本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種像素電路及其驅(qū)動方法、顯示裝置。

背景技術(shù)：

有機發(fā)光二極管(英文：Organic LightEmitting Diode；簡稱：OLED)的像素電路是一種通過驅(qū)動晶體管來控制流過OLED的電流的電路結(jié)構(gòu)，主要應用在顯示裝置中。參考圖1，OLED像素電路一般為2T1C的結(jié)構(gòu)，即包括2個晶體管T1和T2，1個電容器C和1個OLED，該2個晶體管能夠?qū)?shù)據(jù)信號端DATA的數(shù)據(jù)電壓轉(zhuǎn)化為用于驅(qū)動OLED的驅(qū)動電流。

相關(guān)技術(shù)中，由于該驅(qū)動電流的大小與驅(qū)動晶體管T1的閾值電壓Vth相關(guān)，為了避免該驅(qū)動晶體管T1的Vth隨時間發(fā)生漂移，在對像素電路進行驅(qū)動的過程中，需要對該驅(qū)動晶體管的Vth進行檢測，并根據(jù)該Vth對數(shù)據(jù)信號端DATA輸出的數(shù)據(jù)信號的電壓進行補償。具體的，在檢測的過程中，可以通過數(shù)據(jù)信號端DATA對驅(qū)動晶體管T1的柵極G進行充電，在電容器C和第一電源信號端VDD的作用下，驅(qū)動晶體管T1源極S的電壓也逐漸上升。當該驅(qū)動晶體管T1處于截止狀態(tài)(即驅(qū)動晶體管T1源極S的電壓達到飽和)時，可以檢測該驅(qū)動晶體管T1源極S的電壓Vs，并確定該驅(qū)動晶體管T1閾值電壓Vth的大小，該閾值電壓Vth滿足：Vth＝Vdata-Vs。其中，Vdata為數(shù)據(jù)信號端DATA向驅(qū)動晶體管T1的柵極G輸出的數(shù)據(jù)信號的電壓。

但是，對于相關(guān)技術(shù)中的像素電路，在檢測驅(qū)動晶體管的閾值電壓時，對驅(qū)動晶體管進行充電的時間較長，檢測的效率較低。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

為了解決相關(guān)技術(shù)中，像素電路中驅(qū)動晶體管的閾值電壓檢測效率較低的問題，本發(fā)明提供了一種像素電路及其驅(qū)動方法、顯示裝置。技術(shù)方案如下：

第一方面，提供了一種像素電路，所述像素電路包括：驅(qū)動模塊、發(fā)光模塊和檢測模塊，其中，所述驅(qū)動模塊包括驅(qū)動晶體管；

所述驅(qū)動模塊分別與數(shù)據(jù)信號端、第一驅(qū)動信號端、第一電源信號端和驅(qū)動節(jié)點連接，用于在來自所述數(shù)據(jù)信號端的數(shù)據(jù)信號、來自所述第一驅(qū)動信號端的第一驅(qū)動信號和來自所述第一電源信號端的第一電源信號的控制下，控制所述驅(qū)動節(jié)點的電壓；

所述發(fā)光模塊分別與所述驅(qū)動節(jié)點和第二電源信號端連接，所述驅(qū)動節(jié)點與所述驅(qū)動晶體管的第一極相連，所述發(fā)光模塊用于在所述驅(qū)動節(jié)點的驅(qū)動下發(fā)光；

所述檢測模塊分別與所述驅(qū)動節(jié)點、第二驅(qū)動信號端、控制信號端和所述數(shù)據(jù)信號端連接，用于在來自所述第二驅(qū)動信號端的第二驅(qū)動信號和來自所述控制信號端的控制信號的控制下，通過所述數(shù)據(jù)信號對所述驅(qū)動節(jié)點進行預充電；

所述檢測模塊還用于在所述驅(qū)動模塊對所述驅(qū)動節(jié)點進行充電，使得所述驅(qū)動晶體管處于截止狀態(tài)時，檢測所述驅(qū)動節(jié)點的電壓Vs，并根據(jù)所述驅(qū)動節(jié)點的電壓Vs確定所述驅(qū)動晶體管的閾值電壓Vth。

