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透鏡驅(qū)動(dòng)裝置、攝像機(jī)模塊以及攝像機(jī)搭載裝置的制作方法

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透鏡驅(qū)動(dòng)裝置、攝像機(jī)模塊以及攝像機(jī)搭載裝置的制作方法

本發(fā)明涉及自動(dòng)聚焦用的透鏡驅(qū)動(dòng)裝置、具有自動(dòng)聚焦功能的攝像機(jī)模塊以及攝像機(jī)搭載裝置。



背景技術(shù):

一般而言,在智能手機(jī)等便攜終端中搭載有小型的攝像機(jī)模塊。在這種攝像機(jī)模塊中適用具有自動(dòng)進(jìn)行拍攝被拍攝物時(shí)的對(duì)焦的自動(dòng)聚焦功能(以下稱(chēng)作“AF功能”,AF:Auto Focus,自動(dòng)聚焦)、以及光學(xué)修正拍攝時(shí)產(chǎn)生的手抖(振動(dòng))以減輕圖像模糊的抖動(dòng)修正功能(以下稱(chēng)作“OIS功能”,OIS:Optical Image Stabilization,抖動(dòng)修正)的透鏡驅(qū)動(dòng)裝置(例如專(zhuān)利文獻(xiàn)1、專(zhuān)利文獻(xiàn)2)。

自動(dòng)聚焦用及抖動(dòng)修正用的透鏡驅(qū)動(dòng)裝置具備用于使透鏡部沿光軸方向移動(dòng)的自動(dòng)聚焦用驅(qū)動(dòng)部(以下稱(chēng)作“AF用驅(qū)動(dòng)部”)、以及用于使透鏡部在與光軸方向正交的平面內(nèi)擺動(dòng)的抖動(dòng)修正用驅(qū)動(dòng)部(以下稱(chēng)作“OIS用驅(qū)動(dòng)部”)。

AF用驅(qū)動(dòng)部例如具有:自動(dòng)聚焦用線(xiàn)圈部(以下稱(chēng)作“AF用線(xiàn)圈部”),其配置在透鏡部的周?chē)?;以及自?dòng)聚焦用磁鐵部(以下稱(chēng)作“AF用磁鐵部”),其相對(duì)于AF用線(xiàn)圈部在徑向上間隔開(kāi)配置。AF用驅(qū)動(dòng)部利用由AF用線(xiàn)圈部和AF用磁鐵部構(gòu)成的音圈電機(jī)的驅(qū)動(dòng)力,使包含透鏡部及AF用線(xiàn)圈部的自動(dòng)聚焦可動(dòng)部(以下稱(chēng)作“AF可動(dòng)部”)在光軸方向上相對(duì)于包含AF用磁鐵部的自動(dòng)聚焦固定部(以下稱(chēng)作“AF固定部”)移動(dòng),從而自動(dòng)地進(jìn)行對(duì)焦。將AF可動(dòng)部及AF固定部合起來(lái)稱(chēng)作“自動(dòng)聚焦單元(AF單元)”。

OIS用驅(qū)動(dòng)部例如具有:抖動(dòng)修正用磁鐵部(以下稱(chēng)作“OIS用磁鐵部”),其配置于AF單元;以及抖動(dòng)修正用線(xiàn)圈部(以下稱(chēng)作“OIS用線(xiàn)圈部”),其相對(duì)于OIS用磁鐵部在光軸方向上間隔開(kāi)配置。包含AF單元及OIS用磁鐵部的抖動(dòng)修正可動(dòng)部(以下稱(chēng)作“OIS可動(dòng)部”)以相對(duì)于包含OIS用線(xiàn)圈部的抖動(dòng)修正固定部(以下稱(chēng)作“OIS固定部”)在光軸方向上間隔開(kāi)的狀態(tài),被支撐部件支撐。OIS用驅(qū)動(dòng)部利用由OIS用磁鐵部和OIS用線(xiàn)圈部構(gòu)成的音圈電機(jī)的驅(qū)動(dòng)力,使OIS可動(dòng)部在與光軸方向正交的平面內(nèi)擺動(dòng),從而進(jìn)行抖動(dòng)修正。

并且,在專(zhuān)利文獻(xiàn)1、專(zhuān)利文獻(xiàn)2中,從實(shí)現(xiàn)透鏡驅(qū)動(dòng)裝置的小型化、低高度化的觀(guān)點(diǎn)來(lái)看,公開(kāi)了利用同一個(gè)磁鐵部作為OIS用磁鐵部及AF用磁鐵部的情況。將兼用作OIS用磁鐵部和AF用磁鐵部的磁鐵部稱(chēng)作“驅(qū)動(dòng)用磁鐵部”。

另外,在專(zhuān)利文獻(xiàn)2中,提出了以下方案:將霍爾元件配置在AF固定部,將位置檢測(cè)用磁體配置在AF可動(dòng)部,利用霍爾元件檢測(cè)AF可動(dòng)部的位置,基于該檢測(cè)結(jié)果來(lái)控制AF用驅(qū)動(dòng)部的音圈電機(jī)的動(dòng)作(所謂的閉環(huán)控制方式)。根據(jù)閉環(huán)控制方式,不需要考慮音圈電機(jī)的磁滯特性(hysteresis characteristics),而且能夠檢測(cè)出AF可動(dòng)部的位置穩(wěn)定的情況。并且,還能夠與像面檢測(cè)方式的自動(dòng)對(duì)焦對(duì)應(yīng)。因此,響應(yīng)性能高,能夠?qū)崿F(xiàn)自動(dòng)對(duì)焦動(dòng)作的高速化。

現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)

專(zhuān)利文獻(xiàn)

專(zhuān)利文獻(xiàn)1:日本特開(kāi)2013-210550號(hào)公報(bào)

專(zhuān)利文獻(xiàn)2:日本特開(kāi)2012-177753號(hào)公報(bào)



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

發(fā)明要解決的問(wèn)題

如專(zhuān)利文獻(xiàn)2所記載的透鏡驅(qū)動(dòng)裝置那樣,在從光軸方向觀(guān)察到的平面中驅(qū)動(dòng)用磁鐵配置在正方形的對(duì)角位置的情況下,在正方形的四邊各自的中央附近,驅(qū)動(dòng)用磁鐵部的漏磁通極少。因此,通過(guò)在該部分配置位置檢測(cè)用磁體及霍爾元件,能夠容易地形成用于檢測(cè)AF可動(dòng)部的位置的磁路。

另一方面,在專(zhuān)利文獻(xiàn)1所記載的透鏡驅(qū)動(dòng)裝置中,將構(gòu)成驅(qū)動(dòng)用磁鐵部的四片永磁體配置為四方框狀。在該情況下,與專(zhuān)利文獻(xiàn)2所記載的永磁體的配置相比,有效磁束增大,因此能夠降低用于使AF可動(dòng)部移動(dòng)的功耗。

但是,在將位置檢測(cè)用磁體配置在AF可動(dòng)部,將霍爾元件配置在AF固定部,對(duì)AF可動(dòng)部的位置進(jìn)行檢測(cè)的情況下,由于將永磁體配置在四個(gè)方向,所以受到不少驅(qū)動(dòng)用磁鐵部的漏磁通的影響。另外,雖然能夠通過(guò)增大驅(qū)動(dòng)用磁鐵部與位置檢測(cè)用磁體及霍爾元件之間的間隔距離,來(lái)降低驅(qū)動(dòng)用磁鐵部的漏磁通的影響,但是存在透鏡驅(qū)動(dòng)裝置的尺寸變大的問(wèn)題。

這樣,在由配置為四方框狀的永磁體構(gòu)成驅(qū)動(dòng)用磁鐵部的透鏡驅(qū)動(dòng)裝置中,難以進(jìn)行用于自動(dòng)對(duì)焦的閉環(huán)控制。

本發(fā)明的目的在于,提供在實(shí)現(xiàn)小型化、省電化的基礎(chǔ)上具有有利的結(jié)構(gòu),并且在以閉環(huán)控制方式進(jìn)行自動(dòng)對(duì)焦的情況下有用的透鏡驅(qū)動(dòng)裝置、具備該透鏡驅(qū)動(dòng)裝置的攝像機(jī)模塊、以及攝像機(jī)搭載裝置。

解決問(wèn)題的方案

本發(fā)明的透鏡驅(qū)動(dòng)裝置的特征在于,具備:自動(dòng)聚焦用驅(qū)動(dòng)部,該自動(dòng)聚焦用驅(qū)動(dòng)部具有:自動(dòng)聚焦用線(xiàn)圈部,其配置在透鏡部的周?chē)?;以及自?dòng)聚焦用磁鐵部,其由在寬度方向上被磁化、并且配置為四方框狀的四片永磁體構(gòu)成,且相對(duì)于所述自動(dòng)聚焦用線(xiàn)圈部在徑向上間隔開(kāi)配置,該自動(dòng)聚焦用驅(qū)動(dòng)部利用由所述自動(dòng)聚焦用線(xiàn)圈部和所述自動(dòng)聚焦用磁鐵部構(gòu)成的音圈電機(jī)的驅(qū)動(dòng)力,使包含所述自動(dòng)聚焦用線(xiàn)圈部的自動(dòng)聚焦可動(dòng)部在光軸方向上相對(duì)于包含所述自動(dòng)聚焦用磁鐵部的自動(dòng)聚焦固定部移動(dòng),從而自動(dòng)地進(jìn)行對(duì)焦;

霍爾元件,其相對(duì)于所述自動(dòng)聚焦用磁鐵部在光軸方向上間隔開(kāi),且以檢測(cè)方向與光軸方向一致的方式配置在與所述自動(dòng)聚焦用磁鐵部的一個(gè)對(duì)角部對(duì)應(yīng)的位置;

