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光信息再現(xiàn)裝置制造方法

文檔序號:2699403閱讀:147來源:國知局
光信息再現(xiàn)裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種光信息再現(xiàn)裝置及其方法,在利用全息術(shù)的光信息再現(xiàn)裝置中,高精度地檢測對配置在頁內(nèi)的規(guī)定位置的位置偏差、旋轉(zhuǎn)偏差、放大率偏差進行修正的已知圖案。在利用全息術(shù)從光信息記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息的光信息再現(xiàn)裝置,包括:檢測部,其從作為來自全息圖的二維再現(xiàn)信號的頁中檢測已知圖案的標(biāo)記的位置信息;檢測錯誤位置推測部,其推測由所述檢測部檢測出的標(biāo)記的位置信息中有無檢測錯誤,并且在有檢測錯誤的情況下推測發(fā)生檢測錯誤的位置;位置修正部,其對所述檢測錯誤位置推測部確定的檢測錯誤位置的標(biāo)記位置信息進行修正;和信號檢測部,其基于由所述修正部修正后的標(biāo)記位置信息而從頁內(nèi)檢測各信號。
【專利說明】
光信息再現(xiàn)裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及使用全息術(shù)從記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息的裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]當(dāng)前,使用藍紫色半導(dǎo)體激光的Blu-ray Disc(TM)標(biāo)準(zhǔn)使得在民用中具有100GB程度的記錄密度的光盤也能夠商品化。今后光盤也要求超過500GB的大容量化。但是,為了在光盤中實現(xiàn)這樣的超高密度,需要與現(xiàn)有的通過短波長化和物鏡高NA化進行的高密度化技術(shù)不同的新方式的高密度化技術(shù)。
[0003]在關(guān)于下一代存儲技術(shù)的研究進行中,利用全息術(shù)記錄數(shù)字信息的全息記錄技術(shù)受到關(guān)注。全息記錄技術(shù)例如有日本特開2004-272268號公報(專利文獻I)。該公報中記載了改變參考光對光信息記錄介質(zhì)的入射角度的同時在空間光調(diào)制器上顯示不同的頁數(shù)據(jù)而進行復(fù)用記錄,即角度復(fù)用記錄方式。進而,該公報中記載了通過用透鏡使信號光聚光并在其光束腰部配置開口(空間濾波器),來縮短鄰接的全息圖的間隔的技術(shù)。
[0004]此外,全息記錄技術(shù)例如有W02004-102542號公報(專利文獻2)。該公報中記載了使用在I個空間光調(diào)制器中將來自內(nèi)側(cè)的像素的光作為信號光,將來自外側(cè)的環(huán)帶狀的像素的光作為參考光,用同一個透鏡使兩束光束在光信息記錄介質(zhì)上聚光,在透鏡的焦點面附近使信號光與參考光干涉,記錄全息像的移位復(fù)用方式的例子。
[0005]再現(xiàn)全息像時的標(biāo)記檢索技術(shù),例如有日本特開2008-139125號公報(專利文獻3)。該公報中記載了 “全息圖數(shù)據(jù)區(qū)域確定裝置I從光檢測器輸入的全息圖圖像中確定全息圖占據(jù)的區(qū)域即全息圖數(shù)據(jù)區(qū)域,具備幀緩存3、邊緣檢測單元5、模板(template)比較單元7、模板圖像保存單元9和重心檢測單元11?!?br> [0006]現(xiàn)有技術(shù)文獻
[0007]專利文獻
[0008]專利文獻1:日本特開2004-272268號公報
[0009]專利文獻2:W02004-102542號公報
[0010]專利文獻3:日本特開2008-139125號公報


【發(fā)明內(nèi)容】

[0011]發(fā)明要解決的課題
[0012]然而,在利用全息術(shù)的光信息再現(xiàn)裝置中,再現(xiàn)信息時,檢測配置在頁內(nèi)的規(guī)定場所的已知圖案,基于該已知圖案的位置信息對位置偏差、旋轉(zhuǎn)偏差、放大率偏差等進行處理,但在已知圖案的檢測本身發(fā)生誤差的情況下,存在信噪比(SNR)降低的問題。這是因為在已知圖案附近存在與該已知圖案類似的用戶數(shù)據(jù)的情況下,誤檢測成已知圖案。
[0013]專利文獻3中記載的技術(shù)中,沒有公開如上所述的是否在確認已知圖案的可靠性之后再使用該已知圖案的課題、結(jié)構(gòu)。
[0014]本發(fā)明鑒于上述問題,目的在于提供一種能夠在全息存儲中高精度地檢測頁內(nèi)的已知圖案的光信息再現(xiàn)裝置及其方法。
[0015]用于解決課題的方案
[0016]解決上述課題,例如其一例為能夠通過判斷標(biāo)記值自身的可靠性而解決。
[0017]發(fā)明效果
[0018]根據(jù)本發(fā)明,能夠在全息存儲中高精度地檢測頁內(nèi)的已知圖案。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0019]圖1是表示光信息記錄再現(xiàn)裝置內(nèi)的信號位置檢測電路的實施例的概要圖。
[0020]圖2是表示光信息記錄再現(xiàn)裝置的實施例的概要圖。
[0021]圖3是表示光信息記錄再現(xiàn)裝置內(nèi)的拾取器的實施例的概要圖。
[0022]圖4是表示光信息記錄再現(xiàn)裝置內(nèi)的拾取器的實施例的概要圖。
[0023]圖5是表示光信息記錄再現(xiàn)裝置內(nèi)的拾取器的實施例的概要圖。
[0024]圖6是表示光信息記錄再現(xiàn)裝置的動作流程的實施例的概要圖。
[0025]圖7是表示光信息記錄再現(xiàn)裝置內(nèi)的信號生成電路的實施例的概要圖。
[0026]圖8是表示光信息記錄再現(xiàn)裝置內(nèi)的信號處理電路的實施例的概要圖。
[0027]圖9是表示信號生成電路和信號處理電路的動作流程的實施例的概要圖。
[0028]圖10是表示具有反射層的光信息記錄介質(zhì)的層結(jié)構(gòu)的實施例的概要圖。
[0029]圖11是表示光信息記錄再現(xiàn)裝置內(nèi)的信號處理電路的實施例的概要圖。
[0030]圖12是表示頁的實施例的概要圖。
[0031]圖13是表示檢測標(biāo)記時的標(biāo)記位置偏差量、檢測誤差推測值、標(biāo)記位置偏差量(修正后)的例子的示意圖。
