本公開(kāi)內(nèi)容涉及顯示裝置及測(cè)量顯示裝置的接觸電阻的方法。

背景技術(shù)：

已經(jīng)開(kāi)發(fā)了諸如液晶顯示器(LCD)、有機(jī)發(fā)光顯示裝置、等離子體顯示面板(PDP)、電泳顯示器(EPD)等的各種平板顯示裝置。

LCD通過(guò)根據(jù)數(shù)據(jù)電壓來(lái)控制施加至液晶分子的電場(chǎng)來(lái)顯示圖像。有源矩陣型LCD具有形成在每個(gè)像素中的薄膜晶體管(TFT)。

制造LCD的過(guò)程包括基板清洗過(guò)程、基板圖案化過(guò)程、取向膜形成/摩擦過(guò)程、基板接合和液晶滴加過(guò)程、驅(qū)動(dòng)電路安裝過(guò)程、檢查過(guò)程、修復(fù)過(guò)程、液晶裝配過(guò)程等。

在基板清洗過(guò)程期間，采用清洗溶液來(lái)去除顯示面板的上玻璃基板和下玻璃基板的異物污染表面。在基板圖案化過(guò)程期間，在下玻璃基板上形成包括數(shù)據(jù)線(xiàn)和柵極線(xiàn)的信號(hào)線(xiàn)、薄膜晶體管(TFT)、像素電極、公共電極等。此外，在基板圖案化過(guò)程期間，在上玻璃基板上形成黑色矩陣、濾色器等。在取向膜形成/摩擦過(guò)程期間，在每個(gè)玻璃基板上涂覆取向膜，并且采用摩擦布進(jìn)行摩擦或進(jìn)行對(duì)準(zhǔn)取向。通過(guò)相繼的過(guò)程，在下玻璃基板上形成了提供有視頻數(shù)據(jù)電壓的數(shù)據(jù)線(xiàn)、與數(shù)據(jù)線(xiàn)交叉并連續(xù)提供有掃描信號(hào)(即，柵極脈沖)的柵極線(xiàn)、以及包括形成在數(shù)據(jù)線(xiàn)與柵極線(xiàn)的交叉處的TFT、連接至TFT的像素電極、存儲(chǔ)電容器等的TFT陣列。公共電極以垂直場(chǎng)驅(qū)動(dòng)模式(例如，扭曲向列(TN)模式和垂直取向(VA)模式)形成在上玻璃基板上并且以面內(nèi)場(chǎng)驅(qū)動(dòng)模式(例如，面內(nèi)切換(IPS)模式或邊緣場(chǎng)切換(FFS)模式)與像素電極一起形成在下玻璃基板上。偏振板被附接至上玻璃基板和下玻璃基板中的每個(gè)。

在基板接合和液晶滴加過(guò)程期間，在顯示面板的上玻璃基板和下玻璃基板中的任意一個(gè)上涂覆密封劑，滴加液晶，并且其后，上玻璃基板和下玻璃基板采用密封劑接合。液晶層被限定為通過(guò)密封劑限定的液晶區(qū)域。

在驅(qū)動(dòng)電路安裝過(guò)程期間，其中集成了驅(qū)動(dòng)電路的驅(qū)動(dòng)集成電路(IC)被通過(guò)玻璃上芯片(COG)接合或帶式自動(dòng)接合(TAB)過(guò)程由各向異性導(dǎo)電膜(ACF)附接至顯示面板的數(shù)據(jù)焊盤(pán)。柵極驅(qū)動(dòng)電路可以通過(guò)板內(nèi)柵極(GIP)過(guò)程直接形成在下玻璃基板上，或者可以在驅(qū)動(dòng)電路安裝過(guò)程期間在帶式自動(dòng)接合(TAB)過(guò)程中由ACF附接至顯示面板的柵極焊盤(pán)。此外，在驅(qū)動(dòng)電路安裝過(guò)程期間，IC和印刷電路板(PCB)通過(guò)諸如柔性印刷電路板(FPCB)、柔性扁平電纜(FFC)等的柔性電路板連接。

檢查過(guò)程包括驅(qū)動(dòng)電路的檢查、線(xiàn)的檢查，諸如形成在TFT陣列基板上的數(shù)據(jù)線(xiàn)和柵極線(xiàn)的檢查、在形成像素電極之后執(zhí)行的檢查、在基板接合與液晶滴加過(guò)程之后執(zhí)行的電檢查、點(diǎn)亮檢查等。檢查過(guò)程會(huì)包括在COG接合過(guò)程中檢查驅(qū)動(dòng)IC與顯示面板的基板之間的接觸電阻的過(guò)程(在下文中，被稱(chēng)為“接合電阻檢查方法”)。在修復(fù)過(guò)程期間，修復(fù)在檢查過(guò)程期間發(fā)現(xiàn)的缺陷。

當(dāng)顯示面板通過(guò)前述的相繼過(guò)程完成時(shí)，執(zhí)行裝配液晶模塊的過(guò)程。在裝配液晶模塊的過(guò)程期間，背光單元在顯示面板下對(duì)準(zhǔn)，并且顯示面板和背光單元使用諸如導(dǎo)向/殼體構(gòu)件等的裝置來(lái)裝配。

在COG接合過(guò)程期間，在基板SUBS上將ACF對(duì)準(zhǔn)，并且驅(qū)動(dòng)IC DIC被對(duì)準(zhǔn)在A(yíng)CF上方。驅(qū)動(dòng)IC DIC的凸點(diǎn)BUMP面向形成在基板SUBS上的焊盤(pán)PAD，并且ACF插入于其間。其后，加熱基板SUBS，并且按壓并加熱驅(qū)動(dòng)IC DIC使得驅(qū)動(dòng)IC DIC的凸點(diǎn)BUMP附接至基板SUBS上的焊盤(pán)PAD。在此，ACF的導(dǎo)電顆粒CP電連接至驅(qū)動(dòng)IC DIC的凸點(diǎn)BUMP和基板SUBS的焊盤(pán)PAD。焊盤(pán)PAD連接至形成在基板SUBS上的信號(hào)線(xiàn)。驅(qū)動(dòng)IC DIC通過(guò)凸點(diǎn)BUMP輸出輸出信號(hào)，并且輸出信號(hào)通過(guò)焊盤(pán)被提供至基板SUBS的信號(hào)線(xiàn)。

