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顯示設(shè)備及對顯示面板的劣化進(jìn)行補(bǔ)償?shù)姆椒ㄅc流程

文檔序號:12159415閱讀:271來源:國知局
顯示設(shè)備及對顯示面板的劣化進(jìn)行補(bǔ)償?shù)姆椒ㄅc流程

此申請要求2015年8月21日提交到韓國知識產(chǎn)權(quán)局(KIPO)的韓國專利申請No.10-2015-0118259的優(yōu)先權(quán),其全部內(nèi)容通過引用被納入本文。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明的示例性實施例涉及一種顯示設(shè)備及對顯示面板的劣化進(jìn)行補(bǔ)償?shù)姆椒ā?/p>



背景技術(shù):

有機(jī)發(fā)光顯示設(shè)備使用有機(jī)發(fā)光二極管來顯示圖像。當(dāng)有機(jī)發(fā)光二極管和用于將電流傳輸?shù)接袡C(jī)發(fā)光二極管的驅(qū)動晶體管被使用時,有機(jī)發(fā)光二極管和驅(qū)動晶體管可能會隨著時間的推移而劣化。因此,隨著時間的推移,有機(jī)發(fā)光顯示設(shè)備可能因有機(jī)發(fā)光二極管的劣化或驅(qū)動晶體管的劣化而無法以預(yù)期的亮度顯示圖像。

有關(guān)技術(shù)的有機(jī)發(fā)光顯示設(shè)備為多個像素中的每一個提供參考電壓,響應(yīng)于參考電壓對流經(jīng)像素中的每一個的電流進(jìn)行檢測,并且基于檢測出的電流來計算有機(jī)發(fā)光二極管的劣化量或驅(qū)動晶體管的劣化量。即,有關(guān)技術(shù)的有機(jī)發(fā)光顯示設(shè)備可以包括相對綜合(或復(fù)雜)的用以對像素中的每一個的電流進(jìn)行檢測的電流檢測結(jié)構(gòu)。

在該背景技術(shù)部分中公開的上述信息僅用于增進(jìn)對本發(fā)明背景的理解,因此其可以包含不構(gòu)成現(xiàn)有技術(shù)的信息。



技術(shù)實現(xiàn)要素:

本發(fā)明的示例性實施例涉及一種顯示設(shè)備。例如,本發(fā)明的一些實施例涉及顯示設(shè)備及用于對顯示面板的劣化進(jìn)行補(bǔ)償?shù)姆椒ā?/p>

一些示例性實施例包括顯示設(shè)備,該顯示設(shè)備包括相對簡單的電流檢測結(jié)構(gòu)。

一些示例性實施例提供對顯示面板的劣化(或亮度劣化)進(jìn)行補(bǔ)償?shù)姆椒?,該方法能夠?zhǔn)確地(或精確地)對顯示面板的劣化進(jìn)行補(bǔ)償。

根據(jù)示例性實施例,顯示設(shè)備包括:顯示面板,包括像素;電流檢測器,被配置為對提供給顯示面板的驅(qū)動電流進(jìn)行測量;以及時序控制器,被配置為基于提供給顯示面板的第一圖像數(shù)據(jù)來計算參考驅(qū)動電流和像素的劣化率,并且基于驅(qū)動電流、參考驅(qū)動電流和像素的劣化率來對第二圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行補(bǔ)償。

根據(jù)一些實施例,顯示裝置進(jìn)一步包括:電源,被配置為通過第一電源線和第二電源線向顯示面板提供第一電源電壓和第二電源電壓,其中電流檢測器被配置為對通過第二電源線從顯示面板返回到電源的驅(qū)動電流進(jìn)行測量。

根據(jù)一些實施例,第一圖像數(shù)據(jù)包括幀圖像,并且時序控制器被配置為基于幀圖像來生成平均圖像數(shù)據(jù),并且基于平均圖像數(shù)據(jù)來計算參考驅(qū)動電流和劣化率。

根據(jù)一些實施例,劣化率表示像素的亮度劣化量與顯示面板的亮度劣化量之間的比率。

根據(jù)一些實施例,時序控制器被配置為基于第一圖像數(shù)據(jù)中所包含的灰度的總和以及灰度之中針對像素的灰度來計算劣化率。

根據(jù)一些實施例,時序控制器被配置為基于第一圖像數(shù)據(jù)中所包含的灰度來計算平均灰度,并且基于平均灰度來計算參考驅(qū)動電流。

根據(jù)一些實施例,時序控制器包括查找表,查找表包括對于第一圖像數(shù)據(jù)的灰度中的每一個灰度的相應(yīng)實際驅(qū)動電流值,并且被配置為通過基于平均灰度來選擇實際驅(qū)動電流值之一而確定參考驅(qū)動電流。

根據(jù)一些實施例,時序控制器被配置為基于參考驅(qū)動電流和驅(qū)動電流來計算劣化電流。

根據(jù)一些實施例,時序控制器被配置為基于劣化率和劣化電流來計算像素的像素劣化電流。

根據(jù)一些實施例,時序控制器被配置為基于像素劣化電流來計算像素的偏移灰度,并且偏移灰度與第一圖像數(shù)據(jù)中所包含的像素的灰度相加。

根據(jù)一些實施例,時序控制器被配置為基于偏移灰度來計算補(bǔ)償灰度曲線,補(bǔ)償灰度曲線包括針對灰度中的每一個灰度的像素的劣化補(bǔ)償值。

根據(jù)一些實施例,時序控制器被配置為基于劣化補(bǔ)償曲線來對第二圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行補(bǔ)償。

根據(jù)一些實施例,時序控制器被配置為基于劣化電流來對劣化預(yù)測趨勢圖進(jìn)行補(bǔ)償,并且劣化預(yù)測趨勢圖包括顯示面板隨時間推移的亮度劣化率。

根據(jù)一些實施例,時序控制器被配置為基于劣化電流來計算劣化時間常數(shù),并且基于劣化時間常數(shù)來對劣化預(yù)測趨勢圖進(jìn)行補(bǔ)償,劣化時間常數(shù)表示劣化電流隨時間的變化。

根據(jù)本發(fā)明的一些實施例,一種顯示設(shè)備包括:顯示面板,包括像素;電流檢測器,被配置為對提供給顯示面板的驅(qū)動電流進(jìn)行測量;以及時序控制器,被配置為基于提供給顯示面板的第一圖像數(shù)據(jù)來計算參考驅(qū)動電流,基于驅(qū)動電流和參考驅(qū)動電流來計算劣化電流,并且基于劣化電流來對劣化預(yù)測趨勢圖進(jìn)行補(bǔ)償,其中劣化預(yù)測趨勢圖包括顯示面板隨時間推移的亮度劣化率。

根據(jù)一些實施例,時序控制器被配置為基于劣化電流來計算劣化時間常數(shù),并且基于劣化時間常數(shù)來對劣化預(yù)測趨勢圖進(jìn)行補(bǔ)償,劣化時間常數(shù)表示劣化電流隨時間的變化。

根據(jù)一些實施例,時序控制器被配置為基于補(bǔ)償后的劣化預(yù)測趨勢圖來對第二圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行補(bǔ)償。

根據(jù)本發(fā)明的一些實施例,在對顯示面板的劣化進(jìn)行補(bǔ)償?shù)姆椒ㄖ?,該方法包括:對提供給包括像素的顯示面板的驅(qū)動電流進(jìn)行測量;基于驅(qū)動電流和被提供給顯示面板的第一圖像數(shù)據(jù)來計算劣化電流;基于第一圖像數(shù)據(jù)和劣化電流來計算像素的像素劣化電流;以及基于像素劣化電流來對第二圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行補(bǔ)償。

根據(jù)一些實施例,計算劣化電流包括:基于第一圖像數(shù)據(jù)來計算參考驅(qū)動電流;以及基于驅(qū)動電流與參考驅(qū)動電流之差來計算劣化電流。

