發(fā)光裝置的光量補(bǔ)償檢查方法
【專利摘要】一種光量補(bǔ)償檢查方法,適用于包含多個(gè)發(fā)光元件的發(fā)光裝置,其包含逐一對發(fā)光元件執(zhí)行下列步驟:測量發(fā)光元件于基準(zhǔn)時(shí)間區(qū)間內(nèi)輸出的原始光量;根據(jù)所測得的原始光量與基準(zhǔn)光量產(chǎn)生對應(yīng)發(fā)光元件的校正值;以及根據(jù)校正值調(diào)整發(fā)光元件的光輸出,使原始光量達(dá)到目標(biāo)光量。
【專利說明】發(fā)光裝置的光量補(bǔ)償檢查方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種光量檢查方法,特別是一種發(fā)光裝置的光量補(bǔ)償檢查方法。
【背景技術(shù)】
[0002]影印機(jī)、打印機(jī)傳真機(jī)及多功能事務(wù)機(jī)是利用電子寫真技術(shù)(EI ectro-photοgraphy )作為打印文件的核心技術(shù),亦即利用特定波長的光改變靜電荷(electrostatic charge)的分布而產(chǎn)生寫真(photographic)影像。
[0003]參照圖1,為彩色打印的發(fā)光二極管(LED)打印機(jī)100的示意圖。發(fā)光二極管打印機(jī)100具有分別對應(yīng)于黑色、洋紅色、青色及黃色的感光鼓(Photoconductive drum)(110K、110M、110C、110Y,總稱 110)、打印頭(Printing head) (120K、120M、120C、120Y,總稱120)及碳粉匣(Toner cartridge) (130K、130M、130C、130Y,總稱 130)。經(jīng)過布電機(jī)構(gòu),感光鼓110表面會產(chǎn)生一層均勻的電荷。打印前的掃描程序是需經(jīng)過曝光程序,使得欲打印的文件中的圖案像素轉(zhuǎn)換成可見光明暗數(shù)據(jù)。打印頭120中具有多個(gè)發(fā)光二極管,其發(fā)出的光照射到感光鼓110上時(shí),未曝光區(qū)會維持原有電位,但曝光區(qū)的電荷因曝光產(chǎn)生差異。曝光區(qū)的電位變化差異可吸附碳粉匣130提供的帶有正/負(fù)電荷的碳粉,藉以達(dá)到打印目的。
[0004]圖2為印刷濃度與感光鼓接受曝光的能量的關(guān)系圖。如圖2所示,印刷濃度與感光鼓的曝光能量成正相關(guān)。當(dāng)感光鼓接受曝光的能量增加,打印出的濃度也隨之增加,藉此可打印出灰階度不同的文件內(nèi)容。
[0005]圖3為發(fā)光二極管打印機(jī)100的打印頭120的外觀示意圖。如圖3所示,打印頭120包含沿一軸線140排列的多個(gè)發(fā)光芯片122。一般而言,每一發(fā)光芯片122包含數(shù)千個(gè)直線排列的發(fā)光二極管。當(dāng)發(fā)光芯片122沿軸線140排列時(shí),發(fā)光二極管亦同樣沿軸線140排列,藉此可達(dá)到高DPI (Dots Per Inch,點(diǎn)每英寸)的打印分辨率。例如,如欲達(dá)到1200X2400 DPI的分辨率,則需要在每英寸排列有1200個(gè)發(fā)光二極管。
[0006]然而,如欲使打印出的文件濃度均勻,需準(zhǔn)確控制打印頭120中每一個(gè)發(fā)光二極管的輸出光量,以避免對應(yīng)的感光鼓110的曝光區(qū)曝光過量或曝光不足。但每一發(fā)光二極管的發(fā)光特性均不盡相同。因此,每一發(fā)光芯片122必須經(jīng)過測試及校正,方可裝設(shè)于打印頭120中。但每個(gè)打印頭120具有數(shù)量龐大的發(fā)光二極管,且每個(gè)彩色打印的發(fā)光二極管打印機(jī)100還包含4個(gè)打印頭120,因此,如何有效率的檢測及校正,是本領(lǐng)域的研究人員致力研究的課題。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0007]鑒于以上的問題,本發(fā)明的目的在于提供一種發(fā)光裝置的光量補(bǔ)償檢查方法,藉以解決現(xiàn)有技術(shù)所存在因發(fā)光裝置的發(fā)光元件數(shù)量龐大,難以對發(fā)光裝置的光輸出進(jìn)行有效率的檢測及校正的問題。
