顯示裝置及顯示方法
【技術領域】
[0001]本公開涉及具備經(jīng)由晶體管被供給驅(qū)動電流的發(fā)光元件的顯示裝置及顯示方法。
【背景技術】
[0002]專利文獻I及2所記載的顯示裝置，通過掃描線的掃描而依次對配置為矩陣狀的多個電致發(fā)光元件(EL元件)進行驅(qū)動。在專利文獻I所記載的顯示裝置中，按每個有機EL元件分別設置的2個晶體管、即電流控制晶體管和采樣晶體管控制向與I個掃描線連接的多個有機EL元件的每個的驅(qū)動電流的供給。每當采樣晶體管被切換到導通狀態(tài)，電流控制晶體管的柵極-源極之間以與顯示數(shù)據(jù)相應的電平被施加電壓。由此，基于電流控制晶體管的柵極-源極間電壓的漏極電流作為驅(qū)動電流被供給至有機EL元件，按每個有機EL元件控制發(fā)光亮度的灰度。
[0003]現(xiàn)有技術文獻
[0004]專利文獻
[0005]專利文獻1:日本特開平8-330600號公報
[0006]專利文獻2:日本特開2010-128397號公報

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]發(fā)明所要解決的課題
[0008]但是，電流控制晶體管中的閾值電壓等元件特性會由于時間經(jīng)過等而變化。因此，即使電流控制晶體管的柵極-源極間電壓相同的情況下，經(jīng)由電流控制晶體管供給的驅(qū)動電流也有可能在短期間內(nèi)成為不同的值。其結(jié)果，與電流驅(qū)動晶體管的元件特性的變化相對應，對于有機EL元件的發(fā)光亮度的灰度控制的精度下降，顯示裝置所顯示的圖像的亮度、對比度及色調(diào)等畫質(zhì)可能會變化。
[0009]本公開的目的在于，提供一種顯示裝置及顯示方法，能夠抑制因向發(fā)光元件供給驅(qū)動電流的像素電路中的元件特性的變化而導致畫質(zhì)變化的情況。
[0010]解決課題所采用的手段
[0011]本公開的顯示裝置的一個方式，具備:多個發(fā)光元件；多個像素電路，包括分別向所述發(fā)光元件供給驅(qū)動電流的晶體管；多個掃描線，與所述像素電路連接；多個數(shù)據(jù)線，與所述像素電路連接；選擇驅(qū)動器，將多個掃描線中的某I個作為選擇對象來選擇；以及控制部，對所述選擇驅(qū)動器的驅(qū)動進行控制。所述控制部依次反復進行灰度顯示動作、非灰度顯示動作、檢測動作。在所述灰度顯示動作中，將所述掃描線逐個地依次作為選擇對象來選擇，對與該選擇對象連接的所述像素電路經(jīng)由所述數(shù)據(jù)線施加灰度顯示電壓，使對應的所述發(fā)光元件成為灰度顯示狀態(tài)。在所述非灰度顯示動作中，將所述掃描線逐個地依次作為選擇對象來選擇，對與該選擇對象連接的所述像素電路經(jīng)由所述數(shù)據(jù)線施加非灰度顯示電壓，使對應的所述發(fā)光元件成為非灰度顯示狀態(tài)。在所述檢測動作中，在所述非灰度顯示狀態(tài)下將所述多個掃描線的一部分作為檢測對象來選擇，經(jīng)由所述數(shù)據(jù)線來檢測與該檢測對象連接的所述像素電路的所述晶體管的特性。并且，所述控制部使用通過所述檢測動作得到的檢測結(jié)果，對所述灰度顯示電壓進行校正。