根據(jù)一些實施例,計算像素劣化電流包括:基于第一圖像數(shù)據(jù)來計算像素的劣化率;并且基于劣化電流和像素的劣化率來計算像素的像素劣化電流。

因此,根據(jù)示例性實施例的顯示設(shè)備可以通過使用相對簡單的電流檢測結(jié)構(gòu)(例如,采用單通道電流檢測技術(shù))來檢測顯示面板的總驅(qū)動電流,并且通過基于總驅(qū)動電流和被提供給顯示面板的輸入數(shù)據(jù)來計算像素中的每一個的補(bǔ)償灰度(或補(bǔ)償數(shù)據(jù)),而準(zhǔn)確地對顯示面板的劣化(或亮度劣化)進(jìn)行補(bǔ)償。

此外,對顯示面板的劣化進(jìn)行補(bǔ)償?shù)姆椒梢酝ㄟ^基于輸入數(shù)據(jù)來計算像素中的每一個的劣化率,并且通過基于計算出的劣化率和總驅(qū)動電流來計算像素中的每一個的補(bǔ)償灰度,而可以準(zhǔn)確地對顯示面板的亮度劣化(或像素中的每一個的劣化)進(jìn)行補(bǔ)償。

附圖說明

說明性且非限制性的示例性實施例通過以下結(jié)合附圖的詳細(xì)描述而將被更加清楚地理解。

圖1是示出根據(jù)本發(fā)明的一些示例性實施例的顯示設(shè)備的框圖。

圖2是示出圖1的顯示設(shè)備中所包含的電流檢測器的示例的圖。

圖3是示出圖1的顯示設(shè)備中所包含的時序控制器的示例的圖。

圖4A是示出圖3的時序控制器中所包含的第一查找表的示例的圖。

圖4B是示出圖3的時序控制器中所包含的第二查找表的示例的圖。

圖4C是示出由圖3的時序控制器生成的平均圖像數(shù)據(jù)的示例的圖。

圖4D是示出由圖3的時序控制器生成的平均圖像數(shù)據(jù)的另一示例的圖。

圖4E是示出由圖3的時序控制器生成的劣化率表的示例的圖。

圖4F是示出圖3的時序控制器中所包含的補(bǔ)償單元的操作的圖。

圖4G是示出由圖3的時序控制器生成的像素劣化電流的示例的圖。

圖4H是示出由圖3的時序控制器生成的補(bǔ)償灰度表的示例的圖。

圖5是示出由圖3的時序控制器生成的補(bǔ)償灰度曲線的示例的圖。

圖6是示出根據(jù)本發(fā)明的一些示例性實施例的用于對顯示面板的劣化進(jìn)行補(bǔ)償?shù)姆椒ǖ牧鞒虉D。

圖7是示出通過圖6的方法計算出的劣化電流的示例的流程圖。

圖8是示出通過圖6的方法計算出的像素劣化電流的示例的流程圖。

圖9是示出根據(jù)本發(fā)明的一些示例性實施例的在圖1的顯示設(shè)備中所包含的時序控制器的示例的圖。

圖10是示出由圖9的時序控制器生成的劣化預(yù)測趨勢圖的示例的圖。

圖11是示出根據(jù)本發(fā)明的一些示例性實施例的用于對顯示面板的劣化進(jìn)行補(bǔ)償?shù)姆椒ǖ牧鞒虉D。

具體實施方式

在下文中,將參考附圖更加詳細(xì)地對本發(fā)明的示例性實施例的多個方面進(jìn)行說明,其中相同的附圖標(biāo)記始終指代相同的元件。然而,本發(fā)明可以以多種不同的形式來體現(xiàn),并且不應(yīng)被詮釋為僅限于本文所示出的實施例。恰恰相反,這些實施例被提供以作為示例,用以使本公開是徹底且完整的,并且用以將本發(fā)明的多個方面及特征完全傳達(dá)給本領(lǐng)域的技術(shù)人員。因此,對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員完全理解本發(fā)明的多個方面及特征而言不是必須的處理、元件和技術(shù)可能未被說明。除非另有說明,否則相同的附圖標(biāo)記在附圖和書面說明中始終指示相同的元件,并因此將不再重復(fù)其說明。在附圖中,為了清楚起見,元件、層和區(qū)域的相對大小可以被放大。

應(yīng)當(dāng)理解,雖然術(shù)語“第一”、“第二”、“第三”等可以在本文中用來描述不同的元件、組件、區(qū)域、層和/或部分,但是這些元件、組件、區(qū)域、層和/或部分不應(yīng)被這些術(shù)語所限制。這些術(shù)語用于對一個元件、組件、區(qū)域、層或部分與另一個元件、組件、區(qū)域、層或部分進(jìn)行區(qū)分。因此,下文所描述的第一元件、組件、區(qū)域、層或部分可以被稱為第二元件、組件、區(qū)域、層或部分,而不背離本發(fā)明的精神和范圍。

在本文中為了描述方便,諸如“之下”、“下面”、“下”、“下方”、“上方”、“上面”及其相似用語等空間相關(guān)術(shù)語可用來描述如圖中示出的一個元件或特征與另一元件(多個元件)或特征(多個特征)之間的關(guān)系。應(yīng)當(dāng)理解,除了圖中所描繪的取向之外,空間相關(guān)術(shù)語旨在涵蓋設(shè)備在使用或操作過程中的不同取向。例如,如果翻轉(zhuǎn)圖中的設(shè)備,被描述為在其他元件或特征的“下面”或“之下”或“下方”的元件隨后會被取向為在其他元件或特征的“上方”。因此,示例性術(shù)語“下面”和“下方”可以涵蓋上面和下面兩種取向。設(shè)備可以被另外取向(例如,旋轉(zhuǎn)90度或位于其他方向上),而且本文所使用的空間相對描述符應(yīng)被相應(yīng)地加以解釋。

應(yīng)當(dāng)理解,當(dāng)提到一個元件或?qū)釉诹硪粋€元件或?qū)印吧稀?、或“連接到”、“聯(lián)接到”另一個元件或?qū)訒r,該元件或?qū)涌梢灾苯游挥谄渌驅(qū)由希蛑苯舆B接到或聯(lián)接到其他元件或?qū)?,或者可以存在一個或多個中間元件或?qū)?。另外,?yīng)當(dāng)理解,當(dāng)提到一個元件或?qū)釉趦蓚€元件或?qū)印爸g”時,它可以是在兩個元件或?qū)又g的唯一元件或?qū)?,或者也可以存在一個或多個中間元件或?qū)印?/p>

本文所使用的術(shù)語僅是用于說明特定實施例的目的,而并不旨在限制本發(fā)明。除非上下文明確指出,否則如本文所使用的單數(shù)形式的“一個”、“一種”還旨在包括復(fù)數(shù)形式。還應(yīng)當(dāng)理解,當(dāng)術(shù)語“包括”和“包含”被用于本說明書時,表明存在所述特征、整體、步驟、操作、元件和/或部件,但并不排除存在或添加一個或多個其他的特征、整體、步驟、操作、元件、組件和/或其群組。如本文所使用的術(shù)語“和/或”包括一個或多個關(guān)聯(lián)的列出項的任何和全部的組合。當(dāng)諸如“……中的至少一個”的表述在一列元件之后時,其修飾元件的整個列表而不修飾列表的個別元件。

如本文所使用的術(shù)語“大體”、“大約”和類似術(shù)語被用作近似的術(shù)語而不作為程度的術(shù)語,并且旨在解釋由本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員識別出的測量出的或計算出的值中所固有的偏差。此外,當(dāng)描述本發(fā)明的實施例時,“可以”的使用指示“本發(fā)明的一個或多個實施例”。如本文所使用的術(shù)語“使用”和“被使用”可以被分別認(rèn)為是“利用”和“被利用”的同義詞。再者,術(shù)語“示例性”旨在指示示例或例示。

