專利名稱：分離放大器與輸出端的顯示單元的驅(qū)動(dòng)電路及其控制方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種顯示單元的驅(qū)動(dòng)電路及其測試方法，特別涉及包 括開關(guān)的顯示單元的驅(qū)動(dòng)電路及其測試方法，用于將輸出電路中的放 大器的輸出與輸出端分離。
2.
背景技術(shù)：
如圖4所示，作為相關(guān)技術(shù)，用作點(diǎn)陣顯示的液晶顯示器包括 液晶顯示器面板101、數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路102、掃描驅(qū)動(dòng)電路103、電源電 路104和控制電路105。
在圖4中的液晶顯示器面板101包括橫向布置和垂直延伸的數(shù) 據(jù)線106和垂直布置和橫向延伸的掃描線107。每單個(gè)像素具有TFT 108、像素電容109和液晶元件110。 TFT 108的柵極端子與掃描線107 連接，并且其源極(漏極)端子分別與數(shù)據(jù)線106連接。TFT108的漏 極(源極)端子分別與像素電容109和液晶元件110連接。在沒有連 接到TFT 108的那一側(cè)的液晶元件110和像素電容109的端子111連 接到例如未示出的公共電極。
數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路102根據(jù)數(shù)字圖像信號(hào)(此后，稱為數(shù)據(jù))通過輸 出模擬信號(hào)電壓來驅(qū)動(dòng)數(shù)據(jù)線106。掃描驅(qū)動(dòng)電路103通過輸出TFT 108的選擇/非選擇電壓來驅(qū)動(dòng)掃描線107?？刂齐娐?05通過掃描驅(qū)動(dòng) 電路103和數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路102控制驅(qū)動(dòng)定時(shí)。電源電路104提供電源 電壓到用于輸出模擬信號(hào)電壓的數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路102和用于輸出選擇/非 選擇電壓的掃描驅(qū)動(dòng)電路103。如將要在下面描述的，本發(fā)明與數(shù)據(jù)驅(qū) 動(dòng)電路102相關(guān)。在許多情況下，數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路102具有由半導(dǎo)體集成電路器件組 成的多個(gè)驅(qū)動(dòng)電路。例如，在液晶面板分辯率是XGA (1024x768像 素1個(gè)像素包括R (紅色)、G (綠色)和B (藍(lán)色)3點(diǎn))的情況 下，數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路102包括八塊，且一塊共享128像素的顯示。
圖5示出了作為相關(guān)技術(shù)的驅(qū)動(dòng)電路1的方框圖，而圖6是如圖 5所示的輸入到總驅(qū)動(dòng)電路1的每一個(gè)信號(hào)的時(shí)序圖。驅(qū)動(dòng)電路1共享 每塊m個(gè)像素的顯示，因此它輸出Sl到Sn的信號(hào)到n塊-m x 3點(diǎn)的 數(shù)據(jù)線106。為了簡化描述，根據(jù)下列情況給出描述。驅(qū)動(dòng)電路1以等 于Sl到Sn信號(hào)的一個(gè)輸出，即，以等同于1個(gè)像素的1點(diǎn)的數(shù)據(jù)的 位寬連續(xù)地接收數(shù)據(jù)。驅(qū)動(dòng)電路1包括移位寄存器2、數(shù)據(jù)寄存器3、 數(shù)據(jù)鎖存電路4、電平轉(zhuǎn)換器5、 D/A轉(zhuǎn)換器6和輸出電路7。移位寄 存器2的輸出被級聯(lián)輸出到下一級的驅(qū)動(dòng)電路。
移位寄存器2具有n級寄存器，在此提供移位開始脈沖和時(shí)鐘。 在時(shí)鐘定時(shí)處順序的對開始脈沖進(jìn)行移位，以便如圖6所示變成移位 脈沖(SP1)到移位脈沖(SPn)。
