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線缺陷判斷裝置及線缺陷判斷方法

文檔序號:2753040閱讀:136來源:國知局
專利名稱:線缺陷判斷裝置及線缺陷判斷方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及顯示裝置,尤其涉及平面顯示裝置的線缺陷判斷裝置、平面顯示裝置的線缺陷判斷方法以及液晶顯示裝置的線缺陷判斷方法。
背景技術(shù)
平面顯示裝置包括顯示面板、掃描驅(qū)動器和數(shù)據(jù)驅(qū)動器。掃描驅(qū)動向形成在顯示面板上的多條掃描線順次輸出掃描驅(qū)動信號,數(shù)據(jù)驅(qū)動器向顯示面板上的數(shù)據(jù)線輸出R、G、B圖像信號。平面顯示裝置的非限制性的示例包括液晶顯示裝置、場發(fā)射顯示裝置、等離子體顯示面板、發(fā)光顯示裝置等。在上述平面顯示裝置中,數(shù)據(jù)線或者驅(qū)動線斷線會使得顯示品質(zhì)大大降低。下面以液晶顯示裝置為例,說明這種線缺陷對顯示品質(zhì)的影響,在液晶顯示裝置的制作工藝過程中,沉膜質(zhì)量的好壞、環(huán)境的潔凈度、靜電放電 (ElectrostaticDischarge或者ESD)、設(shè)備等問題都不可避免的使得掃描線發(fā)生斷路或者給像素提供電壓的數(shù)據(jù)線發(fā)生斷路而產(chǎn)生線缺陷。線缺陷發(fā)生在液晶顯示裝置的短路棒區(qū)域,也發(fā)生在短路棒區(qū)域和外圍區(qū)域。無論線缺陷發(fā)生在短路棒區(qū)域或者外圍區(qū)域,都會使得顯示品質(zhì)大大降低?,F(xiàn)有技術(shù)中,在外圍區(qū)域存在線缺陷時,可以通過設(shè)計修復環(huán)進行修復,圖1示意出包括修復環(huán)的液晶顯示裝置,如圖1所示,該液晶顯示裝置包括數(shù)據(jù)線Dl至數(shù)據(jù)線Dru修復環(huán)1A、1B。修復環(huán)IA和IB位于顯示區(qū)域的外圍,用不同于數(shù)據(jù)線Dl至Dn的材料做成, 比如掃描線金屬、像素電極金屬等等。當顯示區(qū)域有數(shù)據(jù)線發(fā)生斷路時,比如數(shù)據(jù)線Dl和數(shù)據(jù)線D2,就可以利用修復環(huán)IA和IB進行修復,第一種方式是在Sl和S3處分別進行激光熔接修復環(huán)IA而修復數(shù)據(jù)線Dl的線缺陷,在S2和S4處用激光熔接修復環(huán)IB而修復數(shù)據(jù)線D2的線缺陷;第二種方式是在S5和S7處用激光熔接修復環(huán)IB而修復數(shù)據(jù)線Dl的線缺陷,在S6和S8處用激光熔接修復環(huán)IA而修復數(shù)據(jù)線D2的線缺陷。但是,在短路棒區(qū)域存在線缺陷時,不能通過設(shè)計修復環(huán)進行修復,產(chǎn)品只能報廢。又因為,短路棒只是在制盒段測試的時候使用,測試結(jié)束即失去作用,不會用來當做電路通道,因此,短路棒區(qū)域的線缺陷對產(chǎn)品的顯示品質(zhì)不會有影響,而目前的技術(shù)不能判斷線缺陷發(fā)生在短路棒區(qū)域和外圍區(qū)域,因此,短路棒區(qū)域存在線缺陷的液晶顯示裝置也被報廢,造成浪費。而為了避免這種浪費,通常采取的做法是花很多的時間先判斷線缺陷是在短路棒區(qū)域還是在外圍區(qū)域,然后將線缺陷在外圍區(qū)域的產(chǎn)品報廢,這種方式會造成時間和成本的浪費。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明解決的問題是現(xiàn)有技術(shù)無法判斷線缺陷發(fā)生在短路棒區(qū)域還是外圍區(qū)域的問題。