專利名稱：顯示面板的陣列基板與顯示面板的測試方法及顯示方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種顯示面板的陣列基板，以及顯示面板的測試方法及顯示方法，尤 指一種可使用少量測試信號輸入墊進(jìn)行測試的顯示面板及其測試方法及顯示方法。
背景技術(shù)：
顯示面板，例如液晶顯示面板主要是由陣列基板(array substrate)、彩色濾光片 基板(CF substrate)、以及填充于兩基板之間的液晶分子所組成，其中陣列基板上設(shè)有多 個呈陣列狀排列的次像素區(qū)，每個次像素區(qū)包含柵極線、數(shù)據(jù)線、共通線與薄膜晶體管等元 件。隨著液晶顯示器的應(yīng)用日漸普及，消費(fèi)者對于液晶顯示器的解析度與像素開口率的要 求也不斷向上提升，而為了滿足高解析度與高像素開口率的規(guī)格，導(dǎo)線的線寬必須縮減，且 導(dǎo)線的密度必須提高。在上述情況下，在制作薄膜晶體管基板上的柵極線、數(shù)據(jù)線或其它導(dǎo) 線圖案時，缺陷產(chǎn)生的機(jī)率也會隨之增加。為了確保導(dǎo)線無缺陷存在而可正常傳遞信號，在 陣列基板上的導(dǎo)線制作完成后會進(jìn)行測試，若測試出陣列基板的導(dǎo)線無缺陷存在，則可進(jìn) 行后續(xù)液晶顯示面板的組裝，而若測試出陣列基板的導(dǎo)線有缺陷存在，且此缺陷可修補(bǔ)，則 進(jìn)行修補(bǔ)，而若此缺陷無法修補(bǔ)，則進(jìn)行重工或報(bào)廢陣列基板。請參考圖1。圖1示出了公知顯示面板的陣列基板的示意圖。如圖1所示，公知顯 示面板的陣列基板10包括一基板12、一像素陣列14、多個顯示數(shù)據(jù)輸入墊16、一測試陣列 18，以及多個測試信號輸入墊20。基板12包括一有源區(qū)(或稱為顯示區(qū))12A與一周邊區(qū) (或稱為非顯示區(qū)或驅(qū)動電路區(qū))12P。像素陣列14位于基板12的有源區(qū)12A內(nèi)，像素陣 列14包括多條柵極線GL與多條數(shù)據(jù)線DL，且柵極線GL與數(shù)據(jù)線DL交叉而共同定義出多 個次像素(或稱為子像素)，例如紅色次像素R、綠色次像素G與藍(lán)色次像素B。顯示數(shù)據(jù)輸 入墊16位于基板12的周邊區(qū)12P，其中各顯示數(shù)據(jù)輸入墊16與一對應(yīng)的數(shù)據(jù)線DL的一端 電性連接，且顯示數(shù)據(jù)輸入墊16可接收由數(shù)據(jù)驅(qū)動芯片(圖未示)所發(fā)出的數(shù)據(jù)信號，并 傳遞給數(shù)據(jù)線DL以驅(qū)動像素陣列14。測試陣列18位于基板12的周邊區(qū)12P，其中測試陣 列18包括多條測試線181、多條控制線182、多個控制信號輸入墊183與多個開關(guān)元件SW。 各測試線181的一端與一對應(yīng)的顯示數(shù)據(jù)輸入墊16電性連接，而每12條測試線181的另一 端同時與一對應(yīng)的測試信號輸入墊20電性連接。各控制線182的一端與一控制信號輸入 墊183電性連接。此外，各開關(guān)元件SW分別與一對應(yīng)的測試線181與一對應(yīng)的控制線182 電性連接。也就是說，各開關(guān)元件SW具有第一端(或稱為柵極，未標(biāo)示)、第二端(或稱為 源極，未標(biāo)示)以及第三端(或稱為漏極，未標(biāo)示)，其中，各開關(guān)元件SW的第一端連接對應(yīng) 的控制線182、各開關(guān)元件SW的第二端連接對應(yīng)的測試線181、以及各開關(guān)元件SW的第三 端連接對應(yīng)的顯示數(shù)據(jù)輸入墊16。于進(jìn)行測試時，測試機(jī)臺(圖未示)會經(jīng)由控制信號輸入墊183輸入控制信號以 依序控制測試陣列18的開關(guān)元件SW的開啟，以及經(jīng)由測試信號輸入墊20輸入測試信號， 以測試像素陣列14的數(shù)據(jù)線DL是否可正常傳遞信號。然而，根據(jù)公知顯示面板的陣列基 板的測試架構(gòu)，一條測試線181對應(yīng)一條數(shù)據(jù)線DL，且單一測試信號輸入墊20僅能對應(yīng)12