在COG接合過(guò)程期間附接的驅(qū)動(dòng)IC DIC的凸點(diǎn)BUMP與基板SUBS的焊盤(pán)PAD之間的接觸電阻也被稱(chēng)為接合電阻。在COG接合過(guò)程期間必須執(zhí)行接合電阻檢查方法。高接觸電阻指示了有缺陷的COG接合過(guò)程，并且因此，驅(qū)動(dòng)IC DIC應(yīng)當(dāng)被去除并且再次接合。為了執(zhí)行接合電阻檢查方法，單獨(dú)設(shè)置了連接至基板SUBS上的焊盤(pán)的用于電阻測(cè)量的虛擬焊盤(pán)。接合電阻檢查方法以如下方式被執(zhí)行為手動(dòng)測(cè)量方法：檢查者將測(cè)量?jī)x器的終端直接連接至用于電阻測(cè)量的虛擬焊盤(pán)以執(zhí)行測(cè)量。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

相關(guān)技術(shù)的接合電阻檢查方法具有下面的問(wèn)題。

第一，由于形成在顯示面板的基板上用來(lái)手動(dòng)地測(cè)量接合電阻的虛擬焊盤(pán)被露出，因此通過(guò)虛擬焊盤(pán)可能引入靜電。靜電可能被引入至用于自動(dòng)探頭檢查的線(xiàn)或晶體管來(lái)?yè)p壞元件。

第二，在取向膜摩擦過(guò)程期間通過(guò)虛擬焊盤(pán)可充載靜電，并且經(jīng)充載的靜電在后續(xù)的過(guò)程期間被放電至相鄰信號(hào)線(xiàn)或晶體管以損壞元件。

第三，諸如智能手表的可穿戴裝置或者車(chē)輛的儀表盤(pán)具有窄邊框，并且因此，設(shè)置用于電阻測(cè)量的虛擬焊盤(pán)的空間不足。各種形式的彎曲設(shè)計(jì)被應(yīng)用于顯示面板。

本公開(kāi)的一個(gè)方面提供了一種其中接合電阻被自動(dòng)地測(cè)量而不必在顯示面板中設(shè)置單獨(dú)的虛擬焊盤(pán)的顯示裝置以及用于測(cè)量其驅(qū)動(dòng)電路的接觸電阻的方法。

根據(jù)一個(gè)方面，顯示裝置包括：設(shè)置在驅(qū)動(dòng)電路或柔性電路板上的多個(gè)虛擬凸點(diǎn)；設(shè)置在顯示面板上以連接虛擬焊盤(pán)的短接焊盤(pán)；以及比較電路，該比較電路將經(jīng)由虛擬凸點(diǎn)與短接焊盤(pán)之間的接合電阻輸入的輸入電壓與可變參考電壓進(jìn)行比較來(lái)測(cè)量接合電阻。

根據(jù)另一方面，一種用于測(cè)量顯示裝置的接觸電阻的方法包括：將設(shè)置在驅(qū)動(dòng)電路或柔性電路板上的多個(gè)虛擬凸點(diǎn)連接至設(shè)置在顯示面板上的短接焊盤(pán)；以及將經(jīng)由虛擬凸點(diǎn)與短接焊盤(pán)之間的接合電阻輸入的比較器的輸入電壓與可變參考電壓進(jìn)行比較以測(cè)量接合電阻。

附圖說(shuō)明

附圖被包括來(lái)提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解并且被并入本說(shuō)明書(shū)并構(gòu)成本說(shuō)明書(shū)的一部分，附圖示出了本發(fā)明的實(shí)施方案并且與描述一起用于說(shuō)明本發(fā)明的原理。在附圖中：

圖1是示意性示出了玻璃上芯片(COG)接合過(guò)程的圖。

圖2和圖3是示出了本公開(kāi)的用于測(cè)量接觸電阻的電路配置的圖。

圖4是示出了根據(jù)本公開(kāi)的一個(gè)實(shí)施方案的電阻測(cè)量電路的電路圖。

圖5是示出了用于控制接合電阻測(cè)量模式和測(cè)量范圍的控制數(shù)據(jù)的實(shí)例的圖。

圖6是示出了用于報(bào)告所測(cè)量的接合電阻的方法的實(shí)例的圖。

圖7A和圖7B是示出了應(yīng)用有EPI接口(嵌入式面板接口)的顯示裝置的圖。

圖8是示出了用于在定時(shí)控制器(TCON)與源極驅(qū)動(dòng)器IC(SIC#1至SIC#4)之間傳輸EPI數(shù)據(jù)的EPI協(xié)議的波形圖。

圖9是示出了時(shí)鐘訓(xùn)練圖案信號(hào)、控制數(shù)據(jù)和像素?cái)?shù)據(jù)的位流的圖。

圖10是示出了根據(jù)本公開(kāi)的一個(gè)實(shí)施方案的用于測(cè)量顯示裝置的接觸電阻的方法的流程圖。

具體實(shí)施方式

在下文中，將參照附圖詳細(xì)描述本公開(kāi)的實(shí)施方案。在通篇中相同的附圖標(biāo)記指代相似的元件。在描述本公開(kāi)內(nèi)容中，如果對(duì)于相關(guān)已知功能或構(gòu)造的詳細(xì)說(shuō)明被視為不必要地轉(zhuǎn)移了本公開(kāi)的要旨，則將省略這樣的說(shuō)明，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員將理解這樣的說(shuō)明。

本公開(kāi)的顯示裝置可以被實(shí)現(xiàn)為液晶顯示器(LCD)、場(chǎng)發(fā)射顯示器(FED)、等離子體顯示面板(PDP)、有機(jī)發(fā)光顯示裝置、電泳顯示器(EPD)等。在下面的實(shí)施方案中，LCD裝置將主要被描述為平板顯示器的實(shí)例，但是本公開(kāi)不限于此。例如，本公開(kāi)可以應(yīng)用于需要自動(dòng)探頭檢查的任何顯示裝置。