第一位置檢測(cè)用磁體,其鄰近所述霍爾元件,且配置為磁化方向與光軸方向一致;以及

第二位置檢測(cè)用磁體,其具有與所述第一位置檢測(cè)用磁體相同的結(jié)構(gòu),配置在與所述第一位置檢測(cè)用磁體關(guān)于光軸方向點(diǎn)對(duì)稱(chēng)的位置。

本發(fā)明的攝像機(jī)模塊的特征在于,具備:

上述的透鏡驅(qū)動(dòng)裝置;

透鏡部,其安裝于所述自動(dòng)聚焦可動(dòng)部;以及

攝像部,其對(duì)通過(guò)所述透鏡部成像的被拍攝物像進(jìn)行攝像。

本發(fā)明的攝像機(jī)搭載裝置為信息設(shè)備或運(yùn)輸設(shè)備,其特征在于,具備上述的攝像機(jī)模塊。

發(fā)明效果

根據(jù)本發(fā)明,能夠?qū)⒆詣?dòng)聚焦用磁鐵部的漏磁通的影響抑制為最小限度,霍爾元件的檢測(cè)感度得到提高,因此能夠精度良好地檢測(cè)自動(dòng)聚焦可動(dòng)部的光軸方向上的位置。因此,能夠?qū)崿F(xiàn)小型化、省電化,并且在以閉環(huán)控制方式進(jìn)行自動(dòng)對(duì)焦的情況下是有用的。

附圖說(shuō)明

圖1A、圖1B是表示搭載本發(fā)明的一實(shí)施方式的攝像機(jī)模塊的智能手機(jī)的圖。

圖2是攝像機(jī)模塊的外觀(guān)立體圖。

圖3是攝像機(jī)模塊的分解立體圖。

圖4是透鏡驅(qū)動(dòng)裝置的分解立體圖。

圖5是OIS可動(dòng)部的分解立體圖。

圖6是OIS可動(dòng)部的俯視圖。

圖7是OIS可動(dòng)部的仰視圖。

圖8是透鏡支架的俯視圖。

圖9是捆綁部附近的放大圖。

圖10是OIS固定部的分解立體圖。

圖11是表示霍爾元件和位置檢測(cè)用磁體的配置的俯視圖。

圖12是表示霍爾元件和第一位置檢測(cè)用磁體的配置的側(cè)視圖。

圖13是表示霍爾元件和位置檢測(cè)用磁體的配置的立體圖。

圖14是表示在AF可動(dòng)部產(chǎn)生的移動(dòng)方向(Z方向)作用力的一例的圖。

圖15A、圖15B是表示位置檢測(cè)用基板的第一面和第二面的俯視圖。

圖16是表示位置檢測(cè)用基板的電路圖。

圖17A、圖17B是表示作為搭載車(chē)載用攝像機(jī)模塊的攝像機(jī)搭載裝置的汽車(chē)的圖。

附圖標(biāo)記說(shuō)明

1 透鏡驅(qū)動(dòng)裝置

2 屏蔽罩

10 OIS可動(dòng)部(AF用驅(qū)動(dòng)部)

11 AF可動(dòng)部

111 透鏡支架

112 AF用線(xiàn)圈部

12 AF固定部

121 磁鐵支架

122 磁鐵部(AF用磁鐵部、OIS用磁鐵部)

122A~122D 永磁體

13 上側(cè)彈性支撐部

131、132 上側(cè)板簧

133、134 電源線(xiàn)部

135、136 信號(hào)線(xiàn)部

14 下側(cè)彈性支撐部、下側(cè)板簧

15 位置檢測(cè)用磁體

15A 第一位置檢測(cè)用磁體

15B 第二位置檢測(cè)用磁體

16 位置檢測(cè)部

161 霍爾元件

162、170 位置檢測(cè)用基板

180 溫度檢測(cè)部

20 OIS固定部

21 線(xiàn)圈基板

211 OIS用線(xiàn)圈部

211A~211D OIS線(xiàn)圈

22 傳感器基板

23 底座部件

30 支撐部件

31A、31B 信號(hào)用吊線(xiàn)

32A、32B 霍爾元件供電用吊線(xiàn)

33A、33B 線(xiàn)圈供電用吊線(xiàn)

M 智能手機(jī)

A 攝像機(jī)模塊

H1~H6 通孔

具體實(shí)施方式

以下,基于附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。

圖1是表示搭載本發(fā)明的一實(shí)施方式的攝像機(jī)模塊A的智能手機(jī)M的圖。圖1A是智能手機(jī)M的主視圖,圖1B是智能手機(jī)M的后視圖。

智能手機(jī)M例如搭載攝像機(jī)模塊A作為背面攝像機(jī)OC。攝像機(jī)模塊A具備自動(dòng)聚焦功能及抖動(dòng)修正功能,能夠自動(dòng)地進(jìn)行對(duì)被拍攝物進(jìn)行拍攝時(shí)的對(duì)焦,并且光學(xué)修正在拍攝時(shí)產(chǎn)生的手抖(振動(dòng))來(lái)拍攝不模糊的圖像。

圖2是攝像機(jī)模塊A的外觀(guān)立體圖。圖3是攝像機(jī)模塊A的分解立體圖。

如圖2、圖3所示,在本實(shí)施方式中,使用正交坐標(biāo)系(X,Y,Z)來(lái)進(jìn)行說(shuō)明。在后述的圖中,也用相同的正交坐標(biāo)系(X,Y,Z)來(lái)表示。以如下方式搭載攝像機(jī)模塊A:在智能手機(jī)M實(shí)際進(jìn)行拍攝的情況下,X方向?yàn)樯舷路较?或左右方向)、Y方向?yàn)樽笥曳较?或上下方向)、Z方向?yàn)榍昂蠓较?。即,Z方向?yàn)楣廨S方向,圖中上側(cè)為光軸方向受光側(cè)(也稱(chēng)作“微距位置側(cè)”),下側(cè)為光軸方向成像側(cè)(也稱(chēng)作“無(wú)限遠(yuǎn)位置側(cè)”)。

攝像機(jī)模塊A具備將透鏡收容于圓筒形狀的透鏡筒中的透鏡部(省略圖示)、自動(dòng)聚焦用及抖動(dòng)修正用的透鏡驅(qū)動(dòng)裝置1、對(duì)通過(guò)透鏡部成像的被拍攝物像進(jìn)行攝像的攝像部(省略圖示)、以及覆蓋整體的屏蔽罩2等。

屏蔽罩2是從光軸方向觀(guān)察的俯視時(shí)呈正方形的有蓋四方筒體,上表面具有圓形的開(kāi)口2a。透鏡部(省略圖示)從該開(kāi)口2a面向外部。屏蔽罩2在底部具有用于安裝于透鏡驅(qū)動(dòng)裝置1(底座部件23)的卡合片2b。卡合片2b向屏蔽罩2的底部下方突出。另外,在卡合片2b中形成有狹縫2c,使得易于彈性變形。

攝像部(省略圖示)具有攝像元件(省略圖示),且被配置在透鏡驅(qū)動(dòng)裝置1的光軸方向成像側(cè)。攝像元件(省略圖示)例如由CCD(charge coupled device,電荷耦合器件)型圖像傳感器、CMOS(complementary metal oxide semiconductor,互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)型圖像傳感器等構(gòu)成。攝像元件(省略圖示)對(duì)通過(guò)透鏡部(省略圖示)成像的被拍攝物像進(jìn)行攝像。

圖4是透鏡驅(qū)動(dòng)裝置1的分解立體圖。

如圖4所示,透鏡驅(qū)動(dòng)裝置1具備OIS可動(dòng)部10、OIS固定部20、以及支撐部件30等。OIS可動(dòng)部10具有構(gòu)成OIS用音圈電機(jī)的OIS用磁鐵部,是抖動(dòng)修正時(shí)在XY平面內(nèi)擺動(dòng)的部分。OIS固定部20是具有OIS用線(xiàn)圈部的部分。即,透鏡驅(qū)動(dòng)裝置1的OIS用透鏡驅(qū)動(dòng)部采用了動(dòng)磁式。OIS可動(dòng)部10正是包含AF用驅(qū)動(dòng)部的“AF單元”。

OIS可動(dòng)部10相對(duì)于OIS固定部20在光軸方向受光側(cè)間隔開(kāi)配置,并通過(guò)支撐部件30與OIS固定部20連結(jié)。具體而言,支撐部件30由沿著Z方向延伸的6根吊線(xiàn)構(gòu)成(以下稱(chēng)作“吊線(xiàn)30”)。吊線(xiàn)30的一端(上端)固定于OIS可動(dòng)部10(上側(cè)彈性支撐部13),另一端(下端)固定于OIS固定部20(線(xiàn)圈基板21)。OIS可動(dòng)部10在XY平面內(nèi)可擺動(dòng)地被吊線(xiàn)30支撐。

在本實(shí)施方式中,6根吊線(xiàn)30中,吊線(xiàn)31A、31B作為霍爾元件161(參照?qǐng)D5)的信號(hào)路徑來(lái)使用(信號(hào)用吊線(xiàn))、吊線(xiàn)32A、32B作為對(duì)霍爾元件161的供電路徑來(lái)使用(霍爾元件供電用吊線(xiàn))、吊線(xiàn)33A、33B作為對(duì)AF用線(xiàn)圈部112(參照?qǐng)D5)的供電路徑來(lái)使用(線(xiàn)圈供電用吊線(xiàn))。此外,吊線(xiàn)30的根數(shù)不限于此,也可以比6根多。

