專利名稱：一種光修復點缺陷的方法
技術(shù)領域：
本發(fā)明涉及一種顯示面板的光修復點缺陷的方法。
背景技術(shù)：
在工程制造生產(chǎn)過程中，由于工藝誤差、異物污染等原因不可避免地會在液晶顯示裝置中出現(xiàn)點缺陷。點缺陷一般分為亮點缺陷和暗點缺陷，在實際生產(chǎn)中以亮點缺陷居多，并且人眼對亮點更加敏感。所以在比較高的出貨級別允許有暗點的存在，但是不允許有亮點的存在。在點缺陷的工程修復中通用的方法是把亮點缺陷修復成暗點缺陷，但是暗點缺陷還是屬于點缺陷。此外，如果在顯示區(qū)域存在連續(xù)3個以及3個以上的亮點缺陷或者暗點缺陷，一般都會把這個顯示器判定為不合格。所以，常用的點缺陷修復方法無法實現(xiàn)連續(xù)3個以及3個以上點缺陷的修復。常用的亮點缺陷修復方法有物理修復法和電學修復法，其中物理修復法常用的是，利用BM遮住像素、碳化像素上CF使光無法透過亮點像素而實現(xiàn)修復；電學修復法常用的是，在晶體管區(qū)域，利用激光熔接的方法把晶體管的漏極和柵極電性連接。利用柵極掃描線電壓與公共電壓形成一個很大的壓差，使存在亮點缺陷的子像素實現(xiàn)暗態(tài)顯示。以上電學修復法一般用于單個亮點缺陷的修復，并不適用于3個以上的亮點缺陷的修復，且利用“灌信號”的方式實現(xiàn)像素的暗態(tài)顯示，并不是光學意義上真正的“暗態(tài)”，往往修復好的亮點缺陷沒有正常暗態(tài)“暗”。專利KR20080065748中利用激光照射不良像素，使其上的濾光片物性變化降低光透射性的方法修復亮點，修復中可能出現(xiàn)的氣泡和偏光板損傷等必須依賴于激光波長和時間的精確控制，所以該方法復雜且存在很大風險。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明揭示一種簡易方便快速點缺陷修復方法，實現(xiàn)連續(xù)3個以及3個以上點缺 陷的修復。本發(fā)明提供一種光修復點缺陷的方法，用于修復顯示面板的點缺陷，包括如下步驟第一步給顯示面板加電壓；第二步檢查缺陷像素；第三步光配向改變?nèi)毕菹袼厮谖恢玫呐湎蚰さ呐湎蚍较颉Ｆ渲?，所述顯示面板包括相對設置的CF基板和TFT基板、位于CF基板與TFT基板之間的液晶、位于CF基板與TFT基板相對側(cè)的表面上的第一配向膜、位于TFT基板與CF基板相對側(cè)的表面上的第二配向膜，所述第一配向膜的配向方向與第二配向膜的配向方向垂直。其中，所述第二步的具體檢查方法為CF基板和/或TFT基板上具有呈亮態(tài)顯示的像素。
其中，所述第三步的具體方法為用一遮擋物置于CF基板上，該遮擋物具有讓光線通過的像素區(qū)域，用光線照射CF基板的亮點像素，使CF基板的上第一配向膜的配向方向沿光照方向分布，并改變第一配向膜的配向方向。其中，位于亮點像素區(qū)域的第一配向膜的配向方向與第二配向膜的配向方向一致。其中，所述第三步的具體 方法為用一遮擋物置于TFT基板上，該遮擋物具有讓光線通過的像素區(qū)域，用光線照射TFT基板的亮點像素，使TFT基板的上第二配向膜的配向方向沿光照方向分布，并改變第二配向膜的配向方向。其中，位于亮點像素區(qū)域的第二配向膜的配向方向與第一配向膜的配向方向一致。其中，所述亮點像素所在區(qū)域的配向膜在配向前的配向方向與配向后的配向方向垂直。其中，所述照射光線為UV或Laser。其中，在所述CF基板和/或TFT基板上貼有防紫外的保護膜。本案利用光配改變LCD其中一片基板上配向膜的配向方向，使原本配向方向相互垂直的配向膜配向方向一致，當光透過偏光軸分布垂直的基板兩側(cè)偏光板和配向方向一致的配向膜時，像素呈現(xiàn)暗態(tài)，從而修復亮點缺陷。當存在多個亮點缺陷時，只需在遮擋物上設置與亮點像素區(qū)域相應的位置設置透過區(qū)域，從而可實現(xiàn)同時對多個亮點缺陷的修復，實現(xiàn)連續(xù)3個以及3個以上點缺陷的修復，且簡易方便快速。