本文所描述的根據(jù)本發(fā)明的實施例的電子或電氣的設(shè)備和/或任何其他相關(guān)設(shè)備或組件可以使用任何適當(dāng)?shù)挠布?、固?例如專用集成電路)、軟件或軟件、固件和硬件的組合來實現(xiàn)。例如,這些設(shè)備的各個組件可以被形成在一個集成電路(IC)芯片或單獨的IC芯片上。此外,這些設(shè)備的各個組件可以在柔性印刷電路薄膜、帶載封裝(TCP)、印刷電路板(PCB)上實現(xiàn),或者形成在一個基板上。此外,這些設(shè)備的各個組件可能是進(jìn)程或線程,這些進(jìn)程或線程在一個或多個計算設(shè)備中被運行于一個或多個處理器上,用以執(zhí)行計算機(jī)程序指令,并且與其他系統(tǒng)組件進(jìn)行交互以執(zhí)行本文所描述的各種功能。計算機(jī)程序指令被存儲在存儲器中,存儲器可以在計算設(shè)備中使用諸如隨機(jī)存取存儲器(RAM)等標(biāo)準(zhǔn)存儲設(shè)備來實現(xiàn)。計算機(jī)程序指令還可以被存儲在諸如CD-ROM、閃存驅(qū)動器等其他非易失性的計算機(jī)可讀介質(zhì)中。另外,本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)認(rèn)識到,各種計算設(shè)備的功能可以被合并或集成于單個的計算設(shè)備中或者特定的計算設(shè)備的功能可以被分布在一個或多個其他計算設(shè)備中,而不背離本發(fā)明的示例性實施例的精神和范圍。

除非另有規(guī)定,否則本文所使用的所有術(shù)語(包括技術(shù)和科學(xué)的術(shù)語)具有與本發(fā)明所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員通常所理解的含義相同的含義。還應(yīng)當(dāng)理解,諸如在常用字典中定義的那些術(shù)語應(yīng)當(dāng)被解釋為具有與在相關(guān)領(lǐng)域和/或本說明書的語境中的它們的含義相一致的含義,除非文中明確定義,否則不應(yīng)被解釋為理想的或者過于形式化的意義。

圖1是示出根據(jù)本發(fā)明的一些示例性實施例的顯示設(shè)備的框圖。

參考圖1,顯示設(shè)備100可以包括顯示面板110、掃描驅(qū)動器120、數(shù)據(jù)驅(qū)動器130、電源供應(yīng)器(或電源)140、電流檢測器150以及時序控制器160。顯示設(shè)備100可以基于從外部(或外圍)組件或來源提供的圖像數(shù)據(jù)來顯示圖像。例如,顯示設(shè)備100可以是有機(jī)發(fā)光顯示設(shè)備。

顯示面板110可以包括掃描線S1至Sn、數(shù)據(jù)線D1至Dm、以及在像素區(qū)域中設(shè)置的像素111。在這里,像素區(qū)域可以是掃描線S1至Sn與數(shù)據(jù)線D1至Dm的交叉區(qū)域,其中m和n中的每一個都是大于或等于2的整數(shù)。

像素111中的每一個可以響應(yīng)于掃描信號存儲數(shù)據(jù)信號,并且可以基于所存儲的數(shù)據(jù)信號來發(fā)射光。在這里,掃描信號可以通過掃描線S1至Sn從掃描驅(qū)動器120被供給到像素111,并且數(shù)據(jù)信號可以通過數(shù)據(jù)線D1至Dm從數(shù)據(jù)驅(qū)動器130被供給到像素111。

掃描驅(qū)動器120可以基于掃描驅(qū)動控制信號來產(chǎn)生掃描信號。掃描驅(qū)動控制信號可以從時序控制器160被供給到掃描驅(qū)動器120。在這里,掃描驅(qū)動控制信號可以包括起動脈沖和時鐘信號,并且掃描驅(qū)動器120可以包括移位寄存器,該移位寄存器基于起動脈沖和時鐘信號來依次生成掃描信號。

數(shù)據(jù)驅(qū)動器130可以基于圖像數(shù)據(jù)來生成數(shù)據(jù)信號。數(shù)據(jù)驅(qū)動器130可以響應(yīng)于數(shù)據(jù)驅(qū)動控制信號將所生成的數(shù)據(jù)信號提供給顯示面板110。在這里,數(shù)據(jù)驅(qū)動控制信號可以從時序控制器160被供給到數(shù)據(jù)驅(qū)動器130。

電源供應(yīng)器140可以生成驅(qū)動電壓來對顯示設(shè)備100進(jìn)行驅(qū)動。驅(qū)動電壓可以包括第一電源電壓ELVDD和第二電源電壓ELVSS。第一電源電壓ELVDD可以大于第二電源電壓ELVSS。電源供應(yīng)器140可以通過第一電源供應(yīng)線和第二電源供應(yīng)線(或第一電源線和第二電源線),將第一電源電壓ELVDD和第二電源電壓ELVSS供應(yīng)給顯示面板110。

電流檢測器150可以對提供給顯示面板110的驅(qū)動電流(或總驅(qū)動電流)進(jìn)行測量(或檢測、探測)。電流檢測器150可以對通過第二電源供應(yīng)線從顯示面板110返回到電源供應(yīng)器140中的返回電流(或反饋電流)進(jìn)行測量。參考圖2更詳細(xì)地對電流檢測器150的結(jié)構(gòu)進(jìn)行描述。

時序控制器160可以基于圖像數(shù)據(jù)來計算參考驅(qū)動電流(或理想驅(qū)動電流)及像素111中的每一個的劣化率,并且可以基于驅(qū)動電流(例如,由電流檢測器150測量出的驅(qū)動電流)、參考驅(qū)動電流和像素111中的每一個的劣化率來對圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行補(bǔ)償。在一些示例性實施例中,時序控制器160可以基于圖像數(shù)據(jù)來計算參考驅(qū)動電流,并且可以基于測量(由電流檢測器150測量)到的驅(qū)動電流和參考驅(qū)動電流來計算劣化電流(或像素111的總劣化電流)。

在這里,劣化電流可以是由于像素111的劣化而導(dǎo)致的測量到的驅(qū)動電流與參考驅(qū)動電流之間的差值。在一些示例性實施例中,時序控制器160可以基于圖像數(shù)據(jù)來計算像素111中的每一個的劣化率,可以基于劣化電流和劣化率來計算像素111中的每一個的像素劣化電流,并且可以基于像素劣化電流來計算像素111中的每一個的偏移灰度。在這里,劣化率可以表示像素111之間的相對劣化程度。例如,特定像素的劣化率可以是該特定像素的劣化量與所有像素111(或顯示面板110)的劣化量之間的比率。時序控制器160可以基于偏移灰度來對圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行補(bǔ)償,其中可以將偏移灰度與像素的灰度相加,用以抵消(或補(bǔ)償)因像素劣化而導(dǎo)致的亮度降低。

在一些示例性實施例中,時序控制器160可以基于圖像數(shù)據(jù)中所包含的灰度來計算平均灰度,并且可以基于平均灰度和查找表來計算參考驅(qū)動電流,其中查找表可以包含對于圖像數(shù)據(jù)的灰度中的每一個測量到的實際驅(qū)動電流。時序控制器160可以從查找表中獲得與平均灰度相對應(yīng)的參考驅(qū)動電流。

在一些示例性實施例中,時序控制器160可以基于參考驅(qū)動電流和測量到的驅(qū)動電流來計算劣化電流。例如,時序控制器160可以通過計算參考驅(qū)動電流與測量到的驅(qū)動電流之差來計算劣化電流。

在一些示例性實施例中,時序控制器160可以基于圖像數(shù)據(jù)中所包含的灰度的總和(例如總灰度)以及灰度之中的針對像素111中的每一個的灰度,來計算像素111中的每一個的劣化率。例如,當(dāng)?shù)谝幌袼氐牡谝换叶葹?0并且第二像素的第二灰度為150時,時序控制器160可以計算出總灰度為200,并且可以計算出第一像素的第一劣化率為0.25(即50/200=0.25),并且第二像素的第二劣化率為0.75(即150/200=0.75)。

