本公開的實施例涉及一種陣列基板、顯示面板及其測試方法和顯示裝置。

背景技術：

隨著消費電子產品的不斷發(fā)展，顯示面板得到了廣泛的應用。顯示面板可以包括陣列基板本體和驅動電路，驅動電路經(jīng)由信號線驅動陣列基板本體以實現(xiàn)顯示功能。為了保證顯示面板以及包含該顯示面板的顯示裝置的產品質量，在顯示面板/顯示裝置出廠前，需要對相應批次進行檢測。在確定顯示面板/顯示裝置存在不良的情況下(例如，顯示面板的一列像素不發(fā)光或者發(fā)光亮度偏低)，需要進一步確認陣列基板本體或/和驅動電路是否存在不良。

技術實現(xiàn)要素：

本公開的一個實施例提供了一種陣列基板，該陣列基板具有顯示區(qū)域和周邊區(qū)域，并包括第一電極層和第一測試線。第一電極層包括沿第一方向排布的多根第一信號線，所述第一信號線從所述周邊區(qū)域延伸到所述顯示區(qū)域；第一測試線設置在所述周邊區(qū)域，沿所述第一方向延伸，并與所述第一信號線相重疊且絕緣；所述第一測試線配置為通過與至少一根所述第一信號線短接實現(xiàn)包含所述陣列基板的顯示面板的不良測試。

本公開的另一個實施例提供了一種顯示面板，該顯示面板包括上述的陣列基板和至少一個驅動電路，每個所述驅動電路與所述陣列基板的多根信號線電連接，并通過多根所述信號線驅動所述陣列基板。

本公開的再一個實施例提供了一種顯示裝置，該顯示裝置包括上述的顯示面板。

本公開的又再一個實施例提供了一種上述的顯示面板的測試方法，該測試方法包括：選擇所述顯示面板的一條信號線作為待檢信號線；在所述待檢信號線與第一測試線重疊的位置處使得所述待檢信號線與所述第一測試線短接，并形成第一短接點；在所述第一測試線的遠離驅動電路/陣列基板本體的一側切斷所述待檢信號線；以及經(jīng)由所述第一測試線和所述第一短接點獲取所述驅動電路輸出的待檢電信號/向所述待檢信號線輸入信號，由此確定所述驅動電路/所述顯示面板本體對應于所述待檢信號線的部分是否存在不良。

附圖說明

為了更清楚地說明本公開實施例的技術方案，下面將對實施例或相關技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅涉及本公開的一些實施例，并非對本公開的限制。

圖1是本公開一個實施例提供的一種陣列基板的平面示意圖；

圖2(a)是圖1所示的陣列基板沿a-a’線的剖面示意圖；

圖2(b)是圖1所示的陣列基板沿b-b’線的剖面示意圖；

圖2(c)是圖1所示的陣列基板沿c-c’線的剖面示意圖；

圖3是本公開一個實施例提供的另一種陣列基板的平面示意圖；

圖4(a)是圖3所示的陣列基板沿a-a’線的剖面示意圖；

圖4(b)是圖3所示的陣列基板沿b-b’線的剖面示意圖；

圖4(c)是圖3所示的陣列基板沿c-c’線的剖面示意圖；

圖5(a)是本公開另一個實施例提供的一種顯示面板的示例性框圖；

圖5(b)是圖5(a)所示的顯示面板的平面示意圖；

圖6是本公開再一個實施例提供的一種顯示裝置的示例性框圖；

圖7(a)是本公開再一個實施例提供的一種顯示面板的一種測試方法的示例性流程圖；

圖7(b)是圖7(a)所示的測試方法的示意圖；

圖8(a)是本公開再一個實施例提供的一種顯示面板的另一種測試方法的示例性流程圖；

圖8(b)是圖8(a)所示的測試方法的示意圖；

圖9(a)是本公開再一個實施例提供的一種顯示面板的再一種測試方法的示例性流程圖；

圖9(b)是圖9(a)所示的測試方法的示意圖；

圖10(a)是本公開再一個實施例提供的一種顯示面板的再一種測試方法的示例性流程圖；

圖10(b)是圖10(a)所示的測試方法的示意圖；

圖11(a)是本公開再一個實施例提供的一種顯示面板的再一種測試方法的示例性流程圖；

圖11(b)是圖11(a)所示的測試方法的示意圖；

圖12(a)是本公開再一個實施例提供的一種顯示面板的再一種測試方法的示例性流程圖；以及

圖12(b)是圖12(a)所示的測試方法的示意圖。

具體實施方式

下面將結合附圖，對本公開實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述參考在附圖中示出并在以下描述中詳述的非限制性示例實施例，更加全面地說明本公開的示例實施例和它們的多種特征及有利細節(jié)。應注意的是，圖中示出的特征不是必須按照比例繪制。本公開省略了已知材料、組件和工藝技術的描述，從而不使本公開的示例實施例模糊。所給出的示例僅旨在有利于理解本公開示例實施例的實施，以及進一步使本領域技術人員能夠實施示例實施例。因而，這些示例不應被理解為對本公開的實施例的范圍的限制。

