使磁鐵55B對角配置，以防止寬度尺寸增大，能夠避免大型化。然而，另一方面，需要安裝位置檢測用磁鐵64PP、64PM，這樣造成構(gòu)成部件數(shù)增大，并且結(jié)構(gòu)變復(fù)雜，產(chǎn)品成本變高的問題。

為了解決這樣的問題，也提出了圖14所示的一種帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置，其不使用位置檢測用磁鐵64PP、64PM，而在磁鐵55B的Z軸方向后方設(shè)置有霍爾元件61X、61Y，以作為位置檢測用霍爾元件61。

在該情況下，位置檢測用霍爾元件61X配設(shè)于擺動用線圈59BX的-Z側(cè)，且被固定于未圖示的基臺上，其隔著擺動用線圈59BX與磁鐵55B的-Z側(cè)的側(cè)面沿著Z軸方向隔開空隙相互對置。位置檢測用霍爾元件61Y配設(shè)于擺動用線圈59BY的-Z側(cè)，且固定于未圖示的基臺上，其隔著擺動用線圈59BY與磁鐵55B的-Z側(cè)側(cè)面沿著Z軸方向隔開空隙相互對置。

霍爾元件61X、61Y都用于檢測自其所對置的磁鐵55B產(chǎn)生的磁感應(yīng)強度的Z軸方向成分。特別是霍爾元件61X用于檢測隨著所對置的磁鐵55B向X軸方向擺動而發(fā)生的磁感應(yīng)強度變化?；魻栐?1Y用于檢測隨著所對置的磁鐵55B向Y軸方向擺動而發(fā)生的磁感應(yīng)強度變化。因此，霍爾元件61X可知磁鐵支架沿著X方向的擺動位置，而霍爾元件61Y可知磁鐵支架沿著Y方向的擺動位置。

在此，配設(shè)于擺動用線圈59B的Z軸方向后方的霍爾元件61X、61Y會漏過隨著擺動用線圈59B的通電而產(chǎn)生的磁性噪聲，而產(chǎn)生錯誤的位置檢測信號。為了抑制這樣的磁性噪聲的漏過，在夾設(shè)于磁鐵55B與霍爾元件61X之間的擺動用線圈59BX以及磁鐵55B與霍爾元件61Y之間夾設(shè)有擺動用線圈59BY，該擺動用線圈59BY并未卷繞于與霍爾元件61X以及霍爾元件61Y相互對置的中部，而是分割為兩個卷繞片。但是，若將擺動用線圈59B分割為這樣的卷繞片時，使自磁鐵55B產(chǎn)生的磁感應(yīng)線與所分割的擺動用線圈59BX、59BY發(fā)生交叉的交叉量減少，為此會產(chǎn)生擺動時的驅(qū)動力（擺動力）降低的問題。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

為此，本實用新型的目的在于提供一種不會導(dǎo)致裝置大型化，并且不需要位置檢測用磁鐵，也不會造成擺動時驅(qū)動力的降低的帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置。

一種帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置，其其以透鏡的光軸方向作為Z軸方向，并以分別與該Z軸方向正交且相互正交的兩軸作為X軸方向和Y軸方向，所述透鏡驅(qū)動裝置包括對焦單元和抖動校正單元。所述對焦單元包括：用于保持所述透鏡的透鏡支架；繞著所述Z軸方向卷繞，安裝于所述透鏡支架外側(cè)的對焦用線圈；沿著透鏡徑向與所述對焦用線圈隔開空隙相互對置的多個磁鐵；用于保持所述多個磁鐵的磁鐵支架；以及連接所述透鏡支架和磁鐵支架，沿著所述X軸方向和Y軸方向延伸，將所述透鏡支架支承為能夠向Z軸方向移動的懸架支承機構(gòu)。所述抖動校正單元包括：基臺；安裝于所述基臺的磁力檢測機構(gòu)；繞著與所述Z軸平行的軸卷繞，且沿著Z軸方向與所述多個磁鐵隔開空隙相互對置的多個擺動用線圈；以及連接在所述基臺和對焦單元之間、將所述對焦單元支承為能夠向與Z軸正交的方向擺動的擺動支承機構(gòu)。其中，所述磁鐵支架為自所述Z軸方向觀察時呈正方形狀的框體，框體的對角分別位于X軸方向和Y軸方向，每個磁鐵為呈等腰梯形的柱體，所述磁鐵以長底邊側(cè)朝向所述磁鐵支架中心的狀態(tài)安裝于所述磁鐵支架的對角位置上。所述磁力檢測機構(gòu)包括X方向磁力檢測機構(gòu)和Y方向磁力檢測機構(gòu)。所述X方向磁力檢測機構(gòu)對磁鐵的磁感應(yīng)強度的X軸方向成分具有檢測靈敏度，其安裝在裝配于Y軸方向的磁鐵支架的對角位置上的兩個磁鐵中的至少一個磁鐵的短底邊外側(cè)。所述Y方向磁力檢測機構(gòu)對磁感應(yīng)強度的Y軸方向成分具有檢測靈敏度，其安裝在裝配于X軸方向的磁鐵支架的對角位置上的兩個磁鐵中的至少一個磁鐵的短底邊外側(cè)。