可選的，所述檢測模塊，包括：檢測晶體管、控制晶體管和檢測單元；

所述控制晶體管的柵極與所述控制信號端連接，第一極與所述數(shù)據(jù)信號端連接，第二極與測量節(jié)點連接；

所述檢測晶體管的柵極與所述第二驅(qū)動信號端連接，第一極與所述測量節(jié)點連接，第二極與所述驅(qū)動節(jié)點連接；

所述檢測單元與所述測量節(jié)點連接，用于在所述檢測晶體管開啟時，檢測所述測量節(jié)點的電壓。

可選的，所述驅(qū)動模塊，包括：開關(guān)晶體管、所述驅(qū)動晶體管和電容器；

所述開關(guān)晶體管的柵極與所述第一驅(qū)動信號端連接，第一極與所述數(shù)據(jù)信號端連接，第二極與開關(guān)節(jié)點連接；

所述驅(qū)動晶體管的柵極與所述開關(guān)節(jié)點連接，第一極與所述驅(qū)動節(jié)點連接，第二極與所述第一電源信號端連接；

所述電容器的一端與所述開關(guān)節(jié)點連接，另一端與所述驅(qū)動節(jié)點連接。

可選的，所述發(fā)光模塊，包括：有機發(fā)光二極管；

所述有機發(fā)光二極管的一端與所述驅(qū)動節(jié)點連接，另一端與所述第二電源信號端連接。

可選的，所述晶體管均為N型晶體管，或者均為P型晶體管。

第二方面，提供了一種像素電路的驅(qū)動方法，所述像素電路包括：驅(qū)動模塊、發(fā)光模塊和檢測模塊，其中，所述驅(qū)動模塊包括驅(qū)動晶體管，所述方法包括：

預充電階段：第一驅(qū)動信號端輸出的第一驅(qū)動信號為第二電位，第二驅(qū)動信號端輸出的第二驅(qū)動信號以及控制信號端輸出的控制信號為第一電位，數(shù)據(jù)信號端輸出的數(shù)據(jù)信號的電壓為第一電壓V1，所述檢測模塊在所述第二驅(qū)動信號和所述控制信號的控制下，將所述數(shù)據(jù)信號的第一電壓V1寫入驅(qū)動節(jié)點，所述驅(qū)動節(jié)點與所述驅(qū)動晶體管的第一極相連，所述第一電壓V1滿足：0＜V1≤Vd-Vth0，其中Vd為預設(shè)數(shù)據(jù)電壓，Vth0為所述檢測模塊上一次檢測到的所述驅(qū)動晶體管的閾值電壓；

檢測階段：所述第一驅(qū)動信號、所述第二驅(qū)動信號以及第一電源信號端輸出的第一電源信號為第一電位，所述數(shù)據(jù)信號的電壓為所述預設(shè)數(shù)據(jù)電壓Vd，所述驅(qū)動模塊在所述第一驅(qū)動信號和所述數(shù)據(jù)信號的控制下，通過所述第一電源信號對所述驅(qū)動節(jié)點充電，使所述驅(qū)動晶體管處于截止狀態(tài)，所述檢測模塊在所述第二驅(qū)動信號的控制下檢測所述驅(qū)動節(jié)點的電壓Vs，并根據(jù)所述驅(qū)動節(jié)點的電壓Vs，確定所述驅(qū)動晶體管當前的閾值電壓Vth。

可選的，所述方法還包括：

顯示階段：所述第一驅(qū)動信號為第一電位，所述數(shù)據(jù)信號端輸出的數(shù)據(jù)信號的電壓為第二電壓V2，所述驅(qū)動模塊在所述數(shù)據(jù)信號、所述第一驅(qū)動信號和所述第一電源信號的控制下，向所述驅(qū)動節(jié)點輸出驅(qū)動電流，所述發(fā)光模塊發(fā)光，其中，所述第二電壓V2滿足：V2＝Vdata+Vth，Vdata為顯示數(shù)據(jù)電壓。

可選的，所述驅(qū)動模塊，包括：開關(guān)晶體管、驅(qū)動晶體管和電容器；所述發(fā)光模塊，包括：有機發(fā)光二極管；所述檢測模塊，包括：檢測晶體管、開關(guān)和檢測單元；