除非另外特別定義，本公開使用的技術術語或者科學術語應當為本公開所屬領域內具有一般技能的人士所理解的通常意義。本公開中使用的“第一”、“第二”以及類似的詞語并不表示任何順序、數(shù)量或者重要性，而只是用來區(qū)分不同的組成部分。此外，在本公開各個實施例中，相同或類似的參考標號表示相同或類似的構件。

發(fā)明人注意到，目前在顯示面板的不良測試中，需要使用探針(例如，尺寸為1-2微米)穿過覆蓋在信號線上的絕緣層并扎到待檢信號線(例如，尺寸約為4微米)上，以獲取(例如，使用示波器獲取)驅動電路對應于待檢信號線的部分的輸出的信號。然而在使用上述方法對顯示面板進行測試時，主要會存在如下三個問題。

(1)由于探針和信號線的寬度較小，因此探針難以準確地扎到信號線上，由此顯示面板測試需要花費較長的時間。

(2)探針很容易把信號線劃斷，進而導致誤判。例如，在探針將信號線劃斷的情況下，驅動電路對應于待檢信號線的部分輸出的電信號可以為零，導致測試人員誤認為驅動電路對應于待檢信號線的部分存在不良，由此降低了顯示面板測試的準確性。

(3)由于難以從外部向陣列基板本體輸入信號，因此僅能確定驅動電路對應于待檢信號線的部分是否存在不良，而無法確定陣列基板本體對應于待檢信號線的部分是否存在不良。例如，在確定驅動電路對應于待檢信號線的部分存在不良的情況下，陣列基板本體對應于待檢信號線的部分仍然有可能存在不良，由此降低了顯示面板測試的準確性。

因此，發(fā)明人在研究中提出一種可以提高顯示面板測試準確性和/或時效性的陣列基板、顯示面板和顯示面板的測試方法。

本公開的實施例提供了一種陣列基板、顯示面板及其測試方法和顯示裝置，該陣列基板、顯示面板及其測試方法和顯示裝置可以提高顯示面板或/和顯示裝置測試的準確性。

本公開的至少一個實施例提供了一種陣列基板，該陣列基板具有顯示區(qū)域和周邊區(qū)域，并且包括第一電極層和第一測試線。第一電極層包括沿第一方向排布的多根第一信號線，第一信號線從周邊區(qū)域延伸到顯示區(qū)域；第一測試線設置在周邊區(qū)域，沿第一方向延伸，與第一信號線相重疊且絕緣；第一測試線配置為通過與至少一根第一信號線短接實現(xiàn)包含陣列基板的顯示面板的不良測試。例如，陣列基板的多根第一信號線和第一測試線的設置方式可以根據(jù)實際應用需求進行選擇，本公開的實施例對此不做具體限定。

例如，圖1是本公開一個實施例提供的一種陣列基板100的平面示意圖，圖2(a)、圖2(b)和圖2(c)分別是圖1所示的陣列基板100沿a-a’線、b-b’線和c-c’線的剖面示意圖。

例如，如圖1所示，該陣列基板100具有顯示區(qū)域161和周邊區(qū)域162，并且該陣列基板100可以包括在襯底基板上順次設置的第一電極層、第一絕緣層130和第二電極層。例如，圖1僅示意性的示出了陣列基板100的部分區(qū)域。例如，顯示區(qū)域161可以位于陣列基板100的中間區(qū)域，其中設置有子像素陣列(未示出)以用于顯示操作，每個子像素可以包括例如薄膜晶體管的開關元件；周邊區(qū)域162可以位于陣列基板100的至少一側的邊緣區(qū)域。

例如，第一電極層可以包括沿第一方向排布的多根第一信號線111，多根第一信號線111從陣列基板100的周邊區(qū)域162延伸到顯示區(qū)域161，用于驅動對應的子像素。例如，為了減少陣列基板100制作工藝的復雜度，對于薄膜晶體管驅動型陣列基板100，第一電極層可以與薄膜晶體管的柵極同層形成。