為解決上述問題,本發(fā)明提供一種平面顯示裝置的線缺陷判斷裝置,該平面顯示裝置的線缺陷判斷裝置設(shè)置于所述平面顯示裝置的短路棒區(qū)域和顯示區(qū)域之間,其包括金屬層和有源層,有源層覆蓋金屬層,并且有源層和顯示裝置的驅(qū)動線連接,所述有源層在金屬層加電時導通所述顯示裝置的驅(qū)動線??蛇x地,所述金屬層為柵極金屬層??蛇x地,所述柵極金屬層的金屬為鋁或鋁釹合金??蛇x地,所述金屬層位于有源層之上或者位于有源層之下??蛇x地,所述與有源層連接的顯示裝置的驅(qū)動線為數(shù)據(jù)線或者掃描線??蛇x地,所述有源層為非晶硅層??蛇x地,所述金屬層與所述短路棒位于同一層。一種前述的線缺陷判斷裝置判斷線缺陷的方法包括下述步驟對所述平面顯示裝置的驅(qū)動線加電,判斷是否產(chǎn)生斷線現(xiàn)象;若有驅(qū)動線產(chǎn)生斷線現(xiàn)象,則對所述線缺陷判斷裝置的金屬層加電,判斷所述驅(qū)動線的斷線現(xiàn)象是否消除;若所述驅(qū)動線的斷線現(xiàn)象消除, 則判定所述驅(qū)動線的斷線位置在短路棒區(qū)域,反之,則判定所述驅(qū)動線的斷線位置在外圍區(qū)域??蛇x地,所述驅(qū)動線產(chǎn)生斷線現(xiàn)象是指在黑畫面顯示模式下,所述驅(qū)動線斷線顯示為亮線。可選地,所述驅(qū)動線為掃描線或者數(shù)據(jù)線。一種液晶顯示裝置的線缺陷判斷方法包括下述步驟通過短路棒對所述液晶顯示裝置的驅(qū)動線加電,判斷是否出現(xiàn)驅(qū)動線斷線顯示;若出現(xiàn)斷線顯示,在所述液晶顯示裝置的短路棒區(qū)域外導通所有驅(qū)動線,判斷所述驅(qū)動線的斷線顯示是否消除;若所述驅(qū)動線的斷線顯示消除,則判定所述驅(qū)動線的斷線位置在短路棒區(qū)域,反之,則判定所述驅(qū)動線的斷線位置在外圍區(qū)域。可選地,所述驅(qū)動線產(chǎn)生斷線顯示是指在黑畫面顯示模式下,所述驅(qū)動線斷線顯示為亮線??蛇x地,所述導通所有驅(qū)動線包括通過激發(fā)電子導通所有驅(qū)動線。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明具有以下優(yōu)點本發(fā)明首先通過短路棒給液晶顯示裝置的驅(qū)動線加電,判斷是否發(fā)生斷線現(xiàn)象, 然后對本判斷裝置的金屬層加電而導通所述驅(qū)動線而判斷所述斷線現(xiàn)象是否消除(比如, 亮線的條數(shù)的減少)來確定斷線的具體位置(線缺陷發(fā)生在短路棒區(qū)域還是外圍區(qū)域),這樣,可以對線缺陷位置進行甄別,而僅僅將需要修復的平面顯示裝置選擇出來采用前述設(shè)計修復環(huán)的方法進行修復,而不用像現(xiàn)有技術(shù)那樣,將短路棒區(qū)域或者外圍區(qū)域存在線缺陷的平面顯示裝置報廢,節(jié)約了成本,而且,也不用先判斷哪條數(shù)據(jù)線存在線缺陷,然后判斷線缺陷的具體位置而選擇修復或者報廢,節(jié)約了時間和成本。


圖1是現(xiàn)有技術(shù)中線缺陷的修復結(jié)構(gòu)示意圖;圖2是本發(fā)明液晶顯示裝置的線缺陷的判斷裝置的剖視圖;圖3是本發(fā)明液晶顯示裝置的線缺陷的判斷方法的流程圖;圖4是本發(fā)明液晶顯示裝置的線缺陷判斷裝置用于液晶顯示裝置的第一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖5是本發(fā)明液晶顯示裝置的線缺陷判斷裝置用于液晶顯示裝置的第二實施例的結(jié)構(gòu)示意圖;圖6是圖5中開關(guān)的剖視圖。
