本發(fā)明涉及顯示
技術領域：
，特別是涉及一種顯示屏殘影檢測系統(tǒng)及方法。
背景技術：
：在設計液晶面板時，會對液晶面板進行影像殘留的檢測(ImageSticking)，即讓液晶面板停留在一個畫面(如棋盤格畫面)上達100多小時，改變顯示內容后，觀察前一個畫面的殘留程度。一般檢測殘影的依據是基于人眼判斷的JND(Justnoticeabledifference,最小可覺差)模型，其主觀因素過高。技術實現要素：本發(fā)明主要解決的技術問題是提供一種顯示屏殘影檢測系統(tǒng)及方法，能夠客觀、有效地評價顯示畫面的局部殘影的嚴重程度。為解決上述技術問題，本發(fā)明采用的一個技術方案是：提供一種顯示屏殘影檢測方法，包括：獲得待檢測殘影的顯示屏圖像；將所述顯示屏圖像中所述顯示屏的顯示畫面部分平均分為至少兩個相同的區(qū)域；以至少兩個所述區(qū)域中的一個為參考區(qū)，按所述參考區(qū)的大小繪制區(qū)域棋盤格畫面；將所述區(qū)域棋盤格畫面和所述顯示畫面部分的各個所述區(qū)域分別進行傅里葉變換，獲得各個所述區(qū)域殘影的特征頻率及其對應在各自頻譜結構中的第一頻譜能量值，另外獲取各個所述區(qū)域的參考頻率在頻域結構中的第二頻譜能量值；獲得各個所述區(qū)域對應的所述第一頻譜能量值與所述第二頻譜能量值的比值。其中，方法進一步包括：獲得各個所述區(qū)域對應的比值中最大的一個比值；判斷所述最大的一個比值是否超出對應檢測合格的數值范圍，若超出所述數值范圍，則判斷為不合格，否則為合格。其中，將所述顯示屏的顯示畫面部分平均分為至少兩個面積相同的區(qū)域包括：將所述顯示屏的顯示畫面部分平均分為至少兩個面積相同且形狀相同的區(qū)域。其中，將所述顯示屏的顯示畫面部分平均分為至少兩個面積相同、形狀相同且部分重疊的區(qū)域包括：將所述顯示屏的顯示畫面部分平均劃分為不重疊且面積相同、形狀相同的第一矩形區(qū)域；在所述第一矩形區(qū)域基礎上，繼續(xù)在相鄰兩個所述第一矩形區(qū)域之間、四個所述第一矩形區(qū)域之間劃分相互重疊且面積相同、形狀相同的第二矩形區(qū)域。其中，所述參考頻率是零頻。為解決上述技術問題，本發(fā)明采用的另一個技術方案是：提供一種顯示屏殘影檢測系統(tǒng)，包括：獲取裝置，用于獲得待檢測殘影的顯示屏圖像；劃分裝置，用于將所述顯示屏圖像中所述顯示屏的顯示畫面部分平均分為至少兩個相同的區(qū)域；繪制裝置，用于以所述至少兩個區(qū)域中的一個為參考區(qū)，按所述參考區(qū)的大小繪制區(qū)域棋盤格畫面；運算裝置，用于將所述區(qū)域棋盤格畫面和所述顯示畫面部分的各個所述區(qū)域分別進行傅里葉變換，獲得各個所述區(qū)域殘影的特征頻率及其對應在各自頻譜結構中的第一頻譜能量值，另外獲取各個所述區(qū)域的參考頻率在頻域結構中的第二頻譜能量值，進一步獲得各個所述區(qū)域對應的所述第一頻譜能量值與所述第二頻譜能量值的比值。其中，所述運算裝置進一步包括：獲取單元，用于獲得各個所述區(qū)域對應的比值中最大的一個比值；判斷單元，用于判斷所述最大的一個比值是否超出對應檢測合格的數值范圍；處理單元，用于在所述判斷單元判斷到超出所述數值范圍時，判斷為不合格，否則為合格。其中，所述劃分裝置具體是將所述顯示屏的顯示畫面部分平均分為至少兩個面積相同且形狀相同的區(qū)域。其中，所述劃分裝置具體是將所述顯示屏的顯示畫面部分平均劃分為不重疊且面積相同、形狀相同的第一矩形區(qū)域，并在所述第一矩形區(qū)域基礎上，繼續(xù)在相鄰兩個所述第一矩形區(qū)域之間、四個所述第一矩形區(qū)域之間劃分相互重疊且面積相同、形狀相同的第二矩形區(qū)域。