數(shù)據(jù)寄存器3具有n級寄存器，在此將數(shù)據(jù)并聯(lián)地提供給每一個(gè) 寄存器。每一個(gè)寄存器順序地在下降沿定時(shí)保持?jǐn)?shù)據(jù)，例如，在由移 位寄存器2提供的移位脈沖(SP1)到移位脈沖(SPn)的下降沿定時(shí) 處。
當(dāng)將數(shù)據(jù)輸入到數(shù)據(jù)寄存器3的全部寄存器時(shí)，數(shù)據(jù)鎖存電路4 接收數(shù)據(jù)鎖存信號(hào)，以便鎖存由數(shù)據(jù)寄存器3的每個(gè)寄存器所保持的 全部數(shù)據(jù)。由電平轉(zhuǎn)換器5轉(zhuǎn)換鎖存數(shù)據(jù)的電平。
D/A轉(zhuǎn)換器6對經(jīng)電平轉(zhuǎn)換的數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼并且輸出灰度電壓。 D/A轉(zhuǎn)換器6從如下灰度電壓中有選擇地輸出等同于數(shù)據(jù)的灰度電壓，所述灰度電壓的灰度級的數(shù)量為例如通過提供灰度基準(zhǔn)電壓而生成的
64個(gè)灰度級。輸出電路7放大D/A轉(zhuǎn)換器6的輸出并且將它輸出作為 輸出信號(hào)Sl到Sn。提供給數(shù)據(jù)鎖存電路4的數(shù)據(jù)鎖存信號(hào)和極性反轉(zhuǎn) 信號(hào)也被提供給輸出電路7，以便在數(shù)據(jù)鎖存信號(hào)的定時(shí)處選擇并輸出 根據(jù)極性反轉(zhuǎn)信號(hào)的極性輸出。
接著，將參考圖7描述輸出電路7。輸出電路7包括用于放大并 輸出根據(jù)來自D/A轉(zhuǎn)換器6的極性的輸出的AMP 7a、和用于控制AMP 7a的輸出的導(dǎo)通與關(guān)斷的開關(guān)7b(此后，稱為關(guān)斷開關(guān))。如圖6所 示，關(guān)斷開關(guān)7b根據(jù)放大器的極性關(guān)斷輸出，作為從數(shù)據(jù)鎖存信號(hào)脈 沖的上升沿到下降沿的輸出高阻抗周期。這是D/A轉(zhuǎn)換器6的過渡周 期，其中可以一直關(guān)斷關(guān)斷開關(guān)7b以使其處于高阻抗(Hi-Z)狀態(tài)， 直到確定電位(參看例如日本專利特開No.2004 - 29316)。
至于驅(qū)動(dòng)電路1，為了抑制芯片尺寸的增大，已經(jīng)發(fā)展了精細(xì)構(gòu) 圖，該芯片尺寸的增大與由于顯示面板尺寸的增大而導(dǎo)致輸出數(shù)目增 加有關(guān)。因?yàn)橛捎谠谛酒壓彤a(chǎn)品級中的輸出電路的輸出上的漏電流 而導(dǎo)致的廢品率增加，所以進(jìn)行了關(guān)于漏電流故障檢測的測試。當(dāng)高 精度地測試漏電流故障檢測時(shí)，為了分離AMP7a的輸出，關(guān)斷所述關(guān) 斷開關(guān)7b。(參看例如日本專利特開No.2000 - 66641)。
總之，就驅(qū)動(dòng)電路的故障檢測測試而言，由LSI測試器(模式生 成器)生成關(guān)于預(yù)定測試模式的測試數(shù)據(jù)，以便根據(jù)測試數(shù)據(jù)進(jìn)行測 試。關(guān)于上述漏電流故障檢測的測試，在用數(shù)據(jù)鎖存信號(hào)關(guān)斷上述關(guān) 斷開關(guān)7b的情況下，如圖7所示，必須運(yùn)行測試模式直到數(shù)據(jù)鎖存信 號(hào)變成"H "電平并且一旦處于"H "電平狀態(tài)就停止該測試模式，以便 關(guān)斷上述關(guān)斷開關(guān)7b。因此，存在漏電流故障檢測的測試時(shí)間變長的 問題
發(fā)明內(nèi)容
顯示單元的驅(qū)動(dòng)電路包括輸出電路。輸出電路具有根據(jù)數(shù)字圖像
信號(hào)放大模擬信號(hào)電壓的放大器，和響應(yīng)于測試信號(hào)關(guān)斷以隔離放大 器的輸出與輸出端的開關(guān)。
控制顯示單元的驅(qū)動(dòng)電路的方法包括輸出電路包括關(guān)斷開關(guān)， 以獨(dú)立地響應(yīng)于數(shù)據(jù)鎖存信號(hào)的測試信號(hào)將放大器與輸出端電氣地分 離，以檢測在所述輸出電路的輸出上的漏電流故障。
