專利名稱：液晶面板的測試裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種用于測試液晶面板的測試裝置及方法。
背景技術(shù)：
隨著電子技術(shù)的發(fā)展，平板顯示器件得到了飛速的發(fā)展，如液晶顯示器件、等離子體顯示器件和OLED (Organic Light-Emitting Diode,有機(jī)發(fā)光二極管)顯示器件。在平板顯示器件當(dāng)中，液晶顯示器件由于其重量低、體積小、能耗低的優(yōu)點(diǎn)，正在逐步取代冷陰極顯示設(shè)備。平板顯示器件中以無輻射薄膜晶體管有源矩陣液晶顯示器應(yīng)用較為廣泛，現(xiàn)有技術(shù)中，無輻射薄膜晶體管有源矩陣液晶顯示器的點(diǎn)燈方式一般采用2D1G (以2條數(shù)據(jù)線和I條柵極組成的若干單元)及3D2G (以3條數(shù)據(jù)線和2條柵極組成的若干單元)。但是由于2D1G和3D2G的方式將導(dǎo)致相鄰的兩數(shù)據(jù)線之間存在同種極性的現(xiàn)象，從而使得液晶面板的檢測能力較弱。參照圖I及圖2，圖I是現(xiàn)有技術(shù)采用3D2G進(jìn)行點(diǎn)燈測試的線路結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是圖I所示線路進(jìn)行點(diǎn)燈測試的測試信號及測試結(jié)果的示意圖。以3D2G點(diǎn)燈測試方式為例，數(shù)據(jù)線中每3條數(shù)據(jù)線形成一單元，且該每個單元中第一條數(shù)據(jù)線連接在一起并接收R信號，每個單元中第二條數(shù)據(jù)線連接在一起并接收G信號，每個單元中第三條數(shù)據(jù)線連接在一起并接收B信號；掃描線中每2條形成一單元，且該每個單元中第一條掃描線連接在一起并接收Gl信號，每個單元中第二條掃描線連接在一起并接收G2信號。在測試過程中，R信號、G信號、B信號、Gl信號及G2信號的信號如圖2所示，從獲得測試的DOT電性狀態(tài)可知，接收R信號及B信號測試的DOT所帶電性相同，因此降低了液晶面板的檢測能力。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種用于測試液晶面板的測試裝置，旨在既提高產(chǎn)生的競爭力，又提高液晶面板的檢測能力。本發(fā)明提供了一種用于測試液晶面板的測試裝置，包括與液晶面板的數(shù)據(jù)線連接的第一測試單元、與所述液晶面板的掃描線連接的第二測試單元及分別連接所述第一測試單元與第二測試單元的信號產(chǎn)生器，所述第一測試單元與第二測試單元均包括走線區(qū)及設(shè)置在走線區(qū)一側(cè)且與所述信號產(chǎn)生器連接的連接端口，所述走線區(qū)內(nèi)設(shè)有多條線路，靠近連接端口設(shè)置的所述多條線路中同屬性的線路連接在一起，且對應(yīng)與所述連接端口連接；遠(yuǎn)離連接端口設(shè)置的所述多條線路相應(yīng)與液晶面板上設(shè)置的信號線連接。優(yōu)選地，所述走線區(qū)設(shè)置的多條線路均分為至少兩組走線單元，且每組走線單元中的線路中均按屬性排列，且排列順序均相同；而且每組走線單元中線路的條數(shù)與連接端口的數(shù)量相等。優(yōu)選地，所述第一測試單元的連接端口為4個，所述走線區(qū)設(shè)置的線路為4n條，其中η為大于或等于2的正整數(shù)；所述第二測試單元的連接端口為2個，所述走線區(qū)設(shè)置的線路為2η條，其中η為大于或等于2的正整數(shù)。優(yōu)選地，所述第一測試單元的連接端口為6個，所述走線區(qū)設(shè)置的線路為6η條，其中η為大于或等于2的正整數(shù)；所述第二測試單元的連接端口為4個，所述走線區(qū)設(shè)置的線路為4η條，其中η為大于或等于2的正整數(shù)。優(yōu)選地，所述第一測試單元的連接端口為6個，所述走線區(qū)設(shè)置的線路為6η條，其中η為大于或等于2的正整數(shù)；所述第二測試單元連接端口為2個，所述走線區(qū)設(shè)置的線路為2η條，其中η為大于或等于2的正整數(shù)。優(yōu)選地，還包括連接在所述信號產(chǎn)生器與第一測試單元之間的第一轉(zhuǎn)接板及連接在所述信號產(chǎn)生器與第二測試單元之間的第二轉(zhuǎn)接板。本發(fā)明還提供了一種應(yīng)用上述測試裝置測試液晶面板的方法，包括以下步驟