參照?qǐng)D2和圖3，在驅(qū)動(dòng)IC DIC的兩個(gè)末端處設(shè)置用于接合電阻測(cè)量的第一虛擬凸點(diǎn)D1和第二虛擬凸點(diǎn)D2(在下文中，被稱(chēng)為“虛擬凸點(diǎn)”)。通過(guò)ACF電連接至虛擬凸點(diǎn)D1和D2的短接焊盤(pán)SP被設(shè)置在顯示面板的基板SUBS上。一個(gè)短接焊盤(pán)SP使第一虛擬凸點(diǎn)D1與第二虛擬凸點(diǎn)D2短路以形成連接虛擬凸點(diǎn)D1和D2的電流路徑。

在驅(qū)動(dòng)IC DIC的左虛擬凸點(diǎn)D1和D2與右虛擬凸點(diǎn)D1和D2之間設(shè)置信號(hào)凸點(diǎn)BUMP。來(lái)自驅(qū)動(dòng)IC的輸出信號(hào)(例如，數(shù)據(jù)信號(hào)、掃描信號(hào)、驅(qū)動(dòng)電壓、定時(shí)控制信號(hào)等)通過(guò)信號(hào)凸點(diǎn)BUMP輸出。信號(hào)凸點(diǎn)BUMP通過(guò)ACF電連接至基板SUBS上的信號(hào)焊盤(pán)PAD以將來(lái)自驅(qū)動(dòng)IC DIC的輸出信號(hào)提供至顯示面板的信號(hào)線(xiàn)。信號(hào)線(xiàn)可以是顯示面板的數(shù)據(jù)線(xiàn)和/或柵極線(xiàn)。

虛擬凸點(diǎn)D1和D2為在COG接合過(guò)程期間通過(guò)基板SUBS上的短接焊盤(pán)SP連接以測(cè)量電阻R_接合的凸點(diǎn)。如圖2和圖3中所示，串聯(lián)結(jié)合的接合電阻R_接合＝R+R，其通過(guò)將第一虛擬凸點(diǎn)D1與短接焊盤(pán)SP之間的電阻R與第二虛擬凸點(diǎn)D2與短接焊盤(pán)SP之間的電阻R相加來(lái)獲得。由于在用于COG的驅(qū)動(dòng)IC DIC的芯片封裝件中設(shè)置了多個(gè)虛擬凸點(diǎn)，因此在芯片封裝件中無(wú)需形成單獨(dú)的虛擬凸點(diǎn)。在本公開(kāi)內(nèi)容中，在沒(méi)有虛擬凸點(diǎn)的芯片封裝件的情況下，應(yīng)當(dāng)在芯片封裝件中形成單獨(dú)的虛擬凸點(diǎn)。

通常，驅(qū)動(dòng)IC DIC與基板SUBS之間的接合狀態(tài)在驅(qū)動(dòng)IC DIC的芯片中央部分中最好，并且朝向驅(qū)動(dòng)IC DIC的兩個(gè)端部變差。因此，由于接合電阻R_接合在驅(qū)動(dòng)IC DIC的兩個(gè)端部處最大，如果接合電阻被測(cè)量為良好產(chǎn)品等級(jí)，則可以確定已經(jīng)適當(dāng)?shù)貓?zhí)行了COG接合過(guò)程。

在本公開(kāi)內(nèi)容中，在不形成用于顯示面板的基板上的電阻測(cè)量的虛擬焊盤(pán)的情況下自動(dòng)測(cè)量接合電阻。特別地，在本公開(kāi)內(nèi)容中，不是通過(guò)良好產(chǎn)品等級(jí)和缺陷等級(jí)中的任一個(gè)來(lái)簡(jiǎn)單地確定接合電阻，而是通過(guò)使用如圖4中所示的電路通過(guò)預(yù)定的電阻范圍來(lái)分類(lèi)來(lái)測(cè)量電阻值。圖4中所示的電路可以被安裝在驅(qū)動(dòng)IC DIC中。圖4中所示的電阻測(cè)量電路通過(guò)將由虛擬凸點(diǎn)D1和D2與短接焊盤(pán)SP之間的接合電阻輸入的輸入電壓Vin與可變參考電壓Vref進(jìn)行比較來(lái)自動(dòng)測(cè)量接合電阻R_接合。電路通過(guò)使用多個(gè)電阻器和多個(gè)開(kāi)關(guān)改變分割電路(dividing circuit)的電阻值來(lái)改變可變參考電壓。

參照?qǐng)D4，本公開(kāi)的電阻測(cè)量電路包括比較器COMP和用于調(diào)整比較器COMP的參考電壓Vref的多個(gè)開(kāi)關(guān)SW1至SW4。多個(gè)電阻器R1、Rs1至Rs5以及Rc2至Rc5連接至比較器COMP的非反相端(+)。比較器COMP、反相器(inverter)INV1和INV2、由虛線(xiàn)指示的箱內(nèi)的電阻器R1、Rs1至Rs5以及Rc2至Rc5、以及開(kāi)關(guān)SW1至SW4可以集成在驅(qū)動(dòng)IC DIC內(nèi)。

比較器COMP包括輸入有參考電壓Vref的反相器輸入端(-)、輸入有輸入電壓Vin的非反相輸入端(non-inverting input terminal)(+)、以及從其輸出輸出電壓Vout的輸出端。兩個(gè)反相器INV1和INV2可以串聯(lián)連接至比較器COMP的輸出端。

接合電阻R_接合連接至第一電阻器Rs1。第一虛擬凸點(diǎn)D1連接至第一電阻器Rs1，并且第二虛擬凸點(diǎn)D2連接至接地GND。比較器COMP的輸入電壓Vin根據(jù)包括第一電阻器Rs1和接合電阻R_接合的分割電路的電阻值來(lái)確定。Vin為串聯(lián)連接在節(jié)點(diǎn)VCC與GND之間的第一電阻器Rs1與接合電阻R_接合之間的節(jié)點(diǎn)電壓。

