本實用新型涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種能檢測斷路和短路的顯示面板以及顯示裝置。

背景技術(shù)：

現(xiàn)有的內(nèi)嵌式觸摸屏(In Cell Touch Panel)，一般將液晶顯示面板(Liquid Crystal Display，LCD)的公共電極層劃分為多個公共電極塊，并將每一公共電極塊分別通過一走線與一控制IC(integrated circuit)電連接。所述公共電極塊復(fù)用做觸控電極。在顯示狀態(tài)下，所述公共電極塊用于接收公共電壓信號，在觸控狀態(tài)下，所述公共電極塊作為觸控驅(qū)動電極并用于接收觸控驅(qū)動信號。

目前，制造過程中，在綁上控制IC之前并沒有成熟有效的檢測方式來檢測觸控電極以及相應(yīng)的觸控走線是否存在異常，僅僅只能通過檢測面板的顯示功能來判斷觸控走線是否發(fā)生異常，并在顯示異常時透過OM(Optical Microscope、光學(xué)顯微鏡)機臺判斷是否存在斷線現(xiàn)象，檢測過程周期長、操作繁瑣。

圖1是現(xiàn)有技術(shù)的一種顯示面板的示意圖。圖2是現(xiàn)有技術(shù)的一種顯示面板的電路連接示意圖。如圖1和2所示，現(xiàn)有的顯示面板10包括矩陣排列的觸控電極(如圖中的T1、T2、T3......至T12)和測試模塊11。觸控電極(T1、T2、T3......至T12)通過走線連接到集成電路串口，復(fù)用為公共電極及觸控檢測電極。測試模塊11通常設(shè)置在顯示面板10上遠離集成電路的一端。測試模塊11包括多個開關(guān)器件14、控制信號輸入端12以及測試信號輸入端13。每一個觸控電極通過一個對應(yīng)的開關(guān)器件14連接到測試信號輸入端13，所有開關(guān)器件14的控制端連接到控制信號輸入端12。如圖1、2所示，現(xiàn)有的顯示面板在檢測時，檢測公共電極通短路僅限虛線部分，VT(Visual Test，可視化測試)檢測無法確認到模組真正使用到的實線走線，即這種VT檢測存在較大范圍的盲區(qū)。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

針對現(xiàn)有技術(shù)中的問題，本實用新型的目的在于提供顯示面板以及顯示裝置，能有效解決虛擬測試中的漏檢問題，能夠檢測全部真正使用到的實線走線，不存在檢測盲區(qū)，減小后端良率損失，并且無需在顯示區(qū)域增加測試走線。

本實用新型實施例提供的一種顯示面板，包括：

基板，包括顯示區(qū)域和非顯示區(qū)域；

觸控電極陣列，設(shè)置在所述基板的顯示區(qū)域，所述觸控電極陣列包括由多個沿行方向以及列方向排布的觸控電極；

多個測試走線組，每個所述測試走線組包括通過非顯示區(qū)串聯(lián)的多條測試走線，每條所述測試走線與一個對應(yīng)的所述觸控電極電連接；以及

多個輸入端，各自對應(yīng)連接一所述測試走線組。

優(yōu)選地，還包括多個開關(guān)器件，設(shè)置在所述觸控電極陣列的列方向或者行方向兩端的非顯示區(qū)，所述第一測試走線組以及所述第二測試走線組各自經(jīng)過所述開關(guān)器件串聯(lián)。

優(yōu)選地，還包括：一控制信號輸入端，連接所述開關(guān)器件的控制端。

優(yōu)選地，所述開關(guān)器件是薄膜晶體管，所述控制端是所述薄膜晶體管的柵極。

優(yōu)選地，所述多個測試走線組至少包括通過非顯示區(qū)串聯(lián)的多條第一測試走線組成的第一測試走線組，以及通過非顯示區(qū)串聯(lián)的多條第二測試走線組成的第二測試走線組；