在一些示例性實施例中,時序控制器160可以基于像素111中的每一個的劣化率來計算像素111中的每一個的像素劣化電流。例如,時序控制器160可以通過將像素111中的每一個的劣化率乘以劣化電流來計算像素劣化電流。

在一些示例性實施例中,時序控制器160可以基于像素劣化電流以及像素的灰度-電流特性(例如,驅(qū)動電流隨灰度變化的變化特性)來計算像素111中的每一個的偏移灰度。

在一些示例性實施例中,時序控制器160可以包括劣化預(yù)測趨勢圖,并且可以根據(jù)劣化電流來對劣化預(yù)測趨勢圖進(jìn)行補(bǔ)償。在這里,劣化預(yù)測趨勢圖可以包括劣化電流經(jīng)過一段時間之后(或隨著時間推移的)的變化,并且劣化電流的變化可以被預(yù)先確定。即,劣化預(yù)測趨勢圖可以包括顯示面板隨時間推移的亮度劣化率。

時序控制器160可以基于劣化預(yù)測趨勢圖來預(yù)測像素的劣化(或像素的劣化量),并且可以生成基于所預(yù)測的像素劣化而被補(bǔ)償?shù)难a(bǔ)償后圖像數(shù)據(jù)。由于像素劣化的特性可能會隨著顯示設(shè)備100的驅(qū)動條件(例如溫度)的變化而變化,因此時序控制器160可以基于計算出的劣化電流(例如實際劣化電流)來對劣化預(yù)測趨勢圖進(jìn)行補(bǔ)償,以便準(zhǔn)確地預(yù)測像素劣化。在示例性實施例中,時序控制器160可以基于劣化電流來計算劣化時間常數(shù),劣化時間常數(shù)用于指示劣化電流隨時間的變化,并且可以根據(jù)劣化時間常數(shù)來對劣化預(yù)測趨勢圖進(jìn)行補(bǔ)償。

時序控制器160可以基于補(bǔ)償后的劣化預(yù)測趨勢圖來對圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行補(bǔ)償。

如上所述,根據(jù)示例性實施例的顯示設(shè)備100可以對供應(yīng)給顯示面板110的總驅(qū)動電流進(jìn)行測量,可以基于圖像數(shù)據(jù)來計算像素111中的每一個的劣化率和參考驅(qū)動電流(或理想驅(qū)動電流),并且可以基于總驅(qū)動電流、參考驅(qū)動電流和像素111中的每一個的劣化率來計算像素111中的每一個的偏移灰度。因此,顯示設(shè)備100可以用相對簡單的結(jié)構(gòu)(或相對簡單的電流檢測結(jié)構(gòu))來對像素111的劣化分別進(jìn)行補(bǔ)償。

此外,顯示設(shè)備100可以基于測量到的總驅(qū)動電流來對劣化預(yù)測趨勢圖進(jìn)行補(bǔ)償。因此,顯示設(shè)備100可以考慮(例如,基于或根據(jù))顯示設(shè)備100的驅(qū)動條件變化而準(zhǔn)確地對像素劣化進(jìn)行補(bǔ)償。

圖2是示出圖1的顯示設(shè)備中所包含的電流檢測器的示例的圖。

參考圖2,電流檢測器150可以包括電阻器Rs和電流檢測單元152(或檢測集成電路)。電阻器Rs可以被并聯(lián)地電連接到第二電源供應(yīng)線141。電流檢測單元152可以基于電阻器Rs兩端的電壓(或電壓降)對驅(qū)動電流進(jìn)行測量。在這里,驅(qū)動電流可以是從顯示面板110返回到電源供應(yīng)器140的返回電流。例如,電流檢測單元152可以對電阻器Rs兩端的電壓進(jìn)行放大,并且可以輸出放大后的電壓。

如上所述,電流檢測器150可以包括單通道的電流檢測結(jié)構(gòu)。單通道的電流檢測結(jié)構(gòu)比雙通道的電流檢測結(jié)構(gòu)(例如,一種具有電壓供給結(jié)構(gòu)和電流測量結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu))簡單。

圖3是示出圖1的顯示設(shè)備中所包含的時序控制器的示例的圖。

參考圖3,時序控制器可以包括參考電流計算單元310、劣化率計算單元320和補(bǔ)償單元330。

參考電流計算單元310可以基于第一圖像數(shù)據(jù)IMAGE1中所包含的灰度來計算參考驅(qū)動電流IREF。在這里,第一圖像數(shù)據(jù)IMAGE1可以是在某個時間(例如預(yù)定時間)或在某個時期(例如預(yù)定時期)內(nèi)從外部(或外圍)組件供應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)。例如,第一圖像數(shù)據(jù)IMAGE1可以包括與某個時間相對應(yīng)的幀圖像或可以包括在某個時期內(nèi)供應(yīng)的幀圖像。在一些示例性實施例中,參考電流計算單元310可以包括查找表,其中查找表可以包括針對第一圖像數(shù)據(jù)IMAGE1的灰度而預(yù)先測量到的實際驅(qū)動電流。

圖4A是示出圖3的時序控制器中所包含的第一查找表的示例的圖。在這里,第一查找表410可以用于計算每個灰度的驅(qū)動電流。

參考圖4A,第一查找表410可以包括與圖像數(shù)據(jù)的灰度Gray相對應(yīng)的總驅(qū)動電流Wmc??傭?qū)動電流Wmc可以通過對第一電流Rsc、第二電流Gsc和第三電流Bsc進(jìn)行求和而被計算出,其中第一至第三電流Rsc、Gsc和Bsc可以是通過對像素111中所包含的子像素分別進(jìn)行測量而得到的總驅(qū)動電流。

例如,當(dāng)像素111中的每一個都包括用于顯示第一顏色的第一子像素、用于顯示第二顏色的第二子像素和用于顯示第三顏色的第三子像素時,第一電流Rsc可以是被供應(yīng)給顯示面板110中所包含的第一子像素的第一總驅(qū)動電流,第二電流Gsc可以是被供應(yīng)給顯示面板110中所包含的第二子像素的第二總驅(qū)動電流,并且第三電流Bsc可以是被供應(yīng)給顯示面板110中所包含的第三子像素的第三總驅(qū)動電流。

如圖4A所示,對應(yīng)于灰度255的總驅(qū)動電流Wmc可以是113.4094毫安(mA),其是23.6698毫安(mA)的第一電流Rsc、31.9698毫安(mA)的第二電流Gsc和57.7698毫安(mA)的第三電流之和。

作為參考,負(fù)載效應(yīng)可能會存在于第一至第三電流Rsc、Gsc和Bsc之間。即,其他電流可能根據(jù)某一電流的變化而變化。例如,第一至第三子像素的灰度為255時,被測量到的總驅(qū)動電流Wmc可能并不是113.4094毫安(mA)而是101.3698毫安(mA)(Wsc)。

不過,第一查找表410可以包括第一至第三電流以及不考慮電流之間的負(fù)載效應(yīng)的總驅(qū)動電流,這是因為當(dāng)?shù)谝徊檎冶?10包括考慮所有情況(例如,256×256×256數(shù)量的情況)下的負(fù)載效應(yīng)的值時,顯示設(shè)備100的制造成本將會增加。

第一至第三電流Rsc、Gsc和Bsc可以在顯示面板110的制造工序中被測得,并且可以被存儲在時序控制器160中所包含的存儲設(shè)備(例如,ROM)中。在示例性實施例中,第一查找表410可以包括針對圖像數(shù)據(jù)的所有灰度(例如,0至255的范圍內(nèi)的灰度)而測量到的第一至第三電流Rsc、Gsc和Bsc。在示例性實施例中,第一查找表410可以包括僅針對某些灰度(例如,31、63、127、203和255)而測量到的第一至第三電流Rsc、Gsc和Bsc。在這里,與其他灰度相對應(yīng)的第一至第三電流Rsc、Gsc和Bsc可以基于已測量到的電流來進(jìn)行計算。例如,第一至第三電流Rsc、Gsc和Bsc可以通過廣義伽瑪方程或者線性方程來進(jìn)行計算。