例如，如圖2(a)所示，第二電極層可以包括與第一電極層位于不同層、且包括沿第一方向排布的多根第二信號線121，多根第二信號線121從陣列基板100的周邊區(qū)域162延伸到顯示區(qū)域161以用于驅動對應的子像素，并且與第一信號線111交替排布。例如，多根第一信號線111和多根第二信號線121在第一電極層的正投影沒有交疊的部分。例如，為了減少陣列基板100制作工藝的復雜度，對于薄膜晶體管驅動型陣列基板100，第二電極層可以與薄膜晶體管的源極和漏極同層形成。

例如，如圖2(a)所示第一絕緣層130可以設置于第一電極層與第二電極層之間。例如，為了減少陣列基板100制作工藝的復雜度，對于薄膜晶體管驅動型陣列基板100，第一絕緣層130可以與薄膜晶體管的柵絕緣層同層形成。

例如，如圖1和圖2(a)所示，該陣列基板100還可以包括設置在周邊區(qū)域162且沿第一方向延伸的第一測試線141。例如，第一測試線141可以與多根第一信號線111和多根第二信號線121相重疊且絕緣，例如，第一測試線141可以包括設置在相鄰的兩根第一信號線111之間且與第一信號線111電絕緣的第一測試電極112，以及包括設置在相鄰的兩根第二信號線121之間且與第二信號線121電絕緣的第二測試電極122。例如，第一測試電極112和第二測試電極122在第一電極層上的正投影可以至少部分交疊。例如，第一測試電極112和第二測試電極122彼此電連接(例如，可以通過位于第一絕緣層130中的過孔131彼此電連接)，并由此構成第一測試線141。

例如，對于本公開的一個實施例提供的一種陣列基板100，由于在第一電極層和第二電極層分別設置了第一信號線111和第二信號線121，由此可以在不引起短路的情況下，提升信號線的設置密度，進而可以降低陣列基板100周邊區(qū)域162的面積。

例如，如圖2(b)所示，在第二電極層與薄膜晶體管的源極和漏極同層形成的情況，為了防止第二電極層的金屬受到氧化，陣列基板100還可以包括設置于第二電極層的遠離第一電極層的一側的第二絕緣層152。例如，為了降低測試的難度以及減少測試的時間，陣列基板100還可以包括設置在第二絕緣層152的遠離第一電極層的一側的測試端子155。例如，測試端子155可以經(jīng)由第二絕緣層152中的至少一個過孔與第一測試線141的第二測試電極122電連接。例如，測試端子155可以經(jīng)由第二絕緣層152中的至少一個過孔與第一測試線141的一端或兩端的第二測試電極122電連接，但本公開的實施例不限于此，例如，測試端子155還可以與第一測試線141的多個第二測試電極122電連接。例如，為了進一步降低測試的難度以及減少測試的時間，測試端子155的寬度可以大于第二測試電極122的寬度。例如，為了防止測試端子155被氧化而導致的性能退化，測試端子155可以由透明導電材料(例如ito)制成。例如，為了減少陣列基板100制作工藝的復雜度，對于薄膜晶體管驅動型陣列基板100，第二絕緣層152可以與鈍化層同層形成，測試端子155可以與陣列基板100的公共電極層同層。例如，為了提供支撐保護作用，陣列基板100還可以包括襯底基板151。例如，襯底基板151可以是玻璃基板、石英基板、塑料基板(例如聚對苯二甲酸乙二醇酯(pet)基板)或者由其它適合的材料制成的基板。

例如，如圖2(c)所示，本公開的一個實施例提供的一種陣列基板100還可以包括第二測試線142，該第二測試線142可以設置在周邊區(qū)域162中，沿第一方向延伸，并與第一信號線111和第二信號線121相重疊且絕緣。例如，該第二測試線142可以包括設置在相鄰的兩根第一信號線111之間的、且與第一信號線111和第一測試電極112電絕緣的第三測試電極113，以及設置在相鄰的兩根第二信號線121之間的、且與第二信號線121和第二測試電極122電絕緣的第四測試電極123。例如，第三測試電極113和第四測試電極123在第一電極層上的正投影可以至少部分交疊。例如，該第三測試電極113和第四測試電極123彼此電連接(例如，可以通過位于第一絕緣層130中的過孔132彼此電連接)，并由此構成第二測試線142。

例如，本公開的一個實施例提供的陣列基板的結構不限于圖1和圖2所示的情形，例如，根據(jù)實際應用需求，本公開的一個實施例提供的陣列基板的結構還可以設置成圖3和圖4所示的形式。例如，圖3是本公開一個實施例提供的另一種陣列基板200的平面示意圖，圖4(a)、圖4(b)和圖4(c)分別是圖3所示的陣列基板200沿a-a’線、b-b’線和c-c’線的剖面示意圖。