[0032]圖14是表示光信息記錄再現(xiàn)裝置中的信號位置檢測的動作流程的實施例的概要圖。
[0033]圖15是表示光信息記錄再現(xiàn)裝置內(nèi)的信號處理電路的實施例的概要圖。
[0034]圖16是表示光信息記錄再現(xiàn)裝置中的信號位置檢測的動作流程的實施例的概要圖。
[0035]圖17是表示光信息記錄再現(xiàn)裝置中的信號位置檢測的動作流程的實施例的概要圖。

【具體實施方式】
[0036]以下用【專利附圖】

【附圖說明】本發(fā)明的實施例。
[0037]實施例1
[0038]用圖1至14說明本發(fā)明的第一實施例。
[0039]圖2是表示利用全息術(shù)記錄和/或再現(xiàn)數(shù)字信息的光信息記錄介質(zhì)的記錄再現(xiàn)裝置的框圖。
[0040]光信息記錄再現(xiàn)裝置10經(jīng)由輸入輸出控制電路90與外部控制裝置91連接。進行記錄的情況下,光信息記錄再現(xiàn)裝置10利用輸入輸出控制電路90從外部控制裝置91接收要記錄的信息信號。進行再現(xiàn)的情況下,光信息記錄再現(xiàn)裝置10利用輸入輸出控制電路90對外部控制裝置91發(fā)送再現(xiàn)的信息信號。
[0041]光信息記錄再現(xiàn)裝置10具備拾取器11、再現(xiàn)用參考光光學(xué)系統(tǒng)12、固化光學(xué)系統(tǒng)13、盤旋轉(zhuǎn)角度檢測用光學(xué)系統(tǒng)14和旋轉(zhuǎn)電機50,光信息記錄介質(zhì)I是能夠用旋轉(zhuǎn)電機50旋轉(zhuǎn)的結(jié)構(gòu)。
[0042]拾取器11起到對光信息記錄介質(zhì)I出射參考光和信號光、利用全息術(shù)在記錄介質(zhì)中記錄數(shù)字信息的作用。此時,要記錄的信息信號被控制器89經(jīng)由信號生成電路86對拾取器11內(nèi)的空間光調(diào)制器發(fā)送,信號光被空間光調(diào)制器調(diào)制。
[0043]再現(xiàn)光信息記錄介質(zhì)I中記錄的信息的情況下,用再現(xiàn)用參考光光學(xué)系統(tǒng)12生成使從拾取器11出射的參考光以與記錄時相反的方向?qū)庑畔⒂涗浗橘|(zhì)入射的光波。用拾取器11內(nèi)的后述的光檢測器檢測通過再現(xiàn)用參考光再現(xiàn)的再現(xiàn)光,用信號處理電路85再現(xiàn)信號。
[0044]對光信息記錄介質(zhì)I照射的參考光和信號光的照射時間,能夠由控制器89通過快門控制電路87控制拾取器11內(nèi)的快門的開閉時間而調(diào)整。
[0045]固化光學(xué)系統(tǒng)13起到生成用于光信息記錄介質(zhì)I的預(yù)固化和后固化的光束的作用。預(yù)固化指的是在光信息記錄介質(zhì)I內(nèi)的要求的位置記錄信息時,在對要求位置照射參考光和信號光之前預(yù)先照射規(guī)定的光束的前期工序。后固化指的是在光信息記錄介質(zhì)I內(nèi)的要求的位置記錄信息之后,為了使該要求的位置不能追加記錄而照射規(guī)定的光束的后期工序。
[0046]盤旋轉(zhuǎn)角度檢測用光學(xué)系統(tǒng)14用于檢測光信息記錄介質(zhì)I的旋轉(zhuǎn)角度。要將光信息記錄介質(zhì)I調(diào)整為規(guī)定的旋轉(zhuǎn)角度的情況下,能夠用盤旋轉(zhuǎn)角度檢測用光學(xué)系統(tǒng)14檢測與旋轉(zhuǎn)角度對應(yīng)的信號,使用檢測出的信號用控制器89通過盤旋轉(zhuǎn)電機驅(qū)動電路88控制光信息記錄介質(zhì)I的旋轉(zhuǎn)角度。
[0047]從光源驅(qū)動電路82對拾取器11、固化光學(xué)系統(tǒng)13、盤旋轉(zhuǎn)角度檢測用光學(xué)系統(tǒng)14內(nèi)的光源供給規(guī)定的光源驅(qū)動電流,能夠從各光源以規(guī)定的光量發(fā)出光束。
[0048]此外,拾取器11和光盤固化光學(xué)系統(tǒng)13中,設(shè)置了能夠使位置在光信息記錄介質(zhì)I的半徑方向上滑動的機構(gòu),通過存取(access)控制電路81進行位置控制。
[0049]然而,利用全息術(shù)的角度復(fù)用的原理的記錄技術(shù),存在對參考光角度的偏差的容許誤差非常小的情況。
[0050]從而,需要在拾取器11內(nèi)設(shè)置檢測參考光角度的偏差量的機構(gòu),用伺服信號生成電路83生成伺服控制用的信號,在光信息記錄再現(xiàn)裝置10內(nèi)具備用于通過伺服控制電路84修正該偏差量的伺服機構(gòu)。
[0051]此外,拾取器11、固化光學(xué)系統(tǒng)13、盤旋轉(zhuǎn)角度檢測用光學(xué)系統(tǒng)14中,也可以使部分光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)或所有光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)合并簡化。
[0052]圖3是表示光信息記錄再現(xiàn)裝置10中的拾取器11的基本光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的一例中的記錄原理的圖。從光源301出射的光束透過準(zhǔn)直透鏡302而向快門303入射。快門303打開時,光束在通過快門303之后,用例如由二分之一波片等構(gòu)成的光學(xué)元件304控制偏振方向以使P偏振光與S偏振光的光量比成為規(guī)定比之后,對PBS (Polarizat1n BeamSplitter:偏振分束器)棱鏡305入射。
[0053]透過PBS棱鏡305后的光束起到信號光306的作用,用擴束器308擴大光束直徑之后,透過相位掩模309、中繼透鏡310、PBS棱鏡311而對空間光調(diào)制器312入射。
[0054]用空間光調(diào)制器312附加信息后的信號光在PBS棱鏡311上反射,在中繼透鏡313和空間濾波器314中傳播。之后,信號光被物鏡315聚光在光信息記錄介質(zhì)I上。
[0055]另一方面,在PBS棱鏡305上反射的光束起到參考光307的作用,用偏振方向變換元件316與記錄時或再現(xiàn)時相應(yīng)地設(shè)定為規(guī)定的偏振方向之后,經(jīng)由反射鏡317和反射鏡318對檢流計反射鏡319入射。檢流計反射鏡319能夠用致動器320調(diào)整角度,所以能夠?qū)⑼ㄟ^透鏡321和透鏡322之后對光信息記錄介質(zhì)I入射的參考光的入射角度設(shè)定為要求的角度。其中,為了設(shè)定參考光的入射角度,也可以使用對參考光的波前進行變換的元件代替檢流計反射鏡。