4條數(shù)據(jù)線DL，因此必須布設(shè)大量的測試線181與測試信號輸入墊20。舉例而言，若像素陣 列14的數(shù)據(jù)線DL的數(shù)目為1080條，則必須設(shè)置1080條測試線181以及90個測試信號輸 入墊20，如此一來會大幅地增加顯示面板的陣列基板的制作成本與測試時間。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的之一在于提供一種顯示面板的陣列基板及其測試方法及顯示方法， 以減少顯示面板的陣列基板的制作成本與測試時間。本發(fā)明的一實(shí)施例提供一種顯示面板的陣列基板，包括一基板、一像素陣列、多個 顯示數(shù)據(jù)輸入墊單元、多個選擇單元、一測試陣列以及多個旁通單元。基板包括一有源區(qū)與 一周邊區(qū)。像素陣列位于基板的有源區(qū)內(nèi)，其中像素陣列包括多個數(shù)據(jù)線單元，且各數(shù)據(jù)線 單元包括一第一數(shù)據(jù)線與至少一第二數(shù)據(jù)線。顯示數(shù)據(jù)輸入墊單元位于基板的周邊區(qū)內(nèi)， 其中各顯示數(shù)據(jù)輸入墊單元包括一第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊與至少一第二顯示數(shù)據(jù)輸入墊，用 以輸入顯示數(shù)據(jù)信號。選擇單元設(shè)置于基板的周邊區(qū)內(nèi)，各選擇單元包括一第一開關(guān)元件 與至少一第二開關(guān)元件，各選擇單元的第一開關(guān)元件的一輸出端與各數(shù)據(jù)線單元的對應(yīng)的 第一數(shù)據(jù)線電性連接，各選擇單元的第二開關(guān)元件的一輸出端與各數(shù)據(jù)線單元的對應(yīng)的第 二數(shù)據(jù)線電性連接，各選擇單元的第一開關(guān)元件的一輸入端與第二開關(guān)元件的一輸入端均 與對應(yīng)的一顯示數(shù)據(jù)輸入墊單元的第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊電性連接。測試陣列位于基板的周 邊區(qū)內(nèi)，其中測試陣列包括多個測試單元，各測試單元包括多條測試線用以輸入測試信號， 各測試單元的各測試線分別與對應(yīng)的一顯示數(shù)據(jù)輸入墊單元的第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊電性 連接。旁通單元位于基板的周邊區(qū)內(nèi)，其中各旁通單元包括至少一旁通線，且各旁通單元的 旁通線分別電性連接對應(yīng)的第二顯示數(shù)據(jù)輸入墊與對應(yīng)的第二數(shù)據(jù)線。本發(fā)明的另一實(shí)施例提供一種顯示面板的陣列基板，包括一基板、一第一數(shù)據(jù)線 與至少一第二數(shù)據(jù)線、一第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊與至少一第二顯示數(shù)據(jù)輸入墊、一第一開關(guān) 元件與至少一第二開關(guān)元件、一測試線以及至少一旁通線?；灏ㄒ挥性磪^(qū)與一周邊區(qū)。 第一數(shù)據(jù)線與第二數(shù)據(jù)線位于基板的有源區(qū)內(nèi)。第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊與第二顯示數(shù)據(jù)輸入 墊位于基板的周邊區(qū)內(nèi)。第一開關(guān)元件與第二開關(guān)元件位于基板的周邊區(qū)內(nèi)，其中第一開 關(guān)元件的一輸出端與第一數(shù)據(jù)線電性連接，第二開關(guān)元件的一輸出端與第二數(shù)據(jù)線電性連 接，第一開關(guān)元件的一輸入端與第二開關(guān)元件的一輸入端均與第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊電性連 接。測試線位于基板的周邊區(qū)內(nèi)，且測試線與第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊電性連接。旁通線位于 基板的周邊區(qū)內(nèi)，且旁通線分別電性連接第二顯示數(shù)據(jù)輸入墊與第二數(shù)據(jù)線。本發(fā)明的又一實(shí)施例提供一種顯示面板的測試方法，包括下列步驟。提供上述的 顯示面板的陣列基板。對測試線施加一測試信號，以及依序開啟第一開關(guān)元件與第二開關(guān) 元件，以使測試信號依序傳遞至第一數(shù)據(jù)線與第二數(shù)據(jù)線。本發(fā)明的另一實(shí)施例提供一種顯示面板的顯示方法，包括下列步驟。提供上述的 顯示面板的陣列基板。開啟第一開關(guān)元件，并對第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊輸入一第一顯示數(shù)據(jù) 信號，以使第一顯示數(shù)據(jù)信號經(jīng)由第一開關(guān)元件傳遞至第一數(shù)據(jù)線。