專利名稱：一種顯示裝置的測試設(shè)備及測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于移動顯示裝置的測試領(lǐng)域，尤其涉及一種應(yīng)用復(fù)用顯示接口的方式來同時測量LCM與CTP的測試設(shè)備及測試方法。
背景技術(shù)：
目前對于CTP(電容式觸摸屏)和LCM (液晶屏顯示模組)，都是各自單獨檢查。CTP的檢查都采用在電腦或者上位機臺連接運行測試軟件的方式進行測試。LCM采用LCM顯示測量儀進行測試。但是目前隨著CTP的廣泛應(yīng)用，尤其是在移動顯示領(lǐng)域的應(yīng)用，將LCM與CTP整合在一起已經(jīng)成為一種趨勢。然而，現(xiàn)有技術(shù)都是將CTP和LCM分別進行測試，一方面增設(shè)了檢測工序和設(shè)備，造成成本的增加；另一方面，由于分別的檢測與實際的使用狀態(tài)的情況很不相同，不能檢測出兩種產(chǎn)品的配合度，檢測精度不高且效率較低。

發(fā)明內(nèi)容
(一)要解決的技術(shù)問題本發(fā)明的目的是提供一種可以實現(xiàn)用LCM顯示測量儀在測量LCM的同時測量CTP的性能的測試設(shè)備及測試方法，通過該測試設(shè)備及方法可以有效地減少帶有CTP模組的測試時間，節(jié)省單獨的CTP測試設(shè)備，同時可檢測CTP與LCM的干擾情況。(二)技術(shù)方案本發(fā)明是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的一種顯示裝置的測試設(shè)備，包括液晶屏顯示模組LCM顯示測量儀、LCM信號連接夾具和電容式觸摸屏CTP信號連接夾具，所述LCM顯示測量儀分別與所述LCM信號連接夾具和CTP信號連接夾具信號連接；所述CTP信號連接夾具上設(shè)有集成電路總線IIC接頭。進一步，所述LCM顯示測量儀包括VCC電源線、GND信號線、I/O信號線和信號控制線，中斷信號線，所述VCC信號線和GND信號線均與所述CTP信號連接夾具連接；其中，任選一根I/O信號線與所述CTP信號連接夾具連接；任選一根信號控制線與所述CTP信號連接夾具連接；所述LCM顯示測量儀中下降沿觸發(fā)的中斷信號線與所述CTP信號連接夾具連接。再進一步，所述LCM顯示測量儀包括VCC電源線、GND信號線、I/O信號線和信號控制線，所述VCC電源線和GND信號線均與所述CTP信號連接夾具連接；其中，任選一根I/O信號線與所示CTP信號連接夾具連接；任選一根信號控制線與所述CTP信號連接夾具連接；通過查詢的方式，讓所述LCM顯示測量儀每隔5us讀取一次CTP控制IC中標識觸摸點數(shù)的寄存器。此外，本發(fā)明還提供一種應(yīng)用上述的測試設(shè)備對LCM和CTP進行同時測試的方法，該測試設(shè)備在測試LCM的同時，包括以下測試CTP的方法按壓所述CTP，獲得按壓觸摸的痕跡數(shù)量和該觸摸痕跡在CTP上的位置后，所述測試設(shè)備在CTP上的相應(yīng)位置做出標識；通過所述標識，直觀判斷所測產(chǎn)品是否為良品。
進一步來說，所述測試CTP的方法具體包括以下步驟SI)所述測試設(shè)備在CTP上顯示至少5個半徑相同的圓；S2)觸擊圓的圓心位置；S3)通過觀測CTP上的像素變黑的觸摸點位置是否在圓的范圍內(nèi)，對所測產(chǎn)品是否為良品進行判斷。