提供待測試的液晶面板，將所述液晶面板的非顯示區(qū)上設(shè)置的短路環(huán)已被切割，露出數(shù)據(jù)線及掃描線的端頭；將所述測試裝置中的第一測試單元與所述數(shù)據(jù)線的端頭連接，所述測試裝置中的第二測試單元與所述掃描線連接；控制信號產(chǎn)生器連續(xù)產(chǎn)生第一測試信號及第二測試信號，以對液晶面板進(jìn)行測試。優(yōu)選地，所述測試裝置的第一測試單元及第二測試單元中，走線區(qū)設(shè)置的多條線路均分為至少兩組走線單元，且每組走線單元中的線路中均按屬性排列，且排列順序均相同；而且每組走線單元中線路的條數(shù)與連接端口的數(shù)量相等。優(yōu)選地，所述第一測試單元的連接端口為6個，所述走線區(qū)設(shè)置的線路為6η條，其中η為大于或等于2的正整數(shù)；所述第二測試單元的連接端口為4個，所述走線區(qū)設(shè)置的線路為4η條，其中η為大于或等于2的正整數(shù)。優(yōu)選地，還包括在測試裝置的信號產(chǎn)生器及第一測試單元之間設(shè)置第一轉(zhuǎn)接板；在測試裝置的信號產(chǎn)生器及第二測試單元之間設(shè)置第二轉(zhuǎn)接板。本發(fā)明通過測試裝置中走線區(qū)設(shè)置的線路，而且走線區(qū)一端設(shè)有接收測試信號的連接端口，另一端與液晶面板的信號線連接，從而可以實(shí)現(xiàn)液晶面板點(diǎn)燈測試方式的轉(zhuǎn)換；而且待液晶面板測試結(jié)束后，該測試裝置可以取下，而重復(fù)用于液晶面板的測試，因此該測試裝置不僅提高了液晶面板的檢測能力，而且還減少了液晶面板上線路占用的面積，進(jìn)而提高了液晶面板的競爭力。


圖I是現(xiàn)有技術(shù)采用3D2G進(jìn)行點(diǎn)燈測試的線路結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是圖I所示線路進(jìn)行點(diǎn)燈測試的測試信號及測試結(jié)果的示意3是本發(fā)明用于測試液晶面板的測試裝置一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4是本發(fā)明測試裝置中連接端口為2個的結(jié)構(gòu)示意圖；圖5是本發(fā)明測試裝置中連接端口為4個的結(jié)構(gòu)示意圖；圖6是本發(fā)明測試裝置中連接端口為6個的結(jié)構(gòu)示意圖7是本發(fā)明測試裝置與液晶面板連接線路的第一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖8是本發(fā)明測試裝置與液晶面板連接線路的第二實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖9是本發(fā)明測試裝置與液晶面板連接線路的第三實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖10是本發(fā)明測試裝置與液晶面板連接線路的第四實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖11是本發(fā)明用于測試液晶面板的測試裝置另一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖12是本發(fā)明液晶面板的測試方法較佳一實(shí)施例的流程示意圖。本發(fā)明目的的實(shí)現(xiàn)、功能特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)將結(jié)合實(shí)施例，參照附圖做進(jìn)一步說明。