關(guān)閉第二開關(guān)元件，并 對第二顯示數(shù)據(jù)輸入墊輸入一第二顯示數(shù)據(jù)信號，以使第二顯示數(shù)據(jù)信號經(jīng)由旁通線傳遞 至第二數(shù)據(jù)線。本發(fā)明的顯示面板的陣列基板利用選擇單元的設(shè)置，可于測試模式下使數(shù)據(jù)線接收由測試機(jī)臺經(jīng)由測試線所傳遞的測試信號，以及于顯示模式時使數(shù)據(jù)線接收由驅(qū)動芯片 經(jīng)由顯示數(shù)據(jù)輸入墊所傳遞的顯示數(shù)據(jù)信號，因此可減少陣列基板的制作成本與測試時 間。



12A有源區(qū)12P周邊區(qū)
14像素陣列16顯示數(shù)據(jù)輸入墊
18測試陣列181測試線
182控制線18控制信號輸入墊
Sff開關(guān)元件20測試信號輸入墊
DL數(shù)據(jù)線30顯示面板的陣列基板
32基板32A有源區(qū)
32P周邊區(qū)34像素陣列
36顯示數(shù)據(jù)輸入墊單元361第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊
362第二顯示數(shù)據(jù)輸入墊38選擇單元
381第一開關(guān)元件3811輸出端
3812輸入端3813控制端
382第二開關(guān)元件3821輸出端
3822輸入端3823控制端
391第一控制信號輸入墊392第二控制信號輸入墊
40測試陣列40U測試單元
401測試線403第三控制線
402測試信號輸入墊40S開關(guān)元件
40P第三控制信號輸入墊42旁通單元
421旁通線DLU數(shù)據(jù)線單元
DLl第一數(shù)據(jù)線DL2第二難〔據(jù)線
GL柵極線R紅色次像素
G綠色次像素B藍(lán)色次像素
CLl第一控制線CL2第二控制線
DCl第一信號源DC2第二信號源
ENB關(guān)閉致能開關(guān)元件
具體實(shí)施例方式為使本領(lǐng)域普通技術(shù)人員能更進(jìn)一步了解本發(fā)明，下文特列舉本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施 例，并配合附圖，詳細(xì)說明本發(fā)明的構(gòu)成內(nèi)容及所欲達(dá)成的功效。請參考圖2與圖3。圖2示出了本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例的顯示面板的陣列基板的示 意圖，圖3示出了圖2的顯示面板的陣列基板的選擇單元的放大示意圖。在本實(shí)施例中，顯 示面板例如可為一低溫多晶硅液晶顯示面板，但不以此為限。如圖2所示，本實(shí)施例的顯示 面板的陣列基板30包括一基板32、一像素陣列34、多個顯示數(shù)據(jù)輸入墊單元36、多個選擇 單元38、一測試陣列40，以及多個旁通單元42?；?2包括一有源區(qū)(或稱為顯示區(qū))32A 與一周邊區(qū)(或稱為非顯示區(qū)或驅(qū)動電路區(qū))32P。像素陣列34位于基板32的有源區(qū)32A 內(nèi)，其中像素陣列34包括多條柵極線GL與多個數(shù)據(jù)線單元DLU，其中各數(shù)據(jù)線單元DLU包 括一第一數(shù)據(jù)線DLl與至少一第二數(shù)據(jù)線DL2，且柵極線GL與各數(shù)據(jù)線單元DLU的第一數(shù) 據(jù)線DLl與第二數(shù)據(jù)線DL2交叉而共同定義出多個次像素。在本實(shí)施例中，單一像素包括 三個不同顏色的次像素，例如紅色次像素R、綠色次像素G與藍(lán)色次像素B，但不以此為限。 單一像素也可包括二或三個以上，例如四個、五個、六個等等的次像素。在本實(shí)施例中，各 數(shù)據(jù)線單元DLU包括一第一數(shù)據(jù)線DLl與兩條第二數(shù)據(jù)線DL2，但不以此為限。顯示數(shù)據(jù)輸 入墊單元36位于基板32的周邊區(qū)32P內(nèi)，其中各顯示數(shù)據(jù)輸入墊單元36包括一第一顯示 數(shù)據(jù)輸入墊361與至少一第二顯示數(shù)據(jù)輸入墊362。第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊361與第二顯示 數(shù)據(jù)輸入墊362用以輸入顯示數(shù)據(jù)信號，因此其數(shù)目與數(shù)據(jù)線的數(shù)目對應(yīng)。