光學掃描設備的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種光學掃描設備。光學掃描設備包括配第一和第二光源，其被配置為分別發(fā)出第一和第二光束；偏轉器，其具有反射第一光束和第二光束的反射面，并且被配置為在主掃描方向上偏轉第一光束和第二光束；以及成像透鏡，其被配置為使第一光束和第二光束通過，并且在偏轉器的反射面上形成第一光束和第二光束的像。成像透鏡具有：第一入射面，第一光束以直角進入第一入射面；第二入射面，第二光束以直角進入第二入射面；第一出射面，第一光束從第一出射面離開；以及第二出射面，第二光束從第二出射面離開。
【專利說明】光學掃描設備
[0001]相關申請的交叉引用
[0002]本申請要求2013年2月21日提交的日本專利申請N0.2013-032128的優(yōu)先權，其全部內容在此引入以供參考。
【技術領域】
[0003]本發(fā)明涉及光學掃描設備，并且更具體地說，涉及能通過少量部件變得緊湊化并且具有改進的光學性能的光學掃描設備。
【背景技術】
[0004]諸如激光打印機的成像設備配備有光學掃描設備,其中,在感光體的表面(待掃描的表面)上，掃描從光源照射并且由諸如多面鏡的偏轉器偏轉的激光，用于曝光在其上形成靜電潛像的感光體。
[0005]此外，在執(zhí)行彩色打印的成像設備的情況下，對應于通過多種顏色的打印，提供多個光源。如在日本專利申請公開N0.2009-69178中所公開的，為減少光學掃描設備的部件數，已知從兩個光源照射的兩個光束通過一個成像透鏡并且進入一個偏轉器的布置。在日本專利申請公開N0.2009-69178中公開的布置中，兩個光束相互成一角度，并且傾斜地進入成像透鏡的透鏡表面。

【發(fā)明內容】

[0006]然而，當光束傾斜地進入成像透鏡的入射面時，如在日本專利申請公開N0.2009-69178中公開的光學掃描設備中，像差變大并且焦深變小，由此使得不能高精度地形成像。
[0007]鑒于上述情況，已經做出了本發(fā)明，并且本發(fā)明的目的是提供能通過少量部件使得緊湊化并且具有改進的光學性能的光學掃描設備。
[0008]根據本發(fā)明的方面，提供一種光學掃描設備，包括:第一光源，其被配置為發(fā)出第一光束；第二光源，其被配置為發(fā)出第二光束；偏轉器，其具有反射第一光束和第二光束的反射面，并且被配置為在主掃描方向上偏轉第一光束和第二光束；以及成像透鏡，其被配置為使第一光束和第二光束通過，并且在偏轉器的反射面上形成第一光束和第二光束的像，其中，成像透鏡具有:第一入射面，當從與主掃描方向正交的副掃描方向看時，第一光束以直角進入第一入射面；第二入射面，其相對于第一入射面在主掃描方向上并排地布置，并且當從副掃描方向看時，第二光束以直角進入第二入射面；第一出射面，第一光束從第一出射面離開；以及第二出射面，其相對于第一出射面在主掃描方向上并排地布置，并且當從副掃描方向看時，第二出射面與第一出射面成一角度，并且第二光束從第二出射面離開。
[0009]根據本發(fā)明的該方面的光學掃描設備，由于從第一光源發(fā)出的第一光束和從第二光源發(fā)出的第二光束進入一個成像透鏡并且在偏轉器的同一反射面上形成像，可以減少成像透鏡的部件的數量。此外，由于與使用兩個成像透鏡的情形相比，可以使第一光束和第二光束更近，所以能夠使光學掃描設備緊湊化。此外，由于第一光束以直角進入第一入射面，并且第二光束以直角進入第二入射面，可以使像差小且高精度地形成像。
[0010]第一入射面可以具有在副掃描方向上會聚第一光束的屈光力(refractivepower)，并且第二入射面可以具有在副掃描方向上會聚第二光束的屈光力。