具體實(shí)施例方式應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。參照圖3，圖3是本發(fā)明用于測試液晶面板的測試裝置一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。該測試裝置包括用于與待測液晶面板100的數(shù)據(jù)線連接的第一測試單元I、用于與所述液晶面板100的掃描線連接的第二測試單元2及分別連接所述第一測試單元I與第二測試單元2的信號產(chǎn)生器3，所述第一測試單元I與第二測試單元2均包括走線區(qū)10及設(shè)置在走線區(qū)10—側(cè)且與所述信號產(chǎn)生器3連接的若干連接端口 20，所述走線區(qū)10內(nèi)設(shè)有多條線路，靠近連接端口 20設(shè)置的線路中同屬性的線路連接在一起，且對應(yīng)與所述連接端口 20連接；遠(yuǎn)離連接端口 20設(shè)置的線路相應(yīng)與液晶面板100上設(shè)置的信號線連接。該測試裝置主要用于液晶面板的點(diǎn)燈測試。液晶面板的點(diǎn)燈測試的方式一般可以包括2D1G、3D2G、4D2G、6 D2G、4D4G及6D4G等幾種。但是在實(shí)際的測試過程中，2D1G及3D2G兩種點(diǎn)燈測試方式將導(dǎo)致相鄰的兩信號之間存在同種極性的現(xiàn)象，從而使得液晶面板的檢測能力較弱；而其他四種點(diǎn)燈測試方式相較前面兩種，提高了液晶面板的檢測能力。因此本發(fā)明通過該測試裝置，可以實(shí)現(xiàn)將現(xiàn)有液晶面板的3D2G或2D1G的點(diǎn)燈測試方式轉(zhuǎn)換為其他四種點(diǎn)燈測試方式。具體地，先將液晶面板上設(shè)置的短路環(huán)通過激光切斷，使得液晶面板上的信號線懸空；然后將該測試裝置中第一測試單元I 一端與液晶面板100上懸空的數(shù)據(jù)線一一對應(yīng)連接，另一端通過連接端口 20與信號產(chǎn)生器3連接；將該測試裝置中第二測試單元2 —端與液晶面板100上懸空的掃描線連接，另一端通過連接端口 20與信號產(chǎn)生器3連接。從而信號產(chǎn)生器3產(chǎn)生的測試信號可以通過連接端口 20傳遞至液晶面板100上的信號線。本發(fā)明用于液晶面板的測試裝置，通過走線區(qū)10設(shè)置的線路，而且走線區(qū)10—端設(shè)有接收測試信號的連接端口 20，另一端與液晶面板100的信號線連接，從而可以實(shí)現(xiàn)液晶面板點(diǎn)燈測試方式的轉(zhuǎn)換；而且待液晶面板測試結(jié)束后，該測試裝置可以取下，而重復(fù)用于液晶面板100的測試，因此液晶面板非顯示區(qū)上設(shè)置的線路仍然可以利用現(xiàn)有的3D2G或2D1G的線路方式，從而不但提高了液晶面板的檢測能力，而且還提高了液晶面板的產(chǎn)品競爭力。進(jìn)一步的，上述第一測試單元I及第二測試單元2上走線區(qū)10設(shè)置的多條線路均分為至少兩組走線單元，且每組走線單元中的線路中均按屬性排列，且排列順序均相同；而且每組走線單元中線路的條數(shù)與連接端口 20的數(shù)量相等。下面將以連接端口分別為2個、4個及6個分別對走線區(qū)10設(shè)置的線路進(jìn)行具體描述。(I)連接端口為2個
參照圖4，圖4是本發(fā)明測試裝置中連接端口為2個的結(jié)構(gòu)示意圖。該測試裝置中，所述走線區(qū)10設(shè)置的線路為4η條，其中η為大于或等于I的正整數(shù)。以η等于I為例，其中連接端口 20包括第一連接端口 21及第二連接端口 22。走線區(qū)10中設(shè)置的線路分為第一走線單元11及第二走線單元12。而且在走線區(qū)10的一側(cè),第一走線單元11的第一條線路Ila與第二走線單元12的第一條線路12a連接在一起,且連接處還連接第一連接端口21 ;第一走線單元11的第二條線路Ilb與第二走線單元12的第二條線路12b連接在一起，且連接處還連接第二連接端口 22。在走線區(qū)10的另一側(cè),第一走線單元11與第二走線單元12中所有懸空的線路均用于與液晶面板的信號線一一對應(yīng)連接。(2)連接端口為4個參照圖5，圖5是本發(fā)明測試裝置中連接端口為4個的結(jié)構(gòu)示意圖。該測試裝置中，所述走線區(qū)10設(shè)置的線路為Sn條，其中η為大于或等于I的正整數(shù)。以η等于I為例，其中連接端口 20包括第一連接端口 21、第二連接端口 22、第三連接端口 23及第四連接端口24。走線區(qū)10設(shè)置的線路分為第一走線單元11及第二走線單元12。而且在走線區(qū)10的 一側(cè)，第一走線單元11的第一條線路Ila與第二走線單元12的第一條線路12a連接在一起，且連接處還連接第一連接端口 21 ;第一走線單元11的第二條線路Ilb與第二走線單元12的第二條線路12b連接在一起，且連接處還連接第二連接端口 22 ;第一走線單元11的第三條線路Ilc與第二走線單元12的第三條線路12c連接在一起，且連接處還連接第三連接端口 23 ;第一走線單元11的第四條線路Ild與第二走線單元12的第四條線路12d連接在一起，且連接處還連接第四連接端口 24。