例如，如圖3和圖4(a)所示，該陣列基板200具有顯示區(qū)域261和周邊區(qū)域262，并且該陣列基板200可以包括第一電極層、第二電極層以及設置于第一電極層與第二電極層之間第一絕緣層230。例如，第一電極層可以包括沿第一方向排布的多根第一信號線211，以及設置在相鄰的兩根第一信號線211之間的、且與第一信號線211電絕緣的第一測試電極212；多根第一信號線211從陣列基板200的周邊區(qū)域262延伸到顯示區(qū)域261。例如，第二電極層可以包括設置在周邊區(qū)域262的、沿第一方向排布的第二測試電極222。例如，第一測試電極212和第二測試電極222在第一電極層上的正投影可以至少部分交疊。例如，第一測試電極212和第二測試電極222可以彼此電連接(例如，可以通過位于第一絕緣層230中的過孔彼此電連接)，并由此構成與第一信號線211相重疊且絕緣的第一測試線241。

例如，如圖4(b)所示，該陣列基板200還可以包括設置于第二電極層的遠離第一電極層的一側的第二絕緣層252，以及設置在第二絕緣層252的遠離第一電極層的一側的測試端子255。例如，測試端子255可以經(jīng)由第二絕緣層252中的過孔與第一測試線241的第二測試電極222電連接(例如，與第一測試線241的一側或兩側的第二測試電極222電連接)。例如，為了提供支撐保護作用，陣列基板200還可以包括襯底基板251。

例如，如圖3和圖4(c)所示，本公開的一個實施例提供的一種陣列基板200還可以包括第二測試線242，該第二測試線242可以設置在周邊區(qū)域262中，并沿第一方向延伸。例如，該第二測試線242可以包括設置在相鄰的兩根第一信號線211之間的、且與第一信號線211和第一測試電極212電絕緣的第三測試電極213，以及設置在第二電極層的、且與第二測試電極222電絕緣的第四測試電極223。例如，第三測試電極213和第四測試電極223在第一電極層上的正投影可以至少部分交疊。例如，該第三測試電極213和第四測試電極223彼此電連接(例如，可以通過位于第一絕緣層230中的過孔彼此電連接)、并由此構成與第一信號線211相重疊且絕緣的第二測試線242。例如，本公開一個實施例提供的另一種陣列基板200的詳細設置方式可以參見圖1和圖2所示的陣列基板200的實施例，在此不再贅述。

對于圖3、圖4(a)、4(b)的示例的一個變型中，不是形成為如圖4(a)、4(b)所示的一部分在第一電極層中而另一部分在第二電極層中的折線，第一測試線可以為整體設置在第二電極層中的直線，和/或第二測試線可以為整體設置在第二電極層中的直線。

顯然，本公開一個實施例提供的一種陣列基板的不限于圖1-圖4所示的結構，例如，相比于圖1和圖2所示的陣列基板的結構，本公開一個實施例提供的一種陣列基板還可以僅包括位于第二電極層的第二信號線，而不包括位于第一電極層的第一信號線，而第一測試線和/或第二測試線可以為一部分在第一電極層中而另一部分在第二電極層中的折線，也可以為整體設置在第一電極層中的直線，本公開的實施例對此不做具體限定。例如，本公開的一個實施例提供的陣列基板可以提高包含該陣列基板的顯示面板或/和顯示裝置測試的準確性和時效性。具體原因將在本公開的再一個實施例提供的一種顯示面板的測試方法中詳述。

本公開的至少一個實施例提供了一種顯示面板，該顯示面板包括本公開一個實施例提供的任一陣列基板和至少一個驅動電路。每個驅動電路與陣列基板的多根信號線電連接，并通過多根信號線驅動陣列基板。

例如，圖5(a)是本公開另一個實施例提供的一種顯示面板10的示例性框圖，圖5(b)是圖5(a)所示的顯示面板10的平面示意圖。例如，以圖1和圖2示出陣列基板為例，如圖5(a)和圖5(b)所示，該顯示面板10可以包括陣列基板510和至少一個驅動電路520。例如，陣列基板510的多根信號線512的位于周邊區(qū)域514的一端可以與驅動電路520電連接，陣列基板510的多根信號線512的位于顯示區(qū)域513的一端可以與陣列基板本體511電連接，每個驅動電路520可以經(jīng)由多根信號線512驅動陣列基板本體511中設置的相應子像素。例如，該顯示面板10可以包括兩個驅動電路520，一個驅動電路520通過多根信號線512與陣列基板本體511的柵線(圖5中未示出)電連接，另一個驅動電路520通過多根信號線512與陣列基板本體511的數(shù)據(jù)線(圖5中未示出)電連接，但本公開的實施例不限于包含兩個驅動電路，例如，根據(jù)實際應用需求，該顯示面板10還可以包括四個或一個驅動電路。