[0011]通過將屈光力賦予光束的一個所進入的入射面的每一個，與將屈光力主要賦予出射面的每一個的情形相比，可以使像差小。
[0012]第一入射面可以是向第一光源凸出的圓柱面，并且第二入射面可以是向第二光源凸出的圓柱面。
[0013]根據這種布置，制作成像透鏡變得容易。
[0014]相對于副掃描方向，第一光源和第二光源可以布置在不同的位置，并且相對于副掃描方向，第一光束進入第一入射面的位置可以不同于第二光束進入第二入射面的位置。
[0015]通過將第一光束進入第一入射面的位置和第二光束進入第二入射面的位置布置在副掃描方向上的不同位置，可以在副掃描方向上分離由偏轉器偏轉的光。
[0016]當從主掃描方向看時，進入第一入射面的第一光束的光軸可以平行于進入第二入射面的第二光束的光軸。
[0017]根據這種布置，易于布置光源，并且可以將第一光源的發(fā)光元件和第二光源的發(fā)光元件布置在共用電路板上。
[0018]當從副掃描方向看時，第一入射面和第二入射面可以成一角度，第一入射面可以平行于第一出射面，并且第二入射面可以平行于第二出射面。
[0019]根據這種布置，由于當從副掃描方向看時，光束的每一個以直角從出射面的一個離開，可以使像差進一步更小。
[0020]當從副掃描方向看時，第一入射面可以平行于第二入射面。
[0021]根據這種布置，由于可以將光源并排布置為指向同一方向，可以將光源并排布置為垂直于以平板狀形式的電路板，并且布置變得簡單。
[0022]第一入射面和第二入射面可以被配置為形成連續(xù)圓柱面。
[0023]通過以這種方式布置第一入射面和第二入射面，變得易于制作成像透鏡。
[0024]第一光源和第二光源的至少一個可以被配置為發(fā)出多個光束。
[0025]根據本發(fā)明，可以通過使部件數少，使得光學掃描設備緊湊化，并且還可以實現改進的光學性能。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0026]圖1是根據本發(fā)明的第一實施例的光學掃描設備的平面圖。
[0027]圖2是沿圖1中的線I1-1I所做的截面圖。
[0028]圖3是偏轉器和圖1中的入射光學系統中的一個的放大視圖。
[0029]圖4A是當從光入射側看成像透鏡時的透視圖，并且圖4B是當從光出射側看成像透鏡時的透視圖。
[0030]圖5是沿圖4A中的成像透鏡的線V-V所做的截面圖。
[0031]圖6A是示出第一光源、準直透鏡、多面鏡的布置的圖，并且是沿圖4A中的成像透鏡的線VIA-VIA的截面圖，并且圖6B是示出第二光源、準直透鏡、多面鏡的布置的圖，并且是沿圖4A中的成像透鏡的線VIB-VIB的截面圖。
[0032]圖7A是當從光入射側看第二實施例中的成像透鏡時的透視圖，并且圖7B是當從光出射側看第二實施例中的成像透鏡時的透視圖。
[0033]圖8A是第二實施例中的成像透鏡的主掃描方向上的截面圖，并且圖8B是第二實施例中的成像透鏡的副掃描方向上的截面圖。
[0034]圖9是示出第二實施例中的光源、準直透鏡、成像透鏡和偏轉器的布置的平面圖。
[0035]圖1OA是當從光出射側看多光束半導體激光器時的圖，并且圖1OB是使用多光束半導體激光器的入射光學系統的平面圖。
【具體實施方式】
[0036][第一實施例]