其中，所述參考頻率是零頻。本發(fā)明的有益效果是：區(qū)別于現有技術的情況，本發(fā)明提供一種顯示屏殘影檢測系統(tǒng)及方法，包括以下步驟：首先獲得待檢測殘影的顯示屏圖像，然后將顯示屏圖像中顯示屏的顯示畫面部分平均分為至少兩個相同的區(qū)域，進而以至少兩個區(qū)域中的一個為參考區(qū)，按參考區(qū)的大小繪制區(qū)域棋盤格畫面，進一步將區(qū)域棋盤格畫面和顯示畫面部分的各個區(qū)域分別進行傅里葉變換，獲得各個區(qū)域殘影的特征頻率及其對應在各自頻譜結構中的第一頻譜能量值，另外獲取各個區(qū)域的參考頻率在頻域結構中的第二頻譜能量值，最后獲得各個區(qū)域對應的第一頻譜能量值與第二頻譜能量值的比值。本發(fā)明對局部圖像頻域結構進行處理，能夠客觀、有效地評價顯示畫面的局部殘影的嚴重程度。附圖說明圖1是本發(fā)明實施方式提供的一種顯示屏殘影檢測方法的流程圖；圖2是顯示屏的顯示畫面部分劃分為9區(qū)域時前5個區(qū)域的示意圖；圖3是顯示屏的顯示畫面部分劃分為9區(qū)域時后4個區(qū)域的示意圖；圖4是按參考區(qū)的大小繪制的區(qū)域棋盤格畫面；圖5是本發(fā)明實施方式提供的一種顯示屏殘影檢測系統(tǒng)的結構示意圖。具體實施方式請參閱圖1，圖1是本發(fā)明實施方式提供的一種顯示屏殘影檢測方法的流程圖。如圖1所示，本實施例的方法包括以下步驟：步驟S1：獲得待檢測殘影的顯示屏圖像。本步驟中，具體是通過照相機等圖像獲取工具采用標準照相手法獲取經過IS實驗的128灰階下顯示屏圖像。其中，標準拍照手法的說明如下：相機型號：Canon600D；測量距離為顯示屏寬度的3倍，測量方向垂直于顯示屏平面；測量環(huán)境：暗室；相機參數：ISO100；色彩空間sRGB；閃光燈關閉；自動亮度：關閉；白平衡偏移/包圍：0，0/±0；減輕紅眼開/關：禁用；自動對焦模式：實時模式；顯示網格線：禁用；長寬比：3：2；測光定時器：16秒；低音增強：禁用；經由HDMI控制：禁用。步驟S2：將顯示屏圖像中顯示屏的顯示畫面部分平均分為至少兩個相同的區(qū)域。本步驟中，區(qū)域的數量根據實際情況而定，例如可以為9區(qū)域、25區(qū)域等。請參閱圖2和圖3所示為9區(qū)域的劃分方法，其中，圖2為顯示屏的顯示畫面部分劃分為9區(qū)域時前5個區(qū)域的示意圖，圖3為顯示屏的顯示畫面部分劃分為9區(qū)域時后4個區(qū)域的示意圖。其中，劃分9區(qū)域的劃分方法，即將顯示畫面劃分成9個區(qū)域，并且9個區(qū)域中每個區(qū)域的面積、周期以及黑白矩陣(blocks)的數目均相同。具體而言，至少兩個相同的區(qū)域包括兩個區(qū)域的面積、周期或者黑白矩陣(blocks)的數目均相同。即將顯示屏的顯示畫面部分平均分為至少兩個面積相同且形狀相同的區(qū)域。更具體的，將顯示屏的顯示畫面部分平均劃分為不重疊且面積相同、形狀相同的第一矩形區(qū)域101，然后在第一矩形區(qū)域101基礎上，繼續(xù)在相鄰兩個第一矩形區(qū)域101之間、四個第一矩形區(qū)域101之間劃分相互重疊且面積相同、形狀相同的第二矩形區(qū)域102。步驟S3：以至少兩個區(qū)域中的一個為參考區(qū)，按參考區(qū)的大小繪制區(qū)域棋盤格畫面。如以圖2的區(qū)域5作為參考區(qū)，按此區(qū)域5的大小繪制區(qū)域棋盤格畫面如圖4所示。