本實用新型涉及一種光纖測試裝置,具體地說是一種多接口光纖測試線，尤其適用于智能變電站二次系統(tǒng)的調(diào)試與故障分析診斷。

背景技術(shù)：

近年來智能變電站逐漸普及,智能變電站的二次回路采用光纖連接為物理基礎(chǔ)。在現(xiàn)場對二次設(shè)備進(jìn)行調(diào)試或故障分析診斷過程中，需要將智能試驗儀經(jīng)光纖測試線與二次設(shè)備進(jìn)行物理鏈路連接。

二次設(shè)備的光纖接口基本分為兩類：LC口(方口)，ST口(圓口)，智能實驗儀的光纖接口則基本為ST口，現(xiàn)有的光纖測試線分為三類：LC-LC型；ST-ST型；ST-LC型。使用傳統(tǒng)的光纖測試線存在以下三點不足：一、工作前需要準(zhǔn)備多條不同類型的測試線；二、工作過程中經(jīng)常需要更換不同類型的測試線，降低了工作效率；三、光纖接口較為脆弱，頻繁插拔光纖測試線容易造成光纖接口的損壞。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

為克服上述現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，本實用新型的目的在于提供一種多接口光纖測試線，使用該測試線對二次設(shè)備進(jìn)行調(diào)試或故障分析診斷時，可以只使用一種類型的測試線，減少光纖接口插拔次數(shù)，提高工作效率。

本實用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：一種多接口光纖測試線，其特征是：包括第一ST光纖接頭、第二ST光纖接頭、LC光纖接頭和連接器，所述的第一ST光纖接頭、第二ST光纖接頭和LC光纖接頭通過連接器相連；所述的第二ST光纖接頭和LC光纖接頭并聯(lián)后與第一ST光纖接頭串聯(lián)。

優(yōu)選地，所述連接器包括Y型連接器，Y型連接器的單獨一端與第一ST光纖接頭相連，Y型連接器相鄰的兩端分別與第二ST光纖接頭和LC光纖接頭相連。

優(yōu)選地，所述連接器包括殼體、進(jìn)線口、第一出線口、第二出線口和熔接光纖分線的熔接管，熔接管設(shè)置在殼體內(nèi)，進(jìn)線口、第一出線口和第二出線口設(shè)置在殼體上，連接第一ST光纖接頭的光纖穿過進(jìn)線口與熔接管相連，連接第二ST光纖接頭的光纖穿過第一出線口與熔接管相連，連接LC光纖接頭的光纖穿過第二出線口與熔接管相連。

優(yōu)選地，所述第一出線口與第二出線口的夾角在15°到30°之間。

優(yōu)選地，在殼體內(nèi)對應(yīng)進(jìn)線口、第一出線口和第二出線口的地方分別設(shè)置有固定件。

優(yōu)選地，所述殼體包括盒體和盒蓋，所述盒蓋上設(shè)置有配合螺釘使用的通孔，所述盒體內(nèi)部設(shè)置有用于與螺釘連接的連接柱。

本實用新型的有益效果是：本實用新型通過連接器將兩個ST光纖接頭和一個LC光纖接頭整合在一起，在現(xiàn)場使用該光纖測試線對二次設(shè)備進(jìn)行調(diào)試過程中，一般將第一ST光纖接頭接于智能試驗儀，第二ST光纖接頭和LC光纖接頭選擇其一接于被試二次設(shè)備，這樣試驗時可以只使用一種類型的測試線，減少光纖接口插拔次數(shù)，降低光纖接口順壞率，同時也提高了工作效率。

附圖說明

圖1是本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本實用新型所述連接器的一種實施例(第一出線口與第二出線口的夾角為15°)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是本實用新型所述連接器的另一種實施例(第一出線口與第二出線口的夾角為30°)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖中，1第一ST光纖接頭、2第二ST光纖接頭、3LC光纖接頭、4連接器、41殼體、42進(jìn)線口、43第一出線口、44第二出線口。

具體實施方式

為能清楚說明本方案的技術(shù)特點，下面通過具體實施方式，并結(jié)合其附圖，對本實用新型進(jìn)行詳細(xì)闡述。下文的公開提供了許多不同的實施例或例子用來實現(xiàn)本實用新型的不同結(jié)構(gòu)。為了簡化本實用新型的公開，下文中對特定例子的部件和設(shè)置進(jìn)行描述。此外，本實用新型可以在不同例子中重復(fù)參考數(shù)字和/或字母。這種重復(fù)是為了簡化和清楚的目的，其本身不指示所討論各種實施例和/或設(shè)置之間的關(guān)系。應(yīng)當(dāng)注意，在附圖中所圖示的部件不一定按比例繪制。本實用新型省略了對公知組件和處理技術(shù)及工藝的描述以避免不必要地限制本實用新型。