由此，無需追加安裝位置檢測用磁鐵，磁力檢測機構(gòu)也能夠高精度地檢測出磁鐵涉及X軸方向的位置和涉及Y軸方向的位置。因此，本實用新型能夠提供一種小型低成本的帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置。

作為一種實施方式，所述磁鐵支架上還安裝有：在所述X方向磁力檢測機構(gòu)的X軸方向的兩側(cè)與X方向磁力檢測機構(gòu)隔開空隙相互對置的磁軛，以及在所述Y方向磁力檢測機構(gòu)的Y軸方向的兩側(cè)與Y方向磁力檢測機構(gòu)隔開空隙相互對置的磁軛。

由此，能夠提高磁力檢測機構(gòu)的檢測靈敏度，從而能夠高精度地檢測出磁鐵在X軸方向及Y軸方向上的位置。

作為一種實施方式，所述的帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置還包括兩個所述X方向磁力檢測機構(gòu)，其以光軸為基準(zhǔn)而彼此旋轉(zhuǎn)對稱地安裝于Y軸方向，所述兩個X方向磁力檢測機構(gòu)的輸出端連接一檢測電路。所述的帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置還包括兩個所述Y方向磁力檢測機構(gòu)，其以光軸為基準(zhǔn)而彼此旋轉(zhuǎn)對稱地安裝于X軸方向，所述兩個Y方向磁力檢測機構(gòu)的輸出端連接另一檢測電路。每個檢測電路均包括一差動處理電路，用于對所述兩個X方向磁力檢測機構(gòu)或兩個Y方向磁力檢測機構(gòu)的輸出信號進行差動處理。

由此，能夠抑制對焦單元繞著Z軸周圍旋轉(zhuǎn)時磁力檢測機構(gòu)檢測輸出中產(chǎn)生的噪聲，從而能夠更高精度地對磁鐵在X軸方向以及Y軸方向的位置進行檢測。

作為一種實施方式，所述擺動支承機構(gòu)包括沿Z軸方向延伸的多個線狀的彈簧構(gòu)件，每個均設(shè)置于相鄰的兩個磁鐵之間，一個端部與所述抖動校正單元側(cè)相連結(jié)，另一個端部與所述對焦單元側(cè)相連結(jié)。

其結(jié)果為，可降低擺動支承機構(gòu)與其他構(gòu)成構(gòu)件間的相互干涉的可能性，更容易裝配，并且能夠使對焦單元穩(wěn)定地沿著X軸方向及Y軸方向直進擺動，由磁力檢測機構(gòu)穩(wěn)定地進行磁感應(yīng)強度的檢測。

作為另一種實施方式，所述擺動支承機構(gòu)包括多個可轉(zhuǎn)動的轉(zhuǎn)動構(gòu)件，每個均設(shè)置于相鄰的兩個磁鐵之間，且沿著Z軸方向夾持于所述對焦單元和所述抖動校正單元之間。

其結(jié)果為，可降低擺動支承機構(gòu)與其他構(gòu)成構(gòu)件間發(fā)生相互干涉的可能性，更容易裝配，并且能夠使對焦單元穩(wěn)定地沿著X軸方向及Y軸方向直進擺動，由磁力檢測機構(gòu)穩(wěn)定地進行磁感應(yīng)強度的檢測。

附圖說明

圖1和圖2分別是表示本實用新型第一實施方式所述的帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置的立體圖以及爆炸圖。

圖3和圖4分別是本實用新型第一實施方式所述的帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置的主要局部立體圖以及主要部分的俯視圖。