[0008]本發(fā)明的一實(shí)施例提供一種發(fā)光裝置的光量補(bǔ)償檢查方法,發(fā)光裝置包含多個(gè)發(fā)光元件。光量補(bǔ)償檢查方法包含逐一對發(fā)光元件執(zhí)行下列步驟:測量發(fā)光元件于基準(zhǔn)時(shí)間區(qū)間內(nèi)輸出的原始光量;根據(jù)所測得的原始光量與基準(zhǔn)光量產(chǎn)生對應(yīng)發(fā)光元件的校正值;以及根據(jù)校正值調(diào)整發(fā)光元件的光輸出,使原始光量達(dá)到目標(biāo)光量。
[0009]根據(jù)本發(fā)明的發(fā)光裝置的光量補(bǔ)償檢查方法,可直接對個(gè)別的發(fā)光元件取得校正值,先評估該校正值的實(shí)施可能性,若在實(shí)施的合理范圍內(nèi)才以該校正值調(diào)整該發(fā)光元件的光輸出,并對該光輸出進(jìn)一步確認(rèn)是否符合預(yù)期。通過二階段的檢查,可讓檢測與校正的時(shí)間縮短,而可有效率的對發(fā)光裝置進(jìn)行檢測及校正。
[0010]以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述,但不作為對本發(fā)明的限定。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0011]圖1為彩色打印的發(fā)光二極管打印機(jī)的示意圖;
[0012]圖2為吸附碳粉濃度與感光鼓的曝光量的關(guān)系圖;
[0013]圖3為發(fā)光二極管打印機(jī)的打印頭的外觀示意圖;
[0014]圖4為本發(fā)明一實(shí)施例的發(fā)光裝置的光量補(bǔ)償檢查電路示意圖;
[0015]圖5為本發(fā)明一實(shí)施例的驅(qū)動電路的電路示意圖;
[0016]圖6為本發(fā)明一實(shí)施例的驅(qū)動電路接收的時(shí)脈信號示意圖;
[0017]圖7為本發(fā)明一實(shí)施例的發(fā)光裝置的另一光量補(bǔ)償檢查電路示意圖;
[0018]圖8為本發(fā)明一實(shí)施例的光量補(bǔ)償檢查流程圖;
[0019]圖9為本發(fā)明一實(shí)施例的另一光量補(bǔ)償檢查流程圖。
[0020]其中,附圖標(biāo)記
[0021]100發(fā)光二極管打印機(jī)
[0022]110K、110M、110C、110Y 感光鼓
[0023]120、120K、120M、120C、120Y 打印頭
[0024]122發(fā)光芯片
[0025]130K、130M、130C、130Y 碳粉匣
[0026]140 軸線
[0027]200發(fā)光裝置
[0028]210發(fā)光模塊
[0029]211發(fā)光元件
[0030]220驅(qū)動電路
[0031]230控制單元
[0032]240儲存單元
[0033]250輸出光
[0034]300光電轉(zhuǎn)換單元
[0035]400影像處理裝置
[0036]B1、B2 緩沖器
[0037]D1、D2、D3 二極管
[0038]R1、R2、R3 負(fù)載電阻
[0039]T1、T2、T3發(fā)光閘流體[0040]tl、t2、t3 點(diǎn)亮?xí)r間
[0041]ψ 11, ψ12、Ψ21、Ψ22、¥S 信號
[0042]VGA 電壓
【具體實(shí)施方式】
[0043]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的結(jié)構(gòu)原理和工作原理作具體的描述:
[0044]圖4為本發(fā)明一實(shí)施例的發(fā)光裝置200的光量補(bǔ)償檢查電路示意圖。
[0045]如圖4所示,發(fā)光裝置200包含發(fā)光模塊210、驅(qū)動電路220及控制單元230。發(fā)光模塊210包含多個(gè)發(fā)光元件211。驅(qū)動電路220用以驅(qū)動發(fā)光元件211的光輸出。控制單元230耦接驅(qū)動電路220,用以控制發(fā)光元件211光輸出與否(點(diǎn)亮或關(guān)閉)以及控制輸出光250的光量。