圖5是OIS可動(dòng)部10的分解立體圖。圖6是OIS可動(dòng)部10的俯視圖。圖7是OIS可動(dòng)部10的仰視圖。

如圖5~圖7所示,OIS可動(dòng)部10(AF單元)具備AF可動(dòng)部11、AF固定部12、上側(cè)彈性支撐部13、下側(cè)彈性支撐部14等。AF可動(dòng)部11相對(duì)于AF固定部12在徑向內(nèi)側(cè)間隔開(kāi)配置,并通過(guò)上側(cè)彈性支撐部13及下側(cè)彈性支撐部14與AF固定部12連結(jié)。

AF可動(dòng)部11具有構(gòu)成AF用音圈電機(jī)的線(xiàn)圈部,是在對(duì)焦時(shí)在光軸方向上移動(dòng)的部分。AF固定部12是具有構(gòu)成AF用音圈電機(jī)的磁鐵部的部分。即,透鏡驅(qū)動(dòng)裝置1的AF用透鏡驅(qū)動(dòng)部采用動(dòng)圈式。

AF可動(dòng)部11具有透鏡支架111、AF用線(xiàn)圈部112、以及位置檢測(cè)用磁體15。

透鏡支架111是圓筒形狀的部件,在內(nèi)周面通過(guò)粘結(jié)或螺合固定透鏡部(省略圖示)。

透鏡支架111在周面的下半部具有倒角后的四邊形線(xiàn)圈卷繞部111a。透鏡支架111在周面的上半部的與X方向及Y方向(以下稱(chēng)作“十字方向”)交叉的四個(gè)部分具有向徑向外側(cè)伸出的突出部111b。突出部111b形成為向線(xiàn)圈卷繞部111a的徑向外側(cè)伸出。該突出部111b的上表面為用于限制AF可動(dòng)部11向光軸方向受光側(cè)的移動(dòng)的被卡止部,突出部111b的下表面為用于限制AF可動(dòng)部11向光軸方向成像側(cè)的移動(dòng)的被卡止部。

在透鏡支架111在周面的上半部中,在與將十字方向旋轉(zhuǎn)45°后的方向(以下稱(chēng)作“對(duì)角方向”)交叉的四個(gè)部分具有突出部111c、111d。突出部111c、111d為用于固定上側(cè)彈性支撐部13的上彈簧固定部(以下稱(chēng)作“上彈簧固定部111c”、“上彈簧固定部111d”)。

上彈簧固定部111c、111d具有用于將上側(cè)彈性支撐部13定位并固定的上側(cè)凸起111e。位于上彈簧固定部111c、111d中的第一對(duì)角部的兩個(gè)上彈簧固定部111c具有向徑向外側(cè)突出的捆綁部111h。位于上彈簧固定部111c、111d中的第二對(duì)角部的兩個(gè)上彈簧固定部111d具有用于配置位置檢測(cè)用磁體15的磁體收容部111i。

透鏡支架111在下表面的四角具有對(duì)下側(cè)彈性支撐部14進(jìn)行固定的下彈簧固定部111f。下彈簧固定部111f具有用于將下側(cè)彈性支撐部14定位并固定的下側(cè)凸起111g。

AF用線(xiàn)圈部112是在對(duì)焦時(shí)通電的空心線(xiàn)圈,被卷繞在透鏡支架111的線(xiàn)圈卷繞部111a的外周面。AF用線(xiàn)圈部112的一端被捆綁于透鏡支架111的一側(cè)的捆綁部111h,另一端被捆綁于另一側(cè)的捆綁部111h。

透鏡支架111的捆綁部111h的結(jié)構(gòu)如圖8、圖9所示。圖8是透鏡支架111的俯視圖。圖9是捆綁部111h附近的放大圖。

通常,在使用繞線(xiàn)器將AF用線(xiàn)圈部112卷繞于透鏡支架111的線(xiàn)圈卷繞部111a之后,通過(guò)手動(dòng)操作來(lái)將兩端部捆綁于捆綁部111h、111h。以往,以在線(xiàn)圈卷繞區(qū)域外側(cè)存在捆綁部的根部的方式設(shè)計(jì)捆綁部。這是因?yàn)?,若捆綁部的根部位于線(xiàn)圈卷繞區(qū)域內(nèi)側(cè),則從捆綁部的根部按順序捆綁AF用線(xiàn)圈部112的端部的作業(yè)明顯困難。

相對(duì)于此,在本實(shí)施方式中,捆綁部111h呈向徑向內(nèi)側(cè)即根部111j縮徑的錐形。在該情況下,通過(guò)一邊給予張力一邊進(jìn)行捆綁作業(yè),來(lái)使AF用線(xiàn)圈部112的端部平滑地向根部111j側(cè)移動(dòng),進(jìn)行整齊卷繞。因此,能夠以在線(xiàn)圈卷繞區(qū)域內(nèi)側(cè)存在根部111j的方式設(shè)計(jì)捆綁部111h。即,能夠不損害捆綁作業(yè)的效率,而減小透鏡支架111的外形尺寸。

在形成于透鏡支架111的上彈簧固定部111d的磁體收容部111i中配置有位置檢測(cè)用磁體15。將配置在與位置檢測(cè)部16對(duì)應(yīng)的一側(cè)的位置檢測(cè)用磁體15(以下稱(chēng)作“第一位置檢測(cè)用磁體15A”,未在圖5中示出)實(shí)際使用于AF可動(dòng)部11的位置檢測(cè)。另一個(gè)位置檢測(cè)用磁體15(以下稱(chēng)作“第二位置檢測(cè)用磁體15B”)是在AF可動(dòng)部11的位置檢測(cè)中不使用的虛設(shè)磁體。為了使作用于AF可動(dòng)部11的磁力平衡并使AF可動(dòng)部11的姿勢(shì)穩(wěn)定,而配置第二位置檢測(cè)用磁體15B。即,在未配置第二位置檢測(cè)用磁體15B的情況下,磁鐵部122產(chǎn)生的磁場(chǎng)使偏向一方的磁力作用于AF可動(dòng)部11,AF可動(dòng)部11的姿勢(shì)不穩(wěn)定,因此通過(guò)配置第二位置檢測(cè)用磁體15B,來(lái)防止該情況。位置檢測(cè)用磁體15例如是溫度特性?xún)?yōu)異、適于高溫環(huán)境下的使用的釤鈷磁體。

AF固定部12具有磁鐵支架121、磁鐵部122、以及位置檢測(cè)部16。在圖5中表示了將磁鐵部122安裝于磁鐵支架121的狀態(tài),但實(shí)際上,在將AF可動(dòng)部11插入到磁鐵支架121中之后,安裝磁鐵部122。

磁鐵支架121具有俯視為正方形的四角筒形狀。磁鐵支架121在側(cè)壁之間的四個(gè)連結(jié)部(沿著Z軸方向的四個(gè)邊)具有形成為向徑向內(nèi)側(cè)呈凹狀的圓弧槽121a。在該圓弧槽121a中配置有吊線(xiàn)30。

磁鐵支架121在上部?jī)?nèi)周面具有向徑向內(nèi)側(cè)伸出的四個(gè)阻擋器部121b。將透鏡支架111的上彈簧固定部111d嵌插到未形成有阻擋器部121b的缺口部121c。

磁鐵支架121在上部的四角具有固定上側(cè)彈性支撐部13的上彈簧固定部121d。上彈簧固定部121d具有用于將上側(cè)彈性支撐部13定位并固定的上側(cè)凸起121e。上彈簧固定部121d的角部121f的上表面形成為比周邊稍微凹陷,使得在安裝上側(cè)彈性支撐部13時(shí)形成有間隙。另外,上彈簧固定部121d的角部121f具有被吊線(xiàn)30插通的線(xiàn)插通部121g。

磁鐵支架121在下表面的四角具有固定下側(cè)彈性支撐部14的下彈簧固定部(省略圖示)。下彈簧固定部(省略圖示)具有用于將下側(cè)彈性支撐部14定位并固定的下側(cè)凸起121h。

磁鐵部122具有四個(gè)長(zhǎng)方體狀的永磁體122A~122D及連結(jié)磁軛123、124。永磁體122A~122D沿磁化鐵支架121的四個(gè)側(cè)壁的內(nèi)表面配置。永磁體122A、122C在Y方向上對(duì)置配置,永磁體122B、122D在X方向上對(duì)置配置。透鏡支架111的突出部111b位于磁鐵部122與磁鐵支架121的阻擋器部121b之間的空間S中。

以在AF用線(xiàn)圈部112中形成與徑向正交的磁場(chǎng)的方式,將永磁體122A~122D磁化。例如,對(duì)于永磁體122A~122D,將內(nèi)周側(cè)磁化為N極,將外周側(cè)磁化為S極。永磁體122A~122D例如是釹磁體。

由磁鐵部122及AF用線(xiàn)圈部112構(gòu)成AF用音圈電機(jī)。另外,磁鐵部122兼用作AF用磁鐵部和OIS用磁鐵部。

永磁體122A的一個(gè)長(zhǎng)度方向端面和與其相鄰的永磁體122B的長(zhǎng)度方向端面通過(guò)俯視為W形狀的連結(jié)磁軛123連結(jié)。連結(jié)磁軛123在一個(gè)端部具有磁軛部123a,在另一個(gè)端部具有磁軛部123b。即,在永磁體122A的與第一位置檢測(cè)用磁體15A鄰近的端面配置有磁軛部123a,在永磁體122B的與第一位置檢測(cè)用磁體15A鄰近的端面配置有磁軛部123b。

同樣地,永磁體122C的一個(gè)長(zhǎng)度方向端面和與其相鄰的永磁體122D的長(zhǎng)度方向端面通過(guò)俯視為W形狀的連結(jié)磁軛124連結(jié)。在永磁體122C的與第二位置檢測(cè)用磁體15B鄰近的端面配置有磁軛部124a,在永磁體122D的與第二位置檢測(cè)用磁體15B鄰近的端面配置有磁軛部124b。