例如，圖6是本公開再一個實施例提供的一種顯示裝置的示意圖。該顯示裝置包20包括本公開任一實施例所述的顯示面板10。需要說明的是，對于該顯示裝置20的其它必不可少的組成部分均為本領域的普通技術人員應該理解具有的，在此不做贅述，也不應作為對本發(fā)明的限制。

本公開的至少一個實施例提供了一種顯示面板的測試方法，用于上述任一顯示面板，該測試方法包括：選擇顯示面板的顯示區(qū)域對應的一條待檢信號線；在待檢信號線與第一測試線重疊的位置處使得待檢信號線與第一測試線短接，并形成第一短接點；在第一測試線的遠離驅動電路/陣列基板本體的一側切斷待檢信號線；以及經(jīng)由第一測試線和第一短接點獲取驅動電路輸出的待檢電信號/向待檢信號線輸入信號，由此確定驅動電路/顯示面板本體對應于待檢信號線的部分是否存在不良。

下面以顯示面板包括圖1和圖2示出的陣列基板為例，詳細說明本公開再一個實施例提供的一種顯示面板的測試方法的具體內容，但是本公開再一個實施例提供的顯示面板的測試方法不限于測試圖1和圖2示出的陣列基板，例如，上述測試方法還可以用于測試圖3和圖4示出的陣列基板以及其他示例中的陣列基板。

例如，圖7(a)是本公開再一個實施例提供的一種顯示面板的一種測試方法的示例性流程圖，圖7(b)是圖7(a)所示的測試方法的示意圖。如圖7(a)和圖7(b)所示，該顯示面板的測試方法(例如，測試顯示面板的不良)可以包括以下步驟：

步驟s110：選擇顯示面板的一條信號線作為待檢信號線331；

步驟s120：在待檢信號線331與第一測試線341重疊的位置處使得待檢信號線331與第一測試線341短接，并形成第一短接點371；

步驟s130：在第一測試線341的遠離驅動電路391的一側切斷待檢信號線331；以及

步驟s140：經(jīng)由第一測試線341和第一短接點371獲取驅動電路391輸出的待檢電信號，由此確定驅動電路391對應于待檢信號線331的部分是否存在不良。

例如，在步驟s110中，在顯示面板的顯示區(qū)域出現(xiàn)不良(例如，暗線)的情況下，可以選擇顯示區(qū)域的不良區(qū)域對應的一條信號線作為待檢信號線331。例如，該待檢信號線331可以是第一信號線，也可以是第二信號線，本公開的實施例對此不做具體限定。

例如，在步驟s120中，可以在待檢信號線331與第一測試線341重疊的位置處，使用激光將待檢信號線331與第一測試線341焊接以實現(xiàn)二者之間的短接。例如，在待檢信號線331為第一信號線的情況下，可以使用激光將第一信號線和對應重疊的第二測試電極322焊接在一起，由此實現(xiàn)第一信號線與第一測試線341的短接。又例如，在待檢信號線331為第二信號線的情況下，可以使用激光將第二信號線和對應重疊的第一測試電極312焊接在一起，由此實現(xiàn)第二信號線與第一測試線341的短接。

例如，在步驟s130和步驟s140中，可以在第一測試線341的遠離驅動電路391的一側切斷待檢信號線331(例如，可以使用激光切斷待檢信號線331)，然后可以經(jīng)由第一測試線341和第一短接點371獲取驅動電路391輸出的待檢電信號，由此確定驅動電路391對應于待檢信號線331的部分是否存在不良。例如，根據(jù)實際應用需求，可以經(jīng)由圖7(b)中第一測試線341右側的測試端子355或者第一測試線341上的一個第二測試電極322獲取驅動電路391輸出的待檢電信號，本公開的實施例對此不做具體限定。例如，在經(jīng)由第一測試線341的一個測試端子355和第一短接點371獲取驅動電路391輸出的待檢電信號為非預期的電信號(例如，無電信號，或者電信號的幅值過低)的情況下，可以判定驅動電路391對應于待檢信號線331的部分是否存在不良。

例如，圖8(a)是本公開再一個實施例提供的一種顯示面板的另一種測試方法的示例性流程圖，圖8(b)是圖8(a)所示的測試方法的示意圖。例如，如圖8(a)和圖8(b)所示，該顯示面板的測試方法可以包括以下步驟：