圖4B是示出圖3的時序控制器中所包含的第二查找表的示例的圖。在這里,第二查找表420可以用于計算每個灰度的驅(qū)動電流。

參考圖4A和圖4B,第二查找表420可以包括第一至第三電流Rmc、Gmc和Bmc以及針對所有灰度的總驅(qū)動電流Wmc_Log。在這里,灰度228至灰度232范圍內(nèi)的第一至第三電流Rmc、Gmc和Bmc及總驅(qū)動電流Wmc_Log可以基于灰度203的那些相應(yīng)值和灰度255的那些相應(yīng)值來進(jìn)行計算。

第二查找表420可以包括電流比RofWmc、GofWmc和BofWmc,其用于表示第一至第三電流Rmc、Gmc和Bmc之間的相互關(guān)系。在這里,電流比RofWmc、GofWmc和BofWmc中的每一個都可以是某一電流對總驅(qū)動電流的比率。

例如,當(dāng)與灰度228相對應(yīng)的第一電流Rmc是17.6743毫安(mA),第二電流Gmc是23.6063毫安(mA),第三電流Bmc是44.5042毫安(mA),并且總驅(qū)動電流Wmc_Log為85.7848毫安(mA)時,第一電流Rmc的第一電流比RofWmc可以是0.2060(即,第一電流Rmc/總驅(qū)動電流Wmc_Log=17.6743/85.7848=0.2060)。電流比RofWmc、GofWmc和BofWmc可以用于計算參考驅(qū)動電流IREF。

再次參考圖3,參考電流計算單元310可以基于第一圖像數(shù)據(jù)IMAGE1中所包含的灰度來計算平均灰度,并且可以基于平均灰度以及查找表(例如,第二查找表420)來計算參考驅(qū)動電流IREF。

在一些示例性實施例中,參考電流計算單元310可以基于幀圖像來生成平均圖像數(shù)據(jù),并且可以基于平均圖像數(shù)據(jù)來計算平均灰度。即,當(dāng)?shù)谝粓D像數(shù)據(jù)IMAGE1包括幀圖像時,參考電流計算單元310可以將幀圖像歸一化為平均圖像數(shù)據(jù),并且可以將平均圖像數(shù)據(jù)歸一化為一個灰度。

例如,第一圖像數(shù)據(jù)IMAGE1可以包括十個幀圖像組,并且一個幀圖像組可以包括十個幀圖像。即,第一圖像數(shù)據(jù)IMAGE1可以包括一百個幀圖像。在這里,參考電流計算單元310可以基于十個幀圖像來生成一組數(shù)據(jù),并且可以基于十組圖像來生成平均圖像數(shù)據(jù)。

在一些示例性實施例中,參考電流計算單元310可以通過計算幀圖像的算術(shù)平均數(shù)或通過計算幀圖像的調(diào)和平均數(shù)來生成一組圖像,并且可以通過計算一組圖像的算術(shù)平均數(shù)來生成一個平均圖像數(shù)據(jù)。例如,參考電流計算單元310可以通過計算十個幀圖像的算術(shù)平均數(shù)或通過計算十個幀圖像的調(diào)和平均數(shù)來生成一組圖像,并且可以通過計算十組圖像的算術(shù)平均數(shù)來生成一個平均圖像數(shù)據(jù)。

圖4C是示出由圖3的時序控制器生成的平均圖像數(shù)據(jù)的示例的圖。

參考圖4C,幀圖像IMAGE_T1、IMGAE_T2等中的每一個都可以包含一百個灰度(例如,與像素相對應(yīng)的灰度)。然而,幀圖像并不限于此。例如,幀圖像中的每一個都可以包含1920×1080個灰度。

在一些示例性實施例中,參考電流計算單元310可以通過對像素的灰度求取平均值來計算像素平均灰度,并且可以基于計算出的像素平均灰度來生成平均圖像數(shù)據(jù)。例如,當(dāng)在十個幀圖像IMAGE_T1、IMAGE_T2等中所包含的第一像素的灰度431是0、200、200、200、200、200、200、200、100和20時,參考電流計算單元310可以通過對灰度求取平均值而計算出具有152的第一組灰度432。

此外,當(dāng)十組圖像IMAGE_S1、IMAGE_S2等中所包含的第一像素的組灰度432中的每一個都是152時,參考電流計算單元310可以通過對組灰度求取平均值而計算出具有152的第一像素平均灰度433。進(jìn)一步地,參考電流計算單元310可以通過分別計算出一百個像素平均灰度來生成平均圖像數(shù)據(jù)IMAGE_C。

在一些示例性實施例中,參考電流計算單元310可以通過計算多個幀圖像(例如,預(yù)定數(shù)量的幀圖像)的調(diào)和平均數(shù)來生成組圖像,并且可以通過計算多個組圖像(例如,預(yù)定數(shù)量的組圖像)的算術(shù)平均數(shù)來生成平均圖像數(shù)據(jù)。例如,參考電流計算單元310可以通過依次計算經(jīng)過一段時間之后被依次提供的幀圖像的調(diào)和平均數(shù)來生成組圖像,并且可以通過計算被依次生成的組圖像的算術(shù)平均數(shù)來生成平均圖像數(shù)據(jù)。

圖4D是示出由圖3的時序控制器生成的平均圖像數(shù)據(jù)的另一示例的圖。

參考圖4D,參考電流計算單元310可以生成三個子平均圖像數(shù)據(jù)441、442和443。正如參考圖4A所描述的,當(dāng)像素111包括三種類型的子像素時,參考電流計算單元310可以針對每個類型的子像素生成子平均圖像數(shù)據(jù)441、442和443。

第一子平均圖像數(shù)據(jù)441可以是用于顯示第一顏色的第一像素的子圖像數(shù)據(jù),第二子平均圖像數(shù)據(jù)442可以是用于顯示第二顏色的第二像素的子圖像數(shù)據(jù),并且第三子平均圖像數(shù)據(jù)443可以是用于顯示第三顏色的第三像素的子圖像數(shù)據(jù)。

在一些示例性實施例中,參考電流計算單元310可以通過對平均圖像數(shù)據(jù)440中所包含的灰度求取平均數(shù)來計算平均灰度。例如,參考電流計算單元310可以基于第一子平均圖像數(shù)據(jù)441而計算出具有195的第一平均灰度AG1,可以基于第二子平均圖像數(shù)據(jù)442而計算出具有195的第二平均灰度AG2,并且可以基于第三子平均圖像數(shù)據(jù)443而計算出具有195的第三平均灰度AG3。

在一些示例性實施例中,參考電流計算單元310可以基于平均灰度來計算參考驅(qū)動電流IREF。例如,參考電流計算單元310可以基于圖4D中示出的第一至第三平均灰度AG1、AG2和AG3以及參考圖4B所描述的第二查找表420來計算參考驅(qū)動電流IREF。

例如,參考電流計算單元310可以獲得與第一至第三平均灰度AG1、AG2和AG3相對應(yīng)的第一至第三電流Rmc、Gmc和Bmc,可以從第二查找表420中獲得第一至第三電流Rmc、Gmc和Bmc的第一至第三電流比RofWmc、GofWmc和BofWmc,并且可以基于這些值(例如,第一至第三電流比RofWmc、GofWmc和BofWmc)來計算參考驅(qū)動電流IREF。例如,第一至第三電流比RofWmc、GofWmc和BofWmc為0.2022、0.2679和0.5300,并且與這些值(例如,第一至第三電流比RofWmc、GofWmc和BofWmc)相對應(yīng)的參考驅(qū)動電流IREF可以為56.0835毫安(mA)。