[0056]通過這樣使信號光和參考光在光信息記錄介質(zhì)I中相互重疊地入射,而在記錄介質(zhì)內(nèi)形成干涉條紋圖案,通過在記錄介質(zhì)中寫入該圖案而記錄信息。此外,因為能夠用檢流計反射鏡319改變對光信息記錄介質(zhì)I入射的參考光的入射角度,所以能夠用角度復(fù)用進行記錄。
[0057]此后,在同一個區(qū)域中改變參考光角度記錄的全息像中,將與各個參考光角度對應(yīng)的全息像稱為頁(page),將同一區(qū)域中角度復(fù)用的頁的集合稱為冊(book)。
[0058]圖4是表示光信息記錄再現(xiàn)裝置10中的拾取器11的基本光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的一例中的再現(xiàn)原理的圖。再現(xiàn)已記錄的信息的情況下,如上所述使參考光對光信息記錄介質(zhì)I入射,用能夠由致動器323調(diào)整角度的檢流計反射鏡324使透過光信息記錄介質(zhì)I后的光束反射,由此生成再現(xiàn)用參考光。
[0059]用該再現(xiàn)用參考光再現(xiàn)的再現(xiàn)光,在物鏡315、中繼透鏡313和空間濾波器314中傳播。之后,再現(xiàn)光透過PBS棱鏡311而對光檢測器325入射,能夠再現(xiàn)已記錄的信號。光檢測器325例如能夠使用CMOS圖像傳感器或CCD圖像傳感器等感光元件,但只要能夠再現(xiàn)頁數(shù)據(jù),就可以是任意的元件。
[0060]圖5是表不拾取器11的其他結(jié)構(gòu)的圖。圖5中,從光源501出射的光束透過準(zhǔn)直透鏡502,對快門503入射。快門503打開時,光束通過快門503之后,用例如由1/2波片等構(gòu)成的光學(xué)兀件504控制偏振方向以使P偏振光與s偏振光的光量比成為規(guī)定比之后,對PBS棱鏡505入射。
[0061]透過PBS棱鏡505后的光束經(jīng)由PBS棱鏡507對空間光調(diào)制器508入射。用空間光調(diào)制器508附加信息后的信號光506在PBS棱鏡507上反射,在僅使規(guī)定入射角度的光束通過的角度濾波器509中傳播。之后,信號光束被物鏡510聚光在全息記錄介質(zhì)I上。
[0062]另一方面,在PBS棱鏡505上反射的光束起到參考光512的作用,用偏振方向變換元件519與記錄時或再現(xiàn)時相應(yīng)地設(shè)定為規(guī)定的偏振方向之后,經(jīng)由反射鏡513和反射鏡514對透鏡515入射。透鏡515起到使參考光512在物鏡510的后焦面上聚光的作用,在物鏡510的后焦面上聚光后的參考光,被物鏡510再次變換為平行光而對全息記錄介質(zhì)I入射。
[0063]此處,物鏡510或光學(xué)模塊521例如能夠在符號520所示的方向上被驅(qū)動,通過使物鏡510或光學(xué)模塊521的位置沿著驅(qū)動方向520偏移,物鏡510與物鏡510的后焦面上的聚光點的相對位置關(guān)系變化,所以能夠?qū)θ⒂涗浗橘|(zhì)I入射的參考光的入射角度設(shè)定為要求的角度。其中,也可以不驅(qū)動物鏡510或光學(xué)模塊521,而是改為用致動器驅(qū)動反射鏡514,由此將參考光的入射角度設(shè)定為要求的角度。
[0064]通過這樣使信號光和參考光在全息記錄介質(zhì)I中相互重疊地入射,而在記錄介質(zhì)內(nèi)形成干涉條紋圖案,通過在記錄介質(zhì)中寫入該圖案而記錄信息。此外,通過使物鏡510或光學(xué)模塊521的位置沿著驅(qū)動方向520偏移,能夠改變對全息記錄介質(zhì)I入射的參考光的入射角度,所以能夠用角度復(fù)用進行記錄。
[0065]再現(xiàn)已記錄的信息的情況下,如上所述使參考光對全息記錄介質(zhì)I入射,用檢流計反射鏡516使透過全息記錄介質(zhì)I后的光束反射,由此生成再現(xiàn)用參考光。用該再現(xiàn)用參考光再現(xiàn)的再現(xiàn)光,在物鏡510、角度濾波器509中傳播。之后,再現(xiàn)光透過PBS棱鏡507對光檢測器518入射,能夠再現(xiàn)已記錄的信息。
[0066]圖5所示的光學(xué)系統(tǒng)中,通過采用使信號光和參考光對同一個物鏡入射的結(jié)構(gòu),與圖3所示的光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)相比,具有能夠大幅小型化的優(yōu)點。
[0067]圖6是表示光信息記錄再現(xiàn)裝置10中的記錄、再現(xiàn)的動作流程的圖。此處特別說明關(guān)于利用全息術(shù)的記錄再現(xiàn)的流程。
[0068]圖6 (a)表示在光信息記錄再現(xiàn)裝置10中插入光信息記錄介質(zhì)I之后直到記錄或再現(xiàn)的準(zhǔn)備完成的動作流程,圖6 (b)表示從準(zhǔn)備完成狀態(tài)到在光信息記錄介質(zhì)I中記錄信息的動作流程,圖6 (c)表示從準(zhǔn)備完成狀態(tài)到再現(xiàn)光信息記錄介質(zhì)I中記錄的信息的動作流程。
[0069]如圖6(a)所示,插入介質(zhì)時(601),光信息記錄再現(xiàn)裝置10例如進行插入的介質(zhì)是否利用全息術(shù)記錄或再現(xiàn)數(shù)字信息的介質(zhì)的光盤判別(602)。
[0070]盤判別的結(jié)果是判斷為利用全息術(shù)記錄或再現(xiàn)數(shù)字信息的光信息記錄介質(zhì)時,光信息記錄再現(xiàn)裝置10讀取光信息記錄介質(zhì)中設(shè)置的控制數(shù)據(jù)(603),取得例如關(guān)于光信息記錄介質(zhì)的信息、例如關(guān)于記錄或再現(xiàn)時的各種設(shè)定條件的信息。
[0071]讀取控制數(shù)據(jù)之后,進行與控制數(shù)據(jù)相應(yīng)的各種調(diào)整和關(guān)于拾取器11的學(xué)習(xí)處理(604),光信息記錄再現(xiàn)裝置10中記錄或再現(xiàn)的準(zhǔn)備完成(605)。
[0072]從準(zhǔn)備完成狀態(tài)到記錄數(shù)據(jù)的動作流程如圖6(b)所示,首先接收要記錄的數(shù)據(jù)(611),對拾取器11內(nèi)的空間光調(diào)制器發(fā)送與該數(shù)據(jù)對應(yīng)的信息。