具體實施例方式本發(fā)明的發(fā)明人在制造平面顯示裝置的過程中,發(fā)現(xiàn)沉膜質(zhì)量的好壞、環(huán)境的潔凈度、ESD、設(shè)備等問題都不可避免的產(chǎn)生線路斷路,這種線路斷路可能存在于短路棒區(qū)域, 也可能存在于外圍區(qū)域。而目前通用的判斷方法僅僅能夠判斷是哪條線路或者哪幾條線路發(fā)生斷路,而不能確定線路斷路是發(fā)生在外圍區(qū)域還是發(fā)生在短路棒區(qū)域。為此,請參閱圖2和圖4,本發(fā)明提供了一種平面顯示裝置的線缺陷判斷裝置400。 該判斷裝置設(shè)置于所述平面顯示裝置的短路棒區(qū)域200與顯示區(qū)域100之間,更具體的是設(shè)置在短路棒區(qū)域200外靠近激光切割線500處,激光切割線500是將短路棒從顯示裝置切割掉的分界線,因為,短路棒在測試時候?qū)⒓t、或綠或藍的信號線連接在一起,在測試完成貼上驅(qū)動電路(IC)后,這與驅(qū)動電路的信號需要傳遞給每一條信號線相矛盾,無法實現(xiàn)多彩顯示,因此,需要沿激光切割線500將短路棒切掉,從而,使得各信號線分開,短路棒區(qū)域200包括第一短路棒11、第二短路棒12和第三短路棒13。請參閱圖2和圖4,該平面顯示裝置線缺陷判斷裝置400包括金屬層401和有源層 402。所述金屬層401為柵極金屬層,或者為鋁或鋁釹合金層,金屬層401與所述短路棒位于同一層。有源層402為非晶硅層且覆蓋所述金屬層401上,所述有源層402連接所述平面顯示裝置的數(shù)據(jù)線Dl至數(shù)據(jù)線Dn,圖2僅僅是示意,顯示了有源層402連接數(shù)據(jù)線D1、 數(shù)據(jù)線D2和數(shù)據(jù)線D3。如圖4或者圖5所示,所述數(shù)據(jù)線與金屬層401異面且與金屬層 401呈交叉狀,也即所述判斷裝置400與數(shù)據(jù)線中的任何一條構(gòu)成兩條空間內(nèi)相互垂直的直線,進而,數(shù)據(jù)線與金屬層401也呈異面垂直排列,采用這樣的方式,所述判斷裝置400是從下至上包括金屬層401、有源層402和位于有源層402上的若干數(shù)據(jù)線的底柵結(jié)構(gòu),或者, 所述判斷裝置400也可以是從下至上包括若干數(shù)據(jù)線、有源層402和金屬層401的頂柵結(jié)構(gòu),也就是所述金屬層401位于有源層402之上或者位于有源層402之下。對應(yīng)的,本發(fā)明還提供了一種用前述線缺陷判斷裝置400判斷液晶顯示裝置線缺陷的方法,如圖3所示,該方法包括如下步驟Sll 通過短路棒對所述液晶顯示裝置的驅(qū)動線加電,判斷是否出現(xiàn)驅(qū)動線斷線顯示;S12 若出現(xiàn)斷線顯示,在所述液晶顯示裝置的短路棒區(qū)域外導通所有驅(qū)動線,判斷所述驅(qū)動線的斷線顯示是否消除;S13 若所述驅(qū)動線的斷線現(xiàn)象消除,則判定所述驅(qū)動線的斷線位置在短路棒區(qū)域,反之,則判定所述驅(qū)動線的斷線位置在外圍區(qū)域。下面結(jié)合圖3和圖4并以所述驅(qū)動線為數(shù)據(jù)線為例,詳細說明本發(fā)明的線缺陷判斷方法,如圖4所示,本實施方式的液晶顯示裝置包括顯示區(qū)域100、短路棒區(qū)域200和位于顯示區(qū)域100和短路棒區(qū)域200之間的外圍區(qū)域300。顯示區(qū)域100引出數(shù)據(jù)線Dl至數(shù)據(jù)線Dn。外圍區(qū)域300位于顯示區(qū)域100和短路棒區(qū)域200之間。短路棒區(qū)域200包括第一短路棒11、第二短路棒12和第三短路棒13。