所述第一測試走線組電連接一第一輸入端，所述第二測試走線組連接一第二輸入端。

優(yōu)選地，所述觸控電極陣列中偶數(shù)行偶數(shù)列的觸控電極以及奇數(shù)行奇數(shù)列的觸控電極電連接所述第一測試走線組；

所述觸控電極陣列中奇數(shù)行偶數(shù)列的觸控電極以及偶數(shù)行奇數(shù)列的觸控電極電連接所述第二測試走線組。

優(yōu)選地，所述觸控電極陣列中奇數(shù)行的觸控電極電連接所述第一測試走線組；所述觸控電極陣列中偶數(shù)行的觸控電極電連接所述第二測試走線組。

優(yōu)選地，所述觸控電極陣列中奇數(shù)列的觸控電極電連接所述第一測試走線組；所述觸控電極陣列中偶數(shù)列的觸控電極電連接所述第二測試走線組。

優(yōu)選地，所述第一測試走線組包括多個第一測試走線對，所述第一測試走線對包括兩條相鄰且串聯(lián)的第一測試走線；

所述第二測試走線組包括多個第二測試走線對，所述第二測試走線對包括兩條相鄰且串聯(lián)的第二測試走線；

奇數(shù)列的所述觸控電極的所述第一測試走線對與所述第二測試走線對在行方向上的排列順序，與偶數(shù)列的所述觸控電極的所述第一測試走線對與所述第二測試走線對在行方向上的排列順序鏡像對稱。

優(yōu)選地，測試時，所述第一輸入端與所述第二輸入端施加不同電壓。

優(yōu)選地，所述多個測試走線組還包括通過非顯示區(qū)串聯(lián)的多條第三測試走線組成的第三測試走線組，以及通過非顯示區(qū)串聯(lián)的多條第四測試走線組成的第四測試走線組；

所述第三測試走線組連接一第三輸入端，所述第四測試走線組連接一第四輸入端。

另一方面，本實用新型實施例還提供一種顯示裝置，包括上述的顯示面板。

本實用新型所提供的顯示面板以及顯示裝置具有下列優(yōu)點：

本實用新型的顯示面板以及顯示裝置能有效解決虛擬測試中的漏檢問題，能夠檢測全部真正使用到的實線走線，不存在檢測盲區(qū)，減小后端良率損失，并且無需在顯示區(qū)域增加測試走線。

附圖說明

通過閱讀參照以下附圖對非限制性實施例所作的詳細描述，本實用新型的其它特征、目的和優(yōu)點將會變得更明顯。

圖1是現(xiàn)有技術(shù)的一種顯示面板的示意圖；

圖2是現(xiàn)有技術(shù)的一種顯示面板的電路連接示意圖；

圖3是本實用新型的第一種顯示面板的電路連接示意圖；

圖4是本實用新型的第一種顯示面板的測試走線分組示意圖；

圖5是本實用新型的第一種顯示面板的測試狀態(tài)示意圖；

圖6是本實用新型的第二種顯示面板的測試狀態(tài)示意圖；

圖7是本實用新型的第三種顯示面板的測試狀態(tài)示意圖；

圖8是本實用新型的第四種顯示面板的示意圖；以及

圖9是本實用新型的第四種顯示面板的測試狀態(tài)示意圖。

具體實施方式

現(xiàn)在將參考附圖更全面地描述示例實施方式。然而，示例實施方式能夠以多種形式實施，且不應(yīng)被理解為限于在此闡述的實施方式；相反，提供這些實施方式使得本實用新型將全面和完整，并將示例實施方式的構(gòu)思全面地傳達給本領(lǐng)域的技術(shù)人員。在圖中相同的附圖標(biāo)記表示相同或類似的結(jié)構(gòu)，因而將省略對它們的重復(fù)描述。

圖3是本實用新型的第一種顯示面板的電路連接示意圖。如圖3所示，本實用新型的顯示面板20，包括：基板、觸控電極陣列(如：T1、T2、T3......至T16)、多個測試走線組、多個開關(guān)器件24、控制開關(guān)器件24狀態(tài)的控制信號輸入端23以及第一輸入端21、第二輸入端22。