[0073]之后,為了能夠在光信息記錄介質(zhì)中記錄高品質(zhì)的信息,根據(jù)需要事先進行例如光源301的功率優(yōu)化和快門303的曝光時間的優(yōu)化等各種記錄用學(xué)習(xí)處理(612)。
[0074]之后,在尋軌動作(613)中控制存取控制電路81,使拾取器11和固化光學(xué)系統(tǒng)13的位置定位在光信息記錄介質(zhì)的規(guī)定位置。光信息記錄介質(zhì)I具有地址信息的情況下,再現(xiàn)地址信息,確認是否定位在目標(biāo)位置,如果沒有配置在目標(biāo)位置,則計算與規(guī)定位置的偏差量,再次進行定位動作。
[0075]之后,用從固化光學(xué)系統(tǒng)13出射的光束對規(guī)定的區(qū)域進行預(yù)固化(614),用從拾取器11出射的參考光和信號光記錄數(shù)據(jù)(615)。
[0076]記錄數(shù)據(jù)之后,用從固化光學(xué)系統(tǒng)13出射的光束進行后固化(616)。也可以根據(jù)需要對數(shù)據(jù)進行校驗。
[0077]從準(zhǔn)備完成狀態(tài)到再現(xiàn)已記錄的信息的動作流程如圖6(c)所示,首先在尋軌動作(621)中,控制存取控制電路81,將拾取器11和再現(xiàn)用參考光光學(xué)系統(tǒng)12的位置定位在光信息記錄介質(zhì)的規(guī)定位置。光信息記錄介質(zhì)I具有地址信息的情況下,再現(xiàn)地址信息,確認是否定位在目標(biāo)位置,如果沒有配置在目標(biāo)位置,則計算與規(guī)定位置的偏差量,再次進行定位動作。
[0078]之后,從拾取器11出射參考光,讀取光信息記錄介質(zhì)中記錄的信息¢22),發(fā)送再現(xiàn)數(shù)據(jù)(613)。
[0079]圖9是表示記錄、再現(xiàn)時的數(shù)據(jù)處理流程的圖,圖9(a)表示輸入輸出控制電路90中接收記錄數(shù)據(jù)611之后直到變換為空間光調(diào)制器312上的二維數(shù)據(jù)的信號生成電路86中的記錄數(shù)據(jù)處理流程,圖9 (b)表示用光檢測器325檢測二維數(shù)據(jù)之后直到輸入輸出控制電路90中發(fā)送再現(xiàn)數(shù)據(jù)624的信號處理電路85中的再現(xiàn)數(shù)據(jù)處理流程。
[0080]用圖9(a)說明記錄時的數(shù)據(jù)處理。接收用戶數(shù)據(jù)(901)時,將其分割為多個數(shù)據(jù)串,為了再現(xiàn)時可以進行檢錯而使各數(shù)據(jù)串CRC化(902),為了使開像素(ON Pixel)數(shù)與關(guān)像素(OFF Pixel)數(shù)大致相等、防止同一圖案反復(fù)的目的而實施對數(shù)據(jù)串添加偽隨機數(shù)數(shù)據(jù)串的加擾(903)之后,為了再現(xiàn)時可以進行糾錯而進行里德-所羅門編碼等糾錯編碼(904)。接著,將該數(shù)據(jù)串變換為MXN的二維數(shù)據(jù),反復(fù)相當(dāng)于I頁數(shù)據(jù)的該處理而構(gòu)成I頁二維數(shù)據(jù)(905)。對于這樣構(gòu)成的二維數(shù)據(jù)附加作為再現(xiàn)時的圖像位置檢測和圖像畸變修正的基準(zhǔn)的標(biāo)記(906),對空間光調(diào)制器312傳輸數(shù)據(jù)(907)。
[0081]接著用圖9(b)說明再現(xiàn)時的數(shù)據(jù)處理流程。用光檢測器325檢測出的圖像數(shù)據(jù)被傳輸?shù)叫盘柼幚黼娐?5 (911)。以該圖像數(shù)據(jù)中包含的標(biāo)記為基準(zhǔn)檢測圖像位置(912),對圖像的傾斜、放大率、變形等畸變進行修正(913)之后,進行二值化處理(914),除去標(biāo)記(915),由此取得I頁二維數(shù)據(jù)(916)。將這樣得到的二維數(shù)據(jù)變換為多個數(shù)據(jù)串之后,進行糾錯處理(917),除去校驗數(shù)據(jù)串。接著實施解擾處理(918),用CRC進行檢錯處理(919)并刪除CRC校驗碼之后,經(jīng)由輸入輸出控制電路90發(fā)送用戶數(shù)據(jù)(920)。
[0082]圖7是光信息記錄再現(xiàn)裝置10的信號生成電路86的框圖。
[0083]開始對輸出控制電路90輸入用戶數(shù)據(jù)時,輸入輸出控制電路90對控制器89通知用戶數(shù)據(jù)的輸入已開始。控制器89接收該通知后,命令信號生成電路86對從輸入輸出控制電路90輸入的I頁數(shù)據(jù)進行記錄處理??刂破?9的處理命令經(jīng)由控制用線708對信號生成電路86內(nèi)的子控制器701通知。接收該通知后,子控制器701以使各信號處理電路并行工作的方式通過控制用線708進行各信號處理電路的控制。首先,控制存儲器控制電路703在存儲器702中保存從輸入輸出控制電路90經(jīng)由數(shù)據(jù)線709輸入的用戶數(shù)據(jù)。存儲器702中保存的用戶數(shù)據(jù)達到一定量時,控制CRC運算電路704使用戶數(shù)據(jù)CRC化。接著對于CRC化后的數(shù)據(jù),控制加擾電路705實施附加偽隨機數(shù)數(shù)據(jù)串的加擾,控制糾錯編碼電路706進行附加校驗數(shù)據(jù)串的糾錯編碼。最后使拾取器接口電路707按空間光調(diào)制器312上的二維數(shù)據(jù)的排列順序從存儲器702中讀取糾錯編碼后的數(shù)據(jù),附加作為再現(xiàn)時的基準(zhǔn)的標(biāo)記之后,對拾取器11內(nèi)的空間光調(diào)制器312轉(zhuǎn)發(fā)二維數(shù)據(jù)。
[0084]圖8是光信息記錄再現(xiàn)裝置10的信號處理電路85的框圖。