步驟s210：選擇顯示面板的一條信號線作為待檢信號線331；

步驟s220：在待檢信號線331與第一測試線341重疊的位置處使得待檢信號線331與第一測試線341短接，并形成第一短接點371；

步驟s230：在第一測試線341的遠離陣列基板本體392的一側切斷待檢信號線331；以及

步驟s240：經(jīng)由第一測試線341和第一短接點371向待檢信號線331輸入信號，由此確定顯示面板本體的對應于待檢信號線331的部分是否存在不良。

例如，步驟s210和步驟s220的詳細內容可以參見步驟s110和步驟s120。例如，在步驟s230和步驟s240中，可以在第一測試線341的遠離顯示面板本體(也即是，顯示面板的包括陣列基板本體392的部分)或陣列基板本體392的一側切斷待檢信號線331(例如，可以使用激光切斷待檢信號線331)；然后可以經(jīng)由第一測試線341(例如，圖8(b)中第一測試線341右側的測試端子355)和第一短接點371向待檢信號線331輸入信號，由此確定顯示面板本體對應于待檢信號線331的部分是否存在不良。例如，在經(jīng)由第一測試線341右側的測試端子355和第一短接點371向待檢信號線331輸入信號后，顯示面板對應于待檢信號線331的部分是仍然不能實現(xiàn)正常顯示(例如，對應的像素不發(fā)光或者亮度偏低)的情況下，可以判定顯示面板本體對應于待檢信號線331的部分存在不良。

例如，對于圖7和圖8所示的顯示面板的測試方法，可以在待檢信號線331與第一測試線341重疊的位置處使得待檢信號線331與第一測試線341短接，由此可以經(jīng)由第一測試線341和第一短接點371獲取驅動電路391輸出的待檢電信號/向待檢信號線331輸入信號、并確定驅動電路391/顯示面板本體對應于待檢信號線331的部分是否存在不良。由于圖7和圖8所示的顯示面板的測試方法可以直接確定驅動電路391或顯示面板本體是否存在不良，因此可以提升顯示面板測試的準確性。此外，由于可以經(jīng)由測試端子355獲取驅動電路391輸出的待檢電信號/向待檢信號線331輸入信號(也即是，無需將測試探針直接扎在信號線上)，因此不僅可以降低測試難度，而且還能避免將信號線劃斷，由此可以降低顯示面板測試所需時間，以及進一步提高顯示面板測試的準確性。

例如，圖9(a)是本公開再一個實施例提供的一種顯示面板的再一種測試方法的示例性流程圖，圖9(b)是圖9(a)所示的測試方法的示意圖。如圖9(a)和圖9(b)所示，該顯示面板的測試方法可以包括以下步驟：

步驟s310：選擇顯示面板的一條信號線作為待檢信號線331；

步驟s320：在待檢信號線331與第一測試線341重疊的位置處使得待檢信號線331與第一測試線341短接，并形成第一短接點371；

步驟s330：在第一測試線341的遠離驅動電路391的一側切斷待檢信號線331；

步驟s340：選擇顯示面板的正常顯示區(qū)域對應的一條信號線作為對照信號線332；

步驟s350：在對照信號線332與第一測試線341重疊的位置處使得對照信號線332與第一測試線341短接，并形成第一對照短接點381；

步驟s360：在第一測試線341的遠離驅動電路391的一側切斷對照信號線332；

步驟s370：在第一短接點371和第一對照短接點381之間的位置處切斷第一測試線341；

步驟s380：經(jīng)由第一測試線341和第一短接點371獲取驅動電路391對應于待檢信號線331的部分輸出的待檢電信號；

步驟s390：經(jīng)由第一測試線341和第一對照短接點381獲取驅動電路391對應于對照信號線332的部分輸出的對照電信號；以及

步驟s399：通過對比驅動電路391輸出的待檢電信號和對照電信號確定驅動電路391的對應于待檢信號線331的部分是否存在不良。

例如，步驟s310-步驟s360的詳細內容可以參見步驟s110-步驟s130，在此不再贅述。例如，在步驟s370中，可以使用激光切斷第一測試線341，例如，可以使用激光使得第一短接點371和第一對照短接點381之間的一個第二測試電極322在第一方向上處于斷開的狀態(tài)。例如，在步驟s380和步驟s390中，可以經(jīng)由第一測試線341左側的測試端子355和第一短接點371獲取驅動電路391對應于待檢信號線331的部分輸出的待檢電信號，并可以經(jīng)由第一測試線341右側的測試端子355和第一對照短接點381獲取驅動電路391對應于對照信號線332的部分輸出的對照電信號。例如，在步驟s399中，可以通過對比待檢電信號和對照電信號的幅值、波形或時序確定驅動電路391的對應于待檢信號線331的部分是否存在不良。由此，可以進一步提高顯示面板測試的準確性。顯然，圖9(a)所示的顯示面板測試方法中步驟的順序僅是示例性的，也即是上述步驟的順序可以根據(jù)實際應用需求進行改變。又例如，圖9(a)所示的顯示面板測試方法還可以按照如下順序進行：步驟s310、步驟s340、步驟s320、步驟s350、步驟s330和步驟s360-步驟s399。