磁軛部123a、123b用于抑制磁鐵部122產(chǎn)生的磁通與霍爾元件161的檢測(cè)部交叉的情況,即用于降低漏磁通。通過(guò)配置磁軛部123a、123b,霍爾元件161的檢測(cè)敏感度得到提高。

在配置了磁軛部123a、123b的情況下,在其與第一位置檢測(cè)用磁體15A之間產(chǎn)生吸引力。為了使作用于AF可動(dòng)部11的磁力平衡并使AF可動(dòng)部11的姿勢(shì)穩(wěn)定,而配置磁軛部124a、124b。

在本實(shí)施方式中,雖然適用了連結(jié)磁軛123、124,但是也可以由各自獨(dú)立的部件構(gòu)成磁軛部123a、123b、124a、124b。

但是,如本實(shí)施方式所示那樣,優(yōu)選將磁軛部123a、123b連結(jié)。由此,與分別在永磁體122A、122B安裝磁軛部的情況相比,安裝作業(yè)被顯著地簡(jiǎn)化。另外,由于在連結(jié)磁軛部123a和磁軛部123b的連結(jié)部與第一位置檢測(cè)用磁體15A之間也產(chǎn)生吸引力,所以在以使該吸引力為所希望的值的方式設(shè)計(jì)連結(jié)磁軛123的情況下,能夠使磁軛部123a、123b的厚度變薄。能夠相應(yīng)地使永磁體122A、122B的長(zhǎng)度變長(zhǎng),因此AF用驅(qū)動(dòng)部的驅(qū)動(dòng)特性得到提高。并且,對(duì)于增強(qiáng)AF固定部12的強(qiáng)度也是有用的。

位置檢測(cè)部16配置在磁鐵支架121的四個(gè)上彈簧固定部121d中的、位于第二對(duì)角部的上彈簧固定部121d。位置檢測(cè)部16具有:霍爾元件161,其利用霍爾效應(yīng)來(lái)檢測(cè)磁場(chǎng)的變化;以及位置檢測(cè)用基板162,其對(duì)霍爾元件161進(jìn)行供電,并用于提取檢測(cè)信號(hào)?;魻栐?61具有由半導(dǎo)體元件構(gòu)成的檢測(cè)部161a(參照?qǐng)D12),配置為檢測(cè)部161a的檢測(cè)方向與光軸方向一致。位置檢測(cè)部16主要對(duì)第一位置檢測(cè)用磁體15A的磁場(chǎng)的變化進(jìn)行檢測(cè)。由此,對(duì)光軸方向上的AF可動(dòng)部11的位置進(jìn)行檢測(cè)。

上側(cè)彈性支撐部13例如是由鈹銅、鎳銅、不銹鋼等構(gòu)成的板簧,在整體俯視時(shí)呈正方形。上側(cè)彈性支撐部13具有:相對(duì)于AF固定部12對(duì)AF可動(dòng)部11進(jìn)行彈性支撐的上側(cè)板簧131、132;用于向霍爾元件161供電的電源線(xiàn)部133、134;以及提取來(lái)自霍爾元件161的檢測(cè)信號(hào)的信號(hào)線(xiàn)部135、136。通過(guò)將一張板金沖壓而切斷,來(lái)對(duì)上側(cè)板簧131、132、電源線(xiàn)部133、134及信號(hào)線(xiàn)部135、136進(jìn)行成型。

上側(cè)板簧131具有兩個(gè)彈簧部131A和131B。彈簧部131A具有:透鏡支架固定部131a,其固定于透鏡支架111;磁鐵支架固定部131b,其配置于透鏡支架固定部131a的徑向外側(cè),并固定于磁鐵支架121;以及臂部131c,其連結(jié)透鏡支架固定部131a和磁鐵支架固定部131b。同樣地,彈簧部131B具有透鏡支架固定部131d、磁鐵支架固定部131e、以及臂部131f。透鏡支架固定部131a、131d連結(jié)在臂部131c的內(nèi)側(cè),磁鐵支架固定部131b、131e連結(jié)在臂部131c的外側(cè)。

透鏡支架固定部131a、131d具有與透鏡支架111的上側(cè)凸起111e對(duì)應(yīng)的固定孔131g、131h。磁鐵支架固定部131b、131e具有與磁鐵支架121的上側(cè)凸起121e對(duì)應(yīng)的固定孔131i、131j。臂部131c、131f具有折回部131k、131m,在XY平面內(nèi)以波動(dòng)的方式延伸。通過(guò)設(shè)為這樣的形狀,能夠降低作用于臂部131c、131f的扭矩。

上側(cè)板簧131具有從磁鐵支架固定部131b彎曲地延伸的線(xiàn)連接部131n。在線(xiàn)連接部131n連接有向AF用線(xiàn)圈部112供電用的吊線(xiàn)33B(參照?qǐng)D4)。

上側(cè)板簧131具有從透鏡支架固定部131d延伸的捆綁連接部131p。捆綁連接部131p與捆綁于透鏡支架111的一個(gè)捆綁部111h的、AF用線(xiàn)圈部112的一端部連接。

上側(cè)板簧132雖然不是與上側(cè)板簧131完全相同的形狀,但是由于基本結(jié)構(gòu)相同而省略說(shuō)明。在上側(cè)板簧132的線(xiàn)連接部132n連接有向AF用線(xiàn)圈部112供電用的吊線(xiàn)33A(參照?qǐng)D4)。另外,捆綁連接部132p與捆綁于透鏡支架111的另一個(gè)捆綁部111h的、AF用線(xiàn)圈部112的另一端部連接。

電源線(xiàn)部133在兩端部具有與磁鐵支架121的上側(cè)凸起121e對(duì)應(yīng)的固定孔133a、133b。電源線(xiàn)部133在一個(gè)端部具有彎曲地延伸的線(xiàn)連接部133c。在線(xiàn)連接部133c連接有向霍爾元件161供電用的吊線(xiàn)32A(參照?qǐng)D4)。電源線(xiàn)部133的另一端部與位置檢測(cè)用基板162的電源端子162a連接。

電源線(xiàn)部134具有與電源線(xiàn)部133對(duì)稱(chēng)的形狀。在電源線(xiàn)部134的線(xiàn)連接部134c連接有向霍爾元件161供電用的吊線(xiàn)32B。另外,電源線(xiàn)部134的另一端部與位置檢測(cè)用基板162的電源端子162d連接。

信號(hào)線(xiàn)部135具有與磁鐵支架121的上側(cè)凸起121e對(duì)應(yīng)的固定孔135a。信號(hào)線(xiàn)部135在一個(gè)端部具有彎曲地延伸的線(xiàn)連接部135b。在線(xiàn)連接部135b連接有來(lái)自霍爾元件161的檢測(cè)信號(hào)提取用的吊線(xiàn)31A(參照?qǐng)D4)。信號(hào)線(xiàn)部135的另一端部與位置檢測(cè)用基板162的信號(hào)端子162b連接。

信號(hào)線(xiàn)部136具有與信號(hào)線(xiàn)部135對(duì)稱(chēng)的形狀。在信號(hào)線(xiàn)部136的線(xiàn)連接部136b連接有來(lái)自霍爾元件161的信號(hào)提取用的吊線(xiàn)31B。另外,信號(hào)線(xiàn)部136的另一端部與位置檢測(cè)用基板162的信號(hào)端子162c連接。

與上側(cè)彈性支撐部13同樣地,下側(cè)彈性支撐部14例如是由鈹銅、鎳銅、不銹鋼等構(gòu)成的板簧(以下稱(chēng)作“下側(cè)板簧14”),在整體俯視時(shí)具有正方形。下側(cè)板簧14相對(duì)于AF固定部12對(duì)AF可動(dòng)部11進(jìn)行彈性支撐。通過(guò)將一張板金沖壓而切斷,來(lái)對(duì)下側(cè)板簧14進(jìn)行成型。

下側(cè)板簧14具有四個(gè)彈簧部14A~14D。彈簧部14A~14D分別具有:透鏡支架固定部14a,其固定于透鏡支架111;磁鐵支架固定部14b,其配置于透鏡支架固定部14a的徑向外側(cè),且固定于磁鐵支架121;以及臂部14c,其連結(jié)透鏡支架固定部14a和磁鐵支架固定部14b。臂部14c具有蜿蜒形狀。

相鄰的透鏡支架固定部14a通過(guò)內(nèi)側(cè)環(huán)部14d連結(jié)。相鄰的磁鐵支架固定部14b通過(guò)外側(cè)環(huán)部14e連結(jié)。

透鏡支架固定部14a具有與透鏡支架111的下側(cè)凸起111g對(duì)應(yīng)的固定孔14f。磁鐵支架固定部14b具有與磁鐵支架121的下側(cè)凸起121i對(duì)應(yīng)的固定孔14g。

在對(duì)OIS可動(dòng)部10進(jìn)行組裝時(shí),首先,將位置檢測(cè)部16(霍爾元件161及位置檢測(cè)用基板162)安裝到磁鐵支架121,將連結(jié)磁軛123、124安裝到磁鐵支架121的磁軛收容部(省略圖示)。然后,將上側(cè)彈性支撐部13安裝于上彈簧固定部121d。

這時(shí),將電源線(xiàn)部133、134的一端與位置檢測(cè)用基板162的電源端子162a、162d焊接而電連接。另外,將信號(hào)線(xiàn)部135、136的一端與位置檢測(cè)用基板162的信號(hào)端子162b、162c焊接而電連接。

