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OLED像素混合補償電路及混合補償方法與流程

文檔序號:12608345閱讀:來源:國知局

技術特征:

1.一種OLED像素混合補償電路,其特征在于,包括呈陣列式排布的多個像素內(nèi)部驅(qū)動電路(100)、及電性連接每一列像素內(nèi)部驅(qū)動電路(100)的外部補償電路(200);

每一像素內(nèi)部驅(qū)動電路(100)均包括:第一薄膜晶體管(T1)、第二薄膜晶體管(T2)、第三薄膜晶體管(T3)、第四薄膜晶體管(T4)、第一電容(C1)、及有機發(fā)光二極管(D1);

第一薄膜晶體管(T1)的柵極電性連接第一節(jié)點(G),源極電性連接第二節(jié)點(S),漏極接入電源電壓(VDD);

第二薄膜晶體管(T2)的柵極接入第一掃描信號(Scan1),源極接入數(shù)據(jù)信號(Data),漏極電性連接第一節(jié)點(G);

第三薄膜晶體管(T3)的柵極接入第二掃描信號(Scan2),源極接入初始化電壓(Vini),漏極電性連接第一節(jié)點(G);

第四薄膜晶體管(T4)的柵極接入第二掃描信號(Scan2),源極接入初始化電壓(Vini),漏極電性連接第二節(jié)點(S);

第一電容(C1)的一端電性連接第一節(jié)點(G),另一端電性連接第二節(jié)點(S);

有機發(fā)光二極管(D1)的陽極電性連接第二節(jié)點(S),陰極接地;

所述外部補償電路(200)包括:模數(shù)轉(zhuǎn)換器(210)、電流比較器(220)、控制模塊(230)、存儲器(240)、及數(shù)模轉(zhuǎn)換器(250);

模數(shù)轉(zhuǎn)換器(210)的輸入端電性連接對應列像素內(nèi)部驅(qū)動電路(100)中第一薄膜晶體管(T1)的漏極,輸出端電性連接電流比較器(220)的輸入端;

電流比較器(220)的輸出端電性連接控制模塊(230)的輸入端;

控制模塊(230)的輸出端電性連接存儲器(240)的輸入端;

存儲器(240)的輸出端電性連接數(shù)模轉(zhuǎn)換器(250)的輸入端;

數(shù)模轉(zhuǎn)換器(250)的輸出端電性連接對應列像素內(nèi)部驅(qū)動電路(100)中第二薄膜晶體管(T2)的源極。

2.如權利要求1所述的OLED像素混合補償電路,其特征在于,所述外部補償電路(200)還包括對應每一列像素內(nèi)部驅(qū)動電路(100)設置的運算放大器(260)及第二電容(C2);

所述運算放大器(260)的第一輸入端電性連接對應列像素內(nèi)部驅(qū)動電路(100)中第一薄膜晶體管(T1)的漏極,第二輸入端接地,輸出端電性連接模數(shù)轉(zhuǎn)換器(210)的輸入端;

所述第二電容(C2)的一端電性連接運算放大器(260)的第一輸入端,另一端電性連接運算放大器(260)的輸出端。

3.如權利要求1所述的OLED像素混合補償電路,其特征在于,所述第一薄膜晶體管(T1)、第二薄膜晶體管(T2)、第三薄膜晶體管(T3)、及第四薄膜晶體管(T4)均為低溫多晶硅薄膜晶體管、氧化物半導體薄膜晶體管、或非晶硅薄膜晶體管;

所述第一掃描信號(Scan1)、及第二掃描信號(Scan2)均通過外部時序控制器提供。

4.如權利要求1所述的OLED像素混合補償電路,其特征在于,所述第一掃描信號(Scan1)、第二掃描信號(Scan2)、及數(shù)據(jù)信號(Data)相組合,先后對應于一復位階段(1)、一閾值電壓感測階段(2)、一閾值電壓編程階段(3)、及一驅(qū)動發(fā)光階段(4);

在所述復位階段(1),所述第一掃描信號(Scan1)提供低電位,所述第二掃描信號(Scan2)提供高電位,所述數(shù)據(jù)信號(Data)提供低電位;