第一短路棒11、第二短路棒12和第三短路棒13分別用以傳送紅(R)、綠(G)、藍⑶信號,也就是在使用時,從顯示區(qū)域100引出的數(shù)據(jù)線Dl至數(shù)據(jù)線Dn經(jīng)過外圍區(qū)域300后與短路棒連接,比如,傳送紅色信號的數(shù)據(jù)線均與第一短路棒11連接,傳送綠色信號的數(shù)據(jù)線均與第二短棒12連接,傳送藍色信號的數(shù)據(jù)線均與第三短路棒13連接。請參閱圖3和圖4,執(zhí)行步驟Sll,對所述液晶顯示顯示裝置的驅(qū)動線加電,判斷是否產(chǎn)生斷線現(xiàn)象。顯示裝置是常白模式下的液晶顯示裝置,也就是在不加電的情況下,液晶顯示裝置顯示白色,在加電的情況下,液晶顯示裝置顯示黑色的模式。當然,對液晶顯示裝置加電, 可以直接對所述第一短路棒11、第二短路棒12和第三短路棒13加電,加電后,電流通過第一短路棒11、第二短路棒12和第三短路棒13傳輸至數(shù)據(jù)線Dl至數(shù)據(jù)線Dn,也可以采用其他方式加電而使得顯示區(qū)域顯示圖像。假設(shè)數(shù)據(jù)線Dl至數(shù)據(jù)線Dn中的數(shù)據(jù)線D3的斷路位置發(fā)生在外圍區(qū)域300,數(shù)據(jù)線Dn-I發(fā)生斷路的位置在短路棒區(qū)域200時,在常白模式下的液晶顯示裝置,通過第一短路棒11、第二短路棒12和第三短路棒13對液晶顯示裝置的數(shù)據(jù)線Dl至數(shù)據(jù)線Dn加電,數(shù)據(jù)線D1、D2、D4至Dn-2、Dn加電后液晶分子發(fā)生偏轉(zhuǎn),使得光線無法透過,整個畫面呈黑色,而在此種情況下,由于數(shù)據(jù)線D3、數(shù)據(jù)線Dn-I斷路,電壓不能通過數(shù)據(jù)線D3、數(shù)據(jù)線Dn-I作用于液晶分子使得液晶分子不發(fā)生偏轉(zhuǎn),從而,數(shù)據(jù)線D3 和數(shù)據(jù)線Dn-I顯示兩條亮線。因此,判斷為數(shù)據(jù)線D3、數(shù)據(jù)線Dn-I有線缺陷顯示現(xiàn)象;如果在通電的情況下,整個顯示區(qū)域100沒有亮線,則,數(shù)據(jù)線Dl至數(shù)據(jù)線Dn不存在線缺陷現(xiàn)象。請繼續(xù)參閱圖3和圖4,執(zhí)行步驟S12 若有驅(qū)動線產(chǎn)生斷線現(xiàn)象,則在所述液晶顯示裝置的短路棒區(qū)域外導通所有驅(qū)動線,判斷所述驅(qū)動線的斷線顯示是否消除,判斷所述驅(qū)動線的斷線現(xiàn)象是否消除。在數(shù)據(jù)線有斷線現(xiàn)象時,如圖4中,數(shù)據(jù)線D3和數(shù)據(jù)線Dn-I存在線缺陷,此時,在所述液晶顯示裝置的短路棒區(qū)域?qū)ㄋ序?qū)動線采用對所述判斷裝置400的金屬層401加電,金屬層401通電后使得有源層402產(chǎn)生激發(fā)電子,在該激發(fā)電子的作用下,數(shù)據(jù)線D1、 D2、D4至數(shù)據(jù)線Dn被導通,數(shù)據(jù)線Dn-I處的亮線消失,數(shù)據(jù)線D3處的亮線還存在,從而, 通過設(shè)置在短路棒區(qū)域200的判斷裝置400給短路棒區(qū)域200外的數(shù)據(jù)線加電,所述數(shù)據(jù)線Dn-I的斷線現(xiàn)象消除,數(shù)據(jù)線D3的斷線現(xiàn)象沒有消除。請繼續(xù)參閱圖3和圖4,執(zhí)行步驟S13 若所述驅(qū)動線的斷線現(xiàn)象消除,則判定所述驅(qū)動線的斷線位置在短路棒區(qū)域,反之,則判定所述驅(qū)動線的斷線位置在外圍區(qū)域。從步驟S12中可知,數(shù)據(jù)線的斷線現(xiàn)象有消除,則,發(fā)生斷線的位置在短路棒區(qū)域 200。