[0046]在本實(shí)施例中,發(fā)光元件211為發(fā)光閘流體,發(fā)光裝置200為打印機(jī)中的打印頭,但本發(fā)明實(shí)施例非以此為限,發(fā)光元件211亦可為發(fā)光二極管等光輸出元件,發(fā)光裝置200亦可適用于傳真機(jī)或影印機(jī)等成像裝置的曝光部件。并且,發(fā)光模塊210可包含至少一前述發(fā)光芯片122,而具有多個(gè)直線排列的發(fā)光兀件211。
[0047]圖5為本發(fā)明一實(shí)施例的驅(qū)動電路220的電路示意圖。圖6為本發(fā)明一實(shí)施例的驅(qū)動電路220接收的時(shí)脈信號示意圖。
[0048]如圖5所示,驅(qū)動電路220包含發(fā)光閘流體(T1、T2、T3等,總稱T)、二極管(D1、D2、D3等,總稱D)、負(fù)載電阻(Rl、R2、R3等,總稱R)及緩沖器(B1、B2)。
[0049]發(fā)光閘流體T具有柵極、陰極與陽極。當(dāng)柵極與陰極間為順向偏壓且電壓差超過擴(kuò)散電壓時(shí),發(fā)光閘流體T點(diǎn)亮。與一般閘流體相同的是,發(fā)光閘流體T開啟后(即點(diǎn)亮),柵極電位與陽極電位近乎相同,當(dāng)柵極與陰極間的電位差回歸至零伏特時(shí),發(fā)光閘流體T才關(guān)閉(即不發(fā)光)。
[0050]每一個(gè)發(fā)光閘流體T的柵極經(jīng)由一相對應(yīng)的二極管D耦接至另一個(gè)發(fā)光閘流體T(如發(fā)光閘流體Tl經(jīng)由二極管Dl耦接至發(fā)光閘流體T2)。每一個(gè)發(fā)光閘流體T的陰極間隔地經(jīng)由緩沖器(BI或B2)對應(yīng)耦接信號Ψ11與Ψ12或信號Ψ21與Ψ22。例如,發(fā)光閘流體Tl的陰極經(jīng)由緩沖器BI耦接信號Ψ11與Ψ12;發(fā)光閘流體Τ2的陰極經(jīng)由緩沖器Β2耦接信號Ψ11與Ψ12。每一個(gè)發(fā)光閘流體T的柵極與對應(yīng)的二極管D的耦接處還各自經(jīng)由一對應(yīng)的負(fù)載電阻R而耦接至電壓VGA (如發(fā)光閘流體Tl的柵極與二極管Dl的耦接處經(jīng)由負(fù)載電阻Rl而耦接至電壓VGA)。
[0051]其中,發(fā)光閘流體Tl的柵極還耦接信號VS。二極管D的陽極端耦接鄰近信號VS的相鄰的發(fā)光閘流體T,其陰極端耦接相鄰的另一發(fā)光閘流體T。例如,二極管Dl的陽極端耦接發(fā)光閘流體Tl,其陰極端耦接發(fā)光閘流體T2。
[0052]信號ψ 11、ψ 12、Ψ21、Ψ22、¥S以及電壓VGA是由控制單元230所提供,藉以輸出如圖6所示的時(shí)脈信號,以控制每一個(gè)發(fā)光閘流體T的點(diǎn)亮?xí)r間(如發(fā)光閘流體Tl的點(diǎn)亮?xí)r間tl、發(fā)光閘流體T2的點(diǎn)亮?xí)r間t2及發(fā)光閘流體T3的點(diǎn)亮?xí)r間t3)。也就是說,控制單元230可經(jīng)由驅(qū)動電路220控制每一個(gè)發(fā)光閘流體T依序點(diǎn)亮一段時(shí)間。
[0053]在此,圖5所示的驅(qū)動電路220僅為示例,本發(fā)明實(shí)施例非以此為限,亦可經(jīng)由其他驅(qū)動電路220的電路結(jié)構(gòu)搭配控制單元230,使得每個(gè)發(fā)光元件211可依序點(diǎn)亮一段時(shí)間。
[0054]復(fù)參照圖4,光電轉(zhuǎn)換單元300沿一方向移動而逐一對發(fā)光元件211測量其輸出光量。于此,光電轉(zhuǎn)換單兀300可為電荷稱合兀件((XD)、互補(bǔ)式金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)或其他光電轉(zhuǎn)換器。光電轉(zhuǎn)換單元300用以接收發(fā)光元件211發(fā)出的光,并將其轉(zhuǎn)換為電信號,使得電信號的電壓或電流可對應(yīng)接收到的光強(qiáng)度對應(yīng)變化。