基板包括顯示區(qū)域和非顯示區(qū)域。觸控電極陣列(如：T1至T16)設(shè)置在基板的顯示區(qū)域，觸控電極陣列包括由多個沿行方向以及列方向排布的觸控電極。每個測試走線組包括通過非顯示區(qū)串聯(lián)的多條測試走線，每條測試走線與一個對應(yīng)的觸控電極電連接。多個測試走線組至少包括通過非顯示區(qū)串聯(lián)的多條第一測試走線組成的第一測試走線組，以及通過非顯示區(qū)串聯(lián)的多條第二測試走線組成的第二測試走線組。第一測試走線組電連接一第一輸入端21，第二測試走線組連接一第二輸入端22。開關(guān)器件24設(shè)置在觸控電極陣列的列方向或者行方向兩端的非顯示區(qū)，第一測試走線組以及第二測試走線組各自經(jīng)過開關(guān)器件24串聯(lián)?？刂菩盘栞斎攵?3連接所有開關(guān)器件24的控制端。本實用新型中，開關(guān)器件24是薄膜晶體管，控制端是薄膜晶體管的柵極，但不以此為限。

繼續(xù)參考圖3，本實用新型的觸控電極陣列中偶數(shù)行偶數(shù)列的觸控電極以及奇數(shù)行奇數(shù)列的觸控電極電連接第一測試走線組，第一輸入端21對應(yīng)的第一測試走線組經(jīng)過并連接了其中一半的觸控電極，包括觸控電極T1、T3、T6、T8、T9、T11、T14以及T16。觸控電極陣列中奇數(shù)行偶數(shù)列的觸控電極以及偶數(shù)行奇數(shù)列的觸控電極電連接第二測試走線組，第二輸入端22對應(yīng)的第二測試走線組經(jīng)過并連接了另外一半的觸控電極，包括觸控電極T2、T4、T5、T7、T10、T12、T13以及T15，兩組測試走線組分別連接的觸控電極呈棋盤格間隔分布，但不以此為限。

本實用新型中可以在為顯示區(qū)域設(shè)置多個開關(guān)器件24，但是為了避免開關(guān)器件24的位置臨近而造成需要多層過橋的結(jié)構(gòu)，本實用新型通過將不同的測試走線組進行分組，并且調(diào)整分組之間的排列順序的方式來減少過橋結(jié)構(gòu)。圖4是本實用新型的第一種顯示面板的測試走線分組示意圖。如圖4所示，第一測試走線組包括多個第一測試走線對25，第一測試走線對25包括兩條相鄰且串聯(lián)的第一測試走線。第二測試走線組包括多個第二測試走線對26，第二測試走線對26包括兩條相鄰且串聯(lián)的第二測試走線。奇數(shù)列的觸控電極的第一測試走線對25與第二測試走線對26在行方向上的排列順序，與偶數(shù)列的觸控電極的第一測試走線25對與第二測試走線對26在行方向上的排列順序鏡像對稱。以圖4為例，自左起第一列的觸控電極以及第三列的觸控電極上的第一測試走線對25在左，第二測試走線對26在右；而自左起第二列的觸控電極以及第四列的觸控電極上的第二測試走線對26在左，第一測試走線對25在右。所以，第一列的觸控電極上第一測試走線對25在與第二測試走線對26的位置關(guān)系與第二列的觸控電極上第一測試走線對25在與第二測試走線對26的位置關(guān)系鏡像對稱(即：兩者排列順序相反)。同樣地，第三列的觸控電極上第一測試走線對25在與第二測試走線對26的位置關(guān)系與第四列的觸控電極上第一測試走線對25在與第二測試走線對26的位置關(guān)系鏡像對稱(即：兩者排列順序相反)。