舉例而言，在本 實(shí)施例中，各數(shù)據(jù)線單元DLU包括一第一數(shù)據(jù)線DLl與兩條第二數(shù)據(jù)線DL2，因此各顯示數(shù) 據(jù)輸入墊單元36包括一第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊361與兩個第二顯示數(shù)據(jù)輸入墊362為范例， 但不限于此。于其它實(shí)施例中，各數(shù)據(jù)線單元DLU可包括一第一數(shù)據(jù)線DLl與一第二數(shù)據(jù)線 DL2、或者是兩條第一數(shù)據(jù)線DLl與一第二數(shù)據(jù)線DL2、或者是兩條第一數(shù)據(jù)線DLl與兩條第 二數(shù)據(jù)線DL2等等設(shè)計(jì)方式。如圖2與圖3所示，選擇單元38設(shè)置于基板32的周邊區(qū)32P內(nèi)。精確地說，選擇 單元38位于像素陣列34與顯示數(shù)據(jù)輸入墊單元36之間并與像素陣列34與顯示數(shù)據(jù)輸入 墊單元36電性連接。各選擇單元38包括一第一開關(guān)元件381與至少一第二開關(guān)元件382。 各選擇單元38的第一開關(guān)元件381的一輸出端(或稱為漏極)3811與各數(shù)據(jù)線單元DLU 的對應(yīng)的第一數(shù)據(jù)線DLl電性連接，各選擇單元38的第二開關(guān)元件382的一輸出端(或稱 為漏極)3821與各數(shù)據(jù)線單元DLU的對應(yīng)的第二數(shù)據(jù)線DL2電性連接。各選擇單元38的 第一開關(guān)元件381的一輸入端(或稱為源極)3812與第二開關(guān)元件382的一輸入端(或稱 為源極)3822均與對應(yīng)的一顯示數(shù)據(jù)輸入墊單元36的第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊361電性連接。 另外，顯示面板的陣列基板30可另包括一第一控制線CL1、至少一第二控制線CL2、一第一 控制信號輸入墊391、至少一第二控制信號輸入墊392、一致能開關(guān)元件ENB、一第一信號源 DCl以及至少一第二信號源DC2。第一控制線CLl的一端分別與各選擇單元38的第一開關(guān) 元件381的一控制端3813 (或稱為柵極)電性連接，且第一控制線CLl的另一端與一第一控 制信號輸入墊391電性連接，而第二控制線CL2的一端分別與各選擇單元38的第二開關(guān)元 件382的一控制端3823 (或稱為柵極)電性連接，且第二控制線CL2的另一端可與一第二 控制信號輸入墊392電性連接。第一開關(guān)元件381的數(shù)目與第一數(shù)據(jù)線DLl的數(shù)目對應(yīng)，且第二開關(guān)元件382的數(shù)目與第二數(shù)據(jù)線DL2的數(shù)目對應(yīng)。舉例而言，在本實(shí)施例中，各選 擇單元38具有一第一開關(guān)元件381與兩個第二開關(guān)元件382，但不以此為限。第一開關(guān)元 件381、第二開關(guān)元件382與致能開關(guān)元件ENB可為例如薄膜晶體管元件，且薄膜晶體管元 件可為P型薄膜晶體管元件或N型薄膜晶體管元件，但不以此為限。舉例而言，第一開關(guān)元 件381、第二開關(guān)元件382與致能開關(guān)元件ENB也可為金屬氧化物半導(dǎo)體晶體管元件或其它 各種型式的開關(guān)元件。再者，由于第一控制線CLl與第二控制線CL2分別用來控制所有選 擇單元38的第一開關(guān)元件381與第二開關(guān)元件382的開啟，因此第一控制線CLl的數(shù)目與 第一開關(guān)元件381的數(shù)目對應(yīng)，且第二控制線CL2的數(shù)目與第二開關(guān)元件382的數(shù)目對應(yīng)。 舉例而言，在本實(shí)施例中，顯示面板的陣列基板30具有一第一控制線CLl與兩條第二控制 線CL2。于其它實(shí)施例，各選擇單元38可具有一第一開關(guān)元件381與一第二開關(guān)元件382， 則顯示面板的陣列基板30具有一第一控制線CLl與一第二控制線CL2、或者是各選擇單元 38可具有兩個第二開關(guān)元件381與一第二開關(guān)元件382，則顯示面板的陣列基板30具有兩 條第一控制線CLl與一第二控制線CL2。如圖2所示，測試陣列40位于基板32的周邊區(qū)32P內(nèi)，其中測試陣列40包括多個 測試單元40U，各測試單元40U包括多條測試線401用以輸入測試信號，且各測試單元40U 的各測試線401分別與對應(yīng)的一顯示數(shù)據(jù)輸入墊單元36的第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊361電性 連接。