專利名稱：膜導(dǎo)電路實(shí)驗(yàn)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種電路實(shí)驗(yàn)裝置，具體是涉及一種膜導(dǎo)電路實(shí)驗(yàn)裝置，能在有 效體積和面積內(nèi)，使用導(dǎo)膜電路圖引導(dǎo)，完成多個電路實(shí)驗(yàn)。
背景技術(shù)：
目前，公知的電路實(shí)驗(yàn)裝置結(jié)構(gòu)是由實(shí)驗(yàn)電路和實(shí)驗(yàn)電路圖組成實(shí)驗(yàn)箱(或?qū)嶒?yàn) 板)。實(shí)驗(yàn)箱(或?qū)嶒?yàn)板)結(jié)構(gòu)是由電源、信號源和實(shí)驗(yàn)電路組成。作電路實(shí)驗(yàn)時根據(jù)實(shí)驗(yàn)內(nèi) 容選擇實(shí)驗(yàn)箱(或?qū)嶒?yàn)板)，通常一個實(shí)驗(yàn)箱(或?qū)嶒?yàn)板)只能作幾個電路或芯片的實(shí)驗(yàn)，實(shí) 驗(yàn)電路是平面分布。使用時根據(jù)需要選擇實(shí)驗(yàn)箱或?qū)嶒?yàn)板進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，需要多個試驗(yàn)箱或電 路板。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種膜導(dǎo)電路實(shí)驗(yàn)裝置，該實(shí)驗(yàn)裝置只 需變換不同的實(shí)驗(yàn)電路導(dǎo)膜，覆蓋在實(shí)驗(yàn)區(qū)域內(nèi)，就能進(jìn)行所選電路的實(shí)驗(yàn)，而且在裝置內(nèi) 設(shè)計(jì)有多組直流穩(wěn)壓電源和信號源，能方便地進(jìn)行電路實(shí)驗(yàn)。本實(shí)用新型解決上述技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是膜導(dǎo)電路實(shí)驗(yàn)裝置，包括有 絕緣外箱體，其內(nèi)部設(shè)置有多組直流穩(wěn)壓電源及信號源，其上設(shè)有用于連接直流穩(wěn)壓電源 及信號源與實(shí)驗(yàn)面板上的輸出孔的連接線，其特征在于所述的實(shí)驗(yàn)面板上方設(shè)有實(shí)驗(yàn)電 路導(dǎo)膜，實(shí)驗(yàn)電路導(dǎo)膜上設(shè)置有測試導(dǎo)孔，實(shí)驗(yàn)面板的下方設(shè)置有復(fù)合電路集成模塊，所述 的復(fù)合電路集成模塊內(nèi)部安設(shè)有各種實(shí)驗(yàn)電路，實(shí)驗(yàn)電路上設(shè)有測試點(diǎn)，實(shí)驗(yàn)面板上設(shè)置 有與測試點(diǎn)相對應(yīng)的導(dǎo)出接插孔，且實(shí)驗(yàn)電路導(dǎo)膜上的測試導(dǎo)孔和實(shí)驗(yàn)面板上的導(dǎo)出接插 孔--對應(yīng)。按上述方案，所述的實(shí)驗(yàn)面板上設(shè)置有固定柱，實(shí)驗(yàn)電路導(dǎo)膜上設(shè)置有與固定柱 相配合的固定孔。本實(shí)用新型的實(shí)驗(yàn)電路導(dǎo)膜的制作方法是將實(shí)驗(yàn)電路圖制作在絕緣薄膜上，并 將電路所需的輸入輸出端、測試點(diǎn)和電源端制作成測試導(dǎo)孔的絕緣薄膜，實(shí)驗(yàn)電路導(dǎo)膜上 的測試導(dǎo)孔和實(shí)驗(yàn)面板上的導(dǎo)出接插孔一一對應(yīng)。把多個實(shí)驗(yàn)電路集成在實(shí)驗(yàn)裝置內(nèi)，并 且導(dǎo)出各實(shí)驗(yàn)電路的測試點(diǎn)在實(shí)驗(yàn)面板的正面，選用已制做好的帶有測試導(dǎo)孔的實(shí)驗(yàn)電路 導(dǎo)膜，覆蓋在實(shí)驗(yàn)面板的正面(實(shí)驗(yàn)區(qū)域)。本實(shí)用新型具有如下優(yōu)點(diǎn)使用時只需變換不同的實(shí)驗(yàn)電路導(dǎo)膜，覆蓋在實(shí)驗(yàn)面 板的正面實(shí)驗(yàn)區(qū)域，就能進(jìn)行所選實(shí)驗(yàn)電路的實(shí)驗(yàn)測量。達(dá)到能夠在有效體積和面積內(nèi)，完 成多個電路實(shí)驗(yàn)的目的，減少了實(shí)驗(yàn)箱(或?qū)嶒?yàn)電路板)的個數(shù)，使用方便。

圖1是本實(shí)用新型的俯視圖；圖2是本實(shí)用新型的實(shí)驗(yàn)電路導(dǎo)膜的俯視圖；[0010]圖3是圖1的I-I剖視圖；圖中1.輸出孔；2.導(dǎo)出接插孔；3.固定柱；4.固定孔；5.實(shí)驗(yàn)電路導(dǎo)膜；6.測 試導(dǎo)孔；7.絕緣外箱體；8.直流穩(wěn)壓電源及信號源；9.連接線；10.實(shí)驗(yàn)面板；11.復(fù)合電 路集成模塊。
具體實(shí)施方式