所述預充電階段中，所述第一驅(qū)動信號為第二電位，所述第二驅(qū)動信號和所述控制信號為第一電位，所述開關(guān)晶體管關(guān)斷，所述控制晶體管和所述檢測晶體管開啟，所述數(shù)據(jù)信號端向所述驅(qū)動節(jié)點寫入所述第一電壓V1；

所述檢測階段中，所述控制信號為第二電位，所述第一驅(qū)動信號和所述第二驅(qū)動信號為第一電位，所述數(shù)據(jù)信號的電壓為所述預設(shè)數(shù)據(jù)電壓Vd，所述控制晶體管關(guān)斷，所述開關(guān)晶體管、所述驅(qū)動晶體管和所述檢測晶體管開啟，所述第一電源信號端對所述驅(qū)動節(jié)點充電，使得所述驅(qū)動晶體管截止，所述驅(qū)動節(jié)點與所述測量節(jié)點導通，所述檢測單元檢測所述測量節(jié)點的電壓。

可選的，所述晶體管均為N型晶體管，所述第一電位相對于所述第二電位為高電位；或者，所述晶體管均為P型晶體管，所述第一電位相對于所述第二電位為低電位。

第三方面，提供了一種顯示裝置，所述顯示裝置，包括：

如第一方面所述的像素電路。

本發(fā)明提供的技術(shù)方案帶來的有益效果是：

本發(fā)明提供了一種像素電路及其驅(qū)動方法、顯示裝置，該像素電路中包括檢測模塊，該檢測模塊可以通過數(shù)據(jù)信號對驅(qū)動節(jié)點進行預充電，該驅(qū)動節(jié)點與驅(qū)動晶體管的第一極相連。因此，當為了檢測該驅(qū)動晶體管的閾值電壓，驅(qū)動模塊再次對該驅(qū)動節(jié)點進行充電時，可以使得該驅(qū)動晶體管快速達到截止狀態(tài)時，從而有效減少了驅(qū)動晶體管的充電時間，提高了閾值電壓的檢測效率。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是相關(guān)技術(shù)中一種像素電路的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本發(fā)明實施例提供的一種像素電路的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是本發(fā)明實施例提供的另一種像素電路的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4是本發(fā)明實施例提供的一種像素電路的驅(qū)動方法的流程圖；

圖5是本發(fā)明實施例提供的一種像素電路驅(qū)動過程的時序圖；

圖6是本發(fā)明實施例提供的另一種像素電路驅(qū)動過程的時序圖。

具體實施方式

為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明實施方式作進一步地詳細描述。

本發(fā)明所有實施例中采用的晶體管均可以為薄膜晶體管或場效應管或其他特性相同的器件，由于這里采用的晶體管的源極、漏極是對稱的，所以其源極、漏極是可以互換的。在本發(fā)明實施例中，將其中源極稱為第一級，漏極稱為第二級。按附圖中的形態(tài)規(guī)定晶體管的中間端為柵極、信號輸入端為源極、信號輸出端為漏極。此外，本發(fā)明實施例所采用的晶體管可以包括P型晶體管和N型晶體管中的任一種，其中，P型晶體管在柵極為低電平時導通，在柵極為高電平時截止，N型晶體管在柵極為高電平時導通，在柵極為低電平時截止。此外，本發(fā)明各個實施例中的多個信號都對應有第一電位和第二電位。第一電位和第二電位僅代表該信號的電壓有2個狀態(tài)量，不代表全文中第一電位或第二電位具有特定的數(shù)值。

圖2是本發(fā)明實施例提供的一種像素電路的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖2所示，該像素電路可以包括：驅(qū)動模塊10、發(fā)光模塊20和檢測模塊30，其中，該驅(qū)動模塊10中可以包括驅(qū)動晶體管(圖2中未示出)。

該驅(qū)動模塊10分別與數(shù)據(jù)信號端DATA、第一驅(qū)動信號端G1、第一電源信號端VDD和驅(qū)動節(jié)點S連接，用于在來自該數(shù)據(jù)信號端DATA的數(shù)據(jù)信號、來自該第一驅(qū)動信號端G1的第一驅(qū)動信號和來自該第一電源信號端VDD的第一電源信號的控制下，控制該驅(qū)動節(jié)點S的電壓。

發(fā)光模塊20分別與該驅(qū)動節(jié)點S和第二電源信號端VSS連接，該驅(qū)動節(jié)點S與驅(qū)動晶體管的第一極相連，該發(fā)光模塊20用于在該驅(qū)動節(jié)點S的驅(qū)動下發(fā)光。