在本公開(kāi)中，將參考電壓Vref和輸入電壓Vin比較，并且基于參考電壓Vref來(lái)調(diào)整分割電路的電阻值以測(cè)量接合電阻R_接合的電阻值。

當(dāng)輸入電壓Vin大于參考電壓Vref時(shí)，比較器COMP輸出比接地GND電勢(shì)高的源極電壓VCC，并且當(dāng)輸入電壓Vin小于參考電壓Vref時(shí)，輸出接地。因此，來(lái)自比較器COMP的輸出電壓Vout根據(jù)Vin與Vref的比較結(jié)果被確定為VCC(或高電平)或確定為GND(或低電平)。

如果Vin＞Vref，則Vout＝VCC，如果Vin＜Vref，則Vout＝GND。

連接至VCC節(jié)點(diǎn)的電阻器Rs1至Rs4的電阻值被設(shè)定為相等。例如，Rs1＝Rs2＝Rs3＝Rs3＝Rs4＝10Ω。

輸入電壓Vin根據(jù)在包括電阻器Rs1和R_接合的分割電路中期望被測(cè)量的R_接合而變化。輸入電壓Vin隨著R_接合成比例地增大，如下：

Vin＝R_接合/(Rs1+R_接合)＊VCC

如果R_接合＝50Ω，則VCC＝1.8V，Vin＝50/(10+50)＊1.8V＝1.5V。

由于R_接合不是已知的，因此R_接合的電阻值被估計(jì)，同時(shí)通過(guò)相繼地改變開(kāi)關(guān)SW1至SW4的模式來(lái)改變與輸入電壓Vin比較的參考電壓Vref。

開(kāi)關(guān)SW1至SW4中的每個(gè)連接在分割電路的兩個(gè)電阻器之間的節(jié)點(diǎn)與比較器COMP的反相輸入端(inverting input terminal)(-)之間，并且把根據(jù)分割電路的電阻變化的參考電壓Vref提供至比較器COMP。

當(dāng)?shù)谝婚_(kāi)關(guān)SW1開(kāi)啟(導(dǎo)通)時(shí)，參考電壓Vref被確定為包括Rs2和Rc2的分割電路的電阻值。在此，參考電壓Vref是在VCC節(jié)點(diǎn)與GND之間串聯(lián)連接的Rs2＝10Ω與Rc2＝10Ω的節(jié)點(diǎn)電壓。

在第一開(kāi)關(guān)SW1為ON(導(dǎo)通)的情況下：Vref＝10/(10+10)＊1.8V＝0.9V，Vin(1.5V)＞Vref(0.9V)，在此，Vout＝VCC(或高電平)。

當(dāng)?shù)诙_(kāi)關(guān)SW2開(kāi)啟(導(dǎo)通)時(shí)，參考電壓Vref被確定為包括Rs3和Rc3的分割電路的電阻值。在此，參考電壓Vref是在VCC節(jié)點(diǎn)與GND之間串聯(lián)連接的Rs3＝10Ω與Rc3＝100Ω的節(jié)點(diǎn)電壓。

在第一開(kāi)關(guān)SW2為ON(導(dǎo)通)的情況下：Vref＝100/(10+100)＊1.8V＝1.64V，Vin(1.5V)＞Vref(1.64V)，在此，Vout＝GND(或低電平)。

在該情況下，當(dāng)開(kāi)關(guān)SW1開(kāi)啟時(shí)，Vout為VCC，并且當(dāng)開(kāi)關(guān)SW2開(kāi)啟時(shí)，Vout為GND，并且因此，可以看出，R_接合大于10Ω并且小于100Ω。因此，由于R_接合的電阻值已經(jīng)被測(cè)量，因此本公開(kāi)的電阻測(cè)量電路輸出電阻值，使得檢查者可以獲知所述電阻值，而不必另外地開(kāi)啟開(kāi)關(guān)SW3和SW4。在此，對(duì)于輸出方法，電阻值可以被顯示為監(jiān)測(cè)器上的數(shù)值和符號(hào)，并且可以被顯示為可以被感知的圖形圖像，如圖6中所示。

如果當(dāng)SW1和SW2開(kāi)啟時(shí)不能獲知R_接合的電阻值，則相繼開(kāi)啟開(kāi)關(guān)SW3和SW4，直到獲知電阻值。當(dāng)開(kāi)啟SW3時(shí)，參考電壓Vref被確定為包括Rs4和Rc4的分割電路的電阻值。在此，參考電壓Vref是在VCC節(jié)點(diǎn)與GND之間串聯(lián)連接的Rs4＝10Ω與Rc4＝1KΩ的節(jié)點(diǎn)電壓。當(dāng)開(kāi)關(guān)SW4開(kāi)啟時(shí)，參考電壓Vref被確定為包括Rs5和Rc5的分割電路的電阻值。在此，參考電壓Vref是在VCC節(jié)點(diǎn)與GND之間串聯(lián)連接的Rs4＝10Ω與Rc4＝10KΩ的節(jié)點(diǎn)電壓。

對(duì)于來(lái)自比較器COMP的輸出電壓Vout，當(dāng)比較器COMP被設(shè)置在驅(qū)動(dòng)IC DIC的兩個(gè)末端處時(shí)，當(dāng)輸出電壓Vout被傳輸至位于IC芯片的中央部分處的芯片核時(shí)信號(hào)可能衰減。反相器INV1和INV2防止輸出電壓Vout的信號(hào)衰減以實(shí)現(xiàn)測(cè)量被傳輸至芯片核。兩個(gè)反相器INV1和INV2可以不必連接，或者可以連接一個(gè)或更多個(gè)反相器。如果輸出電壓Vout的信號(hào)衰減小，則可以省略反相器INV1和INV2。

前述的驅(qū)動(dòng)IC DIC包括顯示裝置的驅(qū)動(dòng)電路的至少一部分。例如，驅(qū)動(dòng)IC DIC可以包括數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路、柵極(或掃描)驅(qū)動(dòng)電路、定時(shí)控制器和觸摸傳感器驅(qū)動(dòng)電路中的一個(gè)或兩個(gè)或更多個(gè)。