圖5是圖3中帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置的主要局部的部分俯視圖。

圖6是表示圖5中該主要部分上的磁感應(yīng)強度分布的圖。

圖7是表示檢測電路例子的圖。

圖8和圖9分別是本實用新型第二實施方式所述的帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置的爆炸圖以及主要部分剖視圖。

圖10、圖11和圖12分別是分別表示現(xiàn)有帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置的立體圖、爆炸圖及主要局部立體圖。

圖13是現(xiàn)有另一種帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置的主要局部立體圖。

圖14是現(xiàn)有又一種帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置的主要局部立體圖。

具體實施方式

下面將結(jié)合具體實施例及附圖對本實用新型帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置作進一步詳細(xì)描述。

圖1是表示第一實施方式所述的帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置10的立體圖，圖2是帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置10的爆炸圖。另外，圖3表示帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置10的主要部分的立體圖，圖4表示帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置10的主要部分的俯視圖。以下，將透鏡18的光軸方向作為Z（Z軸）方向，且將被攝體側(cè)作為Z軸方向前方（＋Z側(cè)），將分別與Z軸成直角、且相互垂直的兩個方向作為X（X軸）方向和Y（Y軸）方向來進行說明。

如圖1所示，帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置10整體上形成為長方體形狀。在帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置10中，由中央部沿著Z軸方向呈圓環(huán)形開口的透鏡支架13保持著透鏡18。

帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置10包括對焦單元11和抖動校正單元12。

對焦單元11具有透鏡支架13、對焦用線圈14、磁鐵15、磁鐵支架16以及由板狀彈簧構(gòu)件構(gòu)成的懸架支承機構(gòu)17。抖動校正單元12具有擺動用線圈19、由線狀彈簧構(gòu)件20A構(gòu)成的擺動支承機構(gòu)20、磁力檢測機構(gòu)21、磁軛22以及基臺23。

透鏡支架13為中央部沿著Z軸方向開口的八角筒狀構(gòu)件，在內(nèi)周側(cè)保持有透鏡18。在透鏡支架13的外周側(cè)，對焦用線圈14沿著透鏡支架13的外周形狀卷繞為八角環(huán)狀。

磁鐵支架16是形成為沿如圖2那樣的Z軸方向開口的正方形框體的構(gòu)件。另外，如圖2和圖4所示，磁鐵支架16以對角方向作為X軸方向和Y軸方向，穿過磁鐵支架16中心的中心軸M與透鏡18的光軸（Z軸）一致。

自Z軸方向?qū)Υ盆F15進行觀察時，其截面形狀呈等腰梯形，其短底邊側(cè)與長底邊側(cè)之間受到磁化。磁鐵15長底邊側(cè)的磁極面朝向磁鐵支架16的中心，四個磁鐵15在與Z軸平行的軸周圍以90度的間隔呈對角配置于對焦用線圈14的外徑側(cè)。進而，磁鐵15沿著X軸方向以及Y軸方向與對焦用線圈14隔開空隙相互對置。這樣一來，磁鐵15被保持于磁鐵支架16的對角方向四角。

懸架支承機構(gòu)17由前側(cè)彈簧構(gòu)件17A和后側(cè)彈簧構(gòu)件17B構(gòu)成。前側(cè)彈簧構(gòu)件17A和后側(cè)彈簧構(gòu)件17B的圓環(huán)狀的內(nèi)側(cè)保持部17a分別與透鏡支架13的＋Z側(cè)的端面以及-Z側(cè)的端面相連接。另外，前側(cè)彈簧構(gòu)件17A的四方環(huán)狀的外側(cè)保持部17b與磁鐵支架16的＋Z側(cè)的端面相連接，而后側(cè)彈簧構(gòu)件17B的四個長方形狀的外側(cè)保持部17d與磁鐵支架16的-Z側(cè)的端面相連接。前側(cè)彈簧構(gòu)件17A的腕部17c作為用于將內(nèi)側(cè)保持部17a與外側(cè)保持部17b連接起來的彈簧來發(fā)揮功能作用。后側(cè)彈簧構(gòu)件17B的腕部17c作為用于將內(nèi)側(cè)保持部17a與外側(cè)保持部17d連接起來的彈簧來發(fā)揮功能作用。這樣一來，懸架支承機構(gòu)17將透鏡支架13懸架支承為使其能夠向Z軸方向移動。