該檢測模塊30分別與該驅(qū)動節(jié)點S、第二驅(qū)動信號端G2、控制信號端K和該數(shù)據(jù)信號端DATA連接，用于在來自該第二驅(qū)動信號端G2的第二驅(qū)動信號和來自該控制信號端K的控制信號的控制下，通過該數(shù)據(jù)信號對該驅(qū)動節(jié)點S進行預充電。

該檢測模塊30還可以在該驅(qū)動模塊10對該驅(qū)動節(jié)點S進行充電，使得該驅(qū)動晶體管M3處于截止狀態(tài)時，檢測該驅(qū)動節(jié)點S的電壓Vs，并根據(jù)該驅(qū)動節(jié)點S的電壓Vs確定該驅(qū)動晶體管M3的閾值電壓Vth。

該驅(qū)動晶體管M3的閾值電壓Vth滿足：Vth＝Vd-Vs，其中，Vd為該驅(qū)動模塊10對該驅(qū)動節(jié)點S充電時，該數(shù)據(jù)信號端DATA輸出的數(shù)據(jù)信號的電壓。

綜上所述，本發(fā)明實施例提供了一種像素電路，該像素電路中包括檢測模塊，該檢測模塊可以通過數(shù)據(jù)信號對驅(qū)動節(jié)點進行預充電，該驅(qū)動節(jié)點與驅(qū)動晶體管的第一極相連。因此，當為了檢測該驅(qū)動晶體管的閾值電壓，驅(qū)動模塊再次對該驅(qū)動節(jié)點進行充電時，可以使得該驅(qū)動晶體管快速達到截止狀態(tài)時，從而有效減少了驅(qū)動晶體管的充電時間，提高了閾值電壓的檢測效率。

圖3是本發(fā)明實施例提供的另一種像素電路的結(jié)構(gòu)示意圖，參考圖3，該檢測模塊30可以包括：控制晶體管M0、檢測晶體管M1和檢測單元301。

其中，該控制晶體管M0的柵極與控制信號端K連接，第一極與數(shù)據(jù)信號端DATA連接，第二極與測量節(jié)點T連接，用于控制該數(shù)據(jù)信號端DATA與該測量節(jié)點T之間的導通和關(guān)斷。

該檢測晶體管M1的柵極與該第二驅(qū)動信號端G2連接，第一極與測量節(jié)點T連接，第二極與該驅(qū)動節(jié)點S連接。

該檢測單元301與該測量節(jié)點T連接，用于在該檢測晶體管M1開啟時，檢測該測量節(jié)點T的電壓。由于檢測晶體管M1開啟時，驅(qū)動節(jié)點S與測量節(jié)點T導通，因此檢測單元301檢測到的該測量節(jié)點T的電壓也即是該驅(qū)動節(jié)點S的電壓。

需要說明的是，該檢測單元301可以包括模數(shù)轉(zhuǎn)換器，該模數(shù)轉(zhuǎn)換器可以通過信號線與測量節(jié)點T連接，并能夠檢測該測量節(jié)點T的電壓。并且，該檢測模塊30中的控制晶體管M0和檢測單元301可以均集成在集成電路(Integrated Circuit；IC)中。

進一步的，參考圖3，該驅(qū)動模塊10可以包括：開關(guān)晶體管M2、驅(qū)動晶體管M3和電容器C。

該開關(guān)晶體管M2的柵極與該第一驅(qū)動信號端G1連接，第一極與該數(shù)據(jù)信號端DATA連接，第二極與開關(guān)節(jié)點G連接。