本公開(kāi)的電阻測(cè)量電路可以使用傳輸至驅(qū)動(dòng)IC DIC的控制數(shù)據(jù)來(lái)控制接合電阻測(cè)量模式和測(cè)量范圍。

圖5是示出用于控制接合電阻測(cè)量模式和測(cè)量范圍的控制數(shù)據(jù)的示例的圖。

參照?qǐng)D5，控制數(shù)據(jù)可以包括兩個(gè)或更多個(gè)位。圖5的示例示出了兩個(gè)位(C1和C2)。當(dāng)測(cè)量值范圍被再分時(shí)，位的數(shù)目可以增加。將要接通的開(kāi)關(guān)SW1和SW2可以根據(jù)C1和C2的邏輯值選擇。在圖5中，L是低邏輯電平(或0(零))的首字母并且H是高邏輯電平(或1)的首字母。他們還可以被表示為L(zhǎng)＝0和H＝1。

控制數(shù)據(jù)的初始數(shù)據(jù)包可以被分配為表示進(jìn)入接合電阻測(cè)量模式的2位代碼(TEST_B1/B2)。當(dāng)代碼(TEST_B1/B2)在特定的時(shí)間段期間具有特定邏輯(例如，“HH”)時(shí)，驅(qū)動(dòng)器IC(DIC)進(jìn)入電阻測(cè)量模式?？梢愿鶕?jù)在跟隨控制數(shù)據(jù)生成的數(shù)據(jù)起始數(shù)據(jù)包中預(yù)先設(shè)置的代碼C1和C2的設(shè)定值來(lái)選擇電阻測(cè)量范圍。例如，如在圖5中所示出的C1，C2＝LL(10Ω)、LH(100Ω)、HL(1kΩ)、HH(10kΩ)，但是本公開(kāi)內(nèi)容不限于此。

圖6是示出用于報(bào)告測(cè)量接合電阻的方法的示例的圖。應(yīng)該理解的是，用于報(bào)告測(cè)量接合電阻的方法不限于圖6。

參照?qǐng)D6，電阻值可以被分組為黑塊和白塊并且根據(jù)測(cè)量的電阻范圍通過(guò)顏色進(jìn)行區(qū)分。這種報(bào)告方法使得檢查員能夠通過(guò)直覺(jué)獲知接合電阻。當(dāng)驅(qū)動(dòng)ICDIC的輸出通道的數(shù)目是384時(shí)，輸出通道可以被分成四個(gè)組每組96。當(dāng)進(jìn)入接合電阻測(cè)量模式時(shí)，所有的塊被顯示為黑色如最上面的圖像一樣。電阻電平可以根據(jù)如下測(cè)量的R_接合的電阻值通過(guò)白色塊的數(shù)目顯示。

10Ω以及更大：僅第一塊(1-組，(1～96通道))顯示白色

100Ω以及更大：僅第一塊和第二塊(1～2)組(1～192通道)顯示白色

1kΩ以及更大：僅第一至第三塊(1～3組(1～288通道))顯示白色

10kΩ以及更大：第一至第四塊(1～4組(1～384通道))均顯示白色

通過(guò)設(shè)置在驅(qū)動(dòng)IC DIC的兩端處的虛擬焊盤(pán)D1和D2測(cè)量接合電阻，因?yàn)樗鶞y(cè)量的結(jié)合電阻值是在接觸電阻最大(最壞)的位置處測(cè)量的值，因?yàn)榭梢员徽J(rèn)為是驅(qū)動(dòng)IC DIC的所有通道的代表性的接觸電阻值。因而，在本公開(kāi)中，所測(cè)量的接合電阻值顯示為在顯示器的屏幕上的驅(qū)動(dòng)IC中所有通道的接觸電阻。

在圖6中所示出的報(bào)告方法中，驅(qū)動(dòng)IC DIC實(shí)際上被分成多個(gè)塊并且接合電阻值由不同顏色的塊的數(shù)目表示?？梢岳抿?qū)動(dòng)IC的內(nèi)部電路實(shí)現(xiàn)報(bào)告方法，因而，可以在沒(méi)有采用另外的電路或在沒(méi)有增加芯片尺寸的情況下實(shí)現(xiàn)。在本公開(kāi)中，因?yàn)樵陲@示面板的基板SUBS上沒(méi)有設(shè)置單獨(dú)的虛擬焊盤(pán)以測(cè)量接合電阻，所以可以防止通過(guò)虛擬面板向顯示面板引入靜電。另外，在本公開(kāi)內(nèi)容中，因?yàn)榻雍想娮杩梢栽诰哂姓吙虻娘@示面板中自動(dòng)測(cè)量，所以本公開(kāi)可以被應(yīng)用于各種不同形式的顯示面板結(jié)構(gòu)。

諸如FPC的柔性電路板、帶載封裝(TPC)、膜上芯片(COF)等也通過(guò)ACF被附接至顯示面板的基板。可以利用圖4的電阻測(cè)量電路測(cè)量在柔性電路板的凸點(diǎn)與基板的焊盤(pán)之間的接觸電阻。在這種情況下，電阻測(cè)量電路可以設(shè)置在顯示面板的基板SUBS或柔性電路板上。因而，本公開(kāi)的用于測(cè)量接觸電阻的方法可以應(yīng)用于在具有各種各樣結(jié)構(gòu)的柔性電路板與顯示面板進(jìn)行接觸時(shí)以及在驅(qū)動(dòng)電路附接至顯示面板時(shí)自動(dòng)測(cè)量接觸電阻。

本公開(kāi)的申請(qǐng)人在美國(guó)專(zhuān)利第8,330,699B2號(hào)(2012年12月11日)，美國(guó)專(zhuān)利第7,898,518B2(2011年3月1日)和美國(guó)專(zhuān)利第7,948,465B2號(hào)(2011年5月24日)等中提出了用于使控制器與源極驅(qū)動(dòng)IC之間的線(xiàn)的數(shù)目最小化并且穩(wěn)定信號(hào)傳輸?shù)那度胧矫姘褰涌?EPI)。