本發(fā)明可以通過在驅(qū)動(dòng)電路的操作測試中通過縮短漏電流故障檢 測的檢測時(shí)間來減少整個(gè)測試時(shí)間。


結(jié)合附圖，根據(jù)下列某些示例性的實(shí)施例的描述，本發(fā)明上述及 其它的示例性的方面、優(yōu)點(diǎn)和特點(diǎn)將更顯而易見，其中 圖1是示出根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例驅(qū)動(dòng)電路的方框圖； 圖2是示出如圖1所示的驅(qū)動(dòng)電路的輸出電路圖； 圖3是示出根據(jù)圖2所示的本發(fā)明實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)電路的測試設(shè)備 的例子的圖4是示出相關(guān)技術(shù)的液晶顯示器的方框圖； 圖5是示出相關(guān)技術(shù)的總驅(qū)動(dòng)電路的方框圖6是如圖5所示的輸入到驅(qū)動(dòng)電路的每個(gè)信號(hào)的時(shí)序圖；及 圖7是示出如圖5所示的驅(qū)動(dòng)電路的輸出電路的圖。
具體實(shí)施例方式
圖1是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)電路10的結(jié)構(gòu)的方框圖。圖 2是驅(qū)動(dòng)電路10的輸出電路11的圖。與圖5和7相同的部分將給出相 同的符號(hào)，并且將省略其描述。驅(qū)動(dòng)電路10不同于驅(qū)動(dòng)電路1之處在 于，其包括輸出電路11而不是輸出電路7。輸出電路11不同于輸出電 路7之處在于其包括開關(guān)電路12。開關(guān)電路12包括與關(guān)斷開關(guān)7b同樣結(jié)構(gòu)的開關(guān)12a、 12b、 12c 和12d。開關(guān)I2a連接在數(shù)據(jù)鎖存輸入和關(guān)斷開關(guān)7b的P溝道晶體管 的柵極之間。開關(guān)12b連接在經(jīng)由反相器INV 1的數(shù)據(jù)鎖存輸入和關(guān) 斷開關(guān)7b的N溝道晶體管的柵極之間。開關(guān)12c連接在高電源電位端 子VDD和關(guān)斷開關(guān)7b的P溝道晶體管的柵極之間。開關(guān)12d連接在 低電源電位端子VSS和關(guān)斷開關(guān)7b的N溝道晶體管的柵極之間。
開關(guān)12a和12b在沒有測試信號(hào)輸入的正常操作時(shí)導(dǎo)通控制，而 在測試信號(hào)輸入的測試模式中關(guān)斷控制。開關(guān)12c和12d在沒有測試信 號(hào)輸入的正常操作時(shí)關(guān)斷控制，而在測試信號(hào)輸入的測試模式中導(dǎo)通 控制。所以，在正常操作中，數(shù)據(jù)鎖存信號(hào)經(jīng)由開關(guān)12a被輸入到關(guān)斷 開關(guān)7b的P溝道的柵極，并且數(shù)據(jù)鎖存信號(hào)的反相信號(hào)經(jīng)由開關(guān)12b 被輸入到關(guān)斷開關(guān)7b的N溝道的柵極。這樣，當(dāng)數(shù)據(jù)鎖存信號(hào)處于"H" 電平時(shí)關(guān)斷開關(guān)7b是關(guān)斷控制。在測試模式中，高電源電位VDD的 固定電位經(jīng)由開關(guān)12c被輸入到關(guān)斷開關(guān)7b的P溝道的柵極，并且低 電源電位VSS的固定電位經(jīng)由開關(guān)12d被輸入到關(guān)斷開關(guān)7b的N溝 道的柵極。這樣，關(guān)斷開關(guān)7b關(guān)斷控制。
將描述關(guān)于具有上述結(jié)構(gòu)的驅(qū)動(dòng)電路10的輸出電路11的輸出側(cè) 上的漏電流故障檢測的測試方法。圖3是示出根據(jù)該實(shí)施例驅(qū)動(dòng)電路 的測試設(shè)備的圖。如圖3所示，測試設(shè)備包括LSI測試器20a和20b。
LSI測試器20a與開關(guān)電路12連接。LSI測試器20a是模式生成 器，其生成測試信號(hào)TEST并將它提供到開關(guān)電路12。