此外，測試陣列40另包括多條第三控制線403、多個開關(guān)元件40S、多個測試信號輸 入墊402與多個第三控制信號輸入墊40P，其中各開關(guān)元件40S分別與對應(yīng)的一測試線401 與對應(yīng)的一第三控制線403電性連接，各測試信號輸入墊402與各測試單元40U的測試線 401的一端電性連接，且第三控制信號輸入墊40P則分別與對應(yīng)的第三控制線403電性連 接。也就是說，各開關(guān)元件40S的第一端(或稱為柵極)連接至對應(yīng)的第三控制線403、各 開關(guān)元件40S的第二端(或稱為源極)連接至對應(yīng)的測試線401、以及各開關(guān)元件40S的 第三端(或稱為漏極)連接至對應(yīng)的第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊361。各測試單元40U的測試線 401的數(shù)目，與第三控制線403的數(shù)目以及第三控制信號輸入墊40P的數(shù)目為相匹配。舉 例而言，在本實(shí)施例中，各測試單元40U分別具有12條測試線401，且測試陣列40也具有 12條第三控制線403以及12個第三控制信號輸入墊40P，但并不以此為限。本發(fā)明的所有 測試單元40U的測試線401的總數(shù)與所有數(shù)據(jù)線單元DLU的第一數(shù)據(jù)線DLl與第二數(shù)據(jù)線 DL2的總數(shù)之比為1 N，其中N為大于等于3的正整數(shù)。舉例而言，在本實(shí)施例中，由于各 數(shù)據(jù)線DLU包括一第一數(shù)據(jù)線DLl與兩條第二數(shù)據(jù)線DL2，因此測試線401的總數(shù)與第一數(shù) 據(jù)線DLl與第二數(shù)據(jù)線DL2的總數(shù)之比為1 3，但本發(fā)明的應(yīng)用并不以此為限。例如，依 據(jù)像素設(shè)計(jì)的不同，例如各像素由四個或五個或六個不同顏色的次像素組成時，測試線401 的總數(shù)與第一數(shù)據(jù)線DLl與第二數(shù)據(jù)線DL2的總數(shù)之比也可為1 4、1 5或1 6。再 者，依據(jù)測試機(jī)制的不同，測試線401的總數(shù)與第一數(shù)據(jù)線DLl與第二數(shù)據(jù)線DL2的總數(shù)之 比也可作適當(dāng)變更，而不以上述比例為限。此外，開關(guān)元件40S可為例如薄膜晶體管元件， 且薄膜晶體管元件可為P型薄膜晶體管元件或N型薄膜晶體管元件，但不以此為限。舉例 而言，開關(guān)元件40S也可為金屬氧化物半導(dǎo)體晶體管元件或其它各種型式的開關(guān)元件。另外，旁通單元42位于基板32的周邊區(qū)32P內(nèi)，其中各旁通單元42包括至少一 旁通線421，且各旁通單元42的旁通線421的一端電性連接至對應(yīng)的第二顯示數(shù)據(jù)輸入墊 362，且旁通線421的另一端電性連接至對應(yīng)的第二數(shù)據(jù)線DL2。也就是說，旁通線421的另
8一端不經(jīng)過/不經(jīng)由選擇單元38，而可電性連接至對應(yīng)的第二數(shù)據(jù)線DL2以及對應(yīng)的第二 開關(guān)元件382。在本實(shí)施例中，各旁通單元42包括兩條旁通線421，且各旁通線421的一端 分別與各顯示數(shù)據(jù)輸入墊單元36的兩個第二顯示數(shù)據(jù)輸入墊362電性連接。以下針對本發(fā)明的顯示面板的陣列基板的測試方法與顯示方法分別進(jìn)行詳述，其 中在一測試模式下，驅(qū)動芯片并未連接于顯示數(shù)據(jù)輸入墊單元36上，而在一顯示模式下， 驅(qū)動芯片(圖未示)已連接于顯示數(shù)據(jù)輸入墊單元36上。請參考圖4，并一并參考圖2與圖3。圖4示出了本發(fā)明的顯示面板的陣列基板于 一測試模式下的控制信號時序圖。本發(fā)明的一優(yōu)選實(shí)施例的顯示面板的陣列基板的測試方 法包括下列步驟。于測試模式下，關(guān)閉致能開關(guān)元件ENB，借此使第一控制線CLl與兩條第 二控制線CL2未與第一信號源DCl以及第二信號源DC2電性連接。此時，測試機(jī)臺(圖未 示)會通過第一控制信號輸入墊391與兩個第二控制信號輸入墊392依序輸入的第一控制 信號CK1、第二控制信號CK2，CK3，借此依序開啟各選擇單元38的第一開關(guān)元件381與兩個 第二開關(guān)元件382。另外，測試機(jī)臺也會通過第三控制信號輸入墊40P依序輸入具有不同時 序的第三控制信號CTP1，CTP2...