而且，所述測試CTP的方法還可包括以下步驟S4)如果像素變黑的觸摸點落在所述圓的范圍外，那么分別在測試設(shè)備連接和斷開LCM的情況下，使所述測試設(shè)備在CTP上顯示該兩次測試中觸摸點的坐標，并進行兩次坐標的比較。或者，所述測試CTP的方法可具體包括以下步驟所述CTP上顯示由兩條軌跡形成的X形圖形，每條軌跡由兩條邊線平行構(gòu)成，且在每條軌跡設(shè)有與兩條邊線平行的中心線；沿所述中心線劃線，所述測試設(shè)備將感應(yīng)到的觸摸點像素變黑；通過觀測觸摸點的位置是否位于每條軌跡的范圍內(nèi)，對所測產(chǎn)品是否為良品進行判斷。又或者，所述測試CTP的方法具體包括以下步驟所述測試設(shè)備在CTP上顯示設(shè)定圓心距的兩組同心圓，每組同心圓的直徑差為Imm ;然后同時點擊兩組同心圓的圓心，所述測試設(shè)備將感應(yīng)到的觸摸點像素變黑；通過觀測觸摸點的位置，對所測產(chǎn)品是否為良品進行判斷。此外，所述測試CTP的方法也可具體包括以下步驟觸擊CTP上顯示的全部設(shè)定數(shù)目的圓；然后檢測觸摸點像素是否變黑。此外，本發(fā)明還提供了一種應(yīng)用上述的測試設(shè)備對LCM和CTP進行同時測試的方法，該方法包括以下步驟I)斷開LCM與所述測試設(shè)備的連接，讀取所述測試設(shè)備上顯示的第一 VDD電流值；2)然后在CTP上劃線，讀取所述測試設(shè)備上顯示的第二 VDD電流值；3)更改CTP的IC狀態(tài)控制寄存器，使其進入睡眠模式，讀取所述測試設(shè)備上顯示的第三VDD電流值；4)監(jiān)控上述第一、第二和第三VDD電流值的變化。(三)有益效果與現(xiàn)有技術(shù)和產(chǎn)品相比，本發(fā)明有如下優(yōu)點I、本發(fā)明在檢查LCM功能的同時檢查CTP功能，并可以觀察CTP與LCM的干擾情況，配合度；2、本發(fā)明可節(jié)省檢測用電腦，減少一道檢查工序，縮短檢查時間。在點和劃線的準確度測試中更加方便直觀；3、本發(fā)明避免現(xiàn)有單獨測試CTP與LCM出現(xiàn)的例如像素偏移，測試符合電容式CTP與LCM融合的趨勢。


圖I是本發(fā)明實施例提供的測試設(shè)備結(jié)構(gòu)示意圖2是本發(fā)明實施例提供的測試設(shè)備原理模塊示意圖；圖3是本發(fā)明的實施例中在準確度和干擾測試中CTP顯示示意圖；圖4是本發(fā)明實施例在劃線測試中CTP顯示示意圖；圖5是本發(fā)明實施例在最小分辨率測試中CTP顯示示意圖；圖6是本發(fā)明實施例在CTP多點報點測試中CTP顯示示意圖。上述附圖中，各標記代表的部件列表如下I :移動顯示設(shè)備；11 LCM ；12 CTP ；13 :LCM 控制 IC ；14 :CTP 控制 IC ；15 :液晶屏FPC ；2:信號連接夾具；21 :LCM信號連接夾具；22 :CTP信號連接夾具；3 :LCM顯示測量儀。
具體實施例方式下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的具體實施方式
做一個詳細的說明。如圖I和圖2所示，本實施例中，提供一種同時測量LCM(液晶顯示模組)與CTP (電容式觸摸屏)的測試設(shè)備及測試方法。該測試設(shè)備通過對LCM顯示測量儀信號的設(shè)置，使該LCM顯示測量儀與信號連接夾具信號連接。該LCM顯示測量儀通過模仿CTP上IIC接口的通訊協(xié)議，使LCM顯示測量儀通過信號連接夾具與CTP上的IIC接口相連，增加對CTP進行相關(guān)測試的功能，從而應(yīng)用該測試設(shè)備，實現(xiàn)了在測試LCM同時完成對CTP的測試，更直觀的顯示CTP測試結(jié)果。本方案的測試設(shè)備優(yōu)選采用LCM顯示測量儀3 (型號J600)與信號連接夾具2通過CPU或RGB接口或MIPI信號連接。所述信號連接夾具包括LCM信號連接夾具21和CTP信號連接夾具22，所述LCM顯示測量儀分別與所述LCM信號連接夾具和CTP信號連接夾具信號連接。進行測試的移動顯示設(shè)備I包括LCM12和CTP11，LCM上設(shè)有LCM控制IC13，用于控制LCM的信號與顯示；CTP上設(shè)有CTP控制IC14，用于控制CTP的信號與工作狀態(tài)。