根據(jù)EPI協(xié)議，當(dāng)內(nèi)部時(shí)鐘的相位和頻率被固定時(shí)，源極驅(qū)動(dòng)IC向定時(shí)控制器反饋-輸入表示輸出穩(wěn)定狀態(tài)的具有高電平的鎖定信號(hào)LOCK。鎖定信號(hào)LOCK通過(guò)連接至定時(shí)控制器和最終的源極驅(qū)動(dòng)IC的鎖定反饋信號(hào)線(xiàn)反饋-輸入至定時(shí)控制器。

定時(shí)控制器在傳輸控制數(shù)據(jù)和輸入圖像的視頻數(shù)據(jù)之前向源極驅(qū)動(dòng)IC傳輸時(shí)鐘訓(xùn)練信號(hào)圖案信號(hào)。源極驅(qū)動(dòng)IC的時(shí)鐘復(fù)位電路執(zhí)行時(shí)鐘訓(xùn)練操作，同時(shí)通過(guò)相對(duì)于時(shí)鐘訓(xùn)練圖案信號(hào)輸出內(nèi)部時(shí)鐘來(lái)對(duì)時(shí)鐘進(jìn)行復(fù)位，并且當(dāng)內(nèi)部時(shí)鐘的相位和頻率被穩(wěn)定地固定時(shí)，時(shí)鐘復(fù)位電路用定時(shí)控制器建立數(shù)據(jù)鏈路。響應(yīng)于從最終的源極驅(qū)動(dòng)IC接收的鎖定信號(hào)，定時(shí)控制器開(kāi)始向源極驅(qū)動(dòng)IC傳輸控制數(shù)據(jù)和視頻數(shù)據(jù)。

EPI協(xié)議廣泛地應(yīng)用于各種不同的模型。近來(lái)，已經(jīng)嘗試了通過(guò)以多點(diǎn)方式(multi-drop manner)連接定時(shí)控制器與源極驅(qū)動(dòng)IC并且通過(guò)EPI協(xié)議傳輸數(shù)據(jù)來(lái)減少在定時(shí)控制器與源極驅(qū)動(dòng)IC之間的線(xiàn)的數(shù)目的方法。當(dāng)定時(shí)控制器以多點(diǎn)方式連接至源極驅(qū)動(dòng)IC時(shí)，定時(shí)控制器應(yīng)該傳輸大量數(shù)據(jù)，因而與點(diǎn)對(duì)點(diǎn)(point-to-point)的連接方案相比，EPI協(xié)議的數(shù)據(jù)傳輸頻率進(jìn)一步增加。

圖7A和圖7B是示出應(yīng)用EPI接口的顯示裝置的圖。

參照?qǐng)D7A，根據(jù)本公開(kāi)一個(gè)實(shí)施方案的LCD裝置包括液晶面板PNL、定時(shí)控制器TCON、一個(gè)或更多個(gè)源極驅(qū)動(dòng)IC SIC#1至SIC#4以及柵極驅(qū)動(dòng)IC GIC。輸出數(shù)據(jù)電壓的數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路集成在源極驅(qū)動(dòng)ICSIC#1至SIC#4中。輸出柵極脈沖(或掃描脈沖)的柵極驅(qū)動(dòng)電路集成在柵極驅(qū)動(dòng)IC GIC中。柵極驅(qū)動(dòng)電路可以通過(guò)GIP工藝與TFT陣列一起直接形成在顯示面板的基板上。

在液晶面板PNL的基板之間形成液晶層。液晶層PNL包括通過(guò)數(shù)據(jù)線(xiàn)DL和柵極線(xiàn)GL的交叉結(jié)構(gòu)以矩陣形式設(shè)置的液晶盒。

包括數(shù)據(jù)線(xiàn)DL、柵極線(xiàn)GL、TFT、存儲(chǔ)電容器等的像素陣列形成在液晶面板PNL的TFT陣列基板上。通過(guò)在像素電極與公共電極之間的電場(chǎng)來(lái)驅(qū)動(dòng)液晶盒，數(shù)據(jù)電壓通過(guò)TFT提供至像素電極并且公共電壓提供至公共電極。TFT的柵電極連接至柵極線(xiàn)GL，并且TFT的漏電極連接至數(shù)據(jù)線(xiàn)DL。TFT的源電極連接至液晶盒的像素電極。根據(jù)通過(guò)柵極線(xiàn)GL提供的柵極脈沖接通TFT以向液晶盒的像素電極提供來(lái)自數(shù)據(jù)線(xiàn)DL的數(shù)據(jù)電壓。在液晶面板PNL的濾色器基板上形成有黑矩陣、濾色器、公共電極等。偏振片被附接至液晶面板PNL的TFT陣列基板和濾色器陣列基板中的每一個(gè)，并且形成用于設(shè)置液晶的預(yù)傾角的取向膜。可以形成為液晶面板PNL的在TFT陣列基板與濾色器陣列基板之間的液晶盒Clc的盒間距的空間。

液晶面板PNL可以以諸如扭曲向列(TN)模式的垂直電場(chǎng)模式和垂直向列(VA)模式或者諸如面內(nèi)開(kāi)關(guān)(IPS)模式或邊緣場(chǎng)開(kāi)關(guān)(FFS)模式的面內(nèi)電場(chǎng)驅(qū)動(dòng)模式來(lái)實(shí)現(xiàn)。本公開(kāi)內(nèi)容的LCD裝置可以以透射LCD、半透射LCD和反射LCD中任意一個(gè)實(shí)現(xiàn)。透射LCD和半透射LCD需要背光單元。背光單元可以實(shí)現(xiàn)為直接型背光單元或者邊緣型背光單元。

在液晶面板PNL中，可以設(shè)置包括觸摸傳感器的觸摸屏。在這種情況下，本公開(kāi)的顯示裝置還包括驅(qū)動(dòng)觸摸傳感器的觸摸傳感器驅(qū)動(dòng)電路。