并且,在上側(cè)板簧131的折回部131m、131k與磁鐵支架121之間、以及上側(cè)板簧132的折回部132m、132k與磁鐵支架121之間配置有減震材料(省略圖示)。由此,抑制了不必要的共振(高階的共振模式)的產(chǎn)生,因此能夠確保動(dòng)作的穩(wěn)定性。可以使用分配器來(lái)容易地涂覆減震材料。作為減震材料,例如能夠適用紫外線(xiàn)固化性的硅凝膠。

接著,在透鏡支架111的下彈簧固定部111f安裝下側(cè)板簧14,在該狀態(tài)下,將透鏡支架111從光軸方向成像側(cè)嵌插到磁鐵支架121中。這時(shí),將透鏡支架111的上彈簧固定部111d嵌入到磁鐵支架121的缺口部121c。然后,將上側(cè)板簧131、132安裝到透鏡支架111的上彈簧固定部111d。另外,在磁鐵支架121的下彈簧固定部(省略圖示)安裝下側(cè)板簧14。

這時(shí),將上側(cè)板簧131的捆綁連接部131p與捆綁于透鏡支架111的一個(gè)捆綁部111h的AF用線(xiàn)圈部112的一端部焊接而電連接。同樣地,將上側(cè)板簧132的捆綁連接部132p與捆綁于透鏡支架111的另一個(gè)捆綁部111h的AF用線(xiàn)圈部112的另一端部焊接而電連接。

接著,從由下側(cè)板簧14的臂部14c和外側(cè)環(huán)部14e圍成的區(qū)域,將永磁體122A~122D插入,并粘結(jié)于磁鐵支架121。同時(shí),在永磁體122A的長(zhǎng)度方向端面粘結(jié)有連結(jié)磁軛123的一個(gè)磁軛部123a,在永磁體122B的長(zhǎng)度方向端面粘結(jié)有連結(jié)磁軛123的另一個(gè)磁軛部123b。另外,在永磁體122C的長(zhǎng)度方向端面粘結(jié)有連結(jié)磁軛124的一個(gè)磁軛部124a,在永磁體122D的長(zhǎng)度方向端面粘結(jié)有連結(jié)磁軛124的另一個(gè)磁軛部124b。這樣,對(duì)OIS可動(dòng)部10(AF用驅(qū)動(dòng)部)進(jìn)行組裝。

這樣,透鏡驅(qū)動(dòng)裝置1具備AF用驅(qū)動(dòng)部(OIS可動(dòng)部10),該AF用驅(qū)動(dòng)部具有:AF用線(xiàn)圈部(112),其配置在透鏡部的周?chē)?;以及AF用磁鐵部(122),其由在寬度方向(內(nèi)外方向)上被磁化的、配置為四方框狀的四片永磁體(122A~122D)構(gòu)成,且相對(duì)于AF用線(xiàn)圈部(112)在徑向上間隔開(kāi)配置,該AF用驅(qū)動(dòng)部利用由AF用線(xiàn)圈部(112)和AF用磁鐵部(122)構(gòu)成的音圈電機(jī)的驅(qū)動(dòng)力,使包含AF用線(xiàn)圈部(112)的AF可動(dòng)部(11)在光軸方向上相對(duì)于包含AF用磁鐵部(122)的AF固定部(12)移動(dòng),從而自動(dòng)地進(jìn)行對(duì)焦。

圖10是OIS固定部20的分解立體圖。如圖10所示,OIS固定部20具備線(xiàn)圈基板21、傳感器基板22、以及底座部件23等。

線(xiàn)圈基板21是俯視時(shí)呈正方形的基板,在中央具有圓形的開(kāi)口21a。線(xiàn)圈基板21在四角具有吊線(xiàn)30的另一端(下端)所插入的線(xiàn)固定孔21b。另外,線(xiàn)圈基板21在開(kāi)口21a的周緣部的與對(duì)角方向交叉的位置具有定位孔21c。

線(xiàn)圈基板21在光軸方向上與磁鐵部122對(duì)置的位置具有OIS用線(xiàn)圈部211。OIS用線(xiàn)圈部211具有與永磁體122A~122D對(duì)應(yīng)的四個(gè)OIS線(xiàn)圈211A~211D。以使從永磁體122A~122D的底面放射的磁場(chǎng)在Z方向上將OIS線(xiàn)圈211A~211D的每一個(gè)的長(zhǎng)邊部分橫穿的方式,設(shè)定OIS線(xiàn)圈211A~211D及永磁體122A~122D的大小和配置。由磁鐵部122和OIS用線(xiàn)圈部211構(gòu)成OIS用音圈電機(jī)。

與線(xiàn)圈基板21同樣地,傳感器基板22是在俯視時(shí)呈正方形的基板,在中央具有圓形的開(kāi)口22a。傳感器基板22在開(kāi)口22a的周緣部的與線(xiàn)圈基板21的定位孔21c對(duì)應(yīng)的位置具有定位孔22b。

傳感器基板22在沿X方向的兩邊具有向下方彎折地形成的第一卡止片22c。另外,傳感器基板22在沿Y方向的兩邊具有向下方彎折地形成的第二卡止片22d。在第二卡止片22d配置有電源端子及信號(hào)端子。

傳感器基板22在開(kāi)口22a的內(nèi)周緣部的與對(duì)角方向交叉的四個(gè)部位具有用于向OIS用線(xiàn)圈部211供電的電源端子22e。另外,傳感器基板22具有用于對(duì)AF用線(xiàn)圈部112及OIS用線(xiàn)圈部211供電的電源線(xiàn)(省略圖示)、和從霍爾元件24A、24B輸出的檢測(cè)信號(hào)用的信號(hào)線(xiàn)(省略圖示)。

與線(xiàn)圈基板21同樣地,底座部件23是在俯視時(shí)呈正方形的部件,在中央具有圓形的開(kāi)口23a。底座部件23在開(kāi)口23a的周緣部的與線(xiàn)圈基板21的定位孔21c及傳感器基板22的定位孔22b對(duì)應(yīng)的位置具有定位凸起23b。另外,底座部件23在側(cè)壁的與傳感器基板22的第一卡止片22c對(duì)應(yīng)的位置具有小凹部23c,在與第二卡止片22d對(duì)應(yīng)的位置具有大凹部23d。

另外,底座部件23在開(kāi)口23a的周緣部具有:收容霍爾元件24A、24B的霍爾元件收容部23f、收容傳感器基板22的電源端子22e的端子收容部23e、以及用于防止焊接線(xiàn)在壁厚較薄的端子收容部23e中重疊的情況的凹部23g。

霍爾元件24A、24B配置在傳感器基板22的背面?zhèn)取⑶沂杖萦诘鬃考?3的霍爾元件收容部23f中。通過(guò)由霍爾元件24A、24B檢測(cè)由磁鐵部122形成的磁場(chǎng),能夠確定出XY平面中的OIS可動(dòng)部10的位置。此外,也可以獨(dú)立于磁鐵部122而將XY位置檢測(cè)用磁體配置在OIS可動(dòng)部10。

在對(duì)OIS固定部20進(jìn)行組裝時(shí),首先,通過(guò)焊接將線(xiàn)圈基板21和傳感器基板22進(jìn)行粘結(jié)。由此,將OIS用線(xiàn)圈部211和傳感器基板22的電源線(xiàn)(省略圖示)電連接。

接著,在底座部件23的定位凸起23b上嵌插線(xiàn)圈基板21的定位孔21c及傳感器基板22的定位孔22b,將線(xiàn)圈基板21及傳感器基板22載置于底座部件23。通過(guò)將傳感器基板22的第一卡止片22c卡合到底座部件23的小凹部23c,并將第二卡止片22d卡合到大凹部23d,從而將線(xiàn)圈基板21及傳感器基板22固定于底座部件23。這樣,對(duì)OIS固定部20進(jìn)行組裝。

這樣,透鏡驅(qū)動(dòng)裝置1具備OIS用驅(qū)動(dòng)部,該OIS用驅(qū)動(dòng)部具有:OIS用磁鐵部(磁鐵部122),其配置于包含AF可動(dòng)部(11)及AF固定部(12)的AF單元;以及OIS用線(xiàn)圈部(211),其相對(duì)于OIS用磁鐵部(122)在光軸方向上間隔開(kāi)配置,該OIS用驅(qū)動(dòng)部利用由OIS用線(xiàn)圈部(211)和OIS用磁鐵部(122)構(gòu)成的音圈電機(jī)的驅(qū)動(dòng)力,使包含OIS用磁鐵部(122)的OIS可動(dòng)部(10)相對(duì)于包含OIS用線(xiàn)圈部(211)的OIS固定部(20)在與光軸方向正交的平面內(nèi)擺動(dòng),從而進(jìn)行抖動(dòng)修正。

在組裝透鏡驅(qū)動(dòng)裝置1時(shí),將吊線(xiàn)33A、33B的一端分別插通到上側(cè)板簧132的線(xiàn)連接部132n、上側(cè)板簧131的線(xiàn)連接部131n,并通過(guò)焊接固定。將吊線(xiàn)32A、32B的一端分別插通到電源線(xiàn)部133的線(xiàn)連接部133c、電源線(xiàn)部134的線(xiàn)連接部134c,并通過(guò)焊接固定。將吊線(xiàn)31A、31B的一端分別插通到信號(hào)線(xiàn)部135的線(xiàn)連接部135b、信號(hào)線(xiàn)部136的線(xiàn)連接部136b,并通過(guò)焊接固定。由此,將吊線(xiàn)30與上側(cè)板簧131、132、電源線(xiàn)部133、134、以及信號(hào)線(xiàn)部135、136電連接。