在走線區(qū)10的另一側(cè),第一走線單元11及第二走線單元12中所有懸空的線路均用于與液晶面板的信號線一一對應(yīng)連接。(3)連接端口為6個參照圖6，圖6是本發(fā)明測試裝置中連接端口為6個的結(jié)構(gòu)示意圖。該測試裝置中，所述走線區(qū)10設(shè)置的線路為12η條，其中η為大于或等于I的正整數(shù)。以η等于I為例，其中連接端口 20包括第一連接端口 21、第二連接端口 22、第三連接端口 23、第四連接端口 24、第五連接端口 25、第六連接端口 26。走線區(qū)10設(shè)置的線路分為第一走線單元11及第二走線單元12。而且在走線區(qū)10的一側(cè)，第一走線單元11的第一條線路Ila與第二走線單元12的第一條線路12a連接在一起,且連接處還連接第一連接端口 21 ;第一走線單元11的第二條線路Ilb與第二走線單元12的第二條線路12b連接在一起,且連接處還連接第二連接端口 22 ;第一走線單元11的第三條線路Ilc與第二走線單元12的第三條線路12c連接在一起，且連接處還連接第三連接端口 23 ;第一走線單元11的第四條線路Ild與第二走線單元12的第四條線路12d連接在一起,且連接處還連接第四連接端口 24。第一走線單元11的第五條線路Ile與第二走線單元12的第五條線路12d連接在一起，且連接處還連接第五連接端口 25。第一走線單元11的第六條線路Ilf與第二走線單元12的第六條線路12f連接在一起，且連接處還連接第六連接端口 26。在走線區(qū)10的另一側(cè)，第一走線單元11及第二走線單元12中所有懸空的線路均用于與液晶面板的信號線一一對應(yīng)連接。當(dāng)液晶面板需要進(jìn)行測試時，可以使用具有不同數(shù)量的連接端口的第一測試單元及第二測試單元的測試裝置，將其與液晶面板上的信號線對應(yīng)連接，即可實(shí)現(xiàn)4D2G、6D2G、4D4G、6D4G的點(diǎn)燈測試方式。如圖7所示，該液晶面板測試所使用的測試裝置中，第一測試單元I中連接端口設(shè)置為4個，第二測試單元2中連接端口設(shè)置為2個，則通過并聯(lián)設(shè)置多個第一測試單元I及并聯(lián)設(shè)置多個第二測試單元2可以實(shí)現(xiàn)對液晶面板進(jìn)行4D2G的點(diǎn)燈測試方式。如圖8所示，該液晶面板測試所使用的測試裝置中，第一測試單元I中連接端口設(shè)置為6個，第二測試單元2中連接端口設(shè)置為2個，則通過并聯(lián)設(shè)置多個第一測試單元I及并聯(lián)設(shè)置多個第二測試單元2可以實(shí)現(xiàn)對液晶面板進(jìn)行6D2G的點(diǎn)燈測試方式。如圖9所示，該液晶面板測試所使用的測試裝置中，第一測試單元I中連接端口設(shè)置為4個，第二測試單元2中連接端口設(shè)置為4個，則通過并聯(lián)設(shè)置多個第一測試單元I及并聯(lián)設(shè)置多個第二測試單元2可以實(shí)現(xiàn)對液晶面板進(jìn)行4D4G的點(diǎn)燈測試方式。如圖10所示，該液晶面板測試所使用的測試裝置中，第一測試單元I中連接端口設(shè)置為6個，第二測試單元2中連接端口設(shè)置為4個，則通過并聯(lián)設(shè)置多個第一測試單元I及并聯(lián)設(shè)置多個第二測試單元2可以實(shí)現(xiàn)對液晶面板進(jìn)行6D4G的點(diǎn)燈測試方式。 由上可知，若測試裝置的第一測試單元I及第二測試單元2中走線區(qū)10設(shè)置的線路越多，則用于測試液晶面板100的掃描線101的第二測試單元2及用于測試液晶面板100的數(shù)據(jù)線102的第一測試單元I數(shù)量越少。參照圖11，圖11是本發(fā)明用于測試液晶面板的測試裝置另一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。該實(shí)施例的測試裝置還包括連接在所述信號產(chǎn)生器3與第一測試單元I之間的第一轉(zhuǎn)接板4及連接在所述信號產(chǎn)生器3與第二測試單元2之間的第二轉(zhuǎn)接板5。