[0037]接著，在下文中，將參考附圖，詳細地描述本發(fā)明的第一實施例。如圖1和2所示，光學掃描設備I包括布置在殼體60中的入射光學系統Al、作為偏轉器的例子的多面鏡30、f Θ透鏡41、柱面透鏡42，以及反射鏡51和52。光學掃描設備I被用在通過使用四種顏色，即青、黃、品紅和黑色，來實現彩色打印的電子照相彩色打印機中，并且對應于經受通過光學掃描設備I的掃描曝光的四個感光鼓D(參見圖2)，從入射光學系統Al發(fā)出四個光束，即第一光束L1、第二光束L2、第三光束L3和第四光束L4 (在下文中，“第一光束LI至第四光束L4)。多面鏡30具有在與旋轉中心等距的位置處提供的多個反射面31。在該實施例中，作為例子，提供六個反射面31。第一光束LI至第四光束L4入射在多面鏡30的反射面31上，并且在基本上與圖1的紙表面平行的平面中，在主掃描方向上偏轉。
[0038]在下述描述中，“主掃描方向”是與光束的傳播方向正交的方向，并且是被偏轉器偏轉的光束所在的方向。即使“主掃描方向”是空間上不同的方向，也將與光束一起用作參考?！案睊呙璺较颉笔桥c光束的傳播方向和主掃描方向兩者正交的方向。此外，在下述描述中，向上、向下、向前、向后、向左、向右被定義為在圖1和2的每一個所示的狀態(tài)中的向上、向下、向前、向后、向左、向右，與實際使用時的向上、向下、向前、向后、向左、向右無關。
[0039]當從副掃描方向看時，第一光束LI的光軸和第二光束L2的光軸相互不平行并產生一角度，使得第一光束LI和第二光束L2入射在多面鏡30的同一反射面31上。此外，如圖1和2所示，第一光束LI和第二光束L2在通過共用的f Θ透鏡41后在分別提供的反射鏡51和52上反射，并且在通過柱面透鏡42后分別導向感光鼓D。
[0040]光學掃描設備I的每一光學元件布置成與作為基準的多面鏡30的旋轉中心兩側對稱，并且通過與第一光束LI和第二光束L2兩側對稱的路徑，使第三光束L3和第四光束L4分別導向到感光鼓D。因此,在入射光學系統Al的下述描述中，將描述僅對應于第一光束LI和第二光束L2的部件，并且將省略對應于第三光束L3和第四光束L4的部件的描述。
[0041]如圖3所不,入射光學系統Al包括發(fā)出第一光束LI的第一光源10A、發(fā)出第二光束L2的第二光源10B，以及第一光束LI和第二光束L2所通過的、并在多面鏡30的同一反射面31上形成第一光束LI和第二光束L2的像的成像透鏡20。第一光源IOa包括作為發(fā)光元件的半導體激光器IIA和準直透鏡12A，并且第二光源IOB包括作為發(fā)光元件的半導體激光器IlB和準直透鏡12B。
[0042]半導體激光器IlA是從一個點光源發(fā)出激光的元件，并且被定位并固定到用于定位的基座15。半導體激光器IlB與半導體激光器IlA相同，并且被定位并固定到用于定位的基座15。半導體激光器IlA和半導體激光器IlB被布置成相互成一角度，使得當從副掃描方向看時，所發(fā)出的光束的光軸形成一角度并且相互不平行。換句話說，基座15的定位部被布置成與使半導體激光器IlA和IlB彼此平行的狀態(tài)相比，稍微未對準地支撐半導體激光器IlA和半導體激光器11B。
[0043]準直透鏡12A是將從作為點光源的半導體激光器IlA發(fā)出的漫射激光轉換成基本上平行的光束的透鏡。將準直透鏡12A布置成使得其光軸與從半導體激光器IlA發(fā)出的激光的光軸(中心線)重合。準直透鏡12B與準直透鏡12A相同，并且與半導體激光器IIA和準直透鏡12A的位置關系類似地被布置在半導體激光器IlB的前面。
[0044]為第一光束LI和第二光束L2提供一個成像透鏡20。成像透鏡20是第一光束LI和第二光束L2通過的透鏡。成像透鏡20在副掃描方向上將第一光束LI和第二光束L2會聚在多面鏡30的反射面31上，并且在反射面31上以在主掃描方向上延伸的線的方式形成像。在該實施例中，將第一光束LI和第二光束L2形成為在反射面31上的重疊位置處的像。如圖4A和4B所示，成像透鏡20具有第一光束LI通過的第一透鏡部21A和第二光束L2通過的第二透鏡部21B，第二透鏡部21B相對于第一透鏡部21A在主掃描方向上并排布置。第一透鏡部21A和第二透鏡部21B被一體化，并且提供框部25以便繞第一透鏡部21A和第二透鏡部2IB地與第一透鏡部2IA和第二透鏡部2IB —體化。通過樹脂或玻璃，一體化地形成(模塑)第一透鏡部21A、第二透鏡部21B和框部25。