再次參考圖3,劣化率計算單元320可以基于第一圖像數(shù)據(jù)IMAGE1來計算像素111中的每一個的劣化率DR。在示例性實施例中,劣化率計算單元320可以基于第一圖像數(shù)據(jù)IMAGE1中所包含的灰度的總和(或,總灰度)及像素111中的每一個的灰度來計算像素111中的每一個的劣化率DR。

圖4E是示出由圖3的時序控制器生成的劣化率表的示例的圖。

參考附圖4D和4E,劣化率計算單元320可以通過計算像素111中的每一個的像素平均灰度與平均圖像數(shù)據(jù)440的總灰度這兩者的比值來計算劣化率DR。在這里,劣化率DR可以表示某像素的相對劣化程度,并且劣化率DR的總和可以是恒定的。例如,劣化率計算單元320可以通過將圖4D所示的具有194的第一像素平均灰度433除以圖4D所示的像素平均灰度的總和而計算出具有0.0097的第一劣化率451a。

在示例性實施例中,劣化率計算單元320可以通過將像素平均灰度除以平均灰度來分別計算像素111中的每一個的劣化率DR。例如,劣化率計算單元320可以通過將具有194的第一像素平均灰度433除以具有195的第一平均灰度AG1(或,將第一平均灰度AG1乘以像素111的數(shù)量而得到的值)而計算出具有0.0097的第一劣化率451a。

在一些示例性實施例中,劣化率計算單元320可以針對第一至第三子像素來生成第一至第三劣化率表451、452和453。第一至第三劣化率表451、452和453可以用于計算像素劣化電流。

參考圖3,補(bǔ)償單元330可以基于參考驅(qū)動電流IREF和測量到的驅(qū)動電流ISEN來計算劣化電流,并且可以基于劣化電流和劣化率DR來計算像素111中的每一個的像素劣化電流。

圖4F是示出圖3的時序控制器中所包含的補(bǔ)償單元的操作的圖。圖4G是示出由圖3的時序控制器生成的像素劣化電流的示例的圖。

參考圖4F和圖4G,正如參考圖4D所描述的,參考驅(qū)動電流IREF可以是56.0835毫安(mA),并且測量到的驅(qū)動電流ISEN可以是50.1241毫安(mA)。在這里,測量到的驅(qū)動電流ISEN可以是在第一圖像數(shù)據(jù)IMAGE1被提供的時刻(或,時期內(nèi))測量到的平均電流。例如,測量到的驅(qū)動電流ISEN可以具有在一百個幀圖像被提供的期間內(nèi)測量到的驅(qū)動電流的平均值。

補(bǔ)償單元330可以通過計算參考驅(qū)動電流IREF和測量到的驅(qū)動電流ISEN之差來生成劣化電流(ΔI)。例如,當(dāng)參考驅(qū)動電流IREF為56.0835毫安(mA)以及測量到的驅(qū)動電流ISEN為50.1241毫安(mA)時,劣化電流可以是5.9594毫安(mA)(即,56.0835mA–50.1241mA)。

補(bǔ)償單元330可以基于劣化電流以及第一至第三平均灰度(R_COURTNORM 533a,G_COURTNORM,B_COURTNORM)的灰度比(R_COURTRATIONORM,G_COURTRATIONORM,B_COURTRATIONORM)來計算第一至第三劣化電流。在這里,第一至第三劣化電流可以是針對第一至第三子像素的劣化電流。如圖4F所示,補(bǔ)償單元330可以計算第一至第三平均灰度的灰度比(例如,0.3335、0.3333和0.3334),并且可以基于劣化電流和灰度比來計算第一至第三劣化電流(ΔI_RGB)(例如,1.9875、1.9863和1.9869)。

補(bǔ)償單元330可以基于圖4F所示的劣化電流ΔI_RGB和劣化率表450來計算像素111的像素劣化電流470。例如,補(bǔ)償單元330可以基于第一至第三劣化電流R_BURNDELTA、G_BURNDELTA和B_BURNDELTA以及圖4E所示的劣化率表451、452和453來計算圖4G所示的像素劣化電流470。由于劣化率DR表示某像素的相對劣化程度,因此補(bǔ)償單元330可以基于劣化率DR來將劣化電流分配給像素。例如,第一像素的第一像素劣化電流471可以是0.019300毫安(mA)(即,1.9875mA×0.0097)。

補(bǔ)償單元330可以基于像素劣化電流470來計算像素111中的每一個的偏移灰度。在這里,偏移灰度可以是一個灰度,其與圖像數(shù)據(jù)所包含的灰度中的每一個相加,用以對因像素劣化而導(dǎo)致的亮度降低進(jìn)行補(bǔ)償。補(bǔ)償單元330可以基于像素的灰度-電流特性(驅(qū)動電流根據(jù)灰度變化的變化特性)來計算與像素劣化電流470相對應(yīng)的偏移灰度。補(bǔ)償單元330可以基于計算出的偏移灰度來生成補(bǔ)償灰度表。

圖4H是示出由圖3的時序控制器生成的補(bǔ)償灰度表的示例的圖。

參考圖4H,與具有0.019300的第一像素劣化電流471相對應(yīng)的第一像素的第一偏移灰度481a為10,并且與具有0.023700的第二像素劣化電流相對應(yīng)的第二像素的第二偏移灰度為12。

補(bǔ)償單元330可以生成第一至第三補(bǔ)償灰度表481、482和483。在這里,第一至第三補(bǔ)償灰度表481、482和483可以是針對第一至第三子像素的補(bǔ)償灰度表。第一至第三補(bǔ)償灰度表481、482和483可以包括子像素中的每一個的偏移灰度。

補(bǔ)償單元330可以基于偏移灰度來生成像素111中的每一個的補(bǔ)償灰度曲線。在這里,補(bǔ)償灰度曲線可以表示預(yù)先確定的灰度與補(bǔ)償灰度(或補(bǔ)償后的灰度)之間的關(guān)系,其中補(bǔ)償灰度可以具有基于偏移灰度而被補(bǔ)償?shù)玫降幕叶戎怠?/p>

圖5是示出由圖3的時序控制器生成的補(bǔ)償灰度曲線的示例的圖。

參考圖5,補(bǔ)償單元330可以基于偏移灰度來將圖像數(shù)據(jù)中所包含的某個灰度轉(zhuǎn)換為補(bǔ)償灰度。

例如,補(bǔ)償單元330可以將圖4D所示的具有194的第一像素的灰度433轉(zhuǎn)換為補(bǔ)償灰度204(即,第一像素的第一灰度+第一像素的偏移灰度=194+10=204)。例如,補(bǔ)償單元330可以將圖4D所示的具有200的第二像素的灰度轉(zhuǎn)換為補(bǔ)償灰度212。

補(bǔ)償單元330可以基于補(bǔ)償灰度曲線500來對第二圖像數(shù)據(jù)IMAGE3進(jìn)行補(bǔ)償。在這里,第二圖像數(shù)據(jù)IMAGE3可以是在生成補(bǔ)償灰度曲線后(或,在計算出偏移灰度后)被提供的圖像數(shù)據(jù)。例如,補(bǔ)償單元330可以將第二圖像數(shù)據(jù)IMAGE3中所包含的灰度“194”補(bǔ)償為補(bǔ)償灰度“204”。例如,補(bǔ)償單元330可以根據(jù)補(bǔ)償灰度曲線500,將第二圖像數(shù)據(jù)IMAGE3中所包含的灰度“97”補(bǔ)償為補(bǔ)償灰度“102”。

由于在顯示設(shè)備100中所使用的最大灰度可以被預(yù)先確定,因此補(bǔ)償單元330可以相對于平均灰度來生成補(bǔ)償灰度曲線500,并且可以基于補(bǔ)償灰度曲線500來對圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行補(bǔ)償。

在示例性實施例中,顯示設(shè)備100可以在一定期間內(nèi)重復(fù)生成補(bǔ)償灰度曲線500。即,顯示設(shè)備100可以在一定期間內(nèi)對補(bǔ)償灰度曲線500進(jìn)行更新。