在所述閾值電壓感測階段(2),所述第一掃描信號(Scan1)提供高電位,所述第二掃描信號(Scan2)提供低電位,所述數(shù)據(jù)信號(Data)提供參考高電位(Vref);

在所述閾值電壓編程階段(3),所述第一掃描信號(Scan1)提供高電位,所述第二掃描信號(Scan2)提供低電位,所述數(shù)據(jù)信號(Data)提供顯示數(shù)據(jù)信號高電位(Vdata);

在所述驅(qū)動發(fā)光階段(4),所述第一掃描信號(Scan1)、第二掃描信號(Scan2)、及數(shù)據(jù)信號(Data)均提供低電位。

5.如權利要求4所述的OLED像素混合補償電路,其特征在于,所述參考高電位(Vref)低于顯示數(shù)據(jù)信號高電位(Vdata)。

6.一種OLED像素混合補償方法,其特征在于,包括如下步驟:

步驟1、提供OLED像素混合補償電路;

所述OLED像素混合補償電路包括呈陣列式排布的多個像素內(nèi)部驅(qū)動電路(100)、及電性連接每一列像素內(nèi)部驅(qū)動電路(100)的外部補償電路(200);

每一像素內(nèi)部驅(qū)動電路(100)均包括:第一薄膜晶體管(T1)、第二薄膜晶體管(T2)、第三薄膜晶體管(T3)、第四薄膜晶體管(T4)、第一電容(C1)、及有機發(fā)光二極管(D1);

第一薄膜晶體管(T1)的柵極電性連接第一節(jié)點(G),源極電性連接第二節(jié)點(S),漏極接入電源電壓(VDD);

第二薄膜晶體管(T2)的柵極接入第一掃描信號(Scan1),源極接入數(shù)據(jù)信號(Data),漏極電性連接第一節(jié)點(G);

第三薄膜晶體管(T3)的柵極接入第二掃描信號(Scan2),源極接入初始化電壓(Vini),漏極電性連接第一節(jié)點(G);

第四薄膜晶體管(T4)的柵極接入第二掃描信號(Scan2),源極接入初始化電壓(Vini),漏極電性連接第二節(jié)點(S);

第一電容(C1)的一端電性連接第一節(jié)點(G),另一端電性連接第二節(jié)點(S);

有機發(fā)光二極管(D1)的陽極電性連接第二節(jié)點(S),陰極接地;

所述外部補償電路(200)包括:模數(shù)轉(zhuǎn)換器(210)、電流比較器(220)、控制模塊(230)、存儲器(240)、及數(shù)模轉(zhuǎn)換器(250);

模數(shù)轉(zhuǎn)換器(210)的輸入端電性連接對應列像素內(nèi)部驅(qū)動電路(100)中第一薄膜晶體管(T1)的漏極,輸出端電性連接電流比較器(220)的輸入端;

電流比較器(220)的輸出端電性連接控制模塊(230)的輸入端;

控制模塊(230)的輸出端電性連接于存儲器(240)的輸入端;

存儲器(240)的輸出端電性連接于數(shù)模轉(zhuǎn)換器(250)的輸入端;

數(shù)模轉(zhuǎn)換器(250)的輸出端電性連接對應列像素內(nèi)部驅(qū)動電路(100)中第二薄膜晶體管(T2)的源極;

步驟2、進入復位階段(1);

所述第一掃描信號(Scan1)提供低電位,第二薄膜晶體管(T2)關閉,所述第二掃描信號(Scan2)提供高電位,第三、及第四薄膜晶體管(T3、T4)打開,初始化電壓(Vini)寫入第一節(jié)點(G)即第一薄膜晶體管(T1)的柵極和第二節(jié)點(S)即第一薄膜晶體管(T1)的源極,所述數(shù)據(jù)信號(Data)提供低電位;

步驟3、進入閾值電壓感測階段(2);

