專利名稱：集成電路測試器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及將受測試對象例如液晶驅(qū)動裝置等的輸出以A/D轉(zhuǎn)換器進行測定的集成電路測試器；并且涉及不須采用偏移減算器，即可進行高分辨率、高精度的測定的集成電路測試器。
背景技術(shù)：
液晶驅(qū)動裝置從多數(shù)支接腳輸出多階段(多階層)電壓，以驅(qū)動液晶顯示器。測試此種液晶驅(qū)動裝置的集成電路測試器已披露于例如日本公開專利公報第2002-98738號公報等；以下參照圖1加以說明。
于圖1中，受測試對象(以下略稱DUT；Device Under Test)1是液晶驅(qū)動裝置，從多數(shù)支接腳輸出多階段電壓。電壓產(chǎn)生單元2輸出對應DUT1的多階段電壓的偏移電壓。偏移減算器3裝置于DUT1的每支輸出接腳，用以輸入電壓產(chǎn)生單元2的輸出，并將DUT1的多階段電壓與電壓產(chǎn)生單元2的電壓二者間的電壓差加以放大后，再輸出。開關(guān)4與偏移減算器3并列而裝置。A/D轉(zhuǎn)換器5將偏移減算器3或開關(guān)4的輸出加以輸入。
以下說明如前述的裝置的操作。于DUT1的輸出在A/D轉(zhuǎn)換器5的輸入范圍內(nèi)時，將開關(guān)4切換為[ON]，而DUT1依未圖標的信號產(chǎn)生單元所輸入的輸入模式，以輸出階段電壓；再經(jīng)由開關(guān)4，輸入到A/D轉(zhuǎn)換器5。A/D轉(zhuǎn)換器5將所輸入的電壓轉(zhuǎn)換成數(shù)字數(shù)據(jù)，未圖標的計算單元即依該數(shù)字數(shù)據(jù)，以判斷DUT1是否良好。
另外，于DUT1的輸出在A/D轉(zhuǎn)換器5的輸入范圍外時，將開關(guān)4切換為[OFF]，電壓產(chǎn)生單元2將輸出偏移電壓，而DUT1依未圖標的信號產(chǎn)生單元所輸入的輸入模式，以輸出階段電壓。偏移減算器3從DUT1的輸出將偏移電壓減去之后，輸出到A/D轉(zhuǎn)換器5。A/D轉(zhuǎn)換器5將所輸入的電壓轉(zhuǎn)換成數(shù)字數(shù)據(jù)，未圖標的計算單元即依該數(shù)字數(shù)據(jù)與偏移電壓值，以判斷DUT1是否良好。
然而，如前述的裝置存在有以下的問題。在前述裝置中，使用偏移減算器3以使DUT1的輸出電壓納入A/D轉(zhuǎn)換器5的輸入范圍之內(nèi)，而實現(xiàn)高分辨率、高精度的設定。為此，偏移減算器3必須裝置于A/D轉(zhuǎn)換器5的輸入段的前段，并且會受到偏移減算器3的精度或漸趨穩(wěn)定期間的影響。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于實現(xiàn)一種集成電路測試器，用于不須采用偏移減算器，即可進行高分辨率、高精度的測定。
為了實現(xiàn)本發(fā)明的上述目的，本發(fā)明提供了一種集成電路測試器，將受測試對象的輸出以A/D轉(zhuǎn)換器進行測定，其包括有電壓產(chǎn)生單元，用以根據(jù)該受測試對象的輸出，將上限基準電壓、下限基準電壓可變動地供應至該A/D轉(zhuǎn)換器。
上述集成電路測試器的該電壓產(chǎn)生單元還設有第1個D/A轉(zhuǎn)換器，將該下限基準電壓供應至該A/D轉(zhuǎn)換器，和第2個D/A轉(zhuǎn)換器，將該上限基準電壓供應至該A/D轉(zhuǎn)換器。


圖1顯示現(xiàn)有的集成電路測試器的構(gòu)成圖。
圖2顯示本發(fā)明的實施例的構(gòu)成圖。
圖3顯示本發(fā)明的其它實施例的構(gòu)成圖。
附圖符號說明1～受測試對象2～電壓產(chǎn)生單元3～偏移減算器4～開關(guān)5，6～A/D轉(zhuǎn)換器VH～上限基準電壓VL～下限基準電壓7，8～D/A轉(zhuǎn)換器9～計算單元10～I/V轉(zhuǎn)換器
具體實施例方式
以下結(jié)合附圖詳細說明本發(fā)明。圖2顯示本發(fā)明的第1實施例的構(gòu)成圖。在此，與圖1相同部份則標以同一符號，并省略其說明。
于圖2中，裝置多個A/D轉(zhuǎn)換器6以取代A/D轉(zhuǎn)換器5，將DUT1的每支接腳的輸出加以輸入。D/A轉(zhuǎn)換器7將下限基準電壓供應到多個A/D轉(zhuǎn)換器6。D/A轉(zhuǎn)換器8將D/A轉(zhuǎn)換器7的輸出加以輸入，并于該輸出的上加上電壓，而將上限基準電壓供應到多個A/D轉(zhuǎn)換器6。此外，D/A轉(zhuǎn)換器7、8成為電壓產(chǎn)生單元。在此，上限基準電壓與下限基準電壓是規(guī)定A/D轉(zhuǎn)換器6的輸入范圍的電壓。亦即，于一般的A/D轉(zhuǎn)換器中，依上限基準電壓與下限基準電壓二者以形成比較電壓，并采用內(nèi)部的比較器進行比較而形成數(shù)字數(shù)據(jù)。計算單元9將多個A/D轉(zhuǎn)換器6的輸出加以輸入，并進行計算。