該驅(qū)動晶體管M3的柵極與該開關(guān)節(jié)點G連接，第一極與該驅(qū)動節(jié)點S連接，第二極與該第一電源信號端VDD連接。

該電容器C的一端與該開關(guān)節(jié)點G連接，另一端與該驅(qū)動節(jié)點S連接。

可選的，如圖3所示，該發(fā)光模塊20可以包括一個OLED，該OLED的一端與驅(qū)動節(jié)點S連接，另一端與第二電源信號端VSS連接。

其中，該第一電源信號端VDD用于提供處于第一電位的電源信號，第二電源信號端VSS用于提供處于第二電位的電源信號，且該第一電位相對于該第二電位可以為高電位。

綜上所述，本發(fā)明實施例提供了一種像素電路，該像素電路中包括檢測模塊，該檢測模塊可以通過數(shù)據(jù)信號對驅(qū)動節(jié)點進行預充電，該驅(qū)動節(jié)點與驅(qū)動晶體管的第一極相連。因此，當為了檢測該驅(qū)動晶體管的閾值電壓，驅(qū)動模塊再次對該驅(qū)動節(jié)點進行充電時，可以使得該驅(qū)動晶體管快速達到截止狀態(tài)時，從而有效減少了驅(qū)動晶體管的充電時間，提高了閾值電壓的檢測效率。

圖4是本發(fā)明實施例提供的一種像素電路的驅(qū)動方法的流程圖，該方法可以用于驅(qū)動如圖2或圖3所示的像素電路，該像素電路可以包括：驅(qū)動模塊10、發(fā)光模塊20和檢測模塊30，參考圖4，該方法可以包括：

步驟201、預充電階段：第一驅(qū)動信號端G1輸出的第一驅(qū)動信號為第二電位，第二驅(qū)動信號端G2輸出的第二驅(qū)動信號以及控制信號端K輸出的控制信號為第一電位，數(shù)據(jù)信號端DATA輸出的數(shù)據(jù)信號的電壓為第一電壓V1，該檢測模塊30在該第二驅(qū)動信號和控制信號的控制下，將該數(shù)據(jù)信號的第一電壓V1寫入驅(qū)動節(jié)點S。

該第一電壓V1滿足：0＜V1≤Vd-Vth0公式(1)；

其中，Vd為預設(shè)數(shù)據(jù)電壓，Vth0為該檢測模塊30上一次檢測到的該驅(qū)動晶體管M3的閾值電壓，該驅(qū)動節(jié)點S與驅(qū)動晶體管的第一極相連。

步驟202、檢測階段：該第一驅(qū)動信號、該第二驅(qū)動信號以及第一電源信號端VDD輸出的第一電源信號均為第一電位，該數(shù)據(jù)信號的電壓為該預設(shè)數(shù)據(jù)電壓Vd，該驅(qū)動模塊10在該第一驅(qū)動信號和該數(shù)據(jù)信號的控制下，通過該第一電源信號對該驅(qū)動節(jié)點S充電，使該驅(qū)動晶體管處于截止狀態(tài)，該檢測模塊30在第二驅(qū)動信號的控制下，檢測該驅(qū)動節(jié)點S的電壓Vs，并根據(jù)該驅(qū)動節(jié)點S的電壓Vs，確定該驅(qū)動晶體管當前的閾值電壓Vth。

該驅(qū)動晶體管當前的閾值電壓Vth滿足：Vth＝Vd-Vs。由此可知，驅(qū)動晶體管處于截止狀態(tài)時，驅(qū)動節(jié)點S的電壓Vs應當滿足：

Vs＝Vd-Vth， 公式(2)。

在本發(fā)明實施例中，該檢測模塊30在預充電階段向驅(qū)動節(jié)點S寫入的第一電壓V1可以稍小于Vd-Vth0。對比公式(1)和公式(2)可知，由于驅(qū)動晶體管當前的閾值電壓Vth和上一次檢測到的閾值電壓Vth0之間的壓差較小，因此在該檢測階段t2中，驅(qū)動節(jié)點S的電壓改變量也較小，在檢測階段通過第一電源信號端VDD對該驅(qū)動節(jié)點S進行充電時，該驅(qū)動晶體管M3可以快速達到截止狀態(tài)，從而有效降低了驅(qū)動晶體管的充電時間，提高了閾值電壓的檢測效率。

進一步的，由于驅(qū)動節(jié)點S在預充電階段寫入的第一電壓V1稍小于Vd-Vth0，因此可以避免該第一電壓V1大于最終需要達到的電壓Vs，即可以避免驅(qū)動節(jié)點S電壓過沖。

