技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種電潤(rùn)濕顯示單元壞點(diǎn)的檢測(cè)方法，包括將一個(gè)或多個(gè)電容測(cè)量芯片的測(cè)量引腳的一端接至電潤(rùn)濕結(jié)構(gòu)的上極板透明導(dǎo)電電極，另一端接至下基板透明導(dǎo)電電極，測(cè)量電潤(rùn)濕顯示單元中一個(gè)或多個(gè)像素點(diǎn)的電容值；利用多個(gè)像素點(diǎn)的電容值計(jì)算所述電潤(rùn)濕顯示單元的開口率；若開口率超過給定的第一閾值，則判斷像素點(diǎn)中存在壞點(diǎn)。一種電潤(rùn)濕顯示單元壞點(diǎn)的檢測(cè)系統(tǒng)，電容測(cè)量芯片的測(cè)量引腳的一端接至電潤(rùn)濕結(jié)構(gòu)的上極板透明導(dǎo)電電極，另一端接至下基板透明導(dǎo)電電極；所述電容測(cè)量芯片與主控芯片連接；主控芯片與計(jì)算機(jī)設(shè)備端連接。在數(shù)據(jù)支持下可以更準(zhǔn)確地了解到像素點(diǎn)的情況，而不單單通過肉眼觀察，十分方便直觀，廣泛應(yīng)用于顯示領(lǐng)域。

技術(shù)研發(fā)人員：周國(guó)富;羅健坤;羅智杰;李娜;曹陽(yáng)
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳市國(guó)華光電科技有限公司;華南師范大學(xué);深圳市國(guó)華光電研究院
文檔號(hào)碼：201610807630
技術(shù)研發(fā)日：2016.09.06
技術(shù)公布日：2017.01.04