[0045]如圖4A所示，第一透鏡部21A具有第一光束LI進入的第一入射面22A，并且第二透鏡部21B具有第二光束L2進入的第二入射面22B。在主掃描方向上，并排地布置第一入射面22A和第二入射面22B。第一入射面22A是向外側，或換句話說，向第一光源IOA凸出，并且如圖6A所示，在沿副掃描方向的截面(與主掃描方向正交的截面)中具有圓弧狀的圓柱面。第二入射面22B也具有與第一入射面22A相同的曲率半徑，并且是向外側，或換句話說，向第二光源IOB凸出的圓柱面。如圖6B所示，第二入射面22B在沿副掃描方向的截面中也具有圓弧狀。換句話說，第一入射面22A和第二入射面22B是具有分別會聚第一光束LI和第二光束L2的屈光力的柱面透鏡。此外，第一入射面22A的屈光力和第二入射面22B的屈光力相同。在圖4A中，第一入射面22A是具有沿與第一光束LI的入射方向正交的主掃描方向的中心線的圓柱面，并且第二入射面22B是具有沿與第二光束L2的入射方向正交的主掃描方向的中心線的圓柱面。
[0046]此外，如圖4B所示，第一透鏡部2IA具有第一光束LI從其出射的第一出射面23A，并且第二透鏡部2IB具有第二光束從其出射的第二出射面23B。第一出射面23A和第二出射面23B兩者是平面。
[0047]如圖5所示，第一入射面22A被配置成使得當看沿主掃描方向的截面時(當從副掃描方向看時)，第一光束LI以直角進入第一入射面22A。類似地，第二入射面22B被配置成當看沿主掃描方向的截面時(當從副掃描方向看時)，第二光束L2以直角進入第二反射面22B。換句話說，第一入射面22A和第二入射面22B在沿主掃描方向的截面中(當從副掃描方向看時)不是平行的，并且相互稍微成一角度。
[0048]第一出射面23A在沿主掃描方向的截面中(當從副掃描方向看時)平行于第一入射面22A，并且被配置成使得第一光束LI以直角離開。類似地，第二出射面23B在沿主掃描方向的截面中(當從副掃描方向看時)平行于第二入射面22B，并且被配置成使得第二光束L2以直角離開。換句話說，第二出射面23A和第二出射面23B在沿主掃描方向的截面中(當從副掃描方向看時)不平行，并且相互稍微成一角度。
[0049]如圖6A和6B所示，在副掃描方向上，第一光源IOA的位置和第二光源IOB的位置彼此不同。具體地，第一光源IOA被布置成使得第一光束LI的光軸CA相對于在通過第一入射面22k的圓柱面的頂點(最接近圖6A的第一光源IOA的部分)的、在光軸方向上的中心線Cl向上偏移。然而，第二光源IOB被布置成使得第二光束L2的光軸CB在通過第二入射面22B的圓柱面的頂點(最接近圖6B中的第二光源IOB的部分)的、在光軸方向上相對于中心線C2向下偏移。第一入射面22A在光軸方向上的中心線Cl和第二入射面22B在光軸方向上的中心線C2在垂直方向(副掃描方向)上處于相同位置。
[0050]此外，當從主掃描方向看時，在進入第一入射面22A和第二入射面22B前，第一光束LI的光軸CA和第二光束L2的光軸CB相互平行。因此，第一光束LI在光軸方向上的中心線Cl的上側的位置進入，并且第二光束L2在光軸方向上的中心線C2的下側上的位置進入。換句話說，第一光束LI和第二光束L2在夾著成像透鏡20的光學中心的彼此相反側上的位置進入。布置成從成像透鏡20離開的第一光束LI略向下傾斜離開，并且從成像透鏡20離開的第二光束L2略向上傾斜離開，并且第一光束LI和第二光束L2在多面鏡30的反射面31的基本上相同高度的位置入射。此外，由于第一光束LI和第二光束L2相對于成像透鏡20的光學中心略傾斜入射地入射，所以通過多面鏡30，第一光束LI和第二光束L2在不同方向上反射。
