技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供一種測(cè)試電路開關(guān)控制單元、方法、測(cè)試電路和顯示裝置，所述測(cè)試電路開關(guān)控制單元包括偏壓控制模塊，用于在非測(cè)試時(shí)間段，在每一偏壓周期內(nèi)，控制柵線測(cè)試開關(guān)晶體管處于正偏壓的第一正偏壓時(shí)間和柵線測(cè)試開關(guān)晶體管處于負(fù)偏壓的第一負(fù)偏壓時(shí)間之間的差值的絕對(duì)值小于第一預(yù)定時(shí)間差值，并控制數(shù)據(jù)線測(cè)試開關(guān)晶體管處于正偏壓的第二正偏壓時(shí)間和數(shù)據(jù)線測(cè)試開關(guān)晶體管處于負(fù)偏壓的第二負(fù)偏壓時(shí)間之間的差值的絕對(duì)值小于第二預(yù)定時(shí)間差值；偏壓周期持續(xù)的時(shí)間小于預(yù)定周期時(shí)間。本發(fā)明可以改善柵線測(cè)試開關(guān)晶體管的特性和數(shù)據(jù)線測(cè)試開關(guān)晶體管的特性裂化的情況。

技術(shù)研發(fā)人員：莫再隆;青海剛;黃鸝
受保護(hù)的技術(shù)使用者：京東方科技集團(tuán)股份有限公司;成都京東方光電科技有限公司
文檔號(hào)碼：201610960992
技術(shù)研發(fā)日：2016.10.28
技術(shù)公布日：2017.01.04