步驟S4：將區(qū)域棋盤格畫面和顯示畫面部分的各個區(qū)域分別進行傅里葉變換，具體是進行二維傅立葉變換，獲得各個區(qū)域殘影的特征頻率及其對應在各自頻譜結構中的第一頻譜能量值，另外獲取各個區(qū)域的參考頻率在頻域結構中的第二頻譜能量值。其中，參考頻率是零頻。承接前文的9個區(qū)域的例子，將如圖4所示的區(qū)域棋盤格畫面和顯示畫面的9個區(qū)域畫面分別進行傅里葉變換，分別獲得1-9該9個區(qū)域殘影的特征頻率及其對應在各自頻譜結構中的第一頻譜能量值，記為L1’～L9’。在頻域結構中讀取顯示畫面的9個區(qū)域各自的零頻對應的頻譜能量值，記為L1～L9，即9個區(qū)域畫面背景強度對應的頻譜能量值。步驟S5：獲得各個區(qū)域對應的第一頻譜能量值與第二頻譜能量值的比值。具體為：獲得各個區(qū)域對應的比值中最大的一個比值，然后判斷最大的一個比值是否超出對應檢測合格的數值范圍，若超出數值范圍，則判斷為不合格，否則為合格。如上述的9個區(qū)域，將上述的各區(qū)域的特征頻率的第一頻譜能量值Li’與其零頻對應的頻譜能量值Li做比值，獲得各區(qū)域殘影的評價值，γi＝Li‘/Li，γi越大，說明此區(qū)域的殘影越嚴重。其中，可取這9個區(qū)域中殘影最為嚴重的區(qū)域，即比值γi的最大值，作為評價整個顯示畫面的最終殘影程度的評價值。以圖2和圖3所示的顯示畫面為例，以下給出9個區(qū)域的殘影評價值：區(qū)域123456789比值3.05521.94751.94402.55950.79541.37462.41962.35071.5548以上述評價值可知，圖2和圖3中殘影程度最大的區(qū)域為1區(qū)域。由此判斷1區(qū)域的比值是否超出對應檢測合格的數值范圍，若超出數值范圍，則判斷為不合格，否則為合格。承前所述，本實施例通過獲得顯示屏圖像，將顯示屏圖像平均分為幾個局域分別進行處理，對顯示屏圖像中的顯示屏的顯示畫面部分的各區(qū)域進行二維傅里葉變化處理，在頻域中提取各區(qū)域殘影畫面對應的特征頻率及其對應的頻譜能量值，求得其與零頻對應的頻譜能量值的比值，最終得到各區(qū)域殘影程度的評價值，從而通過拍攝方法和計算方法的客觀性，能夠客觀量化評價局部殘影嚴重程度，降低主觀因素影響，提高IS的分辨能力。請參閱圖5，圖5是本發(fā)明實施例方式提供的一種顯示屏殘影檢測系統(tǒng)的結構示意圖。如圖5所示，本實施例的顯示屏殘影檢測系統(tǒng)50包括獲取裝置51、劃分裝置52、繪制裝置53以及運算裝置54。其中，獲取裝置51用于獲得待檢測殘影的顯示屏圖像。獲取裝置51可以為相機等圖像獲取工具。本實施例中，獲取裝置51優(yōu)選為相機，采用標準照相手法獲取經過IS實驗的128灰階下顯示屏圖像。其中，標準拍照手法的說明如下：相機型號：Canon600D；測量距離為顯示屏寬度的3倍，測量方向垂直于顯示屏平面；測量環(huán)境：暗室；相機參數：ISO100；色彩空間sRGB；閃光燈關閉；自動亮度：關閉；白平衡偏移/包圍：0，0/±0；減輕紅眼開/關：禁用；自動對焦模式：實時模式；顯示網格線：禁用；長寬比：3：2；測光定時器：16秒；低音增強：禁用；經由HDMI控制：禁用。劃分裝置52用于將顯示屏圖像中顯示屏的顯示畫面部分平均分為至少兩個相同的區(qū)域。其中，區(qū)域的數量根據實際情況而定，例如可以為9區(qū)域、25區(qū)域等。請參閱圖2和圖3所示為9區(qū)域的劃分方法，其中，圖2為顯示屏的顯示畫面部分劃分為9區(qū)域時前5個區(qū)域的示意圖，圖3為顯示屏的顯示畫面部分劃分為9區(qū)域時后4個區(qū)域的示意圖。