接著,將吊線(xiàn)30的另一端(下端)插通到線(xiàn)圈基板21的線(xiàn)固定孔21b,并通過(guò)焊接固定。由此,將吊線(xiàn)30與傳感器基板22的電源線(xiàn)及信號(hào)線(xiàn)電連接。即,借助吊線(xiàn)30和上側(cè)彈性支撐部13,能夠進(jìn)行向AF用線(xiàn)圈部112、霍爾元件161的供電以及對(duì)霍爾元件161的動(dòng)作控制。

在此,以包圍吊線(xiàn)30的方式將減震材料(省略圖示)配置于磁鐵支架121的線(xiàn)插通部121g。減震材料介于上側(cè)彈性支撐部13和磁鐵支架121之間。通過(guò)使減震材料(省略圖示)介于上側(cè)彈性支撐部13和磁鐵支架121之間,抑制了不必要的共振(高階的共振模式)的產(chǎn)生,因此能夠確保動(dòng)作的穩(wěn)定性。可以使用分配器來(lái)將減震材料容易地涂覆到線(xiàn)插通部121g。作為減震材料,例如能夠適用紫外線(xiàn)固化性的硅膠。

另外,上側(cè)板簧131、132的線(xiàn)連接部131n、132n、電源線(xiàn)部133、134的線(xiàn)連接部133c、134c、以及信號(hào)線(xiàn)部135、136的線(xiàn)連接部135b、136b彎曲地形成以易于彈性變形。利用它們與吊線(xiàn)30的彎曲,可吸收落下時(shí)的沖擊,因此吊線(xiàn)30不會(huì)塑性變形或斷裂等。

以將屏蔽罩2的卡合片2b與傳感器基板22的第一卡止片22c抵接的方式,將屏蔽罩2安裝于透鏡驅(qū)動(dòng)裝置1。底座部件23的小凹部23c呈錐形,從而推壓力在傳感器基板22的第一卡止片22c與屏蔽罩2的卡合片2b之間起作用。因此,不進(jìn)行焊接而將屏蔽罩2與傳感器基板22電連接。由此,能夠容易地將屏蔽罩2接地,能夠遮斷EMC噪聲。

在透鏡驅(qū)動(dòng)裝置1中進(jìn)行抖動(dòng)修正的情況下,對(duì)OIS用線(xiàn)圈部211通電。若對(duì)OIS用線(xiàn)圈部211通電,則基于磁鐵部122的磁場(chǎng)與在OIS用線(xiàn)圈部211中流過(guò)的電流之間的相互作用,在OIS用線(xiàn)圈部211中產(chǎn)生洛侖茲力(弗萊明左手法則)。洛侖茲力的方向是與磁場(chǎng)的方向(Z方向)和在OIS用線(xiàn)圈部211的長(zhǎng)邊部分中流過(guò)的電流的方向(X方向或Y方向)正交的方向(Y方向或X方向)。由于OIS用線(xiàn)圈部211被固定,因此反作用力作用于磁鐵部122。該反作用力為OIS用音圈電機(jī)的驅(qū)動(dòng)力,具有磁鐵部122的OIS可動(dòng)部10在XY平面內(nèi)擺動(dòng),從而進(jìn)行抖動(dòng)修正。

在透鏡驅(qū)動(dòng)裝置1中進(jìn)行自動(dòng)對(duì)焦的情況下,對(duì)AF用線(xiàn)圈部112通電。若對(duì)AF用線(xiàn)圈部112通電,則基于磁鐵部122的磁場(chǎng)與在AF用線(xiàn)圈部112中流過(guò)的電流之間的相互作用,在AF用線(xiàn)圈部112中產(chǎn)生洛侖茲力。洛侖茲力的方向是與磁場(chǎng)的方向(X方向或Y方向)和在AF用線(xiàn)圈部112中流過(guò)的電流的方向(Y方向或X方向)正交的方向(Z方向)。由于磁鐵部122被固定,因此反作用力作用于AF用線(xiàn)圈部112。該反作用力為AF用音圈電機(jī)的驅(qū)動(dòng)力,具有AF用線(xiàn)圈部112的AF可動(dòng)部11在光軸方向上移動(dòng),從而進(jìn)行對(duì)焦。

在此,在不進(jìn)行對(duì)焦的未通電時(shí),AF可動(dòng)部11通過(guò)上側(cè)板簧131、132及下側(cè)板簧14保持被吊在無(wú)限遠(yuǎn)位置與微距位置之間的狀態(tài)(以下稱(chēng)作“基準(zhǔn)狀態(tài)”)。即,在OIS可動(dòng)部10中,AF可動(dòng)部11(透鏡支架111)通過(guò)上側(cè)板簧131、132及下側(cè)板簧14,在相對(duì)于AF固定部12(磁鐵支架121)被定位的狀態(tài)下,以能夠朝Z方向兩側(cè)位移的方式受到彈性支撐。

在進(jìn)行對(duì)焦時(shí),根據(jù)是使AF可動(dòng)部11從基準(zhǔn)狀態(tài)朝微距位置側(cè)移動(dòng)還是朝無(wú)限遠(yuǎn)位置側(cè)移動(dòng),來(lái)控制電流的方向。另外,根據(jù)AF可動(dòng)部11的移動(dòng)距離來(lái)控制電流的大小。

在對(duì)焦時(shí)AF可動(dòng)部11朝無(wú)限遠(yuǎn)位置側(cè)移動(dòng)的情況下,透鏡支架111的突出部111b的下表面向磁鐵部122的上表面接近,最終抵接。即,利用透鏡支架111的突出部111b的下表面和磁鐵部122的上表面,來(lái)限制朝無(wú)限遠(yuǎn)位置側(cè)的移動(dòng)。

另一方面,在對(duì)焦時(shí)AF可動(dòng)部11朝微距位置側(cè)移動(dòng)的情況下,透鏡支架111的突出部111b的上表面向磁鐵支架121的阻擋器部121b的下表面接近,最終抵接。即,利用透鏡支架111的突出部111b的上表面和磁鐵支架121的阻擋器部121b的下表面,來(lái)限制朝微距位置側(cè)的移動(dòng)。

并且,在透鏡驅(qū)動(dòng)裝置1的AF用驅(qū)動(dòng)部中,基于位置檢測(cè)部16的檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行閉環(huán)控制。根據(jù)閉環(huán)控制方式,不需要考慮音圈電機(jī)的磁滯特性(hysteresis characteristics),而且能夠直接地檢測(cè)出AF可動(dòng)部11的位置穩(wěn)定的情況。并且,還能夠與像面檢測(cè)方式的自動(dòng)對(duì)焦對(duì)應(yīng)。因此,相應(yīng)性能高,能夠?qū)崿F(xiàn)自動(dòng)對(duì)焦動(dòng)作的高速化。

圖11是表示霍爾元件161和位置檢測(cè)用磁體15的配置的俯視圖。圖12是表示霍爾元件161和第一位置檢測(cè)用磁體15A的配置的側(cè)視圖。圖13是表示霍爾元件161和位置檢測(cè)用磁體15的配置的立體圖。

在圖11~圖13中,為了明確霍爾元件161和位置檢測(cè)用磁體15的配置,對(duì)于AF可動(dòng)部11僅示出了AF用線(xiàn)圈部112,對(duì)于AF固定部12僅示出了磁鐵部122及連結(jié)磁軛123、124。

在將霍爾元件161配置于AF固定部12,將第一位置檢測(cè)用磁體15A配置于AF可動(dòng)部11的情況下,霍爾元件161的檢測(cè)部?jī)H與第一位置檢測(cè)用磁體15A的磁通交叉的情況是理想的。但是,在如本實(shí)施方式那樣由四片永磁體122A~122D構(gòu)成磁鐵部122,且將永磁體122A~122D配置為四方框狀的情況下,極大地制限了能夠配置霍爾元件161的區(qū)域,所以無(wú)法完全地排除磁鐵部122的漏磁通的影響。即,霍爾元件161的檢測(cè)部與不少磁鐵部122的漏磁通交叉。而且,由于磁鐵部122的漏磁通的影響呈現(xiàn)為輸出電壓偏移,所以檢測(cè)敏感度的動(dòng)態(tài)范圍顯著降低。

在本實(shí)施方式中,將霍爾元件161配置在磁鐵部122的漏磁通的影響被抑制為最小限度的位置。即,由于磁鐵部122的漏磁通的影響在位于四邊形的四個(gè)頂點(diǎn)的對(duì)角部最少,因此在第二對(duì)角部的一方配置霍爾元件161。

另外,將霍爾元件161配置為,檢測(cè)部161a的檢測(cè)方向與光軸方向一致。在該情況下,霍爾元件161的檢測(cè)方向與磁鐵部122的漏磁通大致垂直。在不帶來(lái)透鏡驅(qū)動(dòng)裝置1的大型化的范圍內(nèi),優(yōu)選霍爾元件161和磁鐵部122的間隔距離盡可能地大。

通過(guò)這樣配置霍爾元件161,能夠?qū)⒋盆F部122的漏磁通的影響抑制為最小限度。

另一方面,將配置在AF可動(dòng)部11的第一位置檢測(cè)用磁體15A配置為,盡可能地鄰近霍爾元件161。另外,將第一位置檢測(cè)用磁體15A配置為,磁化方向與光軸方向一致。由此,由于與霍爾元件161的檢測(cè)部交叉的有效磁通增大,因此霍爾元件161的檢測(cè)敏感度得到提高。