，，而依序開啟測試陣列40的多個開關(guān)元件40S ；同時，測 試機(jī)臺還會通過測試信號輸入墊402輸入測試信號Vtest,由于開關(guān)元件40S會依序開啟，因 此測試信號Vtest可依序經(jīng)由不同的測試線401傳遞至各顯示數(shù)據(jù)輸入墊單元36的第一顯 示數(shù)據(jù)輸入墊361，而由于各選擇單元38的第一開關(guān)元件381與第二開關(guān)元件382會依序 開啟，因此測試信號Vtest可依序傳送至第一數(shù)據(jù)線DLl與第二數(shù)據(jù)線DL2。通過選擇單元38的設(shè)置，本發(fā)明可使用較少量的測試信號輸入墊40P與測試線 401進(jìn)行測試而可有效降低測試成本與時間。舉例而言，若數(shù)據(jù)線的數(shù)目為1080條，則本實(shí) 施例在測試線401的總數(shù)與第一數(shù)據(jù)線DLl與第二數(shù)據(jù)線DL2的總數(shù)之比為1 3的架構(gòu) 下，僅需設(shè)置360條測試線401與30個測試信號輸入墊402。當(dāng)顯示面板的陣列基板30于進(jìn)行測試后確認(rèn)無缺陷存在時，則可將驅(qū)動芯片(圖 未示)連接在顯示數(shù)據(jù)輸入墊單元36上并進(jìn)行后續(xù)彩色濾光片基板(圖未示)的組裝以 及液晶層(圖未示)的填充以制作出顯示面板。本發(fā)明的一優(yōu)選實(shí)施例的顯示面板的陣列 基板的顯示方法包括下列步驟。于顯示模式下，開啟各選擇單元38的第一開關(guān)元件381而 使各數(shù)據(jù)線單元DLU的第一數(shù)據(jù)線DLl接收到驅(qū)動芯片經(jīng)由第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊361所傳 遞的顯示數(shù)據(jù)信號，以及關(guān)閉第二開關(guān)元件382而使得驅(qū)動芯片所發(fā)出的顯示數(shù)據(jù)信號無 法通過第二開關(guān)元件382，而會通過對應(yīng)的旁通單元42的旁通線421傳送至各數(shù)據(jù)線單元 DLU的第二數(shù)據(jù)線DL2。在本實(shí)施例中，于顯示模式下，第一開關(guān)元件381的開啟與第二開 關(guān)元件382的關(guān)閉利用下列方式達(dá)成。將致能開關(guān)元件ENB開啟，而第一信號源DCl會提 供一第一信號開啟第一開關(guān)元件381，且第二信號源DC2會提供一第二信號關(guān)閉第二開關(guān) 元件382。在本實(shí)施例中，例如在第一開關(guān)元件381與第二開關(guān)元件382使用P型薄膜晶 體管元件的狀況下，第一信號源DCl與第二信號源DC2優(yōu)選可分別使用顯示面板的柵極低 電壓與柵極高電壓來控制第一開關(guān)元件381的開啟與第二開關(guān)元件382的關(guān)閉，或是例如 在第一開關(guān)元件381與第二開關(guān)元件382使用N型薄膜晶體管元件的狀況下，第一信號源 DCl與第二信號源DC2優(yōu)選可分別使用顯示面板的柵極高電壓與柵極低電壓來控制第一開 關(guān)元件381的開啟與第二開關(guān)元件382的關(guān)閉，因此不需額外設(shè)置其它信號源而可節(jié)省成 本。
9
綜上所述，本發(fā)明的顯示面板的陣列基板利用選擇單元的設(shè)置，可于測試模式下 使數(shù)據(jù)線接收由測試機(jī)臺經(jīng)由測試線所傳遞的測試信號，以及于顯示模式時使數(shù)據(jù)線接收 由驅(qū)動芯片經(jīng)由顯示數(shù)據(jù)輸入墊所傳遞的顯示數(shù)據(jù)信號，因此可減少陣列基板的制作成本 與測試時間。以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，凡依本發(fā)明權(quán)利要求所做的均等變化與修 飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