所述LCM信號連接夾具通過液晶屏FPC15 (連接面板和外接驅(qū)動板的柔性電路板)與LCM相連。該J600型LCM顯示測量儀是用于測試小尺寸LCM的測試設(shè)備，在模組產(chǎn)線上有廣泛的應(yīng)用，其具有很完善的LCM測試功能，但是沒有IIC接口。CTP的測試一般需要VCC(電路供電電壓)、GND (接地線)的電信號，IIC的時鐘信號、數(shù)據(jù)信號，以及一個中斷信號來提醒主機有觸摸發(fā)生。由于J600型LCM顯示測量儀本身可以提供測試CTP需要的VCC和GND電源信號，故VCC和GND均通過CTP信號連接夾具與CTP連接。此外，根據(jù)J600型LCM顯示測量儀本身只需要ISbit的數(shù)據(jù)傳輸，而其具有24bit的I/O (輸入或輸出)信號線和12個信號控制線，因而選用第24根信號線作為IIC接口的信號線SDA (IIC總線的數(shù)控信號線)，選用一根信號控制線作為IIC接口的時鐘信號線，可以模擬IIC接口通訊。而中斷信號可采用J600型LCM顯示測量儀中由下降沿觸發(fā)的ISR3中斷。即任選一根I/O信號線與所述CTP信號連接夾具連接，作為IIC接口的信號線SDA ;任選一根信號控制線與所述CTP信號連接夾具連接，用于IIC接口的時鐘線，可以模擬IIC接口通訊；該LCM顯示測量儀中下降沿觸發(fā)的ISR3與所述CTP信號連接夾具連接，用于提供中斷信號。當然，對于不同的CTP采用的CTP控制IC14，它的中斷信號有時會不同，因而，可能觸發(fā)信號并不能與該LCM顯示測量儀的下降沿觸發(fā)信號相匹配。為解決該技術(shù)問題，本實施例測試裝置通過查詢的方式監(jiān)測CTP控制IC的中標識觸摸點數(shù)的寄存器，來完成中斷信號的功能。另外，本實施例可以靈活選擇D0-D23，PCAO等I/O 口作為IIC的信號復(fù)用。根據(jù)上述的測試設(shè)備的設(shè)置，該LCM顯示測量儀通過IIC接口就可以訪問到移動設(shè)備上CTP控制IC的寄存器，從而獲得按壓CTP的觸摸點數(shù)，及每個觸摸點的位置，進而可以根據(jù)需要做出標識，例如將CTP的對應(yīng)觸摸位置的像素點變黑，以直觀的判斷是否良品。具體地，對移動顯示設(shè)備測試性能時，在測試LCM性能的同時，通過下述的方法來對CTP進行功能測試( I)準確度和移動顯示模組干擾測試準確度測試如圖3所示，在CTP上顯示多個半徑為R的圓，本實施例優(yōu)選為5個；通過點擊CTP上每個圓圈標識位置的圓心，測試設(shè)備會自動將CTP上感應(yīng)到的觸摸點像素變黑，如果五個觸摸點都落在圓的范圍內(nèi)，則表明準確度符合要求。根據(jù)測試基準的不同，選用的m和測試圓的半徑R值也不同(m指測試圓到邊緣的位置)?！じ蓴_測試如果在上述的測試中出現(xiàn)的觸摸點落在圓的范圍外的情況，則進入干擾測試。首先，分別在連接和斷開模組的狀態(tài)讓測試設(shè)備顯示讀取的觸摸點的坐標，如果兩次的坐標不相同且偏差較大，則表示LCM對CTP干擾過大；如果相同，則可判斷是CTP本身準確度不合格。(2)劃線測試如圖4所示，所述測試設(shè)備在CTP上顯示由兩條軌跡形成的X形圖形，每條軌跡由兩條邊線平行構(gòu)成，且在每條軌跡設(shè)有與兩條邊線平行的中心線；沿所述中心線劃線，所述測試設(shè)備將感應(yīng)到的觸摸點像素變黑。如顯示觸摸點都落在每條軌跡的范圍內(nèi)，則表明準確度符合要求。根據(jù)測試基準的不同，對軌跡選用不同的寬度，該寬度代表可接受的線性誤差范圍。(3)最小分辨距離測試如圖5所示，所述測試設(shè)備在CTP上顯示設(shè)定圓心距的兩組同心圓，每組同心圓的直徑差為Imm ;然后同時點擊兩組同心圓的圓心，所述測試設(shè)備將感應(yīng)到的觸摸點像素變黑。