如上所述,時序控制器160可以基于圖像數(shù)據(jù)來計算參考驅(qū)動電流IREF和像素111中的每一個的劣化率DR,并且可以基于測量到的驅(qū)動電流ISEN、參考驅(qū)動電流IREF和劣化率DR來計算像素111中的每一個的偏移灰度。據(jù)此,顯示設(shè)備100可以對像素的劣化(或像素111中的每一個的劣化)進(jìn)行補(bǔ)償。

圖6是示出根據(jù)示例性實施例的對顯示面板的劣化進(jìn)行補(bǔ)償?shù)姆椒ǖ牧鞒虉D。

參考圖1、圖3和圖6,圖6的方法可以由顯示設(shè)備100來執(zhí)行。圖6的方法可以對提供給顯示面板110的驅(qū)動電流進(jìn)行測量(S610)。圖6的方法可以對通過第二電源供應(yīng)線從顯示面板110返回到電源供應(yīng)器140的驅(qū)動電流(或返回電流)進(jìn)行測量。

圖6的方法可以基于第一圖像數(shù)據(jù)IMAGE1和測量到的驅(qū)動電流ISEN來計算劣化電流(S620)。第一圖像數(shù)據(jù)可以是在某個時間或在某個時期內(nèi)從外部(或外圍)組件提供的圖像數(shù)據(jù)。當(dāng)顯示設(shè)備100在一定時期內(nèi)執(zhí)行劣化的補(bǔ)償時,第一圖像數(shù)據(jù)IMAGE1可以是在第一時期內(nèi)被提供給顯示設(shè)備100的圖像數(shù)據(jù),并且第二圖像數(shù)據(jù)IMAGE3可以是在第二時期(例如,第一時期的下一個時期)內(nèi)提供的圖像數(shù)據(jù)。例如,圖6的方法可以基于圖像數(shù)據(jù)(或第一圖像數(shù)據(jù)IMAGE1)來計算參考驅(qū)動電流IREF,并且可以基于測量到的驅(qū)動電流ISEN和參考驅(qū)動電流IREF來計算劣化電流。

圖6的方法可以基于第一圖像數(shù)據(jù)IMAGE1和劣化電流來計算像素111中的每一個的像素劣化電流(S630)。例如,圖6的方法可以基于第一圖像數(shù)據(jù)IMAGE1中所包含的灰度(或灰度值)來計算像素111中的每一個的劣化率DR,并且可以基于劣化電流和劣化率DR來計算像素111中的每一個的像素劣化電流。

圖6的方法可以基于像素劣化電流來對第二圖像數(shù)據(jù)IMAGE3進(jìn)行補(bǔ)償(S640)。例如,圖6的方法可以基于像素劣化電流和像素的灰度-電流特性(例如,驅(qū)動電流根據(jù)灰度變化的變化特性)來計算像素111中的每一個的偏移灰度,可以基于偏移灰度來生成像素111中的每一個的劣化補(bǔ)償曲線500,并且可以基于劣化補(bǔ)償曲線500來對像素111的灰度(或第二圖像數(shù)據(jù)IMAGE3中所包含的灰度)進(jìn)行補(bǔ)償。

圖7是示出通過圖6的方法計算劣化電流的示例的流程圖。

參考圖1、圖3和圖7,圖7的方法可以基于第一圖像數(shù)據(jù)IMAGE1來計算參考驅(qū)動電流IREF。

圖7的方法可以生成用于總驅(qū)動電流的查找表(S710)。圖7的方法可以基于針對像素111中所包含的子像素而預(yù)先測量到的電流來計算灰度中的每一個的總驅(qū)動電流,并且可以基于灰度中的每一個的總驅(qū)動電流來生成查找表。圖7的方法可以通過從針對子像素中的每一個而預(yù)先測量到的電流中消除那些電流之間的負(fù)載效應(yīng)來計算第一至第三電流。

正如參考圖4A所描述的,圖7的方法可以通過求出第一至第三電流Rsc、Gsc和Bsc之和來計算灰度中的每一個的總驅(qū)動電流Wmc。正如參考圖4B所描述的,圖7的方法可以計算第一至第三電流Rmc、Gmc和Bmc的電流比RofWmc、GofWmc和BofWmc。圖7的方法可以生成第二查找表420,該第二查找表420包括總驅(qū)動電流Wmc_Log和第一至第三電流Rmc、Gmc和Bmc的電流比RofWmc、GofWmc和BofWmc。

圖7的方法可以基于幀圖像來生成平均圖像數(shù)據(jù)(S720),并且可以基于平均圖像數(shù)據(jù)來計算平均灰度(S730)。例如,圖7的方法可以基于十個(或十幅)幀圖像來生成一組圖像,并且可以基于十個(或十組)組圖像來生成一個平均圖像數(shù)據(jù)。圖7的方法可以通過利用算術(shù)平均數(shù)和/或調(diào)和平均數(shù)來生成組圖像和平均圖像數(shù)據(jù)。

在示例性實施例中,圖7的方法可以計算圖像中的每一個的平均灰度。例如,當(dāng)?shù)谝粓D像數(shù)據(jù)IMAGE1包括RGB數(shù)據(jù)時,圖7的方法可以計算圖像(例如,紅色圖像、綠色圖像和藍(lán)色圖像)中的每一個的平均灰度。

圖7的方法可以基于平均灰度來計算參考驅(qū)動電流(S740)。圖7的方法可以從預(yù)先確定(或預(yù)先生成)的查找表中獲得與平均灰度相對應(yīng)的總驅(qū)動電流。

在示例性實施例中,圖7的方法可以計算圖像中的每一個的針對平均灰度的電流比,并且可以基于針對平均灰度的電流比來計算參考驅(qū)動電流。例如,當(dāng)?shù)谝粓D像數(shù)據(jù)IMAGE1具有RGB數(shù)據(jù)時,圖7的方法可以基于圖像中的每一個的平均灰度來計算圖像(例如,紅色圖像、綠色圖像和藍(lán)色圖像)中的每一個的電流比,并且可以從被預(yù)先確定(或預(yù)先生成)的查找表中獲得與電流比相對應(yīng)的總驅(qū)動電流(或參考驅(qū)動電流)。

圖7的方法可以基于驅(qū)動電流(或測量到的驅(qū)動電流)與參考驅(qū)動電流之差來計算劣化電流(S750)。例如,圖7的方法可以以驅(qū)動電流與參考驅(qū)動電流之差來確定劣化電流。

圖8是示出通過圖6的方法計算像素劣化電流的示例的流程圖。

參考圖1、圖3和圖8,圖8的方法可以基于第一圖像數(shù)據(jù)IMAGE1來計算像素111中的每一個的劣化率DR(S810)。當(dāng)?shù)谝粓D像數(shù)據(jù)IMAGE1包括幀圖像時,圖8的方法可以基于幀圖像來生成平均圖像數(shù)據(jù),并且可以基于平均圖像數(shù)據(jù)來計算像素111中的每一個的劣化率DR。

正如參考圖4E所描述的,圖8的方法可以計算像素111中的每一個的平均灰度與平均圖像數(shù)據(jù)的總灰度(或灰度之和)之間的比率,并且可以確定劣化率DR為該比率。

圖8的方法可以基于劣化率DR和劣化電流來計算像素111中的每一個的像素劣化電流(S820)。正如參考圖4G所描述的,圖8的方法可以基于劣化率來對像素111分配劣化電流。

正如參考圖6至圖8所描述的,根據(jù)示例性實施例的補(bǔ)償劣化的方法可以對被提供給顯示面板110的驅(qū)動電流(或總驅(qū)動電流)進(jìn)行測量,并且可以基于圖像數(shù)據(jù)(或第一圖像數(shù)據(jù)IMAGE1)來計算參考驅(qū)動電流和像素111中的每一個的劣化率。此外,該方法可以基于驅(qū)動電流(或總驅(qū)動電流)、參考驅(qū)動電流和劣化率來計算像素111中的每一個的偏移灰度。因此,即使顯示設(shè)備100具有單通道的電流檢測結(jié)構(gòu),該方法也可以分別對像素111中的每一個的劣化進(jìn)行補(bǔ)償。