一種顯示面板的陣列基板，包括一基板，包括一有源區(qū)與一周邊區(qū)；一像素陣列，位于該基板的該有源區(qū)內(nèi)，其中該像素陣列包括多個數(shù)據(jù)線單元，各所述數(shù)據(jù)線單元包括一第一數(shù)據(jù)線與至少一第二數(shù)據(jù)線；多個顯示數(shù)據(jù)輸入墊單元，位于該基板的該周邊區(qū)內(nèi)，其中各所述顯示數(shù)據(jù)輸入墊單元包括一第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊與至少一第二顯示數(shù)據(jù)輸入墊，用以輸入顯示數(shù)據(jù)信號；多個選擇單元，設(shè)置于該基板的該周邊區(qū)內(nèi)，各所述選擇單元包括一第一開關(guān)元件與至少一第二開關(guān)元件，各所述選擇單元的該第一開關(guān)元件的一輸出端與各所述數(shù)據(jù)線單元的對應(yīng)的該第一數(shù)據(jù)線電性連接，各所述選擇單元的該至少一第二開關(guān)元件的一輸出端與各所述數(shù)據(jù)線單元的對應(yīng)的該第二數(shù)據(jù)線電性連接，各所述選擇單元的該第一開關(guān)元件的一輸入端與該至少一第二開關(guān)元件的一輸入端均與對應(yīng)的一顯示數(shù)據(jù)輸入墊單元的該第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊電性連接；一測試陣列，位于該基板的該周邊區(qū)內(nèi)，其中該測試陣列包括多個測試單元，各所述測試單元包括多條測試線用以輸入測試信號，各所述測試單元的各所述測試線分別與對應(yīng)的一顯示數(shù)據(jù)輸入墊單元的該第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊電性連接；以及多個旁通單元，位于該基板的該周邊區(qū)內(nèi)，其中各所述旁通單元包括至少一旁通線，且各所述旁通單元的所述至少一旁通線分別電性連接對應(yīng)的該至少一第二顯示數(shù)據(jù)輸入墊與對應(yīng)的一第二數(shù)據(jù)線。
2.如權(quán)利要求1所述的顯示面板的陣列基板，其中于一測試模式下，各所述選擇單元 的該第一開關(guān)元件與該至少一第二開關(guān)元件為依序開啟而使各所述數(shù)據(jù)線單元的該第一 數(shù)據(jù)線與該至少一第二數(shù)據(jù)線依序接收到由對應(yīng)的一測試線所傳遞的測試信號。
3.如權(quán)利要求1所述的顯示面板的陣列基板，其中于一顯示模式下，各所述選擇單元 的該第一開關(guān)元件為開啟而使各所述數(shù)據(jù)線單元的該第一數(shù)據(jù)線接收到該第一顯示數(shù)據(jù) 輸入墊所傳遞的顯示數(shù)據(jù)信號，且該至少一第二開關(guān)元件為關(guān)閉，而使各所述數(shù)據(jù)線單元 的該至少一第二數(shù)據(jù)線通過對應(yīng)的各所述旁通單元的該至少一旁通線接收到該至少一第 二顯示數(shù)據(jù)輸入墊所傳遞的顯示數(shù)據(jù)信號。
4.如權(quán)利要求1所述的顯示面板的陣列基板，還包括一第一控制線與至少一第二控制 線，其中該第一控制線與各所述選擇單元的該第一開關(guān)元件的一控制端電性連接，且該至 少一第二控制線與各所述選擇單元的該至少一第二開關(guān)元件的一控制端電性連接。
5.如權(quán)利要求4所述的顯示面板的陣列基板，還包括一第一信號源、一第二信號源以 及一致能開關(guān)元件，該致能開關(guān)元件用以控制該第一信號源與該第一控制線的電性連接， 以及用以控制該第二信號源與該第二控制線的電性連接。
6.如權(quán)利要求1所述的顯示面板的陣列基板，其中該測試陣列還包括多條第三控制 線與多個開關(guān)元件，各所述開關(guān)元件分別與對應(yīng)的一測試線與對應(yīng)的一第三控制線電性連 接，且所述多條第三控制線可控制所述多個開關(guān)元件依序開啟而使測試信號依序傳遞至各 所述顯示數(shù)據(jù)輸入墊單元的該第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊。
7.如權(quán)利要求6所述的顯示面板的陣列基板，其中該測試陣列還包括多個測試信號輸 入墊，且各所述測試信號輸入墊與各所述測試單元的所述測試線的一端電性連接。
8.如權(quán)利要求1所述的顯示面板的陣列基板，其中所述多個測試單元的所述測試線的總數(shù)與所述多個數(shù)據(jù)線單元的所述第一數(shù)據(jù)線與所述第二數(shù)據(jù)線的總數(shù)之比為1 N，其 中N為大于等于3的正整數(shù)。