如圖1至圖3所示，本實用新型的一種多接口光纖測試線，它包括第一ST光纖接頭1、第二ST光纖接頭2、LC光纖接頭3和連接器4，所述的第一ST光纖接頭1、第二ST光纖接頭2和LC光纖接頭3通過連接器4相連；所述的第二ST光纖接頭2和LC光纖接頭3并聯(lián)后與第一ST光纖接頭1串聯(lián)。

優(yōu)選地，所述連接器4包括Y型連接器，Y型連接器的單獨一端與第一ST光纖接頭1相連，Y型連接器相鄰的兩端分別與第二ST光纖接頭2和LC光纖接頭3相連。

如圖2和圖3所示，本實用新型所述的連接器包括殼體41、進(jìn)線口42、第一出線口43、第二出線口44和熔接光纖分線的熔接管(圖中未示出)，熔接管設(shè)置在殼體41內(nèi)，進(jìn)線口42、第一出線口43和第二出線口44設(shè)置在殼體41上，連接第一ST光纖接頭的光纖穿過進(jìn)線口與熔接管相連，連接第二ST光纖接頭的光纖穿過第一出線口與熔接管相連，連接LC光纖接頭的光纖穿過第二出線口與熔接管相連。

優(yōu)選地，所述第一出線口與第二出線口的夾角在15°到30°之間，方便第二ST光纖接頭和LC光纖接頭選擇其一接于被試二次設(shè)備。

優(yōu)選地，在殼體內(nèi)對應(yīng)進(jìn)線口、第一出線口和第二出線口的地方分別設(shè)置有固定件。固定件可采用螺釘或纏繞固定帶鉤將光纖進(jìn)行固定。

優(yōu)選地，所述殼體包括盒體和盒蓋，所述盒蓋上設(shè)置有配合螺釘使用的通孔，所述盒體內(nèi)部設(shè)置有用于與螺釘連接的連接柱，方便連接器的拆卸，便于進(jìn)行光纖熔接。

本實用新型主要由以下三部分組成：

(1)ST接口(第一ST光纖接頭)：該接口位于光纖測試線一端，使用時一般接于智能試驗儀，由于現(xiàn)有智能實驗儀基本為ST接口，當(dāng)需要對不同接口的二次設(shè)備進(jìn)行測試時，只需更換光纖測試線另一端接口，該接口無需頻繁插拔，延長了光纖接口的使用壽命。

(2)ST/LC接口(第二ST光纖接頭和LC光纖接頭)：該接口位于光纖測試線另一端，ST口、LC口屬于并聯(lián)關(guān)系，根據(jù)二次設(shè)備接口的不同選擇對應(yīng)的接口。

(3)Y型連接器：ST接口接于Y型連接器中較長的一條光纖上(Y型連接器的單獨一端)，ST/LC接口接于Y型連接器中較短的兩條線上(Y型連接器相鄰的兩端)。為減小光信號在測試線中傳輸?shù)膿p耗，同時考慮到插拔接頭時的操作空間，將連接ST接口和ST/LC接口的光纖通過熔接管相連，ST/LC接口至Y型分叉點處的距離可設(shè)計為5cm,兩條較短連接線在Y型分叉點處夾角為15°至30°。

本實用新型通過連接器將兩個ST光纖接頭和一個LC光纖接頭整合在一起，在現(xiàn)場使用該光纖測試線對二次設(shè)備進(jìn)行調(diào)試過程中，一般將第一ST光纖接頭接于智能試驗儀，第二ST光纖接頭和LC光纖接頭選擇其一接于被試二次設(shè)備，這樣試驗時可以只使用一種類型的測試線，減少光纖接口插拔次數(shù)，降低光纖接口順壞率，同時也提高了工作效率。為了為減小光信號在測試線中傳輸?shù)膿p耗，還可以Y型光纖連接器進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計。

以上所述只是本實用新型的優(yōu)選實施方式，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實用新型原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤飾，這些改進(jìn)和潤飾也被視為本實用新型的保護(hù)范圍。