以下說明前述裝置的操作。D/A轉(zhuǎn)換器7、8依未圖示的控制部的控制(數(shù)字數(shù)據(jù))，以分別將下限基準電壓VL、上限基準電壓VH供應到A/D轉(zhuǎn)換器6。在此，例如令VL＝VS-VH/2(VSDUT1的輸出設定值，VH＞VS＞VL)；而DUT1依未圖標的信號產(chǎn)生單元所輸入的輸入模式(輸出設定值)，以輸出階段電壓并輸入到A/D轉(zhuǎn)換器6。A/D轉(zhuǎn)換器6將所輸入的電壓轉(zhuǎn)換成數(shù)字數(shù)據(jù)，以使計算單元9判斷DUT1是否良好。至于良好與否的判斷，是進行DUT1的輸出是否在希望的期望值范圍內(nèi)的判斷或接腳間的變動的判斷等。
此外，于DUT1的輸出設定值VS產(chǎn)生變動的情形時，D/A轉(zhuǎn)換器7、8依未圖示的控制部，以變更下限基準電壓、上限基準電壓；再供應到A/D轉(zhuǎn)換器6，而變更A/D轉(zhuǎn)換器6的輸入范圍。
如前所述，由于D/A轉(zhuǎn)換器7、8將下限基準電壓、上限基準電壓可變動地供應到A/D轉(zhuǎn)換器6，因此即使不采用偏移減算器，仍可進行高分辨率、高精度的測定。另外，由于不須在DUT1的每支接腳上裝置偏移減算器，因此能夠以低廉的價格構(gòu)成。此外，輸入范圍可容易地進行變換。
其次，本發(fā)明并不限定于此；關(guān)于DUT1的例子，雖提示進行電壓輸出的液晶驅(qū)動裝置，但亦可采用進行多階段電流輸出的有機EL(Electro-Luminescent)驅(qū)動裝置。此時，如圖3所示，將I/V轉(zhuǎn)換器設置于DUT1的輸出段，以將輸出電流轉(zhuǎn)換成電壓，再輸出到A/D轉(zhuǎn)換器6。
另外，所提示的構(gòu)成雖于DUT1的每支接腳上裝置A/D轉(zhuǎn)換器6；但亦可裝置多任務器等的選擇單元，以選擇DUT1的接腳，而每數(shù)支接腳裝置一個A/D轉(zhuǎn)換器6。
至于計算單元9，可裝置電平移位電路于其內(nèi)部，以和A/D轉(zhuǎn)換器6間取得電平的整合；或裝置電平移位電路于其內(nèi)部，以和后段的數(shù)字電路(未圖標)間取得電平的整合。
另外，可將范圍電路裝置于A/D轉(zhuǎn)換器6。
另外，所提示的構(gòu)成雖系D/A轉(zhuǎn)換器7、8將下限基準電壓、上限基準電壓供應到DUT1的每支接腳的A/D轉(zhuǎn)換器6；但亦可每多個A/D轉(zhuǎn)換器6裝置D/A轉(zhuǎn)換器7、8。
此外，可藉由電壓測定部(未圖標)，以測定DUT1的輸出電壓的概略值，而設定D/A轉(zhuǎn)換器7、8的電壓值。
權(quán)利要求
1.一種集成電路測試器，將受測試對象的輸出以A/D轉(zhuǎn)換器進行測定；其特征為具備電壓產(chǎn)生單元，用以根據(jù)該受測試對象的輸出，將上限基準電壓、下限基準電壓可變動地供應至該A/D轉(zhuǎn)換器。
2.如權(quán)利要求1所述的集成電路測試器，其中，該電壓產(chǎn)生單元設有第1個D/A轉(zhuǎn)換器，將該下限基準電壓供應至該A/D轉(zhuǎn)換器；第2個D/A轉(zhuǎn)換器，將該上限基準電壓供應至該A/D轉(zhuǎn)換器。
3.如權(quán)利要求1或2所述的集成電路測試器，其中，該受測試對象是液晶驅(qū)動裝置。
4.如權(quán)利要求1或2所述的集成電路測試器，其中，于該受測試對象的輸出路線上裝設有I/V轉(zhuǎn)換器，用以將電流轉(zhuǎn)換成電壓。
全文摘要
本發(fā)明的目的在于實現(xiàn)一種集成電路測試器，用于不須采用偏移減算器，即可進行高分辨率、高精度的測定。本發(fā)明對于將受測試對象的輸出以A/D轉(zhuǎn)換器進行測定的集成電路測試器加以改良。本裝置的特征為具備電壓產(chǎn)生單元，以根據(jù)受測試對象的輸出而將上限基準電壓、下限基準電壓變動式地供應到A/D轉(zhuǎn)換器。
文檔編號G02F1/13GK1975450SQ200610163190
公開日2007年6月6日 申請日期2006年11月29日 優(yōu)先權(quán)日2005年11月29日
發(fā)明者永沼英樹 申請人:橫河電機株式會社