[0055]在一些實(shí)施例中,利用前述驅(qū)動電路220與控制單元230輸出的時(shí)脈信號,可控制發(fā)光元件211點(diǎn)亮與否以及其輸出的光量。因此,光電轉(zhuǎn)換單元300可配合特定發(fā)光元件211點(diǎn)亮的期間而移動至其前方,以測量其輸出的光量。并且,光電轉(zhuǎn)換單元300接續(xù)的移動至下一個(gè)發(fā)光兀件211前方,以于下一個(gè)發(fā)光兀件211點(diǎn)亮期間測量其輸出的光量。
[0056]在一實(shí)施例中,光電轉(zhuǎn)換單元300耦接控制單元230,由控制單元230接收光電轉(zhuǎn)換單兀300輸出的電信號,并根據(jù)電信號的電壓或電流轉(zhuǎn)換為發(fā)光兀件211輸出的光強(qiáng)度。接著,控制單元230可將第一時(shí)間至第二時(shí)間內(nèi)的光強(qiáng)度予以積分,而取得發(fā)光元件211輸出的光量。也就是說,本發(fā)明的實(shí)施例中所述的光量對應(yīng)于發(fā)光元件211于第一時(shí)間至第二時(shí)間內(nèi)輸出的光強(qiáng)度的積分值。
[0057]圖7為本發(fā)明一實(shí)施例的發(fā)光裝置200的另一光量補(bǔ)償檢查電路示意圖。
[0058]參照圖7,在一實(shí)施例中,光電轉(zhuǎn)換單元300輸出的電信號為影像信號,且耦接影像處理裝置400 (如可程序化邏輯電路(Field Programmable Gate Array, FPGA)或計(jì)算機(jī))。由影像處理裝置400分析影像信號而取得發(fā)光元件211輸出光250的光量。也就是說,影像處理裝置400根據(jù)影像信號中受到發(fā)光元件211的光輸出而形成的亮點(diǎn)的尺寸及灰階度等參數(shù),判斷光電轉(zhuǎn)換單元300在第一時(shí)間至第二時(shí)間內(nèi)接收到來自發(fā)光元件211的累積光量。影像處理裝置400并耦接控制單元230,以提供光量分析結(jié)果予控制單元230。
[0059]圖8為本發(fā)明一實(shí)施例的光量補(bǔ)償檢查流程圖。以圖4或圖7所示的光量補(bǔ)償檢查電路執(zhí)行如圖8所示的流程,可對發(fā)光裝置200的各個(gè)發(fā)光元件211逐一進(jìn)行光亮測量與校正。
[0060]參照圖4及圖8。首先,于初始化發(fā)光裝置200及光電轉(zhuǎn)換單元300后,將光電轉(zhuǎn)換單元300移動至直線排列的發(fā)光元件211的起始端,而位于第一個(gè)發(fā)光元件211前方(步驟S610)。接著,對發(fā)光元件211測量其于一基準(zhǔn)時(shí)間區(qū)間內(nèi)(如100微秒(μ s))輸出的原始光量,即由驅(qū)動電路220及控制單元230控制發(fā)光元件211在基準(zhǔn)時(shí)間區(qū)間內(nèi)點(diǎn)亮,而由控制單元230或影像處理裝置400依據(jù)光電轉(zhuǎn)換單元300提供的電信號轉(zhuǎn)換為發(fā)光元件211輸出的原始光量(步驟S620)。
[0061]于步驟S620取得發(fā)光元件211輸出的原始光量后,根據(jù)原始光量與一基準(zhǔn)光量產(chǎn)生對應(yīng)發(fā)光元件211的校正值(步驟S630)。所述基準(zhǔn)光量為欲使每個(gè)發(fā)光元件211 —致輸出的光量。接著,執(zhí)行步驟S640,根據(jù)步驟S620取得的校正值調(diào)整發(fā)光元件211的光輸出,使原始光量達(dá)到目標(biāo)光量。
[0062]經(jīng)過步驟S620至步驟S640而完成單一發(fā)光元件211的校正之后,進(jìn)入步驟S650,判斷所有發(fā)光元件211是否均校正完成。若為是,則結(jié)束此流程;若為否,則移動光電轉(zhuǎn)換單元300至相鄰的次一個(gè)發(fā)光元件211前方,例如,校正完第一個(gè)發(fā)光元件211之后,則移動至第二個(gè)發(fā)光元件211前方(步驟S660)。于步驟S660后,返回步驟S620以繼續(xù)校正該次一個(gè)發(fā)光元件211。[0063]在一些實(shí)施例中,于步驟S610之前,可預(yù)先點(diǎn)亮所欲測量的發(fā)光元件211,并關(guān)閉其他發(fā)光元件211,使得在執(zhí)行步驟S610的期間,僅有所欲測量的發(fā)光元件211點(diǎn)亮。