下面通過實(shí)施例，并結(jié)合圖1-3對本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)作進(jìn)一步地描述。膜導(dǎo)電路實(shí)驗(yàn)裝置，包括有絕緣外箱體7，其內(nèi)部設(shè)置有多組直流穩(wěn)壓電源及信號 源8，供試驗(yàn)所用，其上設(shè)有用于連接直流穩(wěn)壓電源及信號源與實(shí)驗(yàn)面板10上的輸出孔1的 連接線9，所述的實(shí)驗(yàn)面板上方設(shè)置有實(shí)驗(yàn)電路導(dǎo)膜5，所述的實(shí)驗(yàn)面板上設(shè)置有固定柱3， 實(shí)驗(yàn)電路導(dǎo)膜上設(shè)置有與固定柱相配合的固定孔4，實(shí)驗(yàn)電路導(dǎo)膜上設(shè)置有測試導(dǎo)孔6，實(shí) 驗(yàn)面板的下方設(shè)置有復(fù)合電路集成模塊11，所述的復(fù)合電路集成模塊內(nèi)部安設(shè)有各種實(shí)驗(yàn) 電路，實(shí)驗(yàn)電路上設(shè)有測試點(diǎn)，實(shí)驗(yàn)面板上設(shè)置有與測試點(diǎn)相對應(yīng)的導(dǎo)出接插孔2，且實(shí)驗(yàn) 電路導(dǎo)膜上的測試導(dǎo)孔和實(shí)驗(yàn)面板上的導(dǎo)出接插孔一一對應(yīng)。使用時，選擇實(shí)驗(yàn)電路導(dǎo)膜，安放在圖1所示的實(shí)驗(yàn)面板上，并用固定柱進(jìn)行限位 和固定，用接插線從圖1中接直流穩(wěn)壓電源和信號源到實(shí)驗(yàn)電路上的對應(yīng)測試點(diǎn)，根據(jù)實(shí) 驗(yàn)電路導(dǎo)膜上設(shè)置的測試導(dǎo)孔進(jìn)行測試。以上所述，僅是本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并非對實(shí)用新型作任何形式上的 限制，凡是依據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)實(shí)質(zhì)對以上實(shí)施例所作的任何簡單修改、等同變化和修 飾，均仍屬于本實(shí)用新型的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求膜導(dǎo)電路實(shí)驗(yàn)裝置，包括有絕緣外箱體(7)，其內(nèi)部設(shè)置有多組直流穩(wěn)壓電源及信號源(8)，其上設(shè)有用于連接直流穩(wěn)壓電源及信號源與實(shí)驗(yàn)面板(10)上的輸出孔(1)的連接線(9)，其特征在于所述的實(shí)驗(yàn)面板上方設(shè)有實(shí)驗(yàn)電路導(dǎo)膜(5)，實(shí)驗(yàn)電路導(dǎo)膜上設(shè)置有測試導(dǎo)孔(6)，實(shí)驗(yàn)面板的下方設(shè)置有復(fù)合電路集成模塊(11)，所述的復(fù)合電路集成模塊內(nèi)部安設(shè)有各種實(shí)驗(yàn)電路，實(shí)驗(yàn)電路上設(shè)有測試點(diǎn)，實(shí)驗(yàn)面板上設(shè)置有與測試點(diǎn)相對應(yīng)的導(dǎo)出接插孔(2)，且實(shí)驗(yàn)電路導(dǎo)膜上的測試導(dǎo)孔和實(shí)驗(yàn)面板上的導(dǎo)出接插孔一一對應(yīng)。
2.按權(quán)利要求1所述的膜導(dǎo)電路實(shí)驗(yàn)裝置，其特征在于所述的實(shí)驗(yàn)面板上設(shè)置有固定 柱(3)，實(shí)驗(yàn)電路導(dǎo)膜上設(shè)置有與固定柱相配合的固定孔(4)。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種膜導(dǎo)電路實(shí)驗(yàn)裝置，包括有絕緣外箱體，其內(nèi)部設(shè)置有多組直流穩(wěn)壓電源及信號源，其上設(shè)有連接線，其不同之處在于所述的實(shí)驗(yàn)面板上方設(shè)有實(shí)驗(yàn)電路導(dǎo)膜，實(shí)驗(yàn)電路導(dǎo)膜上設(shè)置有測試導(dǎo)孔，實(shí)驗(yàn)面板的下方設(shè)置有復(fù)合電路集成模塊，所述的復(fù)合電路集成模塊內(nèi)部安設(shè)有各種實(shí)驗(yàn)電路，實(shí)驗(yàn)電路上設(shè)有測試點(diǎn)，實(shí)驗(yàn)面板上設(shè)置有與測試點(diǎn)相對應(yīng)的導(dǎo)出接插孔，且實(shí)驗(yàn)電路導(dǎo)膜上的測試導(dǎo)孔和實(shí)驗(yàn)面板上的導(dǎo)出接插孔一一對應(yīng)。本實(shí)用新型具有如下優(yōu)點(diǎn)使用時只需變換不同的實(shí)驗(yàn)電路導(dǎo)膜，覆蓋在實(shí)驗(yàn)面板的正面實(shí)驗(yàn)區(qū)域，就能進(jìn)行所選實(shí)驗(yàn)電路的實(shí)驗(yàn)測量。達(dá)到能夠在有效體積和面積內(nèi)，完成多個電路實(shí)驗(yàn)的目的，減少了實(shí)驗(yàn)箱的個數(shù)，使用方便。
文檔編號G09B23/18GK201765734SQ201020509018
公開日2011年3月16日 申請日期2010年8月30日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月30日
發(fā)明者宋安琪, 宋廷臣 申請人:武漢電力職業(yè)技術(shù)學(xué)院