該第一轉(zhuǎn)接板4及第二轉(zhuǎn)接板5分別用于將第一測試單元I及第二測試單元2同類的連接端口連接在一起，以第二測試單元2中連接端口為2個的測試裝置為例，該第二轉(zhuǎn)接板5可以實(shí)現(xiàn)所有走線區(qū)10上的第一連接端口 21連接在一起，所有走線區(qū)10上的第二連接端口 22連接在一起。因此信號產(chǎn)生器3產(chǎn)生的測試信號可以通過第一轉(zhuǎn)接板4及第二轉(zhuǎn)接板5，同時傳遞至所有的走線區(qū)10，進(jìn)而再通過走線區(qū)10將測試信號同時傳遞至液晶面板100上所有的信號線，即實(shí)現(xiàn)了液晶面板的點(diǎn)燈測試。參照圖12，圖12是本發(fā)明液晶面板的測試方法較佳一實(shí)施例的流程示意圖。該液晶面板的測試方法包括以下步驟步驟S101、提供待測試的液晶面板，將所述液晶面板的非顯示區(qū)上設(shè)置的短路環(huán)切割，露出數(shù)據(jù)線及掃描線的端頭；步驟S102、提供測試裝置，將所述測試裝置中的第一測試單元與所述數(shù)據(jù)線的端頭連接，所述測試裝置中的第二測試單元與所述掃描線的端頭連接；步驟S103、控制信號產(chǎn)生器連續(xù)產(chǎn)生第一測試信號及第二測試信號，以對液晶面板進(jìn)行測試。液晶面板包括陣列基板、彩色濾光基板及設(shè)置在陣列基板與彩色濾光基板之間的液晶層，所述陣列基板的顯示區(qū)上設(shè)有多條交錯設(shè)置的數(shù)據(jù)線、掃描線以及分別與數(shù)據(jù)線及掃描線連接的薄膜晶體管，非顯示區(qū)上設(shè)有驅(qū)動薄膜晶體管工作的外圍線路，對應(yīng)連接至數(shù)據(jù)線與掃描線。而且在液晶面板的制作過程中，為了測試數(shù)據(jù)線與掃描線是否連接正常，則需要在外圍線路中設(shè)置短路環(huán)，而且該短路環(huán)還用于制成后的液晶面板的點(diǎn)燈測試。液晶面板的點(diǎn)燈測試的方式一般可以包括2D1G、3D2G、4D2G、6D2G、4D4G及6D4G等幾種。但是在實(shí)際的測試過程中，2D1G及3D2G兩種點(diǎn)燈測試方式將導(dǎo)致相鄰的兩信號之間存在同種極性的現(xiàn)象，從而使得液晶面板的檢測能力較弱；而其他四種點(diǎn)燈測試方式相較前面兩種，提高了液晶面板的檢測能力。因此本發(fā)明在進(jìn)行點(diǎn)燈測試時，先將短路環(huán)切除后，再通過該測試裝置與切斷的信號線連接，則實(shí)現(xiàn)將現(xiàn)有液晶面板的3D2G或2D1G的點(diǎn)燈測試方式轉(zhuǎn)換為其他四種點(diǎn)燈測試方式。上述測試方法中使用的測試裝置為前面所述的測試裝置，在此就不再贅述。本發(fā)明利用上述結(jié)構(gòu)的測試裝置，實(shí)現(xiàn)了液晶面板點(diǎn)燈測試方式的轉(zhuǎn)換；而且待液晶面板測試結(jié)束后，該測試裝置可以取下，而重復(fù)用于液晶面板的測試，因此該測試裝置不僅提高了液晶面板的檢測能力，而且還減少了液晶面板上線路占用的面積，進(jìn)而提高了液晶面板的競爭力。
以上僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種用于測試液晶面板的測試裝置，其特征在于，包括與液晶面板的數(shù)據(jù)線連接的第一測試單元、與所述液晶面板的掃描線連接的第二測試單元及分別連接所述第一測試單元與第二測試單元的信號產(chǎn)生器，所述第一測試單元與第二測試單元均包括走線區(qū)及設(shè)置在走線區(qū)一側(cè)且與所述信號產(chǎn)生連接的連接端口，所述走線區(qū)內(nèi)設(shè)有多條線路，靠近連接端口設(shè)置的所述多條線路中同屬性的線路連接在一起，且對應(yīng)與所述連接端口連接；遠(yuǎn)離連接端口設(shè)置的所述多條線路相應(yīng)與液晶面板上設(shè)置的信號線連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的測試裝置，其特征在于，所述走線區(qū)設(shè)置的多條線路均分為至少兩組走線單元，且每組走線單元中的線路中均按屬性排列，且排列順序均相同；而且每組走線單元中線路的條數(shù)與連接端口的數(shù)量相等。