當(dāng)向如上述那樣構(gòu)成的對焦單元11的對焦用線圈14通電時，對焦用線圈14產(chǎn)生朝向Z軸方向的洛倫茲力，而使透鏡支架13向Z軸方向移動。

接著，對抖動校正單元12的各構(gòu)成部件進行說明。

基臺23以X軸方向和Y軸方向作為對角方向的正方形狀板面的中央部沿著Z軸方向開口，在對角部分設(shè)有朝向Z軸方向延伸的傳感器支架部23a。傳感器支架部23a分別設(shè)置于磁鐵15的X軸方向外側(cè)和Y軸方向外側(cè)，以保持后述磁力檢測機構(gòu)21。在位于磁鐵15的-Z側(cè)的基臺23的＋Z側(cè)面，安裝有擺動用線圈19。

各擺動用線圈19繞著與Z軸平行的軸卷繞，沿著Z軸方向與磁鐵15的-Z側(cè)側(cè)面隔開空隙相互對置。擺動用線圈19包括：分別配設(shè)于-X側(cè)及＋X側(cè)的X側(cè)擺動用線圈19X；以及分別配設(shè)于-Y側(cè)及＋Y側(cè)的Y側(cè)擺動用線圈19Y。

當(dāng)向X側(cè)擺動用線圈19X通電時，X側(cè)擺動用線圈19X產(chǎn)生朝向X軸方向的洛倫茲力，磁鐵15產(chǎn)生反作用力，而使對焦單元11向X軸方向擺動。當(dāng)向Y側(cè)擺動用線圈19Y通電時，Y側(cè)擺動用線圈19Y產(chǎn)生朝向Y軸方向的洛倫茲力，磁鐵15產(chǎn)生反作用力，而使對焦單元11向Y軸方向擺動。

擺動支承機構(gòu)20包括沿著Z軸方向延伸形成為線狀的四條彈簧構(gòu)件20A。在配置于磁鐵支架16四角的各磁鐵15之間，與各磁鐵非接觸地，各彈簧構(gòu)件20A配設(shè)在形成于磁鐵支架16的各框邊中央部的退避槽16e內(nèi)。各彈簧構(gòu)件20A的前側(cè)端部20a與前側(cè)彈簧構(gòu)件17A的外側(cè)保持部17d的各邊的中央部相連結(jié)，后側(cè)端部20b與基臺23的四邊中央相連結(jié)。進而，彈簧構(gòu)件20A將對焦單元11支承為能夠向X軸方向及Y軸方向擺動。

這樣，在磁鐵支架16的各框邊的中央部附近安裝有作為擺動支承機構(gòu)20的彈簧構(gòu)件20A，因此，降低了擺動支承機構(gòu)20與帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置10中的其他構(gòu)成構(gòu)件發(fā)生干涉的可能性，且容易裝配。并且，能夠使對焦單元11分別穩(wěn)定地向X軸方向以及Y軸方向直進擺動，因此，能夠使后述磁力檢測機構(gòu)21穩(wěn)定地進行磁感應(yīng)強度檢測。

磁力檢測機構(gòu)21在與磁鐵15的短底邊側(cè)隔開空隙的外側(cè)配設(shè)于X軸方向及Y軸方向的對角位置。磁力檢測機構(gòu)21由霍爾元件或MR（magnetoresistance，磁致電阻）元件形成，其包括配設(shè)于Y軸方向的X方向磁力檢測機構(gòu)21X以及配設(shè)于X軸方向的Y方向磁力檢測機構(gòu)21Y。磁力檢測機構(gòu)21被保持在設(shè)置于基臺23上的傳感器支架部23a上。

如圖4所示，X方向磁力檢測機構(gòu)21X對磁感應(yīng)強度的X軸方向成分具有檢測靈敏度，其包括安裝于＋Y側(cè)的第一X方向磁力檢測機構(gòu)21XP以及安裝于-Y側(cè)的第二X方向磁力檢測機構(gòu)21XM。Y方向磁力檢測機構(gòu)21Y對磁感應(yīng)強度的Y軸方向成分具有檢測靈敏度，其包括安裝于＋X側(cè)的第一Y方向磁力檢測機構(gòu)21YP以及安裝于-X側(cè)的第二Y方向磁力檢測機構(gòu)21YM。