[0051]通過第一光源IOA和第二光源IOB的上述布置，當從副掃描方向看時(見圖3)，相互略傾斜半導體激光器IlA和半導體激光器11B。然而，由于當從主掃描方向看時，半導體激光器IlA和半導體激光器IlB相對于垂直方向不傾斜，可以將半導體激光器IlA和IlB布置在一個共用的電路板18上。
[0052]根據如上所述布置的光學掃描設備1，由于從第一光源IOA發(fā)出的第一光束LI和從第二光源IOB發(fā)出的第二光束L2進入一個成像透鏡20，并且形成為多面鏡30的同一反射面31上的像，因此，與對每一光束提供單獨的成像透鏡的情形相比，可以減少成像透鏡20的數量。此外，由于與使用單獨的成像透鏡的情形相比，可以通過使第一透鏡部21A和第二透鏡部21B更近，來使第一光束LI和第二光束L2更近，因此，可以使光學掃描設備I緊湊化。此外，由于第一光束LI以直角進入第一入射面22A，并且第二光束L2以直角進入第二入射面22B，可以使像差小，并且在反射面31和感光鼓D的表面上高精度地形成像。
[0053]此外，通過屈光力賦予第一光束LI和第二光束L2進入的成像透鏡20的表面，與將屈光力主要賦予出射側的情形相比，可以使像差更小。
[0054]此外，由于第一入射面22A和第二入射面22B是具有向外側凸出的圓柱面的柱面透鏡，因此，制作第一和第二入射面22A和22B是容易的。
[0055]此外，第一光源IOA的位置和第二光源IOB的位置在副掃描方向上不同，并且第一光束LI和第二光束L2進入成像透鏡20的位置在副掃描方向上也不同。當從主掃描方向看時，從成像透鏡20離開的第一光束LI和第二光束L2相互成一角度地入射在多面鏡30的反射面31上。因此，由于可以在副掃描方向上分離在多面鏡30上偏轉的第一光束LI和第二光束L2,與在主掃描方向上分離光束的情形相比,可以使第一光源IOA和第二光源IOB布置得更近，并且使光學掃描設備I緊湊化。
[0056]此外，通過使第一光束LI的光軸CA和第二光束L2的光軸CB當從主掃描方向看時平行，可以將半導體激光器IlA和半導體激光器IlB布置在共用電路板18上，由此使得易于組裝半導體激光器IlA和11B，并且可以利于成本縮減。
[0057]此外，在本實施例的光學掃描設備I中，由于第一入射面22A和第一出射面23A在沿主掃描方向的截面中是平行的，并且第二入射面22B和第二出射面23B在沿主掃描方向的截面中是平行的，可以使像差特別小。
[0058][第二實施例]
[0059]接著，在下文中，將描述本發(fā)明的第二實施例。將在第二實施例中，僅描述不同于第一實施例的點。將相同的參考數字指定給與第一實施例中相同的部件，并且將省略這些部件的描述。
[0060]在根據第二實施例的光學掃描設備中，成像透鏡的結構和半導體激光器的布置不同于第一實施例中的結構和布置，如圖7A和7B所不,在第二實施例中,對第一光束LI和第二光束L2提供一個成像透鏡120。成像透鏡120具有第一光束LI通過的第一透鏡部121A和第二光束L2通過第二透鏡部121B，第二透鏡部121B相對于第一透鏡部121A在主掃描方向上并排布置。第一透鏡部121A和第二透鏡部121B被一體化，此外，提供框部125以便繞第一透鏡部121A和第二透鏡部121B地與第一透鏡部121A和第二透鏡部121B —體化。通過樹脂或玻璃，一體化地形成(模塑)第一透鏡部121A、第二透鏡部121B和框部125。