在定時(shí)控制器TCON與源極驅(qū)動(dòng)IC SIC#1至SIC#4之間的信號(hào)線(xiàn)對(duì)2以一對(duì)一的方式連接以向源極驅(qū)動(dòng)IC SIC#1至SIC#4傳輸EPIC數(shù)據(jù)的差分信號(hào)對(duì)。鎖定線(xiàn)102連接在最終的源極驅(qū)動(dòng)IC SIC#4與定時(shí)控制器TCON之間以向定時(shí)控制器TCON傳輸鎖定信號(hào)。

定時(shí)控制器TCON通過(guò)低電壓成分信號(hào)(LVDS)接口、傳輸最小化差分信號(hào)(TMDS)接口等來(lái)接收來(lái)自外部主機(jī)系統(tǒng)(未示出)的外部定時(shí)信號(hào)，例如垂直/水平同步信號(hào)Vsync/Hsync、外部數(shù)據(jù)使能(DE)信號(hào)、主時(shí)鐘(CLK)等。定時(shí)控制器TCON將時(shí)鐘訓(xùn)練圖案信號(hào)CT、控制數(shù)據(jù)CTR和像素?cái)?shù)據(jù)RGB根據(jù)EPI協(xié)議轉(zhuǎn)換成具有低電壓的差分信號(hào)并且將經(jīng)轉(zhuǎn)換的信號(hào)通過(guò)信號(hào)線(xiàn)對(duì)101傳輸至源極驅(qū)動(dòng)IC SIC#1至SIC#4。時(shí)鐘訓(xùn)練圖案信號(hào)CT、控制數(shù)據(jù)CTR和像素?cái)?shù)據(jù)RGB包括EPI時(shí)鐘。

當(dāng)來(lái)自所接收的EPI時(shí)鐘的復(fù)位的內(nèi)部時(shí)鐘的相位和頻率固定時(shí)，源極驅(qū)動(dòng)IC SIC#1至SIC#4中的每一個(gè)驅(qū)動(dòng)IC的時(shí)鐘復(fù)位電路生成表示鎖定狀態(tài)的高電平鎖定信號(hào)LOCK。同時(shí)，當(dāng)來(lái)自所接收的EPI時(shí)鐘的復(fù)位的內(nèi)部時(shí)鐘的相位和頻率不固定且不穩(wěn)定(未鎖定)時(shí)，源極驅(qū)動(dòng)IC SIC#1至SIC#4中的每一個(gè)驅(qū)動(dòng)IC的時(shí)鐘復(fù)位電路生成表示未鎖定狀態(tài)的低電平鎖定信號(hào)LOCK。鎖定信號(hào)被傳輸至下一源極驅(qū)動(dòng)IC。最終的源極驅(qū)動(dòng)IC SIC#4通過(guò)鎖定線(xiàn)102向定時(shí)控制器TCON傳輸鎖定信號(hào)LOCK。源極電壓VCC被輸入至第一源極驅(qū)動(dòng)IC的鎖定信號(hào)輸入端子。

當(dāng)鎖定信號(hào)LOCK具有低電平時(shí)，定時(shí)控制器TCON向源極驅(qū)動(dòng)IC SIC#1至SIC#4傳輸時(shí)鐘訓(xùn)練圖案信號(hào)CT，并且當(dāng)鎖定信號(hào)被反轉(zhuǎn)為具有高電平時(shí)，定時(shí)控制器TCON開(kāi)始傳輸控制數(shù)據(jù)CTR和輸入圖像的像素?cái)?shù)據(jù)RGB。

EPI時(shí)鐘輸入至源極驅(qū)動(dòng)IC SIC#1至SIC#4的每一個(gè)驅(qū)動(dòng)IC的時(shí)鐘復(fù)位電路。時(shí)鐘復(fù)位電路通過(guò)利用延遲鎖定環(huán)(DLL)來(lái)生成內(nèi)部時(shí)鐘的數(shù)目(視頻數(shù)據(jù)的RGB位×2)。另外，DLL生成鎖定信號(hào)LOCK。時(shí)鐘復(fù)位電路可以實(shí)現(xiàn)為鎖相環(huán)(PLL)，而不是DLL。源極驅(qū)動(dòng)IC SIC#1至SIC#4根據(jù)內(nèi)部時(shí)鐘定時(shí)對(duì)輸入圖像的視頻數(shù)據(jù)位進(jìn)行采樣并且隨后將采樣的像素?cái)?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成并行數(shù)據(jù)。

源極驅(qū)動(dòng)IC SIC#1至SIC#4以代碼映射(mapping)的方式對(duì)通過(guò)信號(hào)線(xiàn)對(duì)101輸入的控制數(shù)據(jù)CTR進(jìn)行解碼以存儲(chǔ)源極控制數(shù)據(jù)和柵極控制數(shù)據(jù)。響應(yīng)于所存儲(chǔ)的源極控制數(shù)據(jù)，源極驅(qū)動(dòng)IC SIC#1至SIC#4將輸入圖像的視頻數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成正極性/負(fù)極性模擬視頻數(shù)據(jù)電壓并且將經(jīng)轉(zhuǎn)換的電壓提供至液晶面板PNL的數(shù)據(jù)線(xiàn)DL。源極驅(qū)動(dòng)IC SIC#1至SIC#4可以將柵極控制數(shù)據(jù)傳輸至一個(gè)或更多個(gè)柵極驅(qū)動(dòng)IC GIC。

響應(yīng)于從定時(shí)控制器TCON直接接收的或者通過(guò)源極驅(qū)動(dòng)IC SIC#1至SIC#4接收的柵極控制數(shù)據(jù)，柵極驅(qū)動(dòng)IC GIC順次向柵極線(xiàn)GL提供與具有正極性/負(fù)極性模擬視頻數(shù)據(jù)電壓同步的柵極脈沖。

如圖7B所示，定時(shí)控制器TCON可以通過(guò)單個(gè)信號(hào)線(xiàn)對(duì)101以多點(diǎn)方式連接至N個(gè)源極驅(qū)動(dòng)IC(N是大于等于2的正整數(shù))以向N個(gè)源極驅(qū)動(dòng)IC同時(shí)傳輸EPI數(shù)據(jù)的差分信號(hào)對(duì)。