因為在第二次加電的時,數(shù)據(jù)線Dn-I上的亮線消失并且判斷裝置400設(shè)置在短路棒區(qū)域200,因此,在判斷裝置400的有源層402產(chǎn)生激發(fā)電子而導通數(shù)據(jù)線Dl至數(shù)據(jù)線Dn 后時,數(shù)據(jù)線Dn-I的斷線位置距離激光切割線500的距離大于判斷裝置400距離激光切割線500的距離,數(shù)據(jù)線Dn-I至顯示區(qū)域100的一段是完整的線路,電流能夠通過,亮線會消失,所以,在對判斷裝置400的金屬層401加電后且在亮線消失的情況下,可以判斷數(shù)據(jù)線Dn-I的斷線位置在短路棒區(qū)域200。測試結(jié)束后,貼上驅(qū)動電路(IC)前,需要沿著激光切割線500將數(shù)據(jù)線Dl至數(shù)據(jù)線Dn與第一短路棒11、第二短路棒12和第三短路棒13切斷,然后將數(shù)據(jù)線Dl至數(shù)據(jù)線Dn與驅(qū)動電路連接,因此,即使短路棒區(qū)域200存在斷路也不影響液晶顯示裝置的具體工作,由此可以判斷該產(chǎn)品不可以報廢。而對于如數(shù)據(jù)線D3的斷路位置發(fā)生在外圍區(qū)域300的情況,通過設(shè)計修復環(huán)進行修復,如果修復不成功,則將產(chǎn)品報廢。因此,通過本發(fā)明,能夠區(qū)別數(shù)據(jù)線發(fā)生線缺陷是在短路棒區(qū)域200還是在外圍區(qū)域300,并且,甄別出斷線的具體位置,然后對需要修復的顯示裝置設(shè)計修復環(huán)進行修復,如果修復不成功,再進行報復,避免了浪費,也不用先判斷哪條數(shù)據(jù)線存在線缺陷,然后判斷線缺陷的具體位置而選擇修復或者報廢,節(jié)約了時間和成本。請參閱圖5和圖6,圖5和圖6為本發(fā)明的第二個實施例,該實施例中的液晶顯示裝置也包括短路棒區(qū)域200、外圍區(qū)域300、第一短路棒11、第二短路棒12、第三短路棒13 等等。該實施例與第一實施例的區(qū)別在于,所述短路棒區(qū)域200設(shè)置有開關(guān)600。請參閱圖6,所述開關(guān)600包括金屬層601和第一有源層602。金屬層601與所述判斷裝置400的金屬層401為同一層。第一有源層602位于金屬層601上。第一有源層 602上連接的數(shù)據(jù)線Dl至數(shù)據(jù)線Dn,數(shù)據(jù)線Dl至數(shù)據(jù)線Dn由第一有源層602上的多個節(jié)點NODl至NODn(圖中僅僅示意圖兩個節(jié)點N0D1、N0D》連接至相應(yīng)的第一短路棒11、第二短路棒12和第三短路棒13。所述第一有源層602與判斷裝置400的有源層402結(jié)構(gòu)不同,第一有源層602是斷開的,并不是整個連續(xù)的面,而判斷裝置400的有源層402是連續(xù)的面。開關(guān)600的工作原理是電流不能直接通過它,只有在開關(guān)的柵極(金屬層601)通電后,電流才能通過,且通電時,因為第一有源層602是斷開,所以,數(shù)據(jù)線之間也是互相絕緣的。設(shè)置開關(guān)600的好處是將在短路棒處原本互相短路的數(shù)據(jù)線絕緣,即金屬層601不通電時所有數(shù)據(jù)線之間相互絕緣,這樣在模組制程前就無需激光切割,可以有效提高產(chǎn)能。 在模組制程中只需給金屬層601通負電壓,使它處于關(guān)閉狀態(tài),這樣數(shù)據(jù)線之間就避免了短路棒帶來的數(shù)據(jù)線之間信號互相影響的問題。