例如，如圖3所示，在配設(shè)于＋Y側(cè)對角位置的磁鐵15中，安裝于＋Y側(cè)的第一X方向磁力檢測機構(gòu)21XP對自磁鐵15產(chǎn)生的磁感應(yīng)強度的X軸方向成分具有檢測靈敏度。進而，如圖4所示，X方向磁力檢測機構(gòu)21X與Y方向磁力檢測機構(gòu)21Y以中心軸M（光軸，Z軸）為基準(zhǔn)而旋轉(zhuǎn)對稱地安裝起來，當(dāng)將與Z軸平行的磁鐵支架16的中心軸M的繞＋Z軸向右轉(zhuǎn)的切線方向（右螺旋方向）作為＋U方向時，以將＋U朝向的磁感應(yīng)強度作為正值來檢測。這樣一來，X方向磁力檢測機構(gòu)21X可檢測出自磁鐵15產(chǎn)生的磁感應(yīng)強度的X軸方向成分。Y方向磁力檢測機構(gòu)21Y可檢測出自磁鐵15產(chǎn)生的磁感應(yīng)強度的Y軸方向成分。

如圖2、圖3所示，磁軛22大體形成為L字形狀，共具有八條，每兩條為一組，共有四組，分別沿著對應(yīng)的磁鐵15的斜面延長，以將磁鐵15的包括長底邊的側(cè)面與包括短底邊的側(cè)面連接起來。其中兩對磁軛22的一端與構(gòu)成X方向磁力檢測機構(gòu)21X的第一X方向磁力檢測機構(gòu)21XP和第二X方向磁力檢測機構(gòu)21XM在X軸方向隔開空隙相互對置，另外兩對磁軛22的一端與用于構(gòu)成Y方向磁力檢測機構(gòu)21Y的第一Y方向磁力檢測機構(gòu)21YP以及第二Y方向磁力檢測機構(gòu)21YM在Y軸方向隔開空隙相互對置。八條磁軛22的另一端側(cè)安裝在形成于磁鐵支架16上的安裝槽16g中，上述的一端從安裝槽16g伸出，與對應(yīng)的磁力檢測機構(gòu)相對。

其結(jié)果為，X方向磁力檢測機構(gòu)21X可檢測出隨著磁鐵15向 X軸方向擺動而發(fā)生的磁感應(yīng)強度變化。另外，Y方向磁力檢測機構(gòu)21Y可檢測出隨著磁鐵15向Y軸方向擺動而發(fā)生的磁感應(yīng)強度變化。

在圖6中，例示出從配設(shè)于圖5所示的磁鐵15的-Y側(cè)上的第二X方向磁力檢測機構(gòu)21XM中心穿過的點A到點B（自-U側(cè)到＋U側(cè)）之間檢測到的、X軸方向的磁感應(yīng)強度的大小。

如該圖所示，可獲得與點A到點B間的位置相對應(yīng)的、線性良好的、具有適當(dāng)值的磁感應(yīng)強度，且能夠適當(dāng)?shù)貦z測出磁鐵15的位置，甚至對焦單元11的位置。并且，由于磁力檢測機構(gòu)21與擺動用線圈19分開的距離較大，且隔著磁鐵，因此隨著擺動用線圈19通電而產(chǎn)生的電磁噪聲不會漏到磁力檢測機構(gòu)21中。進而，不需要將擺動用線圈19分割開，因而不會導(dǎo)致擺動驅(qū)動力的降低。

因此，X方向磁力檢測機構(gòu)21X能夠準(zhǔn)確地檢測到磁鐵支架16沿著X方向的擺動位置，而Y方向磁力檢測機構(gòu)21Y能夠準(zhǔn)確地檢測到磁鐵支架16沿著Y方向的擺動位置。

但是，當(dāng)向擺動用線圈19通電而使對焦單元11擺動時，在對焦單元11的重心或擺動用線圈19的推力平衡發(fā)生微小偏移的情況下，有時候構(gòu)成擺動支承機構(gòu)20的四條彈簧構(gòu)件20A會發(fā)生扭轉(zhuǎn)，而磁鐵支架16會產(chǎn)生旋轉(zhuǎn)振動。在該情況下，分別施加于第一X方向磁力檢測機構(gòu)21XP和第二X方向磁力檢測機構(gòu)21XM、第一Y方向磁力檢測機構(gòu)21YP和第二Y方向磁力檢測機構(gòu)21YM上的U方向（＋U方向或-U方向）磁感應(yīng)強度同時發(fā)生變化，而隨著旋轉(zhuǎn)振動而產(chǎn)生的無謂電磁噪聲會漏入第一X方向磁力檢測機構(gòu)21XP和第二X方向磁力檢測機構(gòu)21XM、第一Y方向磁力檢測機構(gòu)21YP和第二Y方向磁力檢測機構(gòu)21YM中。