圖5是本實用新型的第一種顯示面板的測試狀態(tài)示意圖。如圖5所示，本實用新型的顯示面板在測試時，第一輸入端21與第二輸入端22施加不同電壓，使得第一測試走線組經(jīng)過的觸控電極T1、T3、T6、T8、T9、T11、T14以及T16，具有一個較暗的第一亮度，第二測試走線組經(jīng)過的觸控電極T2、T4、T5、T7、T10、T12、T13以及T15，具有一個較亮的第二亮度。則當(dāng)畫面顯示為明暗間隔的棋盤格時，顯示面板為良品；當(dāng)畫面出現(xiàn)部分棋盤格部分純色畫面，表示顯示面板存在測試走線的斷路；當(dāng)畫面整體顯示純色畫面時表示測試走線之間存在短路不良，以此，可以快速準確地判斷顯示面板的品質(zhì)，或是準確知道顯示面板電路出現(xiàn)的是哪種問題(是顯示面板出現(xiàn)了斷路問題，或者是顯示面板出現(xiàn)了短路問題)。

本實用新型的第一測試走線組和第二測試走線組也可以通過其他的方式連接各個觸控電極。

圖6是本實用新型的第二種顯示面板的測試狀態(tài)示意圖。如圖6所示，在一個變化例中，本實用新型中的觸控電極陣列中奇數(shù)行的觸控電極T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13以及T15，電連接第一測試走線組，觸控電極陣列中偶數(shù)行的觸控電極T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14以及T16，電連接第二測試走線組(為了清楚顯示測試結(jié)果，圖6中不顯示連接的具體電路圖)。第一輸入端31連接第一測試走線組，第一輸入端32連接第二測試走線組。其他技術(shù)特征如前所述，此處不再贅述。

繼續(xù)參考圖6，本實用新型的顯示面板在測試時，第一輸入端31與第二輸入端32施加不同電壓，使得第一測試走線組經(jīng)過的觸控電極T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13以及T15，具有一個較暗的第一亮度，第二測試走線組經(jīng)過的觸控電極T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14以及T16，具有一個較亮的第二亮度。則當(dāng)畫面顯示為明暗間隔的橫向的斑馬線時，顯示面板為良品；當(dāng)畫面出現(xiàn)部分斑馬線部分純色畫面，表示顯示面板存在測試走線的斷路；當(dāng)畫面整體顯示純色畫面時表示測試走線之間存在短路不良，以此，可以快速準確地判斷顯示面板的品質(zhì)，或是準確知道顯示面板電路出現(xiàn)的是哪種問題(是顯示面板出現(xiàn)了斷路問題，或者是顯示面板出現(xiàn)了短路問題)。

圖7是本實用新型的第三種顯示面板的測試狀態(tài)示意圖。如圖7所示，在一個變化例中，本實用新型中的觸控電極陣列中奇數(shù)列的觸控電極T1、T2、T3、T4、T9、T10、T11以及T12，電連接第一測試走線組，觸控電極陣列中偶數(shù)列的觸控電極T5、T6、T7、T8、T13、T14、T15以及T16，電連接第二測試走線組(為了清楚顯示測試結(jié)果，圖7中也不顯示連接的具體電路圖)。第一輸入端41連接第一測試走線組，第二輸入端42連接第二測試走線組。其他技術(shù)特征如前所述，此處不再贅述。

繼續(xù)參考圖7，本實用新型的顯示面板在測試時，第一輸入端41與第二輸入端42施加不同電壓，使得第一測試走線組經(jīng)過的觸控電極T1、T2、T3、T4、T9、T10、T11以及T12，具有一個較暗的第一亮度，第二測試走線組經(jīng)過的觸控電極T5、T6、T7、T8、T13、T14、T15以及T16，具有一個較亮的第二亮度。則當(dāng)畫面顯示為明暗間隔的縱向的斑馬線時，顯示面板為良品；當(dāng)畫面出現(xiàn)部分斑馬線部分純色畫面，表示顯示面板存在測試走線的斷路；當(dāng)畫面整體顯示純色畫面時表示測試走線之間存在短路不良，以此，可以快速準確地判斷顯示面板的品質(zhì)，或是準確知道顯示面板電路出現(xiàn)的是哪種問題(是顯示面板出現(xiàn)了斷路問題，或者是顯示面板出現(xiàn)了短路問題)。