LSI測試器20b與輸出端SI到Sn連接。LSI測試器20b是DC測 試單元，其包括與輸出端SI到Sn相對應(yīng)的n塊DC繼電器開關(guān)2h 到21n和n塊電壓生成電流測定電路(VSIM) 22t到22n。輸出端SI 到Sn可以通過每一個(gè)DC繼電器開關(guān)2"到21n與電壓生成電流測定 電路(VSIM)22!到22n連接，以便利用電壓生成電流測定電路(VSIM)22i到22。生成電壓和測量電流。
通過從LSI測試器20a輸入測試信號(hào)TEST,從而將開關(guān)電路12 設(shè)定為測試模式。如果在測試模式下測試信號(hào)TEST處于"H"電平，則 測試信號(hào)TEST被直接輸入到開關(guān)12a和12b的P溝道的柵極和開關(guān)電 路12的開關(guān)12c和12d的N溝道的柵極，并且經(jīng)由反相器INV2被輸 入到開關(guān)12a和12b的N溝道的柵極和開關(guān)12c和12d的P溝道的柵 極。
在測試模式下，開關(guān)12a和12b關(guān)斷而開關(guān)12c和12d導(dǎo)通。由 于開關(guān)電路12的這個(gè)操作，關(guān)斷開關(guān)7b具有輸入到P溝道的柵極的 高電源電位VDD和輸入到N溝道的柵極的低電源電位VSS。因此，關(guān) 斷開關(guān)7b被關(guān)斷控制，并且在每一個(gè)AMP 7a的輸出和輸出端SI到 Sn之間出現(xiàn)髙阻抗，以使其電氣分離。
在上述測試模式中，通過如下的LSI測試器20a和20b來測試驅(qū) 動(dòng)電路10的輸出端SI到Sn中的漏電流故障檢測。在LSI測試器20b 中，通過DC繼電器開關(guān)21:到21n，輸出端Sl到Sn與電壓生成電流 測定電路(VSIM) 22i到22 連接。將高于低電源電位VSS的預(yù)定測 試電壓從電壓生成電流測定電路(VSIM) 22,、 223到22^施加于奇數(shù) 的輸出端S1、 S3到Sn-l。將低電源電位VSS的測試電壓從電壓生成 電流測定電路(VSIM) 222, 224到22n施加于偶數(shù)輸出端S2，S4到Sn。 否則，可以將高于低電源電位VSS的預(yù)定測試電壓從電壓生成電流測 定電路(VSIM) 222， 224到22n施加于偶數(shù)輸出端S2， S4到Sn?？梢?將低電源電位VSS的測試電壓從電壓生成電流測定電路(VSIM) 22j、 223到22rl施加于奇數(shù)輸出端Sl、 S3到Sn-l。這樣，能利用包括在電 壓生成電流測定電路(VSIM) 22i到22n中的電表來測量輸出端Sl到 Sn中的漏電流。在這種情況下，還可以檢測關(guān)斷開關(guān)7b的漏電流。
如上所述，不同于常規(guī)情況，可以在輸入測試信號(hào)時(shí)關(guān)斷上述關(guān)斷開關(guān)7b，所述常規(guī)情況是運(yùn)行測試模式直到數(shù)據(jù)鎖存信號(hào)變成"H " 電平狀態(tài)并且一旦處于"H "電平狀態(tài)就停止，從而關(guān)斷上述關(guān)斷開關(guān) 7b。因此，漏電流故障檢測的測試時(shí)間可以變得比常規(guī)情況更短。
雖然已經(jīng)以各種方式描述了本發(fā)明的實(shí)施例，但是應(yīng)該理解本發(fā) 明將不局限于上述實(shí)施例。
進(jìn)一步地，應(yīng)該注意到，即使在隨后的審查期間作了修改，申請 人也旨在包含所有權(quán)利要求要素的等同物。
權(quán)利要求
1.一種顯示單元的驅(qū)動(dòng)電路，該顯示單元包括輸出電路，所述輸出電路包括放大器，根據(jù)數(shù)字圖像信號(hào)放大模擬信號(hào)電壓；以及開關(guān)，響應(yīng)于測試信號(hào)關(guān)斷，以將放大器的輸出與輸出端相隔離。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1的顯示單元的驅(qū)動(dòng)電路，其中輸出電路包括控 制電路，在表示非測試模式的所述測試信號(hào)期間，所述控制電路響應(yīng) 于數(shù)據(jù)鎖存信號(hào)控制開關(guān)導(dǎo)通，并且在表示測試模式的所述測試信號(hào) 期間，響應(yīng)于電源電位控制開關(guān)關(guān)斷。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2的顯示單元的驅(qū)動(dòng)電路，其中所述控制電路包 括晶體管，其施加所述數(shù)據(jù)鎖存信號(hào)到開關(guān)，并且具有響應(yīng)于所述測 試信號(hào)受控的導(dǎo)通狀態(tài)。