此外,將第二位置檢測(cè)用磁體15B配置在與第一位置檢測(cè)用磁體15A關(guān)于光軸點(diǎn)對(duì)稱(chēng)的位置。

這樣,透鏡驅(qū)動(dòng)裝置1具備:霍爾元件(161),其相對(duì)于AF用磁鐵部(磁鐵部122)在光軸方向上間隔開(kāi),且以檢測(cè)方向與光軸方向一致的方式配置在與AF用磁鐵部(122)的一個(gè)對(duì)角部(一個(gè)第二對(duì)角部)對(duì)應(yīng)的位置;第一位置檢測(cè)用磁體(15A),其鄰近霍爾元件(161),且配置為磁化方向與光軸方向一致;以及第二位置檢測(cè)用磁體(15B),其具有與第一位置檢測(cè)用磁體(15A)相同的結(jié)構(gòu),配置在與第一位置檢測(cè)用磁體(15A)關(guān)于光軸方向點(diǎn)對(duì)稱(chēng)的位置。

根據(jù)透鏡驅(qū)動(dòng)裝置1,能夠?qū)⒋盆F部122的漏磁通的影響抑制為最小限度,霍爾元件161的檢測(cè)敏感度得到提高,因此能夠精度良好地檢測(cè)AF可動(dòng)部11的光軸方向上的位置。因此,能夠?qū)崿F(xiàn)小型化、省電化,并且在以閉環(huán)控制方式進(jìn)行自動(dòng)對(duì)焦的情況下是有用的。

在此,磁鐵部122的漏磁通不僅對(duì)霍爾元件161的檢測(cè)敏感度帶來(lái)影響,還對(duì)作用于第一位置檢測(cè)用磁體15A的磁力帶來(lái)影響。即,在第一位置檢測(cè)用磁體15A與磁鐵部122的鄰近部分彼此是相同極性的情況下,在兩者間產(chǎn)生排斥力,在是異極性的情況下產(chǎn)生吸引力(參照?qǐng)D13)。在圖13中,對(duì)于第一位置檢測(cè)用磁體15A,雖然示出了在其與磁軛部123b之間產(chǎn)生的吸引力、和在其與永磁體122B之間產(chǎn)生的排斥力,然而同樣地,在其與磁軛部123a之間也產(chǎn)生吸引力,在其與永磁體122A之間也產(chǎn)生排斥力。對(duì)于在第二位置檢測(cè)用磁體15B產(chǎn)生的磁力也是同樣的。

由于在與第一位置檢測(cè)用磁體15A關(guān)于光軸點(diǎn)對(duì)稱(chēng)的位置配置有第二位置檢測(cè)用磁體15B,所以XY平面內(nèi)的平移作用力彼此抵消。因此,作為相對(duì)于AF可動(dòng)部11的作用力,考慮AF可動(dòng)部11的移動(dòng)方向(Z方向)上的作用力即可。對(duì)于相對(duì)于AF可動(dòng)部11的Z方向上的作用力,由于其阻害AF可動(dòng)部11的移動(dòng)動(dòng)作,所以?xún)?yōu)選其盡可能小。

在本實(shí)施方式中,永磁體122A在與第一位置檢測(cè)用磁體15A鄰近的端面具有磁軛部123a。另外,永磁體122B在與第一位置檢測(cè)用磁體15A鄰近的端面具有磁軛部123b。通過(guò)配置磁軛部123a、123b,降低了磁鐵部122的漏磁通,因此,磁鐵部122和第一位置檢測(cè)用磁體15A之間的磁力(排斥力或吸引力)變小。因此,能夠減少由磁鐵部122的漏磁通產(chǎn)生的、相對(duì)于AF可動(dòng)部11的移動(dòng)方向上的作用力(以下稱(chēng)作“移動(dòng)方向作用力”或“Z方向作用力”)。

另外,在配置磁軛部123a、123b的情況下,優(yōu)選第一位置檢測(cè)用磁體15A與磁鐵部122的鄰近的部分彼此是相同極性。在該情況下,第二位置檢測(cè)用磁體15B與磁鐵部122的鄰近的部分彼此也是相同極性。

在第一位置檢測(cè)用磁體15A和磁軛部123a、123b之間產(chǎn)生的吸引力的一部分或全部與在磁鐵部122和第一位置檢測(cè)用磁體15A之間產(chǎn)生的排斥力相互抵消,因此,能夠進(jìn)一步減小相對(duì)于AF可動(dòng)部11的Z方向作用力。

如上所述,雖然能夠減小相對(duì)于AF可動(dòng)部11的Z方向作用力,但是該Z方向作用力隨著AF可動(dòng)部11的移動(dòng)動(dòng)作而變動(dòng)。因此,如圖14所示,優(yōu)選以下面的方式來(lái)選擇第一位置檢測(cè)用磁體15A及第二位置檢測(cè)用磁體15B的配置的選定:在基準(zhǔn)位置,相對(duì)于AF可動(dòng)部11的Z方向作用力為0,且在AF可動(dòng)部11朝光軸方向受光側(cè)移動(dòng)的情況下,排斥力占主導(dǎo)而產(chǎn)生+方向上的Z方向作用力,在AF可動(dòng)部11朝光軸方向攝像側(cè)移動(dòng)的情況下,吸引力占主導(dǎo)而產(chǎn)生-方向上的Z方向作用力。

在該情況下,能夠?qū)⒌谝晃恢脵z測(cè)用磁體15A、第二位置檢測(cè)用磁體15B、以及磁鐵部122看作相對(duì)于上側(cè)板簧131、132、以及下側(cè)板簧14的反向彈簧。即,在AF可動(dòng)部11移動(dòng)時(shí),在與上側(cè)板簧131、132和下側(cè)板簧14產(chǎn)生的恢復(fù)力相反方向上產(chǎn)生Z方向作用力。

這樣,透鏡驅(qū)動(dòng)裝置1具備輔助磁體(位置檢測(cè)用磁體15),其在AF可動(dòng)部(11)的基準(zhǔn)位置的相對(duì)于AF可動(dòng)部(11)的Z方向作用力為0,且在AF可動(dòng)部(11)移動(dòng)時(shí)在彈性支撐部的恢復(fù)力的相反方向上產(chǎn)生Z方向作用力。

具體而言,輔助磁體(15)具有:第一輔助磁體(第一位置檢測(cè)用磁體15A),其相對(duì)于AF用磁鐵部(磁鐵部122)在光軸方向上間隔開(kāi),配置在與AF用磁鐵部(122)的一個(gè)對(duì)角部對(duì)應(yīng)的位置;第二輔助磁體,其具有與第一輔助磁體(15A)相同的結(jié)構(gòu),配置在與第一輔助磁體(15A)關(guān)于光軸方向點(diǎn)對(duì)稱(chēng)的位置。

由此,即使增大上側(cè)板簧131、132及下側(cè)板簧14的剛性,也能在整體上實(shí)現(xiàn)所希望的彈簧常數(shù)。通過(guò)增大上側(cè)板簧131、132及下側(cè)板簧14的剛性,從而不必要的共振的頻率變高,伺服穩(wěn)定性得到提高,因此,能夠提高伺服設(shè)計(jì)的自由度。另外,能夠?qū)崿F(xiàn)OIS傾斜特性的改善。

<變形例>

近年來(lái),伴隨攝像機(jī)的高像素化,攝像元件的發(fā)熱逐漸成為問(wèn)題。例如存在以下問(wèn)題:若霍爾元件的溫度受到攝像元件發(fā)熱的影響而上升,則由于霍爾元件的特性變化而無(wú)法精度良好地檢測(cè)AF可動(dòng)部的位置。

為了解決該問(wèn)題,在本發(fā)明中,優(yōu)選在透鏡驅(qū)動(dòng)裝置中設(shè)置對(duì)霍爾元件附近的溫度進(jìn)行檢測(cè)的溫度檢測(cè)部,基于該溫度檢測(cè)部檢測(cè)出的溫度來(lái)修正霍爾元件的輸出,對(duì)AF可動(dòng)部的位置進(jìn)行檢測(cè)。以下,使用圖15、圖16,對(duì)使用具備溫度檢測(cè)部180的位置檢測(cè)用基板170來(lái)代替在實(shí)施方式中說(shuō)明的位置檢測(cè)用基板162的情況進(jìn)行具體說(shuō)明。

圖15A是表示位置檢測(cè)用基板170的第一面的俯視圖,圖15B是表示位置檢測(cè)用基板170的第二面(第一面的背面)的俯視圖。圖16是表示位置檢測(cè)用基板170的電路圖。

如圖15A所示,在位置檢測(cè)用基板170的第一面上,與實(shí)施方式中說(shuō)明的位置檢測(cè)用基板162同樣地設(shè)置有電源端子162a、162d和信號(hào)端子162b、162c。另外,如圖15B所示,在位置檢測(cè)用基板170的第二面上設(shè)置有實(shí)施方式中說(shuō)明的霍爾元件161。

另外,如圖15A、圖15B所示,電源端子162a、162d和信號(hào)端子162b、162c分別通過(guò)通孔H1~H4與設(shè)置于第二面的銅箔圖案連接。

另外,如圖15A、圖15B所示,在位置檢測(cè)用基板170上設(shè)置有對(duì)霍爾元件161附近的溫度進(jìn)行檢測(cè)的溫度檢測(cè)部180。

如圖15A、圖15B所示,溫度檢測(cè)部180具有信號(hào)端子180a、180b及銅箔圖案180c、180d(電阻電路的一例)。信號(hào)端子180a、180b及銅箔圖案180c設(shè)置于位置檢測(cè)用基板170的第一面。另外,銅箔圖案180d設(shè)置于位置檢測(cè)用基板170的第二面。

為了精度良好地對(duì)伴隨溫度變化的電阻的變化進(jìn)行檢測(cè),優(yōu)選銅箔圖案180c、180d的電阻值盡可能地大。在此,銅箔圖案180c形成為旋渦狀,銅箔圖案180d形成為蜿蜒狀。

另外,如圖15A、圖15B所示,銅箔圖案180c通過(guò)通孔H5與設(shè)置于第二面的銅箔圖案連接。另外,信號(hào)端子180b通過(guò)通孔H6與設(shè)置于第二面的銅箔圖案連接。