本實用新型也可以通過四個輸入端來進行檢測，為了配合四個輸入端，本實用新型的多個測試走線組還包括通過非顯示區(qū)串聯(lián)的多條第三測試走線組成的第三測試走線組，以及通過非顯示區(qū)串聯(lián)的多條第四測試走線組成的第四測試走線組，來形成多個不同亮度等級的檢測模式，以便應(yīng)對具有更多像素的面板。

圖8是本實用新型的第四種顯示面板的示意圖。如圖8所示，本實用新型也可以包括第一輸入端51、第二輸入端52、第三輸入端53和第四輸入端54。這四個輸入端各自連接64個觸控電極中的16個觸控電極(圖8中不顯示連接的具體電路圖)。其他技術(shù)特征如前所述，此處不再贅述。

圖9是本實用新型的第四種顯示面板的測試狀態(tài)示意圖。如圖9所示，本實用新型的顯示面板在測試時，第一輸入端51、第二輸入端52、第三輸入端53和第四輸入端54不同電壓。

第一輸入端51電連接第一測試走線組，第一測試走線組經(jīng)過的觸控電極T1、T5、T11、T15、T17、T21、T27、T31、T33、T37、T43、T47、T49、T53、T59以及T63，具有第一亮度。

第二輸入端52電連接第二測試走線組，第二測試走線組經(jīng)過的觸控電極T2、T6、T12、T16、T18、T22、T28、T32、T34、T38、T44、T48、T50、T54、T60以及T64，具有第二亮度。

第三輸入端53電連接第三測試走線組，第三測試走線組經(jīng)過的觸控電極T3、T7、T9、T13、T19、T23、T25、T29、T35、T39、T41、T45、T51、T55、T57以及T61，具有第三亮度。

第四輸入端54電連接第四測試走線組，第四測試走線組經(jīng)過的觸控電極T4、T8、T10、T14、T20、T24、T26、T30、T36、T40、T42、T46、T52、T56、T58以及T62，具有第四亮度。

同樣地，則當(dāng)畫面顯示為四種不同亮度明暗間隔的復(fù)雜棋盤格時(如圖9所示)，顯示面板為良品；當(dāng)畫面出現(xiàn)部分棋盤格部分純色畫面，表示顯示面板存在測試走線的斷路；當(dāng)畫面整體顯示純色畫面時表示測試走線之間存在短路不良，以此，可以快速準確地判斷顯示面板的品質(zhì)，或是準確知道顯示面板電路出現(xiàn)的哪種問題(是顯示面板出現(xiàn)了斷路問題，或者是顯示面板出現(xiàn)了短路問題)。

在此基礎(chǔ)上，增加輸入端和/或測試走線組(例如6個輸入端與6個測試走線組；或是8個輸入端與8個測試走線組等)來進行測試的技術(shù)方案，也落在本實用新型的保護范圍之中。

本實施例提供了一種顯示裝置，包括：顯示面板以及驅(qū)動電路，包括采用上述的顯示面板。在本實施例中，顯示裝置可以為手機、臺式電腦、筆記本、平板電腦、電子相冊等。

綜上，本實用新型所提供的顯示面板以及顯示裝置具有下列優(yōu)點：本實用新型的顯示面板以及顯示裝置能有效解決虛擬測試中的漏檢問題，能夠檢測全部真正使用到的實線走線，不存在檢測盲區(qū)，減小后端良率損失，并且無需在顯示區(qū)域增加測試走線。

以上內(nèi)容是結(jié)合具體的優(yōu)選實施方式對本實用新型所作的進一步詳細說明，不能認定本實用新型的具體實施只局限于這些說明。對于本實用新型所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出多個簡單推演或替換，都應(yīng)當(dāng)視為屬于本實用新型的保護范圍。