[0085]控制器89在拾取器11內(nèi)的光檢測器325檢測出圖像數(shù)據(jù)時,命令信號處理電路85對從拾取器11輸入的I頁數(shù)據(jù)進行再現(xiàn)處理??刂破?9的處理命令經(jīng)由控制用線811對信號生成電路85內(nèi)的子控制器801通知。接收該通知后,子控制器801以使各信號處理電路并行工作的方式經(jīng)由控制用線811進行各信號處理電路的控制。首先,控制存儲器控制電路803通過數(shù)據(jù)線812,在存儲器802中保存從拾取器11經(jīng)由拾取器接口電路810輸入的圖像數(shù)據(jù)。存儲器802中保存的數(shù)據(jù)達到一定量時,控制圖像位置檢測電路809從存儲器802中保存的圖像數(shù)據(jù)內(nèi)檢測標(biāo)記,提取有效數(shù)據(jù)范圍。接著,使用檢測出的標(biāo)記,控制圖像畸變修正電路808進行圖像的傾斜、放大率、變形等畸變修正,將圖像數(shù)據(jù)變換為期望的二維數(shù)據(jù)的尺寸。控制二值化電路807對于構(gòu)成尺寸變換后的二維數(shù)據(jù)的多個比特的各比特數(shù)據(jù),進行判定“0”、“ I”的二值化,在存儲器802中以再現(xiàn)數(shù)據(jù)的輸出順序保存數(shù)據(jù)。接著用糾錯電路806對各數(shù)據(jù)串中包含的錯誤進行糾正,用加擾電路805解除附加偽隨機數(shù)數(shù)據(jù)串的加擾之后,用CRC運算電路804確認存儲器802中的用戶數(shù)據(jù)中不包括錯誤。之后,從存儲器802對輸入輸出控制電路90轉(zhuǎn)發(fā)用戶數(shù)據(jù)。
[0086]圖10是表不具有反射層的光信息記錄介質(zhì)的層結(jié)構(gòu)的圖。(I)表不對光信息記錄介質(zhì)記錄信息的狀態(tài),(2)表示從光信息記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息的狀態(tài)。
[0087]光信息記錄介質(zhì)I從光拾取器11 一側(cè)起具備透明覆蓋層1000、記錄層1002、光吸收/光透射層1006、光反射層1010和第三透明保護層1012。參考光1A與信號光1B的干涉圖案記錄在記錄層1002中。
[0088]光吸收/光透射層1006以在記錄信息時吸收參考光1A和信號光10B,在再現(xiàn)信息時使參考光透射的方式變換性質(zhì)。例如,通過對光記錄介質(zhì)I施加電壓而使光吸收/光透射層1006的著色、消色狀態(tài)變化,即在記錄信息時光吸收/光透射層1006是著色狀態(tài),吸收通過記錄層1002后的參考光1A和信號光10B,在再現(xiàn)信息時成為消色狀態(tài),使參考光透過(T.Ando et.al.: Technical Digest IS0M(2006),Th-PP-10)。通過光吸收 / 光透射層1006后的參考光1A在光反射層1010上反射成為再現(xiàn)用參考光10C。
[0089]此外,能夠?qū).Hirotsune et.al.: Technical Digest IS0M(2006),Μο_Β_04 中記載的電致變色(EC)材料W03用于光吸收/光透射層1006。
[0090]通過對該材料施加電壓而可逆的發(fā)生著色、消色,在記錄信息時使其著色而吸收光,在再現(xiàn)信息時使其消色而使光透過。
[0091]根據(jù)圖10的結(jié)構(gòu),不需要再現(xiàn)用參考光光學(xué)系統(tǒng),能夠?qū)崿F(xiàn)驅(qū)動器的小型化。
[0092]以下,發(fā)明人對全息存儲中高精度地檢測頁內(nèi)的已知圖案的技術(shù)進行詳細說明。
[0093]圖12是表示頁的實施例的概要圖。頁421內(nèi),在四角配置有同步標(biāo)記422。該同步標(biāo)記422用于修正頁的位置偏差、旋轉(zhuǎn)、放大率偏差,用拾取器檢測出頁之后,首先進行該同步標(biāo)記422的位置檢測。在頁421內(nèi)的數(shù)據(jù)部424中,配置有標(biāo)記423。該標(biāo)記423用于處理使用同步標(biāo)記422的修正中未除去的位置偏差,基于該標(biāo)記423的位置信息計算數(shù)據(jù)部的位置偏差,進行數(shù)據(jù)部的檢測。有時使用的拾取器內(nèi)的相機的像素間距小于空間光調(diào)制器的像素間距,該情況下,數(shù)據(jù)部進行檢測時,基于數(shù)據(jù)部的位置偏差的信息,進行恢復(fù)為空間光調(diào)制器的像素間距的過采樣解除處理。
[0094]圖11是表示光信息記錄再現(xiàn)裝置內(nèi)的信號處理電路的實施例的概要圖。拾取器11對頁畸變調(diào)整電路401輸出檢測出的再現(xiàn)頁。頁畸變調(diào)整電路401檢測出輸入的再現(xiàn)頁內(nèi)的同步標(biāo)記,基于該同步標(biāo)記的位置信息,計算位置偏差量、旋轉(zhuǎn)量、放大率偏差量,對信號位置檢測電路402輸出進行這些偏差的修正后的頁數(shù)據(jù)。偏差量的修正例如使用圖像處理領(lǐng)域中使用的仿射變換。信號位置檢測電路402輸入已修正的頁數(shù)據(jù),用后述的方法檢測各信號的位置信息,對過采樣解除電路403輸出頁數(shù)據(jù)和各信號的位置信息。過采樣解除電路403輸入頁數(shù)據(jù)和各信號的位置信息,以使頁數(shù)據(jù)的像素數(shù)與空間光調(diào)制器的像素數(shù)相等的方式解除頁數(shù)據(jù)的過采樣,對均衡電路404輸出解除過采樣后的頁數(shù)據(jù)。過采樣的方法例如采用使用預(yù)先計算的用于在各位置偏差量下解除過采樣的濾波系數(shù)實施FIR濾波處理的方法。均衡電路404輸入解除過采樣后的頁數(shù)據(jù),通過進行FIR濾波處理除去像素間的干涉,對二值化電路405輸出濾波處理后的頁數(shù)據(jù)。二值化電路405輸入濾波處理后的頁數(shù)據(jù),例如用閾值或最大似然解碼或維特比解碼進行二值化,對控制器89輸出二值化后的信息。
[0095]圖1是表示光信息記錄再現(xiàn)裝置內(nèi)的信號位置檢測電路的實施例的概要圖。標(biāo)記檢測電路411輸入頁數(shù)據(jù),檢測頁內(nèi)的各標(biāo)記的位置,對檢測錯誤位置推測電路412輸出頁數(shù)據(jù)和標(biāo)記位置信息。標(biāo)記的位置檢測中,例如計算已知的標(biāo)記圖案與頁數(shù)據(jù)的信號的相互相關(guān)系數(shù),將最大值的位置確定為標(biāo)記位置。檢測錯誤位置推測電路412輸入頁數(shù)據(jù)和標(biāo)記位置信息,推測標(biāo)記位置的檢測錯誤位置,對標(biāo)記位置修正電路413輸出標(biāo)記位置的檢測錯誤位置和頁數(shù)據(jù)。標(biāo)記位置的檢測錯誤位置的推測中,例如對于標(biāo)記位置的偏差量,計算與附近的標(biāo)記位置的偏差量的平均值的差,差值在規(guī)定值以上的情況下,判斷發(fā)生了檢測錯誤,由此確定標(biāo)記位置的檢測錯誤位置。標(biāo)記位置修正電路413輸入標(biāo)記位置的檢測錯誤位置和頁數(shù)據(jù),對于檢測錯誤位置的標(biāo)記位置,例如通過根據(jù)鄰接標(biāo)記位置線性插值進行修正,對信號位置計算電路414輸出修正后的標(biāo)記位置信息和頁數(shù)據(jù)。信號位置計算電路414輸入修正后的標(biāo)記位置信息和頁數(shù)據(jù),根據(jù)附近的標(biāo)記位置例如通過線性插值計算位于各標(biāo)記附近的信號組的位置,輸出各信號位置和頁數(shù)據(jù)。