4. 一種用于控制包括輸出電路的顯示單元的驅(qū)動(dòng)電路的方法，所 述方法包括獨(dú)立地響應(yīng)于數(shù)據(jù)鎖存信號(hào)的測試信號(hào)來關(guān)斷開關(guān)，從而電氣地 分離放大器與輸出端，以檢測在輸出電路的輸出上的漏電流故障。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4的方法，進(jìn)一步包括在表示非測試模式的所述 測試信號(hào)期間響應(yīng)于所述數(shù)據(jù)鎖存信號(hào)關(guān)斷所述開關(guān)。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5的方法，進(jìn)一步包括響應(yīng)于所述測試信號(hào)，關(guān) 斷用于將所述數(shù)據(jù)鎖存信號(hào)傳送到所述開關(guān)的晶體管。
7. 根據(jù)權(quán)利要求4的方法，其中所述輸出端包括多個(gè)輸出端，所 述開關(guān)包括為各個(gè)輸出端提供的多個(gè)開關(guān)，所述方法進(jìn)一步包括連接第一測試電路到所述各輸出端的第一輸出端，從而施加第一電壓到所述各輸出端的所述第一輸出端；連接第二測試電路到所述各輸出端的第二輸出端，從而施加第二 電壓到所述各輸出端的所述第二輸出端；和檢測所述第一和第二輸出端之間流動(dòng)的電流，同時(shí)響應(yīng)于測試信 號(hào)關(guān)斷所述開關(guān)。
8. —種顯示單元的驅(qū)動(dòng)電路，包括 數(shù)-模轉(zhuǎn)換器，將數(shù)字圖像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為多個(gè)模擬信號(hào)； 多個(gè)放大器，其中每個(gè)放大器放大各個(gè)模擬信號(hào)電壓； 多個(gè)開關(guān)電路，分別耦合在所述多個(gè)放大器和多個(gè)輸出端之間；禾口控制電路，響應(yīng)于數(shù)據(jù)鎖存電路控制所述開關(guān)電路，并且獨(dú)立地 響應(yīng)于所述數(shù)據(jù)鎖存電路的測試信號(hào)來控制所述開關(guān)電路。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8的驅(qū)動(dòng)電路，其中響應(yīng)于所述測試信號(hào)，所述 控制電路接收施加于所述開關(guān)電路的第一電源電壓和第二電源電壓。
10. 根據(jù)權(quán)利要求9的驅(qū)動(dòng)電路，其中所述控制電路包括晶體管， 其施加所述數(shù)據(jù)鎖存信號(hào)到開關(guān)電路，并且具有響應(yīng)于所述測試信號(hào) 受驅(qū)動(dòng)的導(dǎo)通狀態(tài)。
11. 一種包括輸出電路的顯示單元的驅(qū)動(dòng)電路，所述輸出電路包括用于根據(jù)數(shù)字圖像信號(hào)來放大模擬信號(hào)電壓的放大裝置；和 用于響應(yīng)于測試信號(hào)關(guān)斷以隔離放大裝置的輸出與輸出端的裝
全文摘要
一種包括輸出電路的顯示單元的驅(qū)動(dòng)電路。該輸出電路具有根據(jù)數(shù)字圖像信號(hào)放大模擬信號(hào)電壓的放大器，以及開關(guān)，該開關(guān)響應(yīng)于測試信號(hào)關(guān)斷，以隔離放大器的輸出與輸出端。
文檔編號(hào)G09G3/36GK101320548SQ20081008746
公開日2008年12月10日 申請日期2008年3月28日 優(yōu)先權(quán)日2007年3月28日
發(fā)明者松居忠義 申請人:恩益禧電子股份有限公司