[0061]如圖7A和圖8B所示，第一透鏡部121A的第一入射面122A和第二透鏡部121B的第二入射面122B是向外側突出的圓柱面(具有作為中心的在主掃描方向上延伸的線的圓柱面)，并且形成為一個連續(xù)的圓柱面。因此，第一入射面122A和第二入射面122B具有分別在副掃描方向上會聚第一光束LI和第二光束L2的屈光力。當從副掃描方向看時，第一入射面122A和第二入射面122B具有相同的屈光力并相互平行。
[0062]另一方面，如圖7B、圖8A和圖8B所示，第一透鏡部121A的第一出射面123A和第二透鏡部121B的第二出射面123B均是平面。此外，如圖8A所示，第一出射面123A和第二出射面123B在沿主掃描方向的截面中不平行，而是相互稍微成一角度。因此，第一出射面123A在沿主掃描方向的截面中與第一入射面122A不平行，類似地，第二出射面123B在沿主掃描方向的截面中與第二入射面122B不平行。此外，第一出射面123A在主掃描方向上折射第一光束LI，并且第二出射面123B在主掃描方向上折射第二光束L2。當從主掃描方向和副掃描方向的任何一個看時，在第一光束LI和第二光束L2分別進入第一入射面122A和第二入射面122B前，第一光束LI的光軸和第二光束L2的光軸是平行的。
[0063]如圖9所示，第二實施例中的入射光學系統A2包括四個光源，S卩，第一光源10A、第二光源10B、第三光源IOC和第四光源IOD (在下文中，也稱為“第一光源IOA至第四光源10D”)。將入射光學系統A2布置成使得分別從第一光源IOA和第二光源IOB發(fā)出的第一光束LI和第二光束L2進入一個成像透鏡120，并且分別從第三光源IOC和第四光源IOD發(fā)出的第三光束L3和第四光束L4進入另一成透鏡120。第一光源IOA至第四光源IOD分別具有半導體激光器11A、11B、11C和IlD (在下文中，“半導體激光器IlA至11D”)和準直透鏡12A、12B、12C和12D (在下文中，“準直透鏡12A至12D”)。
[0064]將兩個成像透鏡120在主掃描方向上并排地布置為指向同一方向。將第一光源IOA至第四光源IOD布置成使得第一光束L1、第二光束L2、第三光束L3和第四光束L4 (在下文中，“第一光束LI至第四光束L4”)以直角進入兩個成像透鏡120的入射面。將半導體激光器IlA至IlD在主掃描方向上并排地布置為指向同一方向，并且還將準直透鏡12A至12D在主掃描方向上并排地布置為指向同一方向。此外,將四個半導體激光器IlA至IlD提供給以板狀形式的一個電路板118。
[0065]根據具有上述布置的光學掃描設備，由于成像透鏡120的第一入射面122A和第二入射面122B是連續(xù)圓柱面，制作是容易的。此外，由于可以將第一光源IOA和第二光源IOB布置成指向同一方向，可以在一個電路板118上垂直地布置半導體激光器IlA和11B,由此使得易于布置第一光源IOA和第二光源10B，以及使得制作容易。
[0066]上文已經描述了本發(fā)明的實施例。然而，本發(fā)明不限于上述實施例，并且可以進行適當的改進。
[0067]例如，在實施例中，具有一個發(fā)光點的半導體激光器已經被示例為半導體激光器IlA至IlD的每一個。然而，作為圖1OA所示的半導體激光器311，可以使用具有多個發(fā)光點，諸如兩個發(fā)光點319A和319B的多光束激光器。在這種情況下，如圖1OB所示，已經從一個半導體激光器31IA發(fā)出并通過準直透鏡12A的第一光束LI和第三光束Lll通過第一透鏡部121A，并且從另一半導體激光器311B發(fā)出并通過準直透鏡12B的第二光束L2和第四光束L21通過第二透鏡部121B。其中，由于第一光束LI的光軸和第三光束Lll的光軸基本上平行，可以使兩個光束LI和Lll在沿主掃描方向的截面中，以直角進入第一入射面122A，并且由于第二光束L2的光軸和第四光束L21的光軸基本上平行，可以使兩個光束L2和L21在沿主掃描方向的截面中，以直角進入第二入射面122B。換句話說，本發(fā)明還能適用于將至少一個光源布置成發(fā)出多個光束的情形。