[0064]在一些實(shí)施例中,前述校正值為發(fā)光元件211的點(diǎn)亮持續(xù)時(shí)間,而于步驟S640中,控制單元230可將點(diǎn)亮發(fā)光元件211的基準(zhǔn)時(shí)間區(qū)間改為點(diǎn)亮持續(xù)時(shí)間(如90微秒),以調(diào)整原始光量為目標(biāo)光量。于此,可根據(jù)基準(zhǔn)光量與原始光量的比值實(shí)質(zhì)等同于點(diǎn)亮持續(xù)時(shí)間與基準(zhǔn)時(shí)間區(qū)間的比值的關(guān)系,而取得點(diǎn)亮持續(xù)時(shí)間的校正數(shù)值。
[0065]在一些實(shí)施例中,如圖4所示,發(fā)光裝置200還包含儲存單元240。控制單元230耦接儲存單元240,以將校正值儲存于儲存單元240中。據(jù)此,在每次發(fā)光裝置200初始化時(shí),可先讀取儲存單元240內(nèi)儲存的校正值。當(dāng)需點(diǎn)亮發(fā)光元件211時(shí),根據(jù)發(fā)光元件211所各自對應(yīng)的校正值點(diǎn)亮,使其每個(gè)發(fā)光元件211的輸出光量一致。藉此,使用校正值輸出光的發(fā)光裝置200曝光一感光兀件(如感光鼓)時(shí),感光兀件的每個(gè)受光位置均可受到相同的光量。
[0066]在一些實(shí)施例中,于步驟S603之前,還可預(yù)先儲存基準(zhǔn)光量、原始光量及校正值的對照表于儲存單元240。于步驟S602測量到的原始光量后,可以控制單元230讀取儲存單元240內(nèi)的對照表,藉此,可根據(jù)基準(zhǔn)光量與所測量到的原始光量取得對照表中的校正值。
[0067]在一些實(shí)施例中,校正值是對應(yīng)發(fā)光元件211的發(fā)光亮度。詳細(xì)地說,校正值可為發(fā)光元件211的驅(qū)動電壓或驅(qū)動電流,利用調(diào)整驅(qū)動電壓或驅(qū)動電流來調(diào)整發(fā)光元件211的發(fā)光亮度,使得發(fā)光元件211的輸出光量對應(yīng)改變。
[0068]圖9為本發(fā)明一實(shí)施例的另一光量補(bǔ)償檢查流程圖。
[0069]如圖9所示,在前述步驟S640之前,還包含步驟S731,判斷校正值是否超出合理范圍。依據(jù)發(fā)光裝置200的需求條件,設(shè)定一校正范圍,若由步驟S630所得出的校正值超出該校正范圍,則輸出表示發(fā)光裝置200為異常品的輸出信號(步驟S732),反之,則進(jìn)入步驟S640。
[0070]在前述步驟S640之后,還包含步驟S741,檢測目標(biāo)光量與基準(zhǔn)光量是否實(shí)質(zhì)相同。若為相同,則進(jìn)入步驟S650,反之,則輸出表示發(fā)光裝置200為正常品的輸出信號(步驟S751)。
[0071]在前述步驟S650中,若執(zhí)行完所有發(fā)光元件211的校正,則進(jìn)入步驟S751,輸出表示發(fā)光裝置200為正常品的輸出信號。
[0072]綜上所述,根據(jù)本發(fā)明的發(fā)光裝置200的光量補(bǔ)償檢查方法,對個(gè)別的發(fā)光元件取得校正值,先評估該校正值的實(shí)施可能性,若在實(shí)施的合理范圍內(nèi)才以該校正值調(diào)整該發(fā)光元件的光輸出,并對該光輸出進(jìn)一步確認(rèn)是否符合預(yù)期。通過二階段的檢查,可讓檢測與校正的時(shí)間縮短,而可有效率的對發(fā)光裝置200進(jìn)行檢測及校正。