圖8是示出用于在定時(shí)控制器(TCON)和源極驅(qū)動(dòng)器ICSIC#1至SIC#4之間傳輸EPI數(shù)據(jù)的EPI協(xié)議的波形圖。圖9是示出時(shí)鐘訓(xùn)練圖案信號(hào)、控制數(shù)據(jù)和像素?cái)?shù)據(jù)的位流的圖。

參照?qǐng)D8和圖9，在第一步.驟(階段-I)時(shí)間段期間，定時(shí)控制器TCON向源極驅(qū)動(dòng)器IC SIC#1至SIC#4傳輸具有預(yù)定頻率的時(shí)鐘訓(xùn)練圖案信號(hào)CT，并且當(dāng)通過(guò)鎖定線(xiàn)102輸入高電平鎖定信號(hào)LOCK時(shí)，定時(shí)控制器TCON過(guò)度至第二步驟(階段-II)信號(hào)傳輸。在第二步驟(階段-II)時(shí)間段期間，定時(shí)控制器TCON向源極驅(qū)動(dòng)器IC SIC#1至SIC#4傳輸控制數(shù)據(jù)CTR，并且當(dāng)鎖定信號(hào)LOCK保持在高電平時(shí)，定時(shí)控制器TCON過(guò)渡至第三步驟(階段-III)信號(hào)傳輸來(lái)向源極驅(qū)動(dòng)器IC SIC#1至SIC#4傳輸輸入圖像的像素?cái)?shù)據(jù)(RGB數(shù)據(jù))。

在第二步驟(階段-II)中，定時(shí)控制器TCON可以對(duì)限定在控制數(shù)據(jù)的初始數(shù)據(jù)包中接合電阻測(cè)量模式的進(jìn)入的代碼進(jìn)行編碼。另外，在第三步驟(階段-III)中定時(shí)控制器TCON可以在傳輸?shù)臄?shù)據(jù)的起始數(shù)據(jù)包中對(duì)其進(jìn)行編碼。因而，在本公開(kāi)中，利用所提出的EPI協(xié)議可以自動(dòng)地控制電阻測(cè)量模式和測(cè)量范圍。

圖10是示出用于根據(jù)本公開(kāi)一個(gè)實(shí)施方案測(cè)量顯示裝置的接觸電阻的方法的流程圖。

參照?qǐng)D10，在第一步驟(階段-I)期間，定時(shí)控制器TCON向源極驅(qū)動(dòng)器IC SIC#1至SIC#4傳輸時(shí)鐘訓(xùn)練圖案信號(hào)CT，并且當(dāng)DLL(LOCK＝高)的鎖定狀態(tài)通過(guò)鎖定線(xiàn)102輸入時(shí)，定時(shí)控制器TCON過(guò)渡至第二步驟(階段-II)信號(hào)傳輸。在第二步驟(階段-II)期間，定時(shí)控制器TCON可以選擇進(jìn)入電阻測(cè)量模式(S1至S3)。源極驅(qū)動(dòng)器IC SIC#1至SIC#4對(duì)控制數(shù)據(jù)的起始數(shù)據(jù)包進(jìn)行解碼以在電阻測(cè)量模式下工作(S4至S6)。定時(shí)控制器TCON在控制數(shù)據(jù)中對(duì)限定的電阻測(cè)量模式的代碼進(jìn)行解碼(不進(jìn)行編碼)并且對(duì)正常的操作代碼進(jìn)行編碼以控制在正常的操作模式下的源極驅(qū)動(dòng)器IC SIC#1至SIC#4用于顯示輸入圖像(S7)。

如上所述，應(yīng)該理解的是，本公開(kāi)的用于測(cè)量接觸電阻的方法不僅應(yīng)用于源極驅(qū)動(dòng)器IC SIC#1至SIC#4。例如，本公開(kāi)可以應(yīng)用于通過(guò)ACF附接至顯示面板的基板的驅(qū)動(dòng)電路或柔性電路板。

如上所述，在本公開(kāi)內(nèi)容中，可以自動(dòng)測(cè)量在驅(qū)動(dòng)電路(或柔性電路板)與顯示面板之間的接合電阻而不用在顯示面板的基板上設(shè)置單獨(dú)的虛擬焊盤(pán)。

另外，在本公開(kāi)內(nèi)容中，不是簡(jiǎn)單地通過(guò)好的產(chǎn)品等級(jí)和缺陷水平中任一個(gè)來(lái)確定接合電阻，而是通過(guò)利用在圖4中所示出的電路的預(yù)設(shè)的電阻范圍來(lái)區(qū)分接合電阻來(lái)測(cè)量其電阻值。

另外，因?yàn)楸竟_(kāi)是利用驅(qū)動(dòng)IC的內(nèi)部電路實(shí)現(xiàn)的，所以其可以在不采用另外的電路或在不增加芯片尺寸的情況下實(shí)現(xiàn)，并且由于在顯示面板上沒(méi)有設(shè)置單獨(dú)的虛擬焊盤(pán)，所以可以防止通過(guò)虛擬面板向顯示面板引入靜電的問(wèn)題。另外，因?yàn)榻雍想娮枋窃诰哂姓吙虻娘@示面板中自動(dòng)測(cè)量的，所以本公開(kāi)可以應(yīng)用于各種形狀的顯示面板結(jié)構(gòu)。

盡管已經(jīng)參照許多示例性示例示出了實(shí)施方案，但是應(yīng)該理解的是，在不脫離本公開(kāi)的原則的范圍的情況下，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以構(gòu)思許多其他的變化方式和實(shí)施方式。更具體地，在本公開(kāi)、附圖和所附權(quán)利要求的范圍內(nèi)的主題組合布置的部件部分和/或布置中，各種變化和修改是可以的。除了在部件部分和/或布置方面的變化和修改之外，替代性用途對(duì)本領(lǐng)域技術(shù)人員也是明顯的。