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征在于，所述第一測試單元的連接端口為4個，所述走線區(qū)設(shè)置的線路為4n條，其中n為大于或等于2的正整數(shù)；所述第二測試單元的連接端口為2個，所述走線區(qū)設(shè)置的線路為2n條，其中n為大于或等于2的正整數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征在于，所述第一測試單元的連接端口為6個，所述走線區(qū)設(shè)置的線路為6n條，其中n為大于或等于2的正整數(shù)；所述第二測試單元的連接端口為4個，所述走線區(qū)設(shè)置的線路為4n條，其中n為大于或等于2的正整數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征在于，所述第一測試單元的連接端口為6個，所述走線區(qū)設(shè)置的線路為6n條，其中n為大于或等于2的正整數(shù)；所述第二測試單元連接端口為2個，所述走線區(qū)設(shè)置的線路為2n條，其中n為大于或等于2的正整數(shù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的測試裝置，其特征在于，還包括連接在所述信號產(chǎn)生器與第一測試單元之間的第一轉(zhuǎn)接板及連接在所述信號產(chǎn)生器與第二測試單元之間的第二轉(zhuǎn)接板。
7.一種應(yīng)用權(quán)利要求I所述的測試裝置測試液晶面板的方法，其特征在于，包括以下步驟 提供待測試的液晶面板，將所述液晶面板的非顯示區(qū)上設(shè)置的短路環(huán)切割，露出數(shù)據(jù)線及掃描線的端頭； 將所述測試裝置中的第一測試單元與所述數(shù)據(jù)線的端頭連接，所述測試裝置中的第二測試單元與所述掃描線連接； 控制信號產(chǎn)生器連續(xù)產(chǎn)生第一測試信號及第二測試信號，以對液晶面板進(jìn)行測試。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的液晶面板的測試方法，其特征在于，所述測試裝置的第一測試單元及第二測試單元中，走線區(qū)設(shè)置的多條線路均分為至少兩組走線單元，且每組走線單元中的線路中均按屬性排列，且排列順序均相同；而且每組走線單元中線路的條數(shù)與連接端口的數(shù)量相等。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的液晶面板的測試方法，其特征在于，所述第一測試單元的連接端口為6個，所述走線區(qū)設(shè)置的線路為6n條，其中n為大于或等于2的正整數(shù)；所述第二測試單元的連接端口為4個，所述走線區(qū)設(shè)置的線路為4n條，其中n為大于或等于2的正整數(shù)。
10.根據(jù)權(quán)利要求7-9任一項(xiàng)所述的液晶面板的測試方法，其特征在于，還包括 在測試裝置的信號產(chǎn)生器及第一測試單元之間設(shè)置第一轉(zhuǎn)接板；在測試裝置的信號產(chǎn)生器及第二測試單元之間設(shè)置第二轉(zhuǎn)接板。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種用于測試液晶面板的測試裝置及測試方法，該測試裝置包括與液晶面板的數(shù)據(jù)線連接的第一測試單元、與所述液晶面板的掃描線連接的第二測試單元及分別連接所述第一測試單元與第二測試單元的信號產(chǎn)生器，所述第一測試單元與第二測試單元均包括走線區(qū)及設(shè)置在走線區(qū)一側(cè)且與所述信號產(chǎn)生連接的連接端口，所述走線區(qū)內(nèi)設(shè)有多條線路，靠近連接端口設(shè)置的多條線路中同屬性的線路連接在一起，且對應(yīng)與所述連接端口連接；遠(yuǎn)離連接端口設(shè)置的多條線路相應(yīng)與液晶面板上設(shè)置的信號線連接。本發(fā)明可以實(shí)現(xiàn)液晶面板點(diǎn)燈測試方式的轉(zhuǎn)換，不僅提高了液晶面板的檢測能力，而且還減少了液晶面板上線路占用的面積，進(jìn)而提高了液晶面板的競爭力。
文檔編號G02F1/13GK102967954SQ201210472359
公開日2013年3月13日 申請日期2012年11月20日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月20日
發(fā)明者黃皓, 劉純, 潘昶宏 申請人:深圳市華星光電技術(shù)有限公司