[0073]當(dāng)然,本發(fā)明還可有其他多種實(shí)施例,在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情況下,熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形,但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種發(fā)光裝置的光量補(bǔ)償檢查方法,該發(fā)光裝置包含多個(gè)發(fā)光元件,其特征在于,該光量補(bǔ)償檢查方法包含: 逐一對該些發(fā)光元件執(zhí)行下列步驟: 測量該發(fā)光兀件于一基準(zhǔn)時(shí)間區(qū)間內(nèi)輸出的一原始光量; 根據(jù)所測得的該原始光量與一基準(zhǔn)光量產(chǎn)生對應(yīng)該發(fā)光元件的一校正值;以及 根據(jù)該校正值調(diào)整該發(fā)光元件的光輸出,使該原始光量達(dá)到一目標(biāo)光量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光裝置的光量補(bǔ)償檢查方法,其特征在于,于根據(jù)該校正值調(diào)整該原始光量為一目標(biāo)光量之后,包含: 檢測該目標(biāo)光量與該基準(zhǔn)光量是否相同,并輸出一輸出信號,該輸出信號表不該發(fā)光裝置為正常品或不良品。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光裝置的光量補(bǔ)償檢查方法,其特征在于,于根據(jù)該校正值調(diào)整該發(fā)光元件的光輸出,使該原始光量達(dá)到一目標(biāo)光量之前,包含: 判斷該校正值是否超出一合理范圍,并輸出一輸出信號,該輸出信號表示該發(fā)光裝置為正常品或不良品。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光裝置的光量補(bǔ)償檢查方法,其特征在于,該校正值為該發(fā)光元件的點(diǎn)亮持續(xù)時(shí)間,而以該點(diǎn)亮持續(xù)時(shí)間調(diào)整該原始光量為該目標(biāo)光量。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的發(fā)光裝置的光量補(bǔ)償檢查方法,其特征在于,該基準(zhǔn)光量與該原始光量的比值等同于該點(diǎn)亮持續(xù)時(shí)間與該基準(zhǔn)時(shí)間區(qū)間的比值。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光裝置的光量補(bǔ)償檢查方法,其特征在于,該校正值對應(yīng)該發(fā)光元件的發(fā)光亮度。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的發(fā)光裝置的光量補(bǔ)償檢查方法,其特征在于,該校正值為該發(fā)光元件的驅(qū)動電壓或驅(qū)動電流。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光裝置的光量補(bǔ)償檢查方法,其特征在于,該發(fā)光裝置還包含一控制單元及一儲存單元,該光量補(bǔ)償檢查方法于根據(jù)一基準(zhǔn)光量比較所測得的該原始光量而產(chǎn)生對應(yīng)該發(fā)光元件的一校正值之前,包含: 儲存該基準(zhǔn)光量、該原始光量及該校正值的對照表于該儲存單元;以及 以該控制單元讀取該儲存單元內(nèi)的該對照表。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光裝置的光量補(bǔ)償檢查方法,其特征在于,測量該發(fā)光元件于一基準(zhǔn)時(shí)間區(qū)間內(nèi)輸出的一原始光量包含: 點(diǎn)亮該發(fā)光元件,并關(guān)閉其他該些發(fā)光元件。
【文檔編號】G03G15/043GK103488067SQ201210312466
【公開日】2014年1月1日 申請日期:2012年8月29日 優(yōu)先權(quán)日:2012年6月8日
【發(fā)明者】吉田治信, 張子良, 彭柏雄 申請人:日昌電子股份有限公司