如果CTP上顯示的像素點分別落在兩組同心圓各自的圓環(huán)(圖5中黑色部分)內(nèi)，則表示CTP可以分辨設(shè)定距離的兩點，符合要求。(4)功耗的測試斷開LCM與測試設(shè)備的連接，讀取測試設(shè)備上顯示的VDD的電流值；在CTP上劃線，讀取測試設(shè)備上的VDD的電流值；然后更改CTP控制IC狀態(tài)控制寄存器，使之進入睡眠模式，讀取測試設(shè)備上的VDD電流值(uA)。通過監(jiān)控上述的VDD的電流值，從而根據(jù)標準判斷移動顯示設(shè)備的功耗是否符合要求。(5)多點CTP的報點測試電容屏的特點是可以對多點觸摸進行分辨，例如設(shè)計要求CTP要支持5點觸摸，進入多點檢測模式，如圖6所示，所述測試設(shè)備在CTP上顯示設(shè)定數(shù)目的觸摸點；本實施例優(yōu)選為5個設(shè)有觸摸點的圓；觸擊顯示的全部的圓；測試裝置將讀取觸摸點的寄存器的值，如果少于5點則不動作，如果等于5則將感應(yīng)到的觸摸點像素變黑。可見，如果測試結(jié)果在CTP上顯示了設(shè)定數(shù)目的像素變黑的觸摸點，則證明該CTP的多點分辨功能正常。以上的5項測試既滿足了一般的CTP測試的基本要求，又可以在短時間能得到PASS還是NG的結(jié)果，適合生產(chǎn)帶有CTP的LCM生產(chǎn)線的生產(chǎn)應(yīng)用。在測試LCM及CTP的電性功能的同時，增加運動接觸裝置測試打點劃線，壽命測試，硬度測試等功能。 以上實施方式僅用于說明本發(fā)明，而并非對本發(fā)明的限制，有關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，還可以做出各種變化和變型，因此所有 等同的技術(shù)方案也屬于本發(fā)明的范疇，本發(fā)明的專利保護范圍應(yīng)由權(quán)利要求限定。
權(quán)利要求
1.一種顯示裝置的測試設(shè)備，其特征在于，包括液晶屏顯示模組LCM顯示測量儀、LCM信號連接夾具和電容式觸摸屏CTP信號連接夾具，所述LCM顯示測量儀分別與所述LCM信號連接夾具和CTP信號連接夾具信號連接；所述CTP信號連接夾具上設(shè)有集成電路總線IIC接頭。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的顯示裝置的測試設(shè)備，其特征在于，所述LCM顯示測量儀包括VCC電源線、GND信號線、I/O信號線和信號控制線，中斷信號線，所述VCC信號線和GND信號線均與所述CTP信號連接夾具連接； 其中，任選一根I/O信號線與所述CTP信號連接夾具連接；任選一根信號控制線與所述CTP信號連接夾具連接；所述LCM顯示測量儀中下降沿觸發(fā)的中斷信號線與所述CTP信號連接夾具連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的顯示裝置的測試設(shè)備，其特征在于，所述LCM顯示測量儀包括VCC電源線、GND信號線、I/O信號線和信號控制線，所述VCC電源線和GND信號線均與所述CTP信號連接夾具連接； 其中，任選一根I/O信號線與所示CTP信號連接夾具連接；任選一根信號控制線與所述CTP信號連接夾具連接；通過查詢的方式，讓所述LCM顯示測量儀每隔5us讀取一次CTP控制IC中標識觸摸點數(shù)的寄存器。