[0012]本公開的顯示方法的一個方式，包括:依次反復進行灰度顯示動作、非灰度顯示動作和檢測動作的步驟，在所述灰度顯示動作中，將與包含向發(fā)光元件供給驅(qū)動電流的晶體管的像素電路連接的多個掃描線，逐個地依次作為選擇對象來選擇，對與該選擇對象連接的所述像素電路經(jīng)由數(shù)據(jù)線施加灰度顯示電壓，使對應的所述發(fā)光元件成為灰度顯示狀態(tài)，在所述非灰度顯示動作中，將所述掃描線逐個地依次作為選擇對象來選擇，對與該選擇對象連接的所述像素電路經(jīng)由所述數(shù)據(jù)線施加非灰度顯示電壓，使對應的所述發(fā)光元件成為非灰度顯示狀態(tài)，在所述檢測動作中，在所述非灰度顯示狀態(tài)下將所述多個掃描線的一部分作為檢測對象來選擇，經(jīng)由所述數(shù)據(jù)線來檢測與該檢測對象連接的所述像素電路的所述晶體管的特性；以及使用通過所述檢測動作得到的檢測結(jié)果，對所述灰度顯示電壓進行校正的步驟。
[0013]根據(jù)上述結(jié)構，通過檢測動作來檢測像素電路中的晶體管的特性，向像素電路供給的灰度顯示電壓基于檢測結(jié)果而被校正。因此，在晶體管的特性發(fā)生了變動時，灰度顯示電壓與晶體管的特性的變動相應地被校正。結(jié)果，抑制了因晶體管的特性變動而導致畫質(zhì)變動、進而因晶體管的特性變動而導致畫質(zhì)劣化。
[0014]此外，由于依次反復進行灰度顯示動作、非灰度顯示動作、檢測動作，所以與例如僅在顯示裝置啟動時進行檢測動作的結(jié)構相比，灰度顯示動作的定時與檢測動作的定時之間的時間差變短。因此，晶體管的特性在短期間內(nèi)較大變化時，有效地抑制了畫質(zhì)的劣化。而且，僅對與一部分掃描線連接的像素電路進行檢測動作，所以與通過I次檢測動作對全部像素電路進行檢測動作的結(jié)構相比，I次檢測動作所需的時間變短。因此，抑制了因檢測動作所需的時間而導致非顯示狀態(tài)過度變長。結(jié)果，抑制了檢測動作直接給顯示裝置中的圖像的顯示性能帶來影響。
[0015]在本公開的顯示裝置其他方式中，所述控制部構成為，每當進行所述檢測動作時變更所述檢測對象。
[0016]根據(jù)上述結(jié)構，晶體管的特性被檢測的像素電路被設定為檢測對象，每當進行檢測動作時檢測對象變化。因此，與每次檢測動作中檢測對象相同的結(jié)構相比，檢測對象的范圍變大。因此，檢測晶體管的特性的像素電路和被施加了校正后的灰度顯示電壓的像素電路相同時，畫質(zhì)的劣化被抑制的范圍變大。
[0017]此外，晶體管的特性的變動依賴于晶體管的制造過程或晶體管的工作溫度時，該變動的程度有時在彼此不同的多個像素電路間接近。因此，對I個像素電路校正其灰度顯示電壓時，有時可以使用其他像素電路中的檢測結(jié)果。關于這一點，如果采用上述的結(jié)構則檢測對象的范圍變大，所以對I個像素電路校正其灰度顯示電壓時，該校正所使用的檢測結(jié)果的候選增加。結(jié)果，晶體管的特性的變動被認為彼此相近的像素電路間的檢測結(jié)果能夠共用，所以能夠提高灰度顯示電壓的校正的精度。
[0018]在本公開的顯示裝置的其他方式中，所述控制部構成為，將I次所述檢測動作中的所述檢測對象的條數(shù)設定為I條。
[0019]根據(jù)上述結(jié)構，在I次檢測動作中，僅對與I條掃描線連接的像素電路檢測晶體管的特性。因此，與I次檢測動作中選擇的檢測對象的條數(shù)被設定為2條以上的結(jié)構相比，I次檢測動作所需的時間變短。結(jié)果，抑制了檢測動作給作為顯示裝置的圖像的顯示性能帶來影響。
[0020]在本公開的顯示裝置的其他方式中，所述控制部構成為，每當進行所述檢測動作時將所述檢測對象切換為鄰接的檢測對象。