與此相對，如圖7的檢測電路例所示，該檢測電路可使安裝于對角位置的第一X方向磁力檢測機構(gòu)21XP與第二X方向磁力檢測機構(gòu)21XM的檢測輸出存在差動，由此在X方向磁力檢測機構(gòu)21X中能夠抵消檢測到的電磁噪聲。

作為具體的檢測電路例子，由放大器OPP將第一X方向磁力檢測機構(gòu)21XP的檢測輸出放大，由放大器OPM將第二X方向磁力檢測機構(gòu)21XM的檢測輸出放大，且由差動放大器DOP使各放大器OPP、OPM的輸出發(fā)生差動。這樣，如果使第一X方向磁力檢測機構(gòu)21XP的檢測輸出與第二X方向磁力檢測機構(gòu)21XM的檢測輸出發(fā)生差動，則使隨著U方向的旋轉(zhuǎn)而產(chǎn)生的磁感應(yīng)強度變化抵消，能夠檢測出隨著磁鐵支架16向X軸方向擺動而磁鐵15發(fā)生磁感應(yīng)強度的變化、即僅僅X軸方向的位置信號。同樣，能夠使分別安裝于對角位置的第一Y方向磁力檢測機構(gòu)21YP與第二Y方向磁力檢測機構(gòu)21YM的檢測輸出存在差動，能夠在Y方向磁力檢測機構(gòu)21Y中使檢測到的電磁噪聲抵消。這樣一來，能夠提高X軸方向及Y軸方向的位置檢測精度。

此外，本例子所述的第一X方向磁力檢測機構(gòu)21XP和第二X方向磁力檢測機構(gòu)21XM、第一Y方向磁力檢測機構(gòu)21YP和第二Y方向磁力檢測機構(gòu)21YM具有旋轉(zhuǎn)對稱安裝的結(jié)構(gòu)，以便能夠分別以＋U方向（繞＋Z軸方向右轉(zhuǎn)的切線方向）作為正感應(yīng)方向。但是，也能夠代替所述例子，例如，將第一X方向磁力檢測機構(gòu)21XP以使＋X方向（-U方向）作為正感應(yīng)方向的方式安裝起來，而將第二X方向磁力檢測機構(gòu)21XM以使＋X方向（＋U方向）作為正感應(yīng)方向的方式與第一X方向磁力檢測機構(gòu)21XP面對稱地安裝起來。這樣，在使檢測靈敏度極性相反的方式進行安裝的情況下，將所述檢測電路的差動變更為迭加，也能夠抵消電磁噪聲。進而，檢測靈敏度極性相反的信號迭加也肯定與如上述那樣使檢測靈敏度極性為同極的信號差動一致。

此外，在其他實施例中，并不需要將第一X方向磁力檢測機構(gòu)21XP和第二X方向磁力檢測機構(gòu)21XM、第一Y方向磁力檢測機構(gòu)21YP和第二Y方向磁力檢測機構(gòu)21YM這四個磁力檢測機構(gòu)21全部安裝起來，為了簡化結(jié)構(gòu)和降低成本，也能夠安裝有第一X方向磁力檢測機構(gòu)21XP和第二X方向磁力檢測機構(gòu)21XM其中的任一者，并安裝有第一Y方向磁力檢測機構(gòu)21YP和第二Y方向磁力檢測機構(gòu)21YM其中的任一者。另外，也能夠縮小呈等腰梯形的磁鐵15自Z軸方向觀察到的截面形狀的短底邊尺寸，使截面形狀實質(zhì)上形成為等腰三角形那樣。進而，如圖5所示的磁軛22并不局限于將磁鐵15的長底邊側(cè)與短底邊側(cè)連接起來的形狀，可進行各種變形，例如使其能夠僅設(shè)置于磁力檢測機構(gòu)21兩側(cè)等。

以上，當(dāng)拍攝時發(fā)生手抖時，通過向X側(cè)擺動用線圈19X以及Y側(cè)擺動用線圈19Y通電，而使對焦單元11向X軸方向及Y軸方向向擺動，同時由X方向磁力檢測機構(gòu)21X和Y方向磁力檢測機構(gòu)21Y高精度地監(jiān)測其擺動大小，并適當(dāng)進行抖動校正。