綜上所述，本發(fā)明實施例提供了一種像素電路的驅(qū)動方法，該驅(qū)動方法中包括預充電階段，在該預充電階段，檢測模塊可以通過數(shù)據(jù)信號對驅(qū)動節(jié)點進行預充電，該驅(qū)動節(jié)點與驅(qū)動晶體管的第一極相連。因此，當為了檢測該驅(qū)動晶體管的閾值電壓，驅(qū)動模塊再次對該驅(qū)動節(jié)點進行充電時，可以使得該驅(qū)動晶體管快速達到截止狀態(tài)時，從而有效減少了驅(qū)動晶體管的充電時間，提高了閾值電壓的檢測效率。

進一步的，參考圖4，該方法還可以包括：

步驟203、顯示階段：該第一驅(qū)動信號為第一電位，該數(shù)據(jù)信號端DATA輸出的數(shù)據(jù)信號的電壓為第二電壓V2，該驅(qū)動模塊10在該數(shù)據(jù)信號、該第一驅(qū)動信號和該第一電源信號的控制下，向該驅(qū)動節(jié)點S輸出驅(qū)動電流，該發(fā)光模塊20發(fā)光。

其中，該第二電壓V2滿足：V2＝Vdata+Vth，Vdata為用于顯示圖像數(shù)據(jù)的顯示數(shù)據(jù)電壓。

圖5是本發(fā)明實施例提供的一種像素電路驅(qū)動過程的時序圖，以圖3所示的像素電路為例，詳細介紹本發(fā)明實施例提供的像素電路的驅(qū)動方法。

參考圖5，在預充電階段t1中，第一驅(qū)動信號端G1輸出的第一驅(qū)動信號為第二電位，開關(guān)晶體管M2關(guān)斷。第二驅(qū)動信號端G2輸出的第二驅(qū)動信號和控制信號端K輸出的控制信號均為第一電位，控制晶體管M0和檢測晶體管M1開啟，將數(shù)據(jù)信號端DATA與驅(qū)動節(jié)點S導通，使得數(shù)據(jù)信號端DATA可以向該驅(qū)動節(jié)點S(也即是驅(qū)動晶體管M3的第一極)寫入第一電壓V1。

其中，該第一電壓V1滿足：0＜V1≤Vd-Vth0，Vd為預設(shè)數(shù)據(jù)電壓，Vth0為檢測模塊30上一次檢測到的該驅(qū)動晶體管M3的閾值電壓。在本發(fā)明實施例中，該預設(shè)的據(jù)電壓Vd可以為預先設(shè)定的固定值，例如可以為5伏特(V)。

在檢測階段t2中，控制信號端K輸出的控制信號為第二電位，控制晶體管M0關(guān)斷，使得該數(shù)據(jù)信號端DATA與該測量節(jié)點T之間關(guān)斷。此時，該數(shù)據(jù)信號的電壓可以為預設(shè)數(shù)據(jù)電壓Vd，第一驅(qū)動信號端G1輸出的第一驅(qū)動信號為第一電位，開關(guān)晶體管M2開啟，數(shù)據(jù)信號端DATA可以向開關(guān)節(jié)點G寫入處于預設(shè)數(shù)據(jù)電壓Vd的數(shù)據(jù)信號，使得該驅(qū)動晶體管M3開啟，第一電源信號端VDD通過該驅(qū)動晶體管M3對該驅(qū)動節(jié)點S充電，直至該驅(qū)動晶體管M3截止。由于該驅(qū)動節(jié)點S為驅(qū)動晶體管M3的第一極(也即是源極)，開關(guān)節(jié)點G為驅(qū)動晶體管M3的柵極，因此當該驅(qū)動晶體管M3截止時，該驅(qū)動晶體管M3的柵源電壓VGS(即柵極電壓Vg與源極電壓Vs之差)應當與其閾值電壓Vth相等，即Vg-Vs＝Vth。

由于在該檢測階段t2中，第二驅(qū)動信號端G2輸出的第二驅(qū)動信號也為第一電位，檢測晶體管M1開啟，該驅(qū)動節(jié)點S與該測量節(jié)點T導通。因此該檢測單元301可以通過檢測該測量節(jié)點T的電壓，確定該驅(qū)動節(jié)點S的電壓Vs，進而確定該驅(qū)動晶體管M3的閾值電壓Vth為：Vg-Vs。又由于該驅(qū)動晶體管M3的柵極電壓Vg為數(shù)據(jù)信號端DATA寫入的預設(shè)數(shù)據(jù)電壓Vd，因此該檢測單元301最終可以確定該驅(qū)動晶體管M3當前的閾值電壓Vth滿足：Vth＝Vd-Vs。