[0096]圖13(a)是表示檢測標(biāo)記時的標(biāo)記位置偏差量、(b)是表示檢測誤差推測值、(C)是表示標(biāo)記位置偏差量(修正后)的例子的示意圖。如圖13(a)所示,計算與各標(biāo)記對應(yīng)的標(biāo)記位置偏差dx。圖13(b)所示的檢測誤差推測值Er例如能夠通過如下式(I)所述計算與附近的標(biāo)記的位置偏差量的平均值的差而計算。
[0097]Er = |dx_dx 的平均值 |......式(I)
[0098]例如,推測表示超過規(guī)定閾值的檢測誤差推測值Er的標(biāo)記發(fā)生了檢測誤差,如圖(c)所示根據(jù)鄰接標(biāo)記的位置偏差量用式(2)進行線性插值,由此對標(biāo)記位置偏差量進行修正。此處,dxn表示第η個標(biāo)記的位置偏差量,式(2)表示第η個標(biāo)記發(fā)生了檢測誤差的情況的例子。此外,檢測誤差連續(xù)發(fā)生的情況下,例如根據(jù)沒有發(fā)生檢測誤差的周邊標(biāo)記通過線性插值計算。
[0099]dxn = (dxn_!+dxn+1)/2
[0100]圖14是表示光信息記錄再現(xiàn)裝置中的信號位置檢測的動作流程的實施例的概要圖。檢測信號位置時,首先用431利用相互相關(guān)系數(shù)等檢測標(biāo)記的位置。之后,用432推測標(biāo)記檢測錯誤位置。用433根據(jù)鄰接標(biāo)記的位置對檢測錯誤位置的標(biāo)記位置進行修正。最后,用434利用標(biāo)記位置的信息計算各信號的位置。此外,雖然未圖示,但例如也可以基于修正后的標(biāo)記位置信息解除過采樣,根據(jù)SNR的值判斷標(biāo)記位置信息的修正是否正確。此夕卜,例如SNR低的情況下,也可以繼續(xù)進行利用不同的標(biāo)記信息插值等處理。
[0101]此外,用于判斷標(biāo)記檢測誤差的閾值,可以使用裝置預(yù)先保持的值,也可以先用SNR等作為指標(biāo)進行閾值的學(xué)習(xí)。此外,判斷標(biāo)記的可靠性的方法,也可以考慮使用標(biāo)記的SNR等其他結(jié)構(gòu)。本實施例中,判斷標(biāo)記自身的可靠性這一點尤其是特征性的,也存在本實施例以外的判斷方法。
[0102]本實施例的方法中,因為能夠僅用同一頁內(nèi)的信息實現(xiàn)標(biāo)記位置的修正,所以具有裝置結(jié)構(gòu)能夠簡化的優(yōu)點。
[0103]在以下敘述中,對于與本實施例相同的內(nèi)容省略說明。
[0104]實施例2
[0105]用圖15、16說明本發(fā)明的第二實施例。
[0106]圖15是表示光信息記錄再現(xiàn)裝置內(nèi)的信號處理電路的實施例的概要圖。與實施例I所示的圖11的電路的不同在于追加了緩存406。信號位置檢測電路402輸入頁數(shù)據(jù),且在起始頁以外時輸入上一頁的標(biāo)記位置偏差信息,用后述的方法檢測各信號的位置信息,對過采樣解除電路403輸出已修正的頁數(shù)據(jù)和各信號的位置信息,對緩存406輸出標(biāo)記位置偏差信息。緩存406輸入標(biāo)記位置偏差信息,保存該信息直到下一頁的處理時,在檢測下一頁的信號位置時,對信號位置檢測電路402輸出。其他電路的動作與實施例1相同,所以省略說明。
[0107]圖16是表示光信息記錄再現(xiàn)裝置中的信號位置檢測的動作流程的實施例的概要圖。檢測位置信息時,首先用441利用相互相關(guān)系數(shù)等檢測標(biāo)記的位置。之后,用442推測標(biāo)記檢測錯誤位置。用443判斷進行了標(biāo)記檢測的頁是否起始頁。443中不是起始頁的情況下,用444根據(jù)上一頁的同一個標(biāo)記位置對檢測錯誤位置的標(biāo)記位置進行修正。標(biāo)記位置的修正中,例如通過設(shè)為與上一頁的同一標(biāo)記位置的位置偏差量相等的量,計算標(biāo)記位置偏差,對標(biāo)記位置進行修正。最后,用445利用標(biāo)記位置的信息計算各信號的位置。此外,443的判斷中,是起始頁的情況下,用446以與實施例1相同的方法根據(jù)鄰接標(biāo)記位置對檢測錯誤位置的標(biāo)記位置進行修正。
[0108]此外,雖然未圖示,但例如也可以基于修正后的標(biāo)記位置信息解除過采樣,根據(jù)SNR的值判斷標(biāo)記位置信息的修正是否正確。此外,例如SNR低的情況下,也可以繼續(xù)進行利用不同的標(biāo)記信息插值等處理。
[0109]此外,檢測錯誤位置的推測可以如上所述與同一頁內(nèi)的附近標(biāo)記的信息比較來推測,也可以與同一冊內(nèi)的附近頁內(nèi)的標(biāo)記的信息比較來推測,也可以與其他冊內(nèi)的同一頁內(nèi)或附近頁內(nèi)的標(biāo)記信息比較來推測。
[0110]此外,檢測錯誤位置的修正可以如上所述設(shè)為發(fā)生了與鄰接頁的標(biāo)記的位置偏差量等量的偏差而計算標(biāo)記位置,也可以根據(jù)附近頁的標(biāo)記位置信息和位置偏差量進行線性插值或非線性插值而計算標(biāo)記位置,也可以根據(jù)其他冊內(nèi)的頁的標(biāo)記位置信息和位置偏差量同樣進行線性插值或非線性插值,也可以設(shè)為發(fā)生了等量的偏差而計算標(biāo)記位置。
[0111]本實施例的方法中,因為使用其他頁的信息修正標(biāo)記位置,所以具有與實施例1的方法相比有時精度更高的優(yōu)點。
[0112]在以下敘述中,對于與本實施例相同的內(nèi)容省略說明。
[0113]實施例3
[0114]用圖17說明本發(fā)明的第三實施例。此外,裝置的實施例例如能夠用與實施例2相同的結(jié)構(gòu)實現(xiàn)。