圖8是第二實施方式所述的帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置10的爆炸圖，而圖9是第二實施方式所述的帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置10的主要部分剖視圖。

第二實施方式帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置10與第一實施方式所述的帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置10不同點在于，擺動支承機構(gòu)20的結(jié)構(gòu)不同以及磁軛22為非裝載方式。

對焦單元11具有透鏡支架13、對焦用線圈14、磁鐵15、磁鐵支架16以及包括板狀彈簧構(gòu)件的懸架支承機構(gòu)17。抖動校正單元12具有擺動用線圈19、由轉(zhuǎn)動構(gòu)件20B構(gòu)成的擺動支承機構(gòu)20、磁力檢測機構(gòu)21以及基臺23。

透鏡支架13為中央部沿著Z軸方向開口的八角筒狀構(gòu)件，其內(nèi)周側(cè)保持有未圖示的透鏡。在透鏡支架13的外周側(cè)，對焦用線圈14沿著透鏡支架13的外周形狀呈八角環(huán)狀卷繞起來。

磁鐵支架16為沿著Z軸方向開口的正方形框狀構(gòu)件，其四角朝向X軸方向及Y軸方向。

從Z軸方向觀察時，磁鐵15截面形狀呈等腰梯形，其短底邊側(cè)與長底邊側(cè)之間受到磁化（即磁化方向為短底邊側(cè)到長底邊側(cè)或反之）。磁鐵15長底邊側(cè)的磁極面朝向磁鐵支架16的中心，在與Z軸平行的軸周圍，將四個磁鐵15以90度的間隔呈對角配置于對焦用線圈14的外徑側(cè)。進而，磁鐵15與對焦用線圈14沿著X軸方向以及Y軸方向隔開空隙相互對置。這樣一來，將磁鐵15保持于磁鐵支架16的對角方向的四角。

懸架支承機構(gòu)17由前側(cè)彈簧構(gòu)件17A和后側(cè)彈簧構(gòu)件17B構(gòu)成。前側(cè)彈簧構(gòu)件17A和后側(cè)彈簧構(gòu)件17B的各圓環(huán)狀內(nèi)側(cè)保持部17a分別與透鏡支架13的＋Z側(cè)端面及-Z側(cè)端面相連接。另外，前側(cè)彈簧構(gòu)件17A的四方環(huán)狀外側(cè)保持部17b與磁鐵支架16的＋Z側(cè)端面相連接，后側(cè)彈簧構(gòu)件17B的四個長方形狀外側(cè)保持部17d與磁鐵支架16的-Z側(cè)端面相連接。前側(cè)彈簧構(gòu)件17A的腕部17c作為用于將內(nèi)側(cè)保持部17a與外側(cè)保持部17b連接起來的彈簧來發(fā)揮功能作用。后側(cè)彈簧構(gòu)件17B的腕部17c作為用于將內(nèi)側(cè)保持部17a的外側(cè)保持部17d與連接起來的彈簧來發(fā)揮功能作用。這樣一來，懸架支承機構(gòu)17將透鏡支架13懸架支承為使其能夠向Z軸方向移動。

當(dāng)向如上所述構(gòu)成的對焦單元11的對焦用線圈14通電時，對焦用線圈14產(chǎn)生朝向Z軸方向的洛倫茲力，而使透鏡支架13向Z軸方向移動。

基臺23是以X軸方向及Y軸方向作為對角方向的正方形狀的板面，其中央部沿著Z軸方向開口，傳感器支架部23a朝向Z軸方向延伸地立設(shè)于基臺23的對角部分。各傳感器支架部23a分別設(shè)置于磁鐵15的X軸方向外側(cè)和Y軸方向外側(cè)，以保持磁力檢測機構(gòu)21。在位于磁鐵15的-Z側(cè)的基臺23的＋Z側(cè)面上，安裝有擺動用線圈19。

擺動用線圈19繞著與Z軸平行的軸卷繞起來，其與磁鐵15的-Z側(cè)的側(cè)面沿著Z軸方向隔開空隙相互對置。擺動用線圈19包括分別配設(shè)于-X側(cè)和＋X側(cè)的X側(cè)擺動用線圈19X；以及分別配設(shè)于-Y側(cè)和＋Y側(cè)的Y側(cè)擺動用線圈19Y。