例如，圖10(a)是本公開再一個實施例提供的一種顯示面板的再一種測試方法的示例性流程圖，圖10(b)是圖10(a)所示的測試方法的示意圖。如圖10(a)和圖10(b)所示，該顯示面板的測試方法可以包括以下步驟：

步驟s410：選擇顯示面板的一條信號線作為待檢信號線331；

步驟s420：在待檢信號線331與第一測試線341重疊的位置處使得待檢信號線331與第一測試線341短接，并形成第一短接點371；

步驟s430：在第一測試線341的遠離陣列基板本體392的一側切斷待檢信號線331；

步驟s440：選擇顯示面板的正常顯示區(qū)域對應的一條信號線作為對照信號線332；

步驟s450：在對照信號線332與第一測試線341重疊的位置處使得對照信號線332與第一測試線341短接，并形成第一對照短接點381；

步驟s460：在第一測試線341的遠離陣列基板本體392的一側切斷對照信號線332；

步驟s470：在第一短接點371和第一對照短接點381之間的位置處切斷第一測試線341；

步驟s480：經(jīng)由第一測試線341和第一短接點371向待檢信號線331輸入信號；

步驟s490：經(jīng)由第一測試線341和第一對照短接點381向對照信號線332輸入信號；以及

步驟s499：通過對比顯示面板本體的對應于待檢信號線331和對照信號線332的顯示區(qū)域的顯示情況、確定顯示面板本體的對應于待檢信號線331的部分是否存在不良。

例如，步驟s410-步驟s470的詳細內容可以參見步驟s310-步驟s370，在此不再贅述。例如，在步驟s480和步驟s490中，可以向待檢信號線331和對照信號線332輸入相同幅值、波形和時序的信號，并通過觀察顯示面板本體對應于待檢信號線331和對照信號線332部分的顯示亮度、確定顯示面板本體的對應于待檢信號線331的部分是否存在不良。由此，可以進一步提高顯示面板測試的準確性。顯然，圖10(a)所示的顯示面板測試方法中步驟的順序僅是示例性的，也即是上述步驟的順序可以根據(jù)實際應用需求進行改變。又例如，圖10(a)所示的顯示面板測試方法還可以按照如下順序進行：步驟s410、步驟s440、步驟s420、步驟s450、步驟s430、步驟s460-步驟s499。

例如，圖11(a)是本公開再一個實施例提供的一種顯示面板的再一種測試方法的示例性流程圖，圖11(b)是圖11(a)所示的測試方法的示意圖。如圖11(a)和圖11(b)所示，該顯示面板的測試方法可以包括以下步驟：

步驟s510：選擇顯示面板的一條信號線作為待檢信號線331；

步驟s520：在待檢信號線331與第一測試線341重疊的位置處使得待檢信號線331與第一測試線341短接，并形成第一短接點371；

步驟s530：在第一測試線341的遠離驅動電路391的一側切斷待檢信號線331；

步驟s540：經(jīng)由第一測試線341和第一短接點371獲取驅動電路391輸出的待檢電信號，由此確定驅動電路391對應于待檢信號線331的部分是否存在不良；

步驟s550：在待檢信號線331與第二測試線342重疊的位置處使得待檢信號線331與第二測試線342短接，并形成第二短接點372；以及

步驟s560：經(jīng)由第二測試線342和第二短接點372向待檢信號線331輸入信號并由此確定顯示面板本體對應于待檢信號線331的部分是否存在不良。

例如，步驟s510-步驟s540的詳細內容可以參見步驟s210-步驟s240，在此不再贅述。例如，在步驟s550中，可以使用激光將待檢信號線331與第二測試線342焊接以實現(xiàn)二者之間的短接。例如，在待檢信號線331為第一信號線的情況下，可以使用激光將第一信號線和第四測試電極323焊接在一起，由此實現(xiàn)第一信號線與第二測試線342的短接。又例如，在待檢信號線331為第二信號線的情況下，可以使用激光將第二信號線和第三測試電極313焊接在一起，由此實現(xiàn)第二信號線與第二測試線342的短接。