[0115]圖17是表示光信息記錄再現(xiàn)裝置中的信號位置檢測的動作流程的實施例的概要圖。檢測信號位置時,首先用451利用相互相關(guān)系數(shù)等檢測標(biāo)記的位置。之后,用452推測標(biāo)記檢測錯誤位置。用453對檢測錯誤位置的標(biāo)記位置與鄰接頁的標(biāo)記位置進行比較,判斷是否實際發(fā)生了檢測錯誤。是否實際發(fā)生了檢測錯誤的判斷,例如求出452中推測為檢測錯誤的標(biāo)記位置的位置偏差量與鄰接頁的同一個位置的標(biāo)記的位置偏差量的差,將差值超過規(guī)定閾值的部分判斷為發(fā)生了檢測錯誤,插值在規(guī)定閾值以下的情況下,判斷沒有發(fā)生檢測錯誤。再現(xiàn)中的頁是冊內(nèi)的起始頁的情況下,可以再現(xiàn)下一頁,也可以與其他冊的同一頁的標(biāo)記位置進行比較,判斷是否發(fā)生了檢測錯誤。用454按照實施例1或?qū)嵤├?中記載的方法僅對與鄰接頁沒有相關(guān)性的部分修正標(biāo)記位置。最后,用455利用標(biāo)記位置信息計算各信號的位置。
[0116]此外,檢測錯誤位置的推測可以如上所述與同一頁內(nèi)的附近標(biāo)記的信息比較來推測,也可以與同一冊內(nèi)的附近頁內(nèi)的標(biāo)記的信息比較來推測,也可以與其他冊內(nèi)的同一頁內(nèi)或附近頁內(nèi)的標(biāo)記信息比較來推測。
[0117]此外,雖然未圖示,但例如也可以基于修正后的標(biāo)記位置信息解除過采樣,根據(jù)SNR的值判斷標(biāo)記位置信息的修正是否正確。此外,例如SNR低的情況下,也可以繼續(xù)進行利用不同的標(biāo)記信息插值等處理。
[0118]此外,檢測錯誤位置的修正可以如上所述設(shè)為發(fā)生了與鄰接頁的標(biāo)記的位置偏差量等量的偏差而計算標(biāo)記位置,也可以根據(jù)附近頁的標(biāo)記位置信息和位置偏差量進行線性插值或非線性插值而計算標(biāo)記位置,也可以根據(jù)其他冊內(nèi)的頁的標(biāo)記位置信息和位置偏差量同樣進行線性插值或非線性插值,也可以設(shè)為發(fā)生了等量的偏差而計算標(biāo)記位置。
[0119]此外,判斷是否實際發(fā)生了檢測錯誤,可以如上所述根據(jù)與同一冊內(nèi)的鄰接頁的同一位置的標(biāo)記位置偏差量的差值判斷,也可以根據(jù)與其他冊內(nèi)的同一頁或鄰接頁的標(biāo)記位置偏差量的差值判斷。
[0120]本實施例的方法中,因為在修正標(biāo)記位置前進行是否實際發(fā)生了檢測錯誤的判斷,所以有時能夠進行更高精度的檢測。
[0121]此外,本實施例也能夠如下敘述。即,一種利用全息術(shù)從記錄了信息、記錄了粗調(diào)整用的同步標(biāo)記和微調(diào)整用的標(biāo)記的光信息記錄介質(zhì)中再現(xiàn)信息的光信息再現(xiàn)裝置,包括:檢測部,其從光信息記錄介質(zhì)中的二維再現(xiàn)信號即頁數(shù)據(jù)中,檢測同步標(biāo)記和標(biāo)記的位置信息;控制部,其根據(jù)檢測部檢測出的標(biāo)記的位置信息,判斷該標(biāo)記的位置信息的可靠性,判斷存在檢測錯誤時根據(jù)其他標(biāo)記對存在檢測錯誤的標(biāo)記的位置信息進行修正。
[0122]本發(fā)明不限定于上述實施例,包括各種變形例。例如,上述實施例是為了易于理解地說明本發(fā)明而詳細說明的,并不限定于必須具備說明的所有結(jié)構(gòu)。此外,能夠?qū)⒛硞€實施例的結(jié)構(gòu)的一部分置換為其他實施例的結(jié)構(gòu),或者在某個實施例的結(jié)構(gòu)上添加其他實施例的結(jié)構(gòu)。此外,對于各實施例的結(jié)構(gòu)的一部分,能夠追加、刪除、置換其他結(jié)構(gòu)。
[0123]此外,上述各結(jié)構(gòu)、功能、處理部、處理單元等的一部分或全部,例如可以通過集成電路設(shè)計等而用硬件實現(xiàn)。此外,上述各結(jié)構(gòu)、功能等,也可以通過處理器解釋、執(zhí)行實現(xiàn)各功能的程序而用軟件實現(xiàn)。實現(xiàn)各功能的程序、表、文件等信息,能夠保存在存儲器、硬盤、SSD (Solid State Drive:固態(tài)硬盤)等記錄裝置、或者IC卡、SD卡、DVD等記錄介質(zhì)中。
[0124]此外,控制線和信息線表示了認為說明上必要的,并不一定表示了產(chǎn)品上所有的控制線和信息線。實際上也可以認為幾乎所有結(jié)構(gòu)都相互連接。
[0125]符號說明
[0126]1......光信息記錄介質(zhì),10......光信息記錄再現(xiàn)裝置,11......拾取器,
[0127]12......再現(xiàn)用參考光光學(xué)系統(tǒng),13......光盤固化(Cure)光學(xué)系統(tǒng),
[0128]14……盤旋轉(zhuǎn)角度檢測用光學(xué)系統(tǒng),81……存取控制電路,
[0129]82……光源驅(qū)動電路,83……伺服信號生成電路,
[0130]84……伺服控制電路,85……信號處理電路,86……信號生成電路,
[0131]87.......決門控制電路,88……盤旋轉(zhuǎn)電機控制電路,
[0132]89......控制器,90......輸入控制電路,91......外部控制裝置,
[0133]301……光源,303.......決門,306……信號光,307……參考光,
[0134]308……擴束器,309……相位(Phase)掩模,
[0135]310......中繼透鏡,311......PBS 棱鏡,
[0136]312……空間光調(diào)制器,313……中繼透鏡,314……空間濾波器,
[0137]315……物鏡,316……偏振方向變換元件,320……致動器,
[0138]321......透鏡,322......透鏡,323......致動器,
[0139]324……反射鏡,325……光檢測器,
[0140]401……頁畸變調(diào)整電路,402……信號位置檢測電路,
[0141]403......過采樣解除電路,404......均衡電路,
[0142]405……二值化電路,406……緩存,
[0143]411......標(biāo)記檢測電路,
[0144]412……檢測錯誤位置推測電路,413……標(biāo)記位置修正電路,
[0145]414......信號位置計算電路,421......頁,422......同步標(biāo)記,