當(dāng)向X側(cè)擺動用線圈19X通電時，X側(cè)擺動用線圈19X產(chǎn)生X軸方向朝向的洛倫茲力，而磁鐵15產(chǎn)生反作用力，使對焦單元11向X軸方向擺動。當(dāng)向Y側(cè)擺動用線圈19Y通電時，Y側(cè)擺動用線圈19Y產(chǎn)生朝向Y軸方向的洛倫茲力，而磁鐵15產(chǎn)生反作用力，使對焦單元11向Y軸方向擺動。

擺動支承機構(gòu)20即為由球體構(gòu)成的轉(zhuǎn)動構(gòu)件20B。各轉(zhuǎn)動構(gòu)件20B等間隔地配置于相鄰的兩磁鐵15之間，由形成于對焦單元11側(cè)的磁鐵支架16的各框邊的-Z側(cè)端部中央處的保持孔16h與形成于抖動校正單元12側(cè)的基臺23的＋Z側(cè)面的四邊中央部處的保持孔23h，沿著Z軸方向夾持著各轉(zhuǎn)動構(gòu)件20B。轉(zhuǎn)動構(gòu)件20B通過在基臺23的保持孔23h內(nèi)滾動，以將轉(zhuǎn)動構(gòu)件20B上的對焦單元11支承為使其能夠分別向X軸方向及Y軸方向擺動。這樣，在磁鐵支架16的各框邊中央部附近，將轉(zhuǎn)動構(gòu)件20B夾設(shè)于各磁鐵15之間，由此，降低了與帶抖動校正功能的透鏡驅(qū)動裝置10的其他構(gòu)成構(gòu)件發(fā)生干涉的可能性低，更容易裝配。并且，能夠使對焦單元11穩(wěn)定地向X軸方向及Y軸方向直進擺動，且使后述磁力檢測機構(gòu)21對磁感應(yīng)強度的檢測變穩(wěn)定。

磁力檢測機構(gòu)21配設(shè)于與磁鐵15短底邊側(cè)隔開空隙的外側(cè)，且位于X軸方向以及Y軸方向的對角位置上。磁力檢測機構(gòu)21由霍爾元件或MR元件形成，其包括配設(shè)于Y軸方向?qū)俏恢蒙系腦方向磁力檢測機構(gòu)21X以及配設(shè)于X軸方向?qū)俏恢蒙系腨方向磁力檢測機構(gòu)21Y。磁力檢測機構(gòu)21被保持在設(shè)置于基臺23上的傳感器支架部23a上。

X方向磁力檢測機構(gòu)21X對磁感應(yīng)強度的X軸方向成分具有檢測靈敏度，Y方向磁力檢測機構(gòu)21Y對磁感應(yīng)強度的Y軸方向成分具有檢測靈敏度。其結(jié)果為，X方向磁力檢測機構(gòu)21X可高精度地檢測出隨著磁鐵15向X軸方向擺動而發(fā)生的磁感應(yīng)強度變化。另外，Y方向磁力檢測機構(gòu)21Y可高精度地檢測出隨著磁鐵15向Y軸方向擺動而發(fā)生的磁感應(yīng)強度變化。

此外，在本第二實施方式中，也與第一實施方式同樣，也能夠?qū)方向磁力檢測機構(gòu)21X或Y方向磁力檢測機構(gòu)21Y分別以一對安裝于對角位置上，也能夠僅僅安裝于對角位置的單側(cè)。

本實施例中，也可如上述實施例同樣的，采用如圖7的檢測電路，以抵消磁力檢測機構(gòu)中能夠檢測到的電磁噪聲。

以上，當(dāng)拍攝時手抖產(chǎn)生時，通過向X側(cè)擺動用線圈19X以及Y側(cè)擺動用線圈19Y通電，以使對焦單元11分別向X軸方向以及Y軸方向向擺動，并由X方向磁力檢測機構(gòu)21X和Y方向磁力檢測機構(gòu)21Y高精度地監(jiān)測其擺動大小，以適當(dāng)進行抖動校正。

雖然對本實用新型的描述是結(jié)合以上具體實施例進行的，但是，熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的人員能夠根據(jù)上述的內(nèi)容進行許多替換、修改和變化、是顯而易見的。因此，所有這樣的替代、改進和變化都包括在附后的權(quán)利要求的精神和范圍內(nèi)。