圖I是TN型TFT-IXD的光配向的示意圖；圖2是TN型TFT-IXD的亮點像素的配向方向示意圖；圖3是TN型TFT-LCD的光配前的剖視圖；圖4是修復亮點像素的示意圖；圖5是修復完成的示意圖；圖6是修復完成的TFT-IXD的結(jié)構(gòu)示意圖；圖7是修復完成的亮點像素的配向方向的示意圖；圖8是修復完成的TFT-IXD的光配向的剖視圖。
具體實施例方式下面結(jié)合附圖和具體實施例，進一步闡明本發(fā)明，應理解這些實施例僅用于說明本發(fā)明而不用于限制本發(fā)明的范圍，在閱讀了本發(fā)明之后，本領域技術(shù)人員對本發(fā)明的各種等價形式的修改均落于本申請所附權(quán)利要求所限定的范圍。本發(fā)明涉及一種光修復點缺陷的方法的流程圖，用于修復顯示面板的缺陷，本修復方法步驟為第一步給顯示面板加電壓；第二步檢查缺點像素，主要檢查亮點像素；
第三步光配向改變?nèi)毕菹袼厮谖恢玫呐湎蚰さ呐湎蚍较?；第四部結(jié)束光修復。下文為具體介紹本發(fā)明修復的步驟。圖I至圖3為TN型TFT-IXD的光配向的示意圖，本實施例以TN型TFT-IXD顯示面板為例，TFT-IXD包括相對設置的CF基板10和TFT基板20、位于CF基板10與TFT基板20相對側(cè)的表面上的第一配向膜11、位于TFT基板20與CF基板相對側(cè)的表面上的第二配向膜21、位于CF基板10與TFT基板20之間的液晶3 0、位于CF基板10外側(cè)的第一偏光片40、位于TFT基板20外側(cè)的第二偏光片50、以及照射第二偏光板50的背光源60。第一、第二配向膜11、21的材料是含有光敏基團的聚合物或添加光敏材料的混合物，優(yōu)選含有光敏基團的聚酰亞胺或添加光敏材料的聚酰亞胺混合物。第一配向膜11的第一配向方向111如圖2所示，第一偏光片40的第一光軸41的方向與第一配向方向111相同；第二配向膜21的第二配向方向211如圖2所示，第二偏光片50的第二光軸51的方向與第二配向方向211相同；且第一配向膜11的第一配向方向111與第二配向膜21的第二配向方向211垂直，第一配向方向111與第二配向方向211之間呈90°。第一步加電壓后，點亮背光源60。第二步檢查亮點像素，由于CF基板或TFT基板每側(cè)的偏光片的光軸分布與其對應的配向膜的配向方向均一致，第一配向方向111與第二配向方向211之間呈90°，加電壓后，正常像素顯示暗態(tài)70 (如圖I所示的 )，缺陷像素由于不能正常充電呈亮態(tài)顯示80(如圖I所示的t )。由于具有亮態(tài)顯示80，是由于TFT基板具有X’ Y，亮點像素100、CF基板20具有與X’ Y，缺點像素100對應的XY亮點像素110。如圖4所示，由于存在缺點像素，本發(fā)明修復缺點像素的方法是通過光配向的方法改變配向膜的配向方向。第三步用遮擋物120置于CF基板10上，該遮擋物120上具有基本單元為I個像素大小的透過區(qū)域，并能夠讓光線穿過XY亮點像素110區(qū)域，而其他非亮點像素區(qū)域都遮擋住。利用UV或laser光線按如圖所示4的光照方向照射XY亮點像素110，使XY亮點像素上第一配向膜11的第一配向方向111沿光照方向分布，并改變第一配向膜11的第一配向方向111。如圖6為光修復后的CF基板10上XY亮點像素的第一配向膜11的第一配向方向111，位于XY亮點像素上的第一配向膜11的第一配向方向111與第二配向膜21的第二配向方向211 —致，從而可實現(xiàn)修復亮點像素。在修復亮點像素時，可以修復TFT基板20上的第二配向膜21的第二配向方211，即用遮擋物120置于TFT基板20上，該遮擋物120上具有基本單元為I個像素大小的透過區(qū)域，并能夠讓光線穿過X’ Y，亮點像素100區(qū)域，而其他非亮點像素區(qū)域都遮擋住。利用UV或laser照射X’ V亮點像素100，使X’ V亮點像素100上第二配向膜21的第二配向方向211沿光照方向分布，并改變第二配向膜21的第二配向方向211，位于X’Y’亮點像素100上的第二配向膜21的第一配向方向211與第一配向膜11的第一配向方向111 一致，從而可實現(xiàn)修復亮點像素。如圖7至圖9為修復完成后的結(jié)構(gòu)不意圖，弟四步修復完成后，売點像素所對應的配向膜在CF基板和TFT基板的配向方向一致，光不能透過配向膜，從而使原亮點像素所在位置呈現(xiàn)與整體像素顯示相同的暗態(tài)。