9.一種顯示面板的陣列基板，包括一基板，包括一有源區(qū)與一周邊區(qū)；一第一數(shù)據(jù)線與至少一第二數(shù)據(jù)線，位于該基板的該有源區(qū)內(nèi)；一第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊與至少一第二顯示數(shù)據(jù)輸入墊，位于該基板的該周邊區(qū)內(nèi)；一第一開關(guān)元件與至少一第二開關(guān)元件，位于該基板的該周邊區(qū)內(nèi)，其中該第一開關(guān) 元件的一輸出端與該第一數(shù)據(jù)線電性連接，該至少一第二開關(guān)元件的一輸出端與該至少一 第二數(shù)據(jù)線電性連接，該第一開關(guān)元件的一輸入端與該至少一第二開關(guān)元件的一輸入端均 與該第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊電性連接；一測試線，位于該基板的該周邊區(qū)內(nèi)，且該測試線與該第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊電性連接；以及至少一旁通線，位于該基板的該周邊區(qū)內(nèi)，且該至少一旁通線分別電性連接該至少一 第二顯示數(shù)據(jù)輸入墊與該至少一第二數(shù)據(jù)線。
10.如權(quán)利要求9所述的顯示面板的陣列基板，其中于一測試模式下，該第一開關(guān)元件 與該至少一第二開關(guān)元件為依序開啟而使該第一數(shù)據(jù)線與該至少一第二數(shù)據(jù)線依序接收 到由該測試線所傳遞的一測試信號。
11.如權(quán)利要求9所述的顯示面板的陣列基板，其中于一顯示模式下，該第一開關(guān)元件 為開啟而使該第一數(shù)據(jù)線接收到該第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊所傳遞的一第一顯示數(shù)據(jù)信號，且 該至少一第二開關(guān)元件為關(guān)閉，而使該至少一第二數(shù)據(jù)線通過該至少一旁通線接收到該至 少一第二顯示數(shù)據(jù)輸入墊所傳遞的一第二顯示數(shù)據(jù)信號。
12.如權(quán)利要求9所述的顯示面板的陣列基板，還包括一第一控制線與至少一第二控 制線，其中該第一控制線與該第一開關(guān)元件的一控制端電性連接，且該至少一第二控制線 與該至少一第二開關(guān)元件的一控制端電性連接。
13.如權(quán)利要求12所述的顯示面板的陣列基板，還包括一第一信號源、一第二信號源 以及一致能開關(guān)元件，該致能開關(guān)元件用以控制該第一信號源與該第一控制線的電性連 接，以及用以控制該第二信號源與該第二控制線的電性連接。
14.一種顯示面板的測試方法，包括提供如權(quán)利要求9所述的顯示面板的陣列基板；對該測試線施加一測試信號；以及依序開啟該第一開關(guān)元件與該至少一第二開關(guān)元件，以使該測試信號依序傳遞至該第 一數(shù)據(jù)線與該至少一第二數(shù)據(jù)線。
15.一種顯示面板的顯示方法，包括提供如權(quán)利要求9所述的顯示面板的陣列基板；開啟該第一開關(guān)元件，并對該第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊輸入一第一顯示數(shù)據(jù)信號，以使該 第一顯示數(shù)據(jù)信號經(jīng)由該第一開關(guān)元件傳遞至該第一數(shù)據(jù)線；以及關(guān)閉該至少一第二開關(guān)元件，并對該至少一第二顯示數(shù)據(jù)輸入墊輸入一第二顯示數(shù)據(jù) 信號，以使該第二顯示數(shù)據(jù)信號經(jīng)由該至少一旁通線傳遞至該至少一第二數(shù)據(jù)線。
全文摘要
一種顯示面板的陣列基板與顯示面板的測試方法及顯示方法，所述顯示面板的陣列基板包括一基板、一第一數(shù)據(jù)線與至少一第二數(shù)據(jù)線、一第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊與至少一第二顯示數(shù)據(jù)輸入墊、一第一開關(guān)元件與至少一第二開關(guān)元件、一測試線以及至少一旁通線。第一開關(guān)元件的一輸出端與第一數(shù)據(jù)線電性連接，第二開關(guān)元件的一輸出端與第二數(shù)據(jù)線電性連接，第一開關(guān)元件的一輸入端與第二開關(guān)元件的一輸入端均與第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊電性連接。測試線與第一顯示數(shù)據(jù)輸入墊電性連接。旁通線分別電性連接第二顯示數(shù)據(jù)輸入墊與第二數(shù)據(jù)線。本發(fā)明可減少陣列基板的制作成本與測試時間。
文檔編號G02F1/13GK101969059SQ20101025700
公開日2011年2月9日 申請日期2010年8月17日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月17日
發(fā)明者劉俊彥 申請人:友達(dá)光電股份有限公司