圖9是示出圖1的顯示設(shè)備中所包含的時序控制器的另一示例的圖。

參考圖1和圖9,時序控制器160可以基于圖像數(shù)據(jù)來計算參考驅(qū)動電流Iref,可以基于由電流檢測器150測量到的驅(qū)動電流和參考驅(qū)動電流Iref來計算劣化電流,并且可以基于劣化電流來對劣化預(yù)測趨勢圖進(jìn)行補(bǔ)償。

如圖9所示,時序控制器160可以包括參考電流計算單元910和補(bǔ)償單元920。

參考電流計算單元910可以大致相同或類似于參考圖3所描述的參考電流計算單元310。因此,一些重復(fù)描述將不會被重復(fù)。

補(bǔ)償單元920可以基于驅(qū)動電流Isen和參考驅(qū)動電流Iref來計算劣化電流。例如,補(bǔ)償單元920可以通過計算參考驅(qū)動電流Iref與驅(qū)動電流Isen之差來確定劣化電流。計算劣化電流的結(jié)構(gòu)可以是大致相同或類似于通過參考圖3所描述的補(bǔ)償單元330來計算劣化電流的結(jié)構(gòu)。因此,一些重復(fù)的描述不會被重復(fù)。

補(bǔ)償單元920可以基于劣化電流來補(bǔ)償劣化預(yù)測趨勢圖。在這里,劣化預(yù)測趨勢圖可以包括像素(或顯示面板110)在一段時間以后的亮度劣化。劣化預(yù)測趨勢圖可以在顯示設(shè)備100的制造工序中被預(yù)先確定。在一些示例性實施例中,補(bǔ)償單元920可以基于劣化電流來計算劣化時間常數(shù),并且可以基于劣化時間常數(shù)來對劣化預(yù)測趨勢圖進(jìn)行補(bǔ)償。在這里,劣化時間常數(shù)可以表示劣化電流經(jīng)過一段時間之后的改變(或變化)。

補(bǔ)償單元920可以基于補(bǔ)償后的劣化預(yù)測趨勢圖來對第二圖像數(shù)據(jù)IMAGE3進(jìn)行補(bǔ)償。

圖10是示出由圖9的時序控制器生成的劣化預(yù)測趨勢圖的示例的圖。

參考圖1、圖9和圖10,像素的亮度在經(jīng)過一段時間之后可能會降低。即接收恒定灰度(或恒定的數(shù)據(jù)信號)的像素由于該像素被使用而可能在經(jīng)過一段時間之后以降低的亮度而不是恒定的亮度來發(fā)射光。亮度降低的比率可以大致相同或類似于劣化電流與參考驅(qū)動電流之比。

補(bǔ)償單元920可以基于劣化電流經(jīng)過一段時間之后的變化來計算劣化時間常數(shù),并且可以對劣化預(yù)測趨勢圖進(jìn)行補(bǔ)償以具有(劣化預(yù)測曲線的)斜率,其值大致相同于劣化時間常數(shù)的值。例如,第一劣化預(yù)測趨勢圖可以在第一時間點具有第一斜率。在這里,補(bǔ)償單元920可以在第一時間點處計算第二斜率,其中第二斜率不同于第一斜率。如圖10所示,通過第一劣化預(yù)測趨勢圖而生成的具有第一斜率的第一劣化曲線1010可以不同于測量到的具有第二斜率的第二劣化曲線1020。因此,補(bǔ)償單元920可以對劣化預(yù)測趨勢圖(或第一劣化預(yù)測趨勢圖)進(jìn)行補(bǔ)償以具有第二斜率。

補(bǔ)償單元920可以基于補(bǔ)償后的劣化預(yù)測趨勢圖來對圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行補(bǔ)償。即,補(bǔ)償單元920可以基于補(bǔ)償后的劣化預(yù)測趨勢圖而預(yù)測出在一定時間流逝后出現(xiàn)具有一定值的劣化,并且可以補(bǔ)償圖像數(shù)據(jù)以補(bǔ)償劣化(或預(yù)測的劣化)。

如上所述,根據(jù)示例性實施例的顯示設(shè)備100可以基于測量到的總驅(qū)動電流來對劣化預(yù)測的分布進(jìn)行補(bǔ)償。因此,顯示設(shè)備100可以考慮(或基于)顯示設(shè)備100的驅(qū)動條件變化而準(zhǔn)確(或精確、或相對精確)地對劣化進(jìn)行補(bǔ)償。

圖11是示出根據(jù)示例性實施例的對顯示面板的劣化進(jìn)行補(bǔ)償?shù)姆椒ǖ牧鞒虉D。

參考圖1、圖9和圖11,圖11的方法可以對提供給顯示面板110的驅(qū)動電流進(jìn)行測量(S1110)。

圖11的方法可以基于圖像數(shù)據(jù)來計算參考驅(qū)動電流(S1120)。

圖11的方法可以基于驅(qū)動電流(或測量到的驅(qū)動電流)和參考驅(qū)動電流來計算劣化電流(S1130)。例如,圖11的方法可以通過計算參考驅(qū)動電流與驅(qū)動電流之差來確定劣化電流。

圖11的方法可以基于劣化電流來對劣化預(yù)測趨勢圖進(jìn)行補(bǔ)償(S1140)。在一些示例性實施例中,圖11的方法可以基于劣化電流來計算劣化時間常數(shù),并且可以基于劣化時間常數(shù)來對劣化預(yù)測趨勢圖進(jìn)行補(bǔ)償。

圖11的方法可以基于補(bǔ)償后的劣化預(yù)測趨勢圖來對圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行補(bǔ)償。

如上所述,根據(jù)示例性實施例的補(bǔ)償劣化的方法可以基于測量到的總驅(qū)動電流來對劣化預(yù)測趨勢圖進(jìn)行補(bǔ)償,并且可以基于補(bǔ)償后的劣化預(yù)測趨勢圖來對圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行補(bǔ)償。因此,該方法可以考慮(或基于)顯示設(shè)備100的驅(qū)動條件變化而準(zhǔn)確(或精確、或相對精確)地對劣化進(jìn)行補(bǔ)償。

本發(fā)明的實施例的多個方面可以被應(yīng)用于任何顯示設(shè)備(例如,有機(jī)發(fā)光顯示設(shè)備、液晶顯示設(shè)備等)。例如,本發(fā)明的實施例可以被應(yīng)用于電視、電腦顯示器、筆記本電腦、數(shù)碼相機(jī)、便攜式電話、智能手機(jī)、個人數(shù)字助理(PDA)、便攜式多媒體播放器(PMP)、MP3播放器、導(dǎo)航系統(tǒng)、視頻電話等。

上述是用于說明示例性實施例,而不被解釋為用于限制。雖然已經(jīng)描述了一些示例性實施例,但本領(lǐng)域的技術(shù)人員將會容易地理解到,可以在示例性實施例中進(jìn)行許多修改而實質(zhì)上不背離示例性實施例的新穎性教導(dǎo)及方面。因此,所有這種修改旨在被包括在如權(quán)利要求中定義的示例性實施例的范圍以及它們的等價物內(nèi)。在權(quán)利要求中,裝置加功能從句旨在涵蓋本文描述為執(zhí)行所列舉的功能的結(jié)構(gòu),并且不但包括結(jié)構(gòu)的等同形式而且還包括等效的結(jié)構(gòu)。因此,應(yīng)當(dāng)理解,上述是示例性實施例的說明,并不會被解釋為限于所公開的特定實施例,并且對所公開的示例性實施例的修改和其他示例性實施例旨在被包含在附加權(quán)利要求的范圍以及它們的等價物內(nèi)。本發(fā)明是由所附權(quán)利要求來限定,而且權(quán)利要求的等同物被包括在內(nèi)。

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