這樣構(gòu)成的溫度檢測(cè)部180對(duì)銅箔圖案180c、180d的電阻值進(jìn)行檢測(cè)。將檢測(cè)出的電阻值的信號(hào)(以下稱(chēng)作“電阻值信號(hào)”)通過(guò)后述的路徑輸出到對(duì)自動(dòng)聚焦功能中的對(duì)焦進(jìn)行控制的控制部(省略圖示。例如攝像機(jī)模塊A的控制部或智能手機(jī)M的控制部)。

以下,對(duì)上述的電阻值信號(hào)的路徑的結(jié)構(gòu)進(jìn)行說(shuō)明。

除了實(shí)施方式中說(shuō)明的上側(cè)板簧131、132、電源線(xiàn)部133、134、和信號(hào)線(xiàn)部135、136以外,上側(cè)彈性支撐部13(參照?qǐng)D5)還具有對(duì)來(lái)自溫度檢測(cè)部180的電阻值信號(hào)進(jìn)行提取的兩個(gè)信號(hào)線(xiàn)部(省略圖示。以下稱(chēng)作“第一電阻值信號(hào)線(xiàn)部”、“第二電阻值信號(hào)線(xiàn)部”)。

將第一電阻值信號(hào)線(xiàn)部的一端與溫度檢測(cè)部180的信號(hào)端子180a焊接而電連接。另外,將第二電阻值信號(hào)線(xiàn)部的一端與溫度檢測(cè)部180的信號(hào)端子180b焊接而電連接。

除了實(shí)施方式中說(shuō)明的吊線(xiàn)31A、31B、32A、32B、33A、33B以外,吊線(xiàn)30(參照?qǐng)D4)還具有作為電阻值信號(hào)的路徑來(lái)使用的兩個(gè)電阻值信號(hào)用吊線(xiàn)(省略圖示。以下稱(chēng)作“第一電阻值信號(hào)用吊線(xiàn)”、“第二電阻值信號(hào)用吊線(xiàn)”)。

第一電阻值信號(hào)用吊線(xiàn)的一端(上端)固定于上側(cè)彈性支撐部13的第一電阻值信號(hào)線(xiàn)部,另一端(下端)固定于線(xiàn)圈基板21(參照?qǐng)D10)。另外,第二電阻值信號(hào)用吊線(xiàn)的一端(上端)固定于上側(cè)彈性支撐部13的第二電阻值信號(hào)線(xiàn)部,另一端(下端)固定于線(xiàn)圈基板21(參照?qǐng)D10)。線(xiàn)圈基板21通過(guò)未圖示的路徑與上述的控制部電連接。

將從溫度檢測(cè)部180輸出的電阻值信號(hào)通過(guò)上述那樣構(gòu)成的路徑,向上述的控制部輸入??刂撇炕陔娮柚敌盘?hào)和從霍爾元件161輸入的檢測(cè)信號(hào),修正AF可動(dòng)部11的Z方向(光軸方向)上的位置,通過(guò)進(jìn)行與修正后的位置相應(yīng)的電流供給來(lái)控制AF可動(dòng)部11的移動(dòng)。

這樣,根據(jù)本變形例,即使在攝像元件發(fā)熱等霍爾元件161附近的溫度發(fā)生變化的情況下,也能夠精度良好地檢測(cè)AF可動(dòng)部11的位置。其結(jié)果,通過(guò)適當(dāng)?shù)拈]環(huán)控制來(lái)進(jìn)行自動(dòng)對(duì)焦,因此能夠防止偏焦。

此外,本變形例中,將信號(hào)端子180a、180b及銅箔圖案180c設(shè)置于位置檢測(cè)用基板170的第一面,將銅箔圖案180d設(shè)置于位置檢測(cè)用基板170的第二面,列舉該結(jié)構(gòu)為例進(jìn)行了說(shuō)明,但是信號(hào)端子180a、180b及銅箔圖案180c、180d可以設(shè)置于位置檢測(cè)用基板170的第一面或第二面中的任意一者,也可以嵌入到位置檢測(cè)用基板170的內(nèi)部。

另外,在本變形例中,利用銅箔圖案180c、180d的電阻電路作為溫度檢測(cè)部180,列舉該結(jié)構(gòu)為例進(jìn)行了說(shuō)明,但是溫度檢測(cè)部180也可以構(gòu)成為,基于霍爾元件161的電阻值來(lái)檢測(cè)溫度。

另外,在本變形例中,利用銅箔圖案180c、180d的電阻電路作為溫度檢測(cè)部180,列舉該結(jié)構(gòu)為例進(jìn)行了說(shuō)明,但是也可以設(shè)為將銅箔圖案180c、180d替換為片狀電阻部件的結(jié)構(gòu)。在該情況下,能夠相對(duì)于位置檢測(cè)用基板170的面積具有更大的電阻值,因此即使對(duì)電阻值變化的檢測(cè)分辨率較小也能夠精度較良好地檢測(cè)溫度。

另外,在本變形例中,除了對(duì)霍爾元件161附近的溫度進(jìn)行檢測(cè)的溫度檢測(cè)部180以外,還可以設(shè)置對(duì)霍爾元件24A附近的溫度進(jìn)行檢測(cè)的溫度檢測(cè)部(以下稱(chēng)作“第二溫度檢測(cè)部”)、以及對(duì)檢測(cè)霍爾元件24B附近的溫度進(jìn)行檢測(cè)的溫度檢測(cè)部(以下稱(chēng)作“第三溫度檢測(cè)部”)。例如,第二溫度檢測(cè)部及第三溫度檢測(cè)部構(gòu)成為與溫度檢測(cè)部180相同,將電阻值信號(hào)向控制部輸出??刂撇炕陔娮柚敌盘?hào)(霍爾元件24A、24B附近的溫度),對(duì)從霍爾元件24A輸入的檢測(cè)信號(hào)和從霍爾元件24B輸入的檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行修正,對(duì)OIS可動(dòng)部10的XY平面內(nèi)的位置進(jìn)行檢測(cè)。而且,控制部通過(guò)進(jìn)行與修正后的位置相應(yīng)的電流供給,來(lái)控制OIS可動(dòng)部10的擺動(dòng)。此外,也可以構(gòu)成為設(shè)置有第二溫度檢測(cè)部或第三溫度檢測(cè)部中的任意一者。

以上,基于實(shí)施方式對(duì)由本發(fā)明者完成的發(fā)明進(jìn)行了具體說(shuō)明,但本發(fā)明并不限于上述實(shí)施方式,能夠在不脫離其要點(diǎn)的范圍內(nèi)進(jìn)行變更。

另外,例如,在實(shí)施方式中,對(duì)具備AF功能及OIS功能的透鏡驅(qū)動(dòng)裝置1進(jìn)行了說(shuō)明,但本發(fā)明能夠適用于僅具備AF功能的透鏡驅(qū)動(dòng)裝置。另外,雖然在永磁體122A~122D的長(zhǎng)度方向端面配置了磁軛部123a、123b、124a、124b,但也可以不配置磁軛部123a、123b、124a、124b。

另外,例如,在實(shí)施方式中,作為具備攝像機(jī)模塊A的攝像機(jī)搭載裝置的一例,列舉作為搭載有攝像機(jī)的便攜終端的智能手機(jī)進(jìn)行了說(shuō)明,但本發(fā)明能夠適用于作為信息設(shè)備或運(yùn)輸設(shè)備的攝像機(jī)搭載裝置。所謂作為信息設(shè)備的攝像機(jī)搭載裝置,是指具有攝像機(jī)模塊和對(duì)由攝像機(jī)模塊得到的圖像信息進(jìn)行處理的控制部的信息設(shè)備,例如包括:搭載有攝像機(jī)的便攜電話(huà)、筆記本電腦、平板終端、便攜式游戲機(jī)、web攝像機(jī)、搭載有攝像機(jī)的車(chē)載裝置(例如,后方監(jiān)控裝置、行車(chē)記錄儀裝置)。另外,作為運(yùn)輸設(shè)備的攝像機(jī)搭載裝置,是指具有攝像機(jī)模塊和對(duì)由攝像機(jī)模塊得到的圖像進(jìn)行處理的控制部的運(yùn)輸設(shè)備,例如包括汽車(chē)。

圖17是表示作為搭載攝像機(jī)模塊VC(Vehicle Camera,車(chē)用攝像機(jī))的攝像機(jī)搭載裝置的汽車(chē)C的圖。圖17A是汽車(chē)C的主視圖,圖17B是汽車(chē)C的后方立體圖。汽車(chē)C搭載實(shí)施方式中說(shuō)明的攝像機(jī)模塊A,以作為車(chē)載用攝像機(jī)模塊VC。如圖17所示,車(chē)載用攝像機(jī)模塊VC例如朝向前方安裝于擋風(fēng)玻璃,或者朝向后方安裝于尾門(mén)。該車(chē)載用攝像機(jī)模塊VC作為后方監(jiān)控用、行車(chē)記錄儀用、碰撞避免控制用、自動(dòng)駕駛控制用等而被使用。

應(yīng)該認(rèn)為此次公開(kāi)的實(shí)施方式在所有方面均為例示,而非用于限制。本發(fā)明的范圍并非由上述說(shuō)明表示,而是由權(quán)利要求書(shū)表示,并且還包括與權(quán)利要求書(shū)等同的含義及范圍內(nèi)的所有變更。

在2014年7月11日提出的日本專(zhuān)利申請(qǐng)?zhí)卦?014-143589號(hào)中包含的說(shuō)明書(shū)、附圖及摘要的公開(kāi)內(nèi)容全部引用于本申請(qǐng)。

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