[0021]根據(jù)上述結(jié)構，每當進行檢測動作時，將檢測晶體管的特性的像素電路的位置切換為I條I條地鄰接的掃描線，所以與每當進行檢測動作將檢測動作中的檢測對象切換為隔著2條以上的檢測對象的結(jié)構相比，能夠?qū)嬞|(zhì)的劣化抑制為非常微小。
[0022]在本公開的顯示裝置的其他方式中，所述控制部構成為，每當進行所述檢測動作時將所述檢測對象切換為隔開數(shù)條的檢測對象。
[0023]根據(jù)上述結(jié)構，與每當進行檢測動作時將檢測對象切換為I條I條地鄰接的檢測對象的結(jié)構相比，晶體管的特性被檢測的像素電路的位置在每單位時間上被分散。因此，晶體管的特性的變動散布在大范圍的情況下，與每當進行檢測動作將檢測對象切換為I條I條地鄰接的檢測對象的結(jié)構相比，有效地抑制了畫質(zhì)的劣化。
[0024]在本公開的顯示裝置的其他方式中，所述控制部構成為，將所述多個掃描線劃分為由彼此相鄰的多個掃描線構成的多個掃描線群，將與所述檢測結(jié)果有關的數(shù)據(jù)與包含所述檢測對象的所述掃描線群建立對應地存儲，每當進行所述檢測動作時，按照所述掃描線群切換所述檢測對象，使用與所述掃描線群建立了對應的所述數(shù)據(jù)，對向與該掃描線群連接的所述像素電路施加的所述灰度顯示電壓進行校正。
[0025]根據(jù)上述結(jié)構，與晶體管的特性的檢測結(jié)果有關的數(shù)據(jù)按每個掃描線群被存儲。因此，相比于與晶體管的特性的檢測結(jié)果有關的數(shù)據(jù)按每個掃描線被存儲的結(jié)構，存儲部所需的存儲容量變小，并且該數(shù)據(jù)的更新周期也變短。
[0026]在本公開的顯示裝置的其他方式中，所述選擇驅(qū)動器構成為，在所述灰度顯示動作及所述非灰度顯示動作各自中以顯示周期依次切換所述選擇對象的候選，并且，在所述檢測動作中以檢測周期依次切換所述檢測對象的候選，所述控制部構成為，將所述檢測周期設定為比所述顯示周期更短。
[0027]根據(jù)上述結(jié)構，I條掃描線作為對象被選擇時，對象的候選的切換在多個掃描線中依次進展。此時，檢測動作中的切換的周期比其他動作中的切換的周期短，所以到特定對象被選擇為止所需的時間比其他動作短。結(jié)果，I次檢測動作所需的時間變短，所以進一步抑制了因檢測動作所需的時間而導致非顯示狀態(tài)過度變長。
[0028]發(fā)明的效果
[0029]根據(jù)本公開的顯示裝置及顯示方法，能夠抑制因向發(fā)光元件供給驅(qū)動電流的像素電路中的元件特性的變化而導致畫質(zhì)變化。
【附圖說明】
[0030]圖1是表示第I實施方式中的顯示裝置的整體結(jié)構的框圖。
[0031]圖2是功能性地表示圖1的顯示裝置的控制部的結(jié)構的框圖。
[0032]圖3是表示圖1的顯示裝置的像素電路的結(jié)構和數(shù)據(jù)驅(qū)動器的結(jié)構的電路圖。
[0033]圖4是表示向圖3的像素電路施加的顯示用電壓和電流控制晶體管中的漏極電流的關系的圖。
[0034]圖5是表示將圖1的顯示裝置的閾值檢測動作中的各控制信號的電平的推移與各開關的狀態(tài)一同不出的時序圖。
[0035]圖6是表示圖1的顯示裝置的數(shù)據(jù)線的電位和緩和時間的關系的圖。
[0036]圖7是將圖1的顯示裝置的顯示動作期間中的各控制信號的電平的推移與各開關的狀態(tài)一同示出的時序圖。
[0037]圖8是針對第I行到第540行的每個像素示意性地示出通過圖1的顯示裝置的第I幀進行的各種動作的定時的圖。
[0038]圖9是針對第I行到第540行的每個像素示意性地示出通過圖1的顯示裝置的第2幀進行的各種動作的定時的圖。