請繼續(xù)參閱圖5,利用判斷裝置400且以數(shù)據(jù)線Dl和數(shù)據(jù)線Dn斷線在該實施例中判斷線缺陷的位置時,首先對開關(guān)600和通過第一短路棒11、第二短路棒12和第三短路棒 13給數(shù)據(jù)線加電,在對開關(guān)600加電后,開關(guān)600導通,同樣的,由于數(shù)據(jù)線Dl和數(shù)據(jù)線Dn 為斷線,在常白模式下,顯示裝置會出現(xiàn)兩條亮線。然后,對判斷裝置400的金屬層401加電,此時,有源層402的電子被激發(fā)而導通數(shù)據(jù)線Dn,數(shù)據(jù)線Dn的亮線消失,數(shù)據(jù)線Dl的亮線不消失,并且,因為判斷裝置400設(shè)置在短路棒區(qū)域200,因此,數(shù)據(jù)線Dn發(fā)生斷路的位置在短路棒區(qū)域200,而數(shù)據(jù)線Dl發(fā)生斷路的位置在外圍區(qū)域300。如前所述那樣,對外圍區(qū)域300存在線缺陷且無法修復成功的產(chǎn)品進行報廢處理。上述兩個實施例均以驅(qū)動線為數(shù)據(jù)線為例說明本線缺陷的判斷方法,可以理解的是,所述驅(qū)動線為掃描線時,本方法仍然可以進行線缺陷判斷,本判斷裝置400仍然可以用于判斷線缺陷裝置。綜上所述,先對所述液晶顯示裝置的所有驅(qū)動線加電,在驅(qū)動線產(chǎn)生斷線顯示現(xiàn)象時,對所述線缺陷判斷裝置的金屬層加電而導通液晶顯示裝置的所驅(qū)動線,結(jié)合判斷裝置400設(shè)置的具體位置即可得知斷線的具體位置。從而,將不需要修復的斷路甄別,不用像現(xiàn)有技術(shù)那樣,將所有存在線缺陷的顯示裝置報廢,節(jié)約了成本;另外,也不用像現(xiàn)有技術(shù)那樣,先判斷哪條數(shù)據(jù)線存在線缺陷,然后判斷線缺陷的具體位置而選擇修復或者報廢,節(jié)約了時間和成本。另外,與液晶顯示裝置類似的還包括場發(fā)射顯示裝置、等離子體顯示面板、發(fā)光顯示裝置等等,比如,該等裝置都包括數(shù)據(jù)線或者掃描線,對所述掃描線施加驅(qū)動信號而打開晶體管,然后數(shù)據(jù)線的數(shù)據(jù)輸入與晶體管的漏極相連的像素電極而實現(xiàn)顯示,上述裝置的數(shù)據(jù)線或者掃描線發(fā)生斷路,因此,作為上述實施例的延伸,本發(fā)明還提供了一種平面顯示裝置的線缺陷判斷方法,可以用來判斷場發(fā)射顯示裝置、等離子體顯示面板和發(fā)光顯示裝置等等的線缺陷。該方法包括下述步驟對所述平面顯示裝置的驅(qū)動線加電,判斷是否產(chǎn)生斷線現(xiàn)象,在該步驟中,所述驅(qū)動線產(chǎn)生斷線現(xiàn)象是指在黑畫面顯示模式下,所述驅(qū)動線斷線顯示為亮線;若有驅(qū)動線產(chǎn)生斷線現(xiàn)象,則對所述線缺陷判斷裝置的金屬層加電,判斷所述驅(qū)動線的斷線現(xiàn)象是否消除;若所述驅(qū)動線的斷線現(xiàn)象消除,則判定所述驅(qū)動線的斷線位置在短路棒區(qū)域,反之,則判定所述驅(qū)動線的斷線位置在外圍區(qū)域。所述驅(qū)動線為掃描線或者數(shù)據(jù)線。 以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選的實施例,并不構(gòu)成對本發(fā)明保護范圍的限定。應(yīng)當指出,對于本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明原理的前提下,任何在所附權(quán)利要求書所定義的本發(fā)明的實質(zhì)和范圍之內(nèi)所作的修改等同替換和改進等,均應(yīng)包含在本發(fā)明中。
權(quán)利要求