[0068]此外，在實施例中，已經將成像透鏡形成為組合兩個透鏡部的一個透鏡。然而，可以將成像透鏡形成為組合三個或更多透鏡部的一個透鏡。即使在這種情況下，優(yōu)選地進行布置，使得當看沿主掃描方向的截面時，三個或以上光束的每一個以直角進入透鏡部的入射面的一個，并且出射面在沿主掃描方向的截面中相互成一角度。
[0069]在實施例中，已經將成像透鏡形成為使得入射面是向外側突出的凸出的曲面并且出射面是平面。然而，入射面和出射面可以均是曲面，或入射面可以是平面并且出射面可以是曲面。此外，也可以將衍射透鏡用作成像透鏡。
【權利要求】
1.一種光學掃描設備，包括: 第一光源，所述第一光源被配置為發(fā)出第一光束； 第二光源，所述第二光源被配置為發(fā)出第二光束； 偏轉器，所述偏轉器具有反射所述第一光束和所述第二光束的反射面，并且被配置為在主掃描方向上偏轉所述第一光束和所述第二光束；以及 成像透鏡，所述成像透鏡被配置為使所述第一光束和所述第二光束通過，并且在所述偏轉器的所述反射面上形成所述第一光束和所述第二光束的像， 其中，所述成像透鏡具有: 第一入射面，當從與所述主掃描方向正交的副掃描方向看時，所述第一光束以直角進入所述第一入射面； 第二入射面，所述第二入射面相對于所述第一入射面在所述主掃描方向上并排地布置，并且當從所述副掃描方向看時，所述第二光束以直角進入所述第二入射面； 第一出射面，所述第一光束從所述第一出射面離開；以及 第二出射面，所述第二出射面相對于所述第一出射面在所述主掃描方向上并排地布置，并且當從所述副掃描方向看時，所述第二出射面與所述第一出射面成一角度，并且所述第二光束從所述第二出射面離開。
2.根據權利要求1所述的光學掃描設備， 其中，所述第一入射面具有在所述副掃描方向上會聚所述第一光束的屈光力，并且 所述第二入射面具有在所述副掃描方向上會聚所述第二光束的屈光力。
3.根據權利要求2所述的光學掃描設備， 其中，所述第一入射面是向所述第一光源凸出的圓柱面，并且 所述第二入射面是向所述第二光源凸出的圓柱面。
4.根據權利要求1所述的光學掃描設備， 其中，相對于所述副掃描方向，所述第一光源和所述第二光源被布置在不同的位置，并且 相對于所述副掃描方向，所述第一光束進入所述第一入射面的位置不同于所述第二光束進入所述第二入射面的位置。
5.根據權利要求4所述的光學掃描設備， 其中，當從所述主掃描方向看時，進入所述第一入射面的所述第一光束的光軸平行于進入所述第二入射面的所述第二光束的光軸。
6.根據權利要求1所述的光學掃描設備， 其中，當從所述副掃描方向看時，所述第一入射面和所述第二入射面成一角度，所述第一入射面平行于所述第一出射面，并且所述第二入射面平行于所述第二出射面。
7.根據權利要求1所述的光學掃描設備， 其中，當從所述副掃描方向看時，所述第一入射面平行于所述第二入射面。
8.根據權利要求7所述的光學掃描設備， 其中，所述第一入射面和所述第二入射面被配置為形成連續(xù)圓柱面。
9.根據權利要求1所述的光學掃描設備， 其中，所述第一光源和所述第二光源中的至少一個被配置為發(fā)出多個光束。
【文檔編號】G03G15/04GK104007551SQ201410060059
【公開日】2014年8月27日 申請日期:2014年2月21日 優(yōu)先權日:2013年2月21日
【發(fā)明者】杉山洋祐 申請人:兄弟工業(yè)株式會社