進一步的，如圖5所示，在該顯示階段t3中，該第一驅(qū)動信號端G1輸出的第一驅(qū)動信號為第一電位，第二驅(qū)動信號端G2輸出的第二驅(qū)動信號以及控制信號端K輸出的控制信號均為第二電位，此時檢測晶體管M1和控制晶體管M0關(guān)斷，開關(guān)晶體管M2開啟，數(shù)據(jù)信號端DATA向開關(guān)節(jié)點G寫入第二電壓V2，使得該驅(qū)動晶體管M3開啟，第一電源信號端VDD向驅(qū)動節(jié)點S輸出驅(qū)動電流，OLED開始發(fā)光。

由于該顯示階段t3中，數(shù)據(jù)信號端DATA輸出的數(shù)據(jù)信號的電壓V2滿足：V2＝Vdata+Vth，其中Vdata為顯示數(shù)據(jù)電壓，Vth為檢測單元檢測到的驅(qū)動晶體管M3當前的閾值電壓。因此該數(shù)據(jù)信號端DATA輸出的數(shù)據(jù)信號可以根據(jù)閾值電壓對顯示數(shù)據(jù)電壓進行有效補償，從而可以避免各個像素電路中驅(qū)動晶體管閾值電壓漂移的影響，保證顯示裝置顯示亮度的均一性，提高顯示效果。

圖6是本發(fā)明實施例提供的另一種像素電路驅(qū)動過程的時序圖，參考圖6可知，該顯示階段t3還可以在該預充電階段t1和檢測階段t2之前執(zhí)行。此時在該顯示階段t3中，數(shù)據(jù)信號端DATA輸出的數(shù)據(jù)信號的電壓V2應當滿足：V2＝Vdata+Vth0，也即是，數(shù)據(jù)信號端DATA可以根據(jù)上一次檢測到的閾值電壓Vth0對該顯示數(shù)據(jù)電壓Vdata進行補償。之后，在下一個顯示階段中，再采用當前檢測到閾值電壓Vth對該顯示數(shù)據(jù)電壓Vdata進行補償。

需要說明的是，該像素電路可以周期性的執(zhí)行預充電階段t1和檢測階段t2，以對該驅(qū)動晶體管M3的閾值電壓進行周期性的檢測。例如，該像素電路可以在每一幀掃描開始之前檢測一次驅(qū)動晶體管的閾值電壓，或者也可以在每一幀掃描結(jié)束之后檢測一次該驅(qū)動晶體管的閾值電壓，本發(fā)明實施例對該閾值電壓的檢測時刻和檢測周期不做具體限定。

還需要說明的是，在上述實施例中，均是以各個晶體管為N型晶體管，且第一電位為相對于該第二電位為高電位為例進行的說明。當然，該各個晶體管還可以均采用P型晶體管，當該各個晶體管均采用P型晶體管時，該第一電位相對于該第二電位可以為低電位，且該各個信號端的電位變化可以與圖5或圖6所示的電位變化相反(即二者的相位差為180度)。

綜上所述，本發(fā)明實施例提供了一種像素電路的驅(qū)動方法，該驅(qū)動方法中包括預充電階段，在該預充電階段，檢測模塊可以通過數(shù)據(jù)信號對驅(qū)動節(jié)點進行預充電，該驅(qū)動節(jié)點與驅(qū)動晶體管的第一極相連。因此，當為了檢測該驅(qū)動晶體管的閾值電壓，驅(qū)動模塊再次對該驅(qū)動節(jié)點進行充電時，可以使得該驅(qū)動晶體管快速達到截止狀態(tài)時，從而有效減少了驅(qū)動晶體管的充電時間，提高了閾值電壓的檢測效率。

本發(fā)明實施例還提供一種顯示裝置，該顯示裝置可以包括如圖2或圖3所示的像素電路。該顯示裝置可以為：OLED面板、AMOLED面板、手機、平板電腦、電視機、顯示器、筆記本電腦、數(shù)碼相框、導航儀等任何具有顯示功能的產(chǎn)品或部件。

所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到，為描述的方便和簡潔，上述描述的像素電路和各模塊的具體工作過程，可以參考前述方法實施例中的對應過程，在此不再贅述。

以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。