1.一種平面顯示裝置的線缺陷判斷裝置,其特征在于,所述線缺陷判斷裝置設(shè)置于所述平面顯示裝置的短路棒區(qū)域和顯示區(qū)域之間,其包括金屬層;有源層,覆蓋金屬層,并且有源層和顯示裝置的驅(qū)動線連接,所述有源層在金屬層加電時導通所述顯示裝置的驅(qū)動線。
2.如權(quán)利要求1所述的平面顯示裝置的線缺陷判斷裝置,其特征在于,所述金屬層為柵極金屬層。
3.如權(quán)利要求2所述的平面顯示裝置的線缺陷判斷裝置,其特征在于,所述柵極金屬層的金屬為鋁或鋁釹合金。
4.如權(quán)利要求1所述的平面顯示裝置的線缺陷判斷裝置,其特征在于,所述金屬層位于有源層之上或者位于有源層之下。
5.如權(quán)利要求1所述的平面顯示裝置的線缺陷判斷裝置,其特征在于,所述與有源層連接的顯示裝置的驅(qū)動線為數(shù)據(jù)線或者掃描線。
6.如權(quán)利要求1所述的平面顯示裝置的線缺陷判斷裝置,其特征在于,所述有源層為非晶娃層。
7.如權(quán)利要求1所述的平面顯示裝置的線缺陷的判斷裝置,其特征在于,所述金屬層與所述短路棒位于同一層。
8.一種應(yīng)用權(quán)利要求1至7中任一項所述的線缺陷判斷裝置判斷線缺陷的方法,其特征在于,包括下述步驟對所述平面顯示裝置的驅(qū)動線加電,判斷是否產(chǎn)生斷線現(xiàn)象;若有驅(qū)動線產(chǎn)生斷線現(xiàn)象,則對所述線缺陷判斷裝置的金屬層加電,判斷所述驅(qū)動線的斷線現(xiàn)象是否消除;若所述驅(qū)動線的斷線現(xiàn)象消除,則判定所述驅(qū)動線的斷線位置在短路棒區(qū)域,反之,則判定所述驅(qū)動線的斷線位置在外圍區(qū)域。
9.如權(quán)利要求8所述的判斷線缺陷的方法,其特征在于,所述驅(qū)動線產(chǎn)生斷線現(xiàn)象是指在黑畫面顯示模式下,所述驅(qū)動線斷線顯示為亮線。
10.如權(quán)利要求8所述的判斷線缺陷的方法,其特征在于,所述驅(qū)動線為掃描線或者數(shù)據(jù)線。
11.一種液晶顯示裝置的線缺陷判斷方法,其特征在于,包括下述步驟通過短路棒對所述液晶顯示裝置的驅(qū)動線加電,判斷是否出現(xiàn)驅(qū)動線斷線顯示;若出現(xiàn)斷線顯示,在所述液晶顯示裝置的短路棒區(qū)域外導通所有驅(qū)動線,判斷所述驅(qū)動線的斷線顯示是否消除;若所述驅(qū)動線的斷線顯示消除,則判定所述驅(qū)動線的斷線位置在短路棒區(qū)域,反之,則判定所述驅(qū)動線的斷線位置在外圍區(qū)域。
12.如權(quán)利要求11所述的液晶顯示裝置的線缺陷判斷方法,其特征在于,所述驅(qū)動線產(chǎn)生斷線顯示是指在黑畫面顯示模式下,所述驅(qū)動線斷線顯示為亮線。
13.如權(quán)利要求11所述的液晶顯示裝置的線缺陷判斷方法,其特征在于,所述導通所有驅(qū)動線包括通過激發(fā)電子導通所有驅(qū)動線。
全文摘要
一種平面顯示裝置的線缺陷判斷裝置、平面顯示裝置的線缺陷判斷方法和液晶顯示裝置的線缺陷判斷方法,其中,所述線缺陷裝置設(shè)置于所述平面顯示裝置的短路棒區(qū)域和顯示區(qū)域之間,包括金屬層和有源層。有源層覆蓋金屬層,并且有源層和顯示裝置的驅(qū)動線連接,所述有源層在金屬層加電時導通所述顯示裝置的驅(qū)動線。本發(fā)明能夠?qū)⒉恍枰迯偷臄嗦氛鐒e,從而降低生產(chǎn)時間,提高效率,節(jié)約成本。
文檔編號G02F1/1362GK102193258SQ201010120070
公開日2011年9月21日 申請日期2010年3月5日 優(yōu)先權(quán)日2010年3月5日
發(fā)明者梁艷峰, 黃賢軍 申請人:上海天馬微電子有限公司
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