[0039]圖10是針對第I行到第540行的每個像素示意性地示出通過圖1的顯示裝置的第540幀進行的各種動作的定時的圖。
[0040]圖11是按照每個掃描線及電源線示出圖1的顯示裝置的I個幀被顯示的期間中的各種控制信號的電平的推移的時序圖。
[0041]圖12是示意性地示出第2實施方式中的每個幀的閾值檢測動作中的檢測對象行的編號的推移的圖。
[0042]圖13是示意性地示出第2實施方式中的每個幀的閾值檢測動作中的檢測對象行的編號的推移的圖。
[0043]圖14是示意性地示出第2實施方式中的每個幀的閾值檢測動作中的檢測對象行的編號的推移的圖。
【具體實施方式】
[0044](第I實施方式)
[0045]參照圖1?圖11說明第I實施方式中的顯示裝置。
[0046]本實施方式的顯示裝置使用有源矩陣驅(qū)動方式，使作為發(fā)光元件的有機EL元件發(fā)光。顯示裝置中的I個幀的顯示動作包括灰度顯示動作和黑顯示動作，該灰度顯示動作顯示基于顯示數(shù)據(jù)的圖像，該黑顯示動作顯示黑色的圖像。此時，在進行黑顯示動作的期間，對于與特定的掃描線連接的多個像素的每一個，檢測與像素電路中包含的電流控制晶體管的閾值電壓有關的電壓，使用與閾值電壓有關的檢測結(jié)果，對基于顯示數(shù)據(jù)而向像素電路施加的顯示用電壓進行了校正。即，在顯示I個幀的期間，包括交互地反復灰度顯示動作和黑顯示動作的顯示動作、以及檢測與閾值電壓有關的電壓的閾值檢測動作。另外，黑顯示動作是非灰度顯示動作，閾值檢測動作是檢測動作。以下重點說明這些顯示動作和閾值檢測動作。
[0047][顯示裝置的結(jié)構]
[0048]參照圖1說明顯示裝置的整體結(jié)構。
[0049]如圖1所示，在顯示面板10中，多個像素Px配置為m行Xn列的矩陣狀。m是I以上的整數(shù)，并且η也是I以上的整數(shù)。在多個像素Px的每一個中，配置有I個有機EL元件和向該有機EL元件供給驅(qū)動電流的I個像素電路。
[0050]多個像素Px的每一個配置在沿著行方向延伸的m條掃描線Ls的I條與沿著列方向延伸的η條數(shù)據(jù)線Ld的I條在俯視時的交點的附近。沿著行方向排列的η個像素Px與共同的I條掃描線Ls和共同的I條電源線La連接。沿著列方向排列的m個像素Px與共同的I條數(shù)據(jù)線Ld連接。
[0051 ] m條掃描線Ls的每一個與選擇驅(qū)動器電路20連接，m條電源線La的每一個與電源驅(qū)動器30連接，η條數(shù)據(jù)線Ld的每一個與數(shù)據(jù)驅(qū)動器電路40連接。選擇驅(qū)動器電路20、電源驅(qū)動器30及數(shù)據(jù)驅(qū)動器電路40分別由控制部50驅(qū)動。控制部50主要由中央處理裝置和具有存儲部的微計算機構成，使用輸入到控制部50的圖像數(shù)據(jù)來生成顯示數(shù)據(jù)。
[0052]選擇驅(qū)動器電路20例如由移位寄存器、緩存器等構成。選擇驅(qū)動器電路20根據(jù)來自控制部50的控制信號，按照每個掃描線Ls施加作為高電平的選擇電壓VgH和作為低電平的非選擇電壓VgL的某個。選擇驅(qū)動器電路20將被施加了選擇電壓VgH的掃描線Ls設定為選擇對象，從第I行掃描線Ls到作為最終行的第m行掃描線Ls依次切換選擇對象的候選。
[0053]電源驅(qū)動器30例如由移位寄存器、緩存器等構成。電源驅(qū)動器30根據(jù)來自控制部50的控制信號，向各電源線La施加作為高電平的驅(qū)動電壓ELVDD和作為低電平的寫入電壓WDVSS的某個。電源驅(qū)動器30