具體的，至少兩個相同的區(qū)域包括兩個區(qū)域的面積、周期或者黑白矩陣的數目均相同。即劃分裝置52是將顯示屏的顯示畫面部分平均分為至少兩個面積相同、形狀相同且部分重疊的區(qū)域。更具體的，是將顯示屏的顯示畫面部分平均劃分為不重疊且面積相同、形狀相同的第一矩形區(qū)域101，并在第一矩形區(qū)域101基礎上，繼續(xù)在相鄰兩個第一矩形區(qū)域101之間、四個第一矩形區(qū)域101之間劃分相互重疊且面積相同、形狀相同的第二矩形區(qū)域102。繪制裝置53用于以至少兩個區(qū)域中的一個為參考區(qū)，按參考區(qū)的大小繪制區(qū)域棋盤格畫面。如以圖2的區(qū)域5作為參考區(qū)，按此區(qū)域5的大小繪制區(qū)域棋盤格畫面如圖4所示。運算裝置54用于將區(qū)域棋盤格畫面和顯示畫面部分的各個區(qū)域分別進行傅里葉變換，具體是進行二維傅立葉變換，獲得各個區(qū)域殘影的特征頻率及其對應在各自頻譜結構中的第一頻譜能量值，另外獲取各個區(qū)域的參考頻率在頻域結構中的第二頻譜能量值。其中，參考頻率是零頻。承接前文的9個區(qū)域的例子，將如圖4所示的區(qū)域棋盤格畫面和顯示畫面的9個區(qū)域畫面分別進行傅里葉變換，分別獲得1-9該9個區(qū)域殘影的特征頻率及其對應在各自頻譜結構中的第一頻譜能量值，記為L1’～L9’。在頻域結構中讀取顯示畫面的9個區(qū)域各自的零頻對應的頻譜能量值，記為L1～L9，即9個區(qū)域畫面背景強度對應的頻譜能量值。進一步的，運算裝置54還獲得各個區(qū)域對應的第一頻譜能量值與第二頻譜能量值的比值。具體而言，運算裝置54包括獲取單元541、判斷單元542以及處理單元543。其中，獲取單元541用于獲得各個區(qū)域對應的比值中最大的一個比值。判斷單元542用于判斷最大的一個比值是否超出對應檢測合格的數值范圍。處理單元543用于在判斷單元542判斷到超出數值范圍時，判斷為不合格，否則為合格。如上述的9個區(qū)域，將上述的各區(qū)域的特征頻率的第一頻譜能量值Li’與其零頻對應的頻譜能量值Li做比值，獲得各區(qū)域殘影的評價值，γi＝Li‘/Li，γi越大，說明此區(qū)域的殘影越嚴重。其中，可取這9個區(qū)域中殘影最為嚴重的區(qū)域，即比值γi的最大值，作為評價整個顯示畫面的最終殘影程度的評價值。以圖2和圖3所示的顯示畫面為例，以下給出9個區(qū)域的殘影評價值：區(qū)域123456789比值3.05521.94751.94402.55950.79541.37462.41962.35071.5548以上述評價值可知，圖2和圖3中殘影程度最大的區(qū)域為1區(qū)域。由此判斷1區(qū)域的比值是否超出對應檢測合格的數值范圍，若超出數值范圍，則判斷為不合格，否則為合格。綜上所述，本發(fā)明有效地避免了使用傳統(tǒng)的基于人眼判斷殘影的主觀性，客觀地的評價殘影程度，有效評價顯示屏畫面不同區(qū)域的殘影程度。針對面板廠均需要進行的IS實驗，本發(fā)明可用于在IS實驗過程中局部殘影的即時性量化檢測與評價，以及IS后面殘影量化檢測與評價，可降低IS判斷的人工成本和時間成本，減弱人眼判斷的主觀性影響。以上所述僅為本發(fā)明的實施方式，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內容所作的等效結構或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關的
技術領域：
，均同理包括在本發(fā)明的專利保護范圍內。當前第1頁1 2 3