為使修復效果更佳，可在光配向前切斷漏極。且由于配向膜具有光敏特性，相應LCD的CF基板和/或TFT基板側(cè)貼有防紫外的保護膜。本案利用光配改變LCD其中一片基板上配向膜的配向方向，使原本配向方向相互垂直的配向膜配向方向一致，當光透過偏光軸分布垂直的基板兩側(cè)偏光板和配向方向一致的配向膜時，像素呈現(xiàn)暗態(tài)，從而修復亮點缺陷。當存在多個亮點缺陷時，只需在遮擋物上設置與亮點像素區(qū)域相應的位置設置透 過區(qū)域，從而可實現(xiàn)同時對多個亮點缺陷的修復，實現(xiàn)連續(xù)3個以及3個以上點缺陷的修復，且簡易方便快速。
權(quán)利要求
1.一種光修復點缺陷的方法，用于修復顯示面板的點缺陷，其特征在于包括如下步驟 第一步給顯示面板加電壓； 第二步檢查缺陷像素； 第三步光配向改變?nèi)毕菹袼厮谖恢玫呐湎蚰さ呐湎蚍较颉?br> 2.根據(jù)權(quán)利要求I所述光修復缺陷的方法，其特征在于所述顯示面板包括相對設置的CF基板和TFT基板、位于CF基板與TFT基板之間的液晶、位于CF基板與TFT基板相對側(cè)的表面上的第一配向膜、位于TFT基板與CF基板相對側(cè)的表面上的第二配向膜，所述第一配向膜的配向方向與第二配向膜的配向方向垂直。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述光修復缺陷的方法，其特征在于所述第二步的具體檢查方法為CF基板和/或TFT基板上具有呈売態(tài)顯不的像素。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述光修復缺陷的方法，其特征在于所述第三步的具體方法為用一遮擋物置于CF基板上，該遮擋物具有讓光線通過的像素區(qū)域，用光線照射CF基板的亮點像素，使CF基板的上第一配向膜的配向方向沿光照方向分布,并改變第一配向膜的配向方向。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述光修復缺陷的方法，其特征在于位于亮點像素區(qū)域的第一配向膜的配向方向與第二配向膜的配向方向一致。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述光修復缺陷的方法，其特征在于所述第三步的具體方法為用一遮擋物置于TFT基板上，該遮擋物具有讓光線通過的像素區(qū)域，用光線照射TFT基板的亮點像素，使TFT基板的上第二配向膜的配向方向沿光照方向分布，并改變第二配向膜的配向方向。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述光修復缺陷的方法，其特征在于位于亮點像素區(qū)域的第二配向膜的配向方向與第一配向膜的配向方向一致。
8.根據(jù)權(quán)利要求1、4-7任一所述光修復缺陷的方法，其特征在于所述亮點像素所在區(qū)域的配向膜在配向前的配向方向與配向后的配向方向垂直。
9.根據(jù)權(quán)利要求4-7任一所述光修復缺陷的方法，其特征在于所述照射光線為UV或Laser0
10.根據(jù)權(quán)利要求1、4-8任一所述光修復缺陷的方法，其特征在于在所述CF基板和/或TFT基板上貼有防紫外的保護膜。
全文摘要
本發(fā)明提供一種光修復點缺陷的方法，用于修復顯示面板的點缺陷，包括如下步驟第一步給顯示面板加電壓；第二步檢查缺陷像素；第三步光配向改變?nèi)毕菹袼厮谖恢玫呐湎蚰さ呐湎蚍椒ā１景咐霉馀涓淖僉CD其中一片基板上配向膜的配向方向，使原本配向方向相互垂直的配向膜配向方向一致，當光透過偏光軸分布垂直的基板兩側(cè)偏光板和配向方向一致的配向膜時，像素呈現(xiàn)暗態(tài)，從而修復亮點缺陷。
文檔編號G02F1/1337GK102749740SQ201210262990
公開日2012年10月24日 申請日期2012年7月27日 優(yōu)先權(quán)日2012年7月27日
發(fā)明者洪孟鋒, 王杰 申請人:南京中電熊貓液晶顯示科技有限公司