[0146]423......標(biāo)記,424......數(shù)據(jù)部,
[0147]501……光源,502……準(zhǔn)直透鏡,503.......快門,504……光學(xué)元件,
[0148]505……PBS棱鏡,506……信號光,507……PBS棱鏡,508……空間光調(diào)制器,
[0149]509……角度濾波器,510……物鏡,511……物鏡致動器,
[0150]512……參考光,513……反射鏡,514……反射鏡,515……透鏡,
[0151]516……檢流計反射鏡,517……致動器,518……光檢測器,
[0152]519......偏振方向變換兀件,520......驅(qū)動方向,521......光學(xué)模塊。
【權(quán)利要求】
1.一種利用全息術(shù)從光信息記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息的光信息再現(xiàn)裝置,其特征在于,包括: 檢測部,其從作為來自全息圖的二維再現(xiàn)信號的頁中檢測已知圖案的標(biāo)記的位置信息; 檢測錯誤位置推測部,其推測由所述檢測部檢測出的標(biāo)記的位置信息中有無檢測錯誤,并且在有檢測錯誤的情況下推測發(fā)生檢測錯誤的位置; 位置修正部,其對所述檢測錯誤位置推測部確定的檢測錯誤位置的標(biāo)記位置信息進行修正;和 信號檢測部,其基于由所述修正部修正后的標(biāo)記位置信息而從頁內(nèi)檢測各信號。
2.如權(quán)利要求1所述的光信息再現(xiàn)裝置,其特征在于: 所述檢測錯誤位置推測部基于同一頁內(nèi)的標(biāo)記組的位置信息檢測有無檢測錯誤,并且在有檢測錯誤的情況下推測發(fā)生檢測錯誤的位置。
3.如權(quán)利要求1所述的光信息再現(xiàn)裝置,其特征在于: 所述檢測錯誤位置推測部基于標(biāo)記的SNR推測有無檢測錯誤,并且在有檢測錯誤的情況下推測發(fā)生檢測錯誤的位置。
4.如權(quán)利要求1所述的光信息再現(xiàn)裝置,其特征在于: 所述位置修正部,對推測為發(fā)生了檢測錯誤的標(biāo)記位置,基于同一頁內(nèi)的標(biāo)記組的位置信息進行線性插值或非線性插值,由此修正標(biāo)記位置信息。
5.一種利用全息術(shù)從光信息記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息的光信息再現(xiàn)裝置,其特征在于,包括: 檢測部,其從作為來自全息圖的二維再現(xiàn)信號的頁中檢測已知圖案的標(biāo)記的位置信息; 記錄部,其保存標(biāo)記位置信息; 檢測錯誤位置推測部,其推測由所述檢測部檢測出的標(biāo)記的位置信息中有無檢測錯誤,并且在有檢測錯誤的情況下推測發(fā)生檢測錯誤的位置; 位置修正部,其對所述檢測錯誤位置推測部確定的檢測錯誤位置的標(biāo)記位置信息進行修正;和 信號檢測部,其基于所述修正部修正后的標(biāo)記位置信息而從頁內(nèi)檢測各信號。
6.如權(quán)利要求1所述的光信息再現(xiàn)裝置,其特征在于: 所述檢測錯誤位置推測部基于與再現(xiàn)中的頁不同的頁內(nèi)的同一個位置的標(biāo)記的位置信息推測有無檢測錯誤。
7.如權(quán)利要求5所述的光信息再現(xiàn)裝置,其特征在于: 所述檢測錯誤位置推測部基于與再現(xiàn)中的頁不同的頁內(nèi)的同一個位置的標(biāo)記的位置信息推測有無檢測錯誤。
8.如權(quán)利要求1所述的光信息再現(xiàn)裝置,其特征在于: 所述位置修正部,對推測為發(fā)生了檢測錯誤的標(biāo)記位置,基于與再現(xiàn)中的頁不同的頁內(nèi)的同一個位置的標(biāo)記的位置信息進行線性插值或非線性插值或?qū)⑵渥鳛橄嗤奈恢?,由此修正?biāo)記位置信息。
9.如權(quán)利要求5所述的光信息再現(xiàn)裝置,其特征在于: 所述位置修正部,對推測為發(fā)生了檢測錯誤的標(biāo)記位置,基于與再現(xiàn)中的頁不同的頁內(nèi)的同一個位置的標(biāo)記的位置信息進行線性插值或非線性插值或?qū)⑵渥鳛橄嗤奈恢?,由此修正?biāo)記位置信息。
10.如權(quán)利要求1所述的光信息再現(xiàn)裝置,其特征在于: 所述位置修正部,對于推測為發(fā)生了檢測錯誤的標(biāo)記位置,基于與再現(xiàn)中的頁不同的頁內(nèi)的同一個位置的標(biāo)記的位置信息判斷檢測錯誤推測的妥當(dāng)性,對判斷為發(fā)生了檢測錯誤的標(biāo)記的位置信息,基于與再現(xiàn)中的頁不同的頁內(nèi)的同一個位置的標(biāo)記的位置信息進行線性插值或非線性插值或?qū)⑵渥鳛橄嗤奈恢?,由此進行修正。
11.如權(quán)利要求5所述的光信息再現(xiàn)裝置,其特征在于: 所述位置修正部,對于推測為發(fā)生了檢測錯誤的標(biāo)記位置,基于與再現(xiàn)中的頁不同的頁內(nèi)的同一個位置的標(biāo)記的位置信息判斷檢測錯誤推測的妥當(dāng)性,對判斷為發(fā)生了檢測錯誤的標(biāo)記的位置信息,基于與再現(xiàn)中的頁不同的頁內(nèi)的同一個位置的標(biāo)記的位置信息進行線性插值或非線性插值或?qū)⑵渥鳛橄嗤奈恢?,由此進行修正。
12.—種光信息再現(xiàn)裝置,從利用全息術(shù)記錄了信息且記錄了粗調(diào)用的同步標(biāo)記和微調(diào)用的標(biāo)記的光信息記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息,其特征在于,包括: 檢測部,其從作為來自光信息記錄介質(zhì)的二維再現(xiàn)信號的頁數(shù)據(jù)中檢測所述同步標(biāo)記和所述標(biāo)記的位置信息;和 控制部,其根據(jù)由所述檢測部檢測出的標(biāo)記的位置信息,判斷該標(biāo)記的位置信息的可靠性,判斷為存在檢測錯誤時根據(jù)其他標(biāo)記來對存在檢測錯誤的所述標(biāo)記的位置信息進行修正。
【文檔編號】G03H1/22GK104246886SQ201280072074
【公開日】2014年12月24日 申請日期:2012年4月6日 優(yōu)先權(quán)日:2012年4月6日
【發(fā)明者】保坂誠 申請人:日立民用電子株式會社
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