4.一種應(yīng)用權(quán)利要求1-3中任一項所述的測試設(shè)備對LCM和CTP進行同時測試的方法，其特征在于，該測試設(shè)備在測試LCM的同時，包括以下測試CTP的方法 按壓所述CTP，獲得按壓觸摸的痕跡數(shù)量和該觸摸痕跡在CTP上的位置后，所述測試設(shè)備在CTP上的相應(yīng)位置做出標識；通過所述標識，直觀判斷所測產(chǎn)品是否為良品。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的同時測試的方法，其特征在于，所述測試CTP的方法具體包括以下步驟 51)所述測試設(shè)備在CTP上顯示至少5個半徑相同的圓； 52)觸擊圓的圓心位置； 53)通過觀測CTP上的像素變黑的觸摸點位置是否在圓的范圍內(nèi)，對所測產(chǎn)品是否為良品進行判斷。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的同時測試的方法，其特征在于，所述測試CTP的方法還包括以下步驟 54)如果像素變黑的觸摸點落在所述圓的范圍外，那么分別在測試設(shè)備連接和斷開LCM的情況下，使所述測試設(shè)備在CTP上顯示該兩次測試中觸摸點的坐標，并進行兩次坐標的比較。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的同時測試的方法，其特征在于，所述測試CTP的方法具體包括以下步驟 所述CTP上顯示由兩條軌跡形成的X形圖形，每條軌跡由兩條邊線平行構(gòu)成，且在每條軌跡設(shè)有與兩條邊線平行的中心線；沿所述中心線劃線，所述測試設(shè)備將感應(yīng)到的觸摸點像素變黑；通過觀測觸摸點的位置是否位于每條軌跡的范圍內(nèi)，對所測產(chǎn)品是否為良品進行判斷。
8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的同時測試的方法，其特征在于，所述測試CTP的方法具體包括以下步驟所述測試設(shè)備在CTP上顯示設(shè)定圓心距的兩組同心圓，每組同心圓的直徑差為Imm ;然后同時點擊兩組同心圓的圓心，所述測試設(shè)備將感應(yīng)到的觸摸點像素變黑；通過觀測觸摸點的位置，對所測產(chǎn)品是否為良品進行判斷。
9.根據(jù)權(quán)利要求4所述的同時測試的方法，其特征在于，所述測試CTP的方法具體包括以下步驟 觸擊CTP上顯示的全部設(shè)定數(shù)目的圓；然后檢測觸摸點像素是否變黑。
10.一種應(yīng)用權(quán)利要求1-3中任一項所述的測試設(shè)備對LCM和CTP進行同時測試的方法，其特征在于，該方法包括以下步驟 1)斷開LCM與所述測試設(shè)備的連接，讀取所述測試設(shè)備上顯示的第一VDD電流值； 2)然后在CTP上劃線，讀取所述測試設(shè)備上顯示的第二VDD電流值； 3)更改CTP的IC狀態(tài)控制寄存器，使其進入睡眠模式，讀取所述測試設(shè)備上顯示的第三VDD電流值； 4)監(jiān)控上述第一、第二和第三VDD電流值的變化。
全文摘要
本發(fā)明涉及移動顯示裝置的測試領(lǐng)域，尤其涉及一種應(yīng)用復(fù)用顯示接口的方式來同時測量LCM與CTP的測試設(shè)備及測試方法，該測試設(shè)備包括LCM顯示測量儀、LCM信號連接夾具和CTP信號連接夾具，所述LCM顯示測量儀分別與所述LCM信號連接夾具和CTP信號連接夾具信號連接；所述CTP信號連接夾具上設(shè)有IIC接頭。本發(fā)明在檢查LCM功能的同時檢查CTP功能，并可以觀察CTP與LCM的干擾情況、配合度；可節(jié)省檢測用電腦，減少一道檢查工序，縮短檢查時間；進行點和劃線的準確度測試中更加方便直觀；能夠避免現(xiàn)有單獨測試CTP與LCM導(dǎo)致的像素偏移等問題，測試符合CTP與LCM融合的趨勢。
文檔編號G09G3/00GK102945648SQ20121048772
公開日2013年2月27日 申請日期2012年11月26日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月26日
發(fā)明者張嫄, 楊瑞峰, 王全忠, 顧振華, 朱墨雨 申請人:京東方科技集團股份有限公司, 京東方現(xiàn)代(北京)顯示技術(shù)有限公司