所述第一掃描信號(Scan1)提供高電位,第二薄膜晶體管(T2)打開,所述第二掃描信號(Scan2)提供低電位,第三、及第四薄膜晶體管(T3、T4)關閉,所述數(shù)據(jù)信號(Data)提供參考高電位(Vref),第一節(jié)點(G)即第一薄膜晶體管(T1)的柵極寫入?yún)⒖几唠娢?Vref),第二節(jié)點(S)即第一薄膜晶體管(T1)的源極的電壓轉(zhuǎn)變?yōu)閂ref-Vth,其中Vth為第一薄膜晶體管(T1)的閾值電壓;

步驟4、進入閾值電壓編程階段(3);

所述第一掃描信號(Scan1)提供高電位,第二薄膜晶體管(T2)打開,所述第二掃描信號(Scan2)提供低電位,第三、及第四薄膜晶體管(T3、T4)關閉,所述數(shù)據(jù)信號(Data)提供顯示數(shù)據(jù)信號高電位(Vdata),第一節(jié)點(G)即第一薄膜晶體管(T1)的柵極寫入顯示數(shù)據(jù)信號高電位(Vdata),第二節(jié)點(S)即第一薄膜晶體管(T1)的源極的電壓轉(zhuǎn)變?yōu)閂ref-Vth+ΔV,ΔV為顯示數(shù)據(jù)信號高電位(Vdata)對第二節(jié)點(S)的電位所產(chǎn)生的影響;

步驟5、進入驅(qū)動發(fā)光階段(4);

所述第一掃描信號(Scan1)、第二掃描信號(Scan2)、及數(shù)據(jù)信號(Data)均提供低電位,第二、第三、及第四薄膜晶體管(T2、T3、T4)均關閉,由于第一電容(C1)的存儲作用,第一節(jié)點(G)與第二節(jié)點(S)之間的壓差保持不變,所述有機發(fā)光二極管(D1)發(fā)光,且流經(jīng)所述有機發(fā)光二極管(D1)的電流與第一薄膜晶體管(T1)的閾值電壓無關;

所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器(210)同時接收對應列像素內(nèi)部驅(qū)動電路(100)的流經(jīng)有機發(fā)光二極管(D1)的電流,通過模數(shù)轉(zhuǎn)換器(210)進行模數(shù)轉(zhuǎn)換得到實際電流感測信號,電流比較器(220)將實際電流感測信號與預定電流對應信號進行比較,控制模塊(230)計算實際電流感測信號與預定電流對應信號的差異值,并將該差異值存儲于存儲器(240);

步驟6、對應像素內(nèi)部驅(qū)動電路(100)再次進入閾值電壓編程階段(3)時,存儲器(240)輸出所述差異值至數(shù)模轉(zhuǎn)換器(250)進行數(shù)模轉(zhuǎn)換,對數(shù)據(jù)信號(Data)進行補償。

7.如權利要求6所述的OLED像素混合補償方法,其特征在于,所述外部補償電路(200)還包括對應每一列像素內(nèi)部驅(qū)動電路(100)設置的運算放大器(260)及第二電容(C2);

所述運算放大器(260)的第一輸入端電性連接對應列像素內(nèi)部驅(qū)動電路(100)中第一薄膜晶體管(T1)的漏極,第二輸入端接地,輸出端電性連接模數(shù)轉(zhuǎn)換器(210)的輸入端;

所述第二電容(C2)的一端電性連接運算放大器(260)的第一輸入端,另一端電性連接運算放大器(260)的輸出端;

所述步驟5中,對應列像素內(nèi)部驅(qū)動電路(100)的流經(jīng)有機發(fā)光二極管(D1)的電流經(jīng)運算放大器(260)放大后輸出至模數(shù)轉(zhuǎn)換器(210)的輸入端。

8.如權利要求6所述的OLED像素混合補償方法,其特征在于,所述第一薄膜晶體管(T1)、第二薄膜晶體管(T2)、第三薄膜晶體管(T3)、及第四薄膜晶體管(T4)均為低溫多晶硅薄膜晶體管、氧化物半導體薄膜晶體管、或非晶硅薄膜晶體管;

所述第一掃描信號(Scan1)、及第二掃描信號(Scan2)均通過外部時序控制器提供。

9.如權利要求6所述的OLED像素混合補償方法,其特征在于,所述參考高電位(Vref)低于顯示數(shù)據(jù)信號高電位(Vdata)。

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