例如，在步驟s560中，可以經(jīng)由第二測試線342(例如第二測試線342右側的測試端子355)和第二短接點372向待檢信號線331輸入信號，由此確定顯示面板對應于待檢信號線331的部分是否存在不良。例如，在經(jīng)由第二測試線342和第二短接點372向待檢信號線331輸入信號后，顯示面板對應于待檢信號線331的部分是仍然不能實現(xiàn)正常顯示(例如，對應的像素不發(fā)光或者亮度偏低)的情況下，可以判定顯示面板對應于待檢信號線331的部分存在不良。例如，對于圖11所示的顯示面板的測試方法，針對同一根待檢信號線331，由于不僅可以通過獲取驅動電路391輸出的待檢電信號確定驅動電路391對應于該待檢信號線331的部分是否存在不良，還可以通過向待檢信號線331輸入信號確定顯示面板本體對應于該待檢信號線331的部分是否存在不良。由此可以進一步提升顯示面板測試的準確性。顯然，圖11(a)所示的顯示面板測試方法中步驟的順序僅是示例性的，也即是上述步驟的順序可以根據(jù)實際應用需求進行改變。例如，還可以先確定顯示面板本體對應于待檢信號線331的部分是否存在不良，然后再確定驅動電路391對應于待檢信號線331的部分是否存在不良。

例如，圖12(a)是本公開再一個實施例提供的一種顯示面板的再一種測試方法的示例性流程圖，圖12(b)是圖12(a)所示的測試方法的示意圖。如圖12(a)和圖12(b)所示，該顯示面板的測試方法可以包括以下步驟：

步驟s611：選擇顯示面板的對應于異常顯示區(qū)域的一條信號線和對應于正常的顯示區(qū)域的一條信號線分別作為待檢信號線331和對照信號線332；

步驟s612：在待檢信號線331和對照信號線332與第一測試線341重疊的位置處分別使得待檢信號線331和對照信號線332與第一測試線341短接，并分別形成第一短接點371和第一對照短接點381；

步驟s613：在第一測試線341的遠離驅動電路391的一側切斷待檢信號線331和對照信號線332；

步驟s614：在第一短接點371和第一對照短接點381之間的位置處切斷第一測試線341；

步驟s615：經(jīng)由第一測試線341和第一短接點371獲取驅動電路391輸出的待檢電信號，并經(jīng)由第一測試線341和第一對照短接點381獲取驅動電路391輸出的對照電信號；

步驟s616：通過對比驅動電路391輸出的待檢電信號和對照電信號確定驅動電路391的對應于待檢信號線331的部分是否存在不良；

步驟s617：在待檢信號線331和對照信號線332與第二測試線342重疊的位置處分別使得待檢信號線331和對照信號線332與第二測試線342短接，并分別形成第二短接點372和第二對照短接點382；

步驟s618：在第二短接點372和第二對照短接點382之間的位置處切斷第二測試線342；

步驟s619：經(jīng)由第二測試線342和第二短接點372向待檢信號線331輸入信號，并經(jīng)由第二測試線342和第二對照短接點382向對照信號線332輸入信號；以及

步驟s620：通過對比顯示面板的對應于待檢信號線331和對照信號線332的顯示區(qū)域的顯示情況、確定顯示面板本體的對應于待檢信號線331的部分是否存在不良。

例如，步驟s611-步驟s616的詳細內容可以參見步驟s310-s399，步驟s617-步驟s620可以參見步驟s450、步驟s470-步驟s499，在此不再贅述。例如，圖12所示的顯示面板的測試方法可以通過對比驅動電路391輸出的待檢電信號和對照電信號確定驅動電路391的對應于待檢信號線331的部分是否存在不良，并且還可以通過對比顯示面板的對應于待檢信號線331和對照信號線332的顯示區(qū)域的顯示情況確定顯示面板本體的對應于待檢信號線331的部分是否存在不良，由此圖12所示的顯示面板的測試方法可以進一步提升顯示面板測試的準確性。顯然，圖12(a)所示的顯示面板測試方法中步驟的順序僅是示例性的，也即是上述步驟的順序可以根據(jù)實際應用需求進行改變。例如，還可以先確定顯示面板本體對應于待檢信號線331的部分是否存在不良，然后再確定驅動電路391對應于待檢信號線331的部分是否存在不良。

例如，為了清楚的說明本公開的實施例，附圖中的部分結構的尺寸比例相對于實際產品中的尺寸比例可能不一致，例如被適當夸大，部分結構的尺寸比例也可能小于實際產品中的尺寸比例，也即是，附圖中結構的尺寸比例不代表真實結構的尺寸比例。

本公開的實施例提供了一種陣列基板、顯示面板及其測試方法和顯示裝置，該陣列基板、顯示面板及其測試方法和顯示裝置可以提高顯示面板或/和顯示裝置測試的準確性。

雖然上文中已經(jīng)用一般性說明及具體實施方式，對本公開作了詳盡的描述，但在本公開實施例基礎上，可以對之作一些修改或改進，這對本領域技術人員而言是顯而易見的。因此，在不偏離本公開精神的基礎上所做的這些修改或改進，均屬于本公開要求保護的范圍。