專利名稱：液晶顯示器陣列測試檢查電路的引線的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種液晶顯示器陣列測試檢査電路的引線。
背景技術：
傳統(tǒng)的CRT顯示器依靠陰極射線管發(fā)射電子撞擊屏幕上的磷光粉來顯示圖像，但液晶顯 示的原理則完全不同。通常，液晶顯示(LCD)裝置具有上基板和下基板，彼此有一定間隔 和互相正對。形成在兩個基板上的多個電極相互正對。液晶夾在上基板和下基飯之間。電壓 通過基板上的電極施加到液晶上，然后根據(jù)所作用的電壓改變液晶分子的排列從而顯示圖像、 因為如上所述液晶顯示裝置不發(fā)射光，它需要光源來顯示圖像.因此，液晶顯示裝置具有位 于液晶面板后面的背光源。根據(jù)液晶分子的排列控制從背光源入射的光量從而顯示圖像，在 兩塊偏光片之間夾有玻璃基板、彩色濾光片、電極、液晶層和晶體管薄膜，液晶分子是具有 折射率及介電常數(shù)各向異性的物質。背光源發(fā)出的光線經(jīng)過下偏光片，成為具有一定偏振方
向的偏振光。晶體管控制電極之間所加電壓，而該電壓作用于液晶來控制偏振光的偏振方向， 偏振光透過相應的彩膜色層后形成單色偏振光，如果偏振光能夠穿透上層偏光片，則顯示出 相應的顏色；電場強度不同，液晶分子的偏轉角度也不同，透過的光強不一樣，顯示的亮度 也不同。通過紅綠藍三種顏色的不同光強的組合來顯示五顏六色的圖像。
在LCD制造過程中在陣列基本完成后需要對形成的導線，像素的電氣特性進行檢測，以提 前發(fā)現(xiàn)導線，晶體管，像素等部分的電氣不良，提高良率和降低生產(chǎn)成本。圖l為目前常用的 陣列測試回路原理圖。Da， Db表示數(shù)據(jù)奇偶信號總線，Ga， Gb表示奇偶柵極信號總線，Com 表示基準電位輸入端。采用奇偶交替驅動的方式進行檢測，以提高檢出效率。
如圖2所示，目前常用寬度相同奇偶信號引入端引線，引線寬度相等而長度不等，所帶來 的問題是相鄰奇偶線引入部分的引線的電阻不相等。檢查需要盡量保證從接觸點到壓接端子 部的電阻值一致。測試總線通過增加寬度或者增厚膜厚來降低開始端和結束端的電阻差。而 一般引入到端子的引線是通過透明電極來制作，由于引入奇偶端信號的ITO長度不一致，根據(jù) 電阻公式，相鄰引入端的電阻存在較大的差異，從而影響到測試的結果。

發(fā)明內容
本發(fā)明要解決的技術問題是提供一種液晶顯示器陣列測試檢查電路的引線，解決相鄰奇 偶線引入部分的引線的電阻不相等，影響陣列測試的弊病。
為了解決上述技術問題，本發(fā)明采取了如下技術方案引線連接信號總線和端子部，LI 為信號總線奇線引入部分的引線的長度，L2為信號總線偶線引入部分的引線的長度，Wl為信 號總線奇線引入部分的引線的寬度，W2為信號總線偶線引入部分的引線的寬度，滿足 W1/L1=W2/L2。引線由透明電極制造。
由于測試電路從信號總線到端子部的引線通過一定的寬長比原則來設計，所以采用本發(fā) 明的技術方案后，測試電路從信號總線到端子部的引線電阻保持一致，從而提高陣列測試的 準確度。


引線l，連接信號總線2，端子部3
圖l目前常用的陣列測試回路原理圖
圖2現(xiàn)有技術中寬度相同奇偶信號引入端引線示意圖
圖3本發(fā)明所述寬長比相等的奇偶信號引入端引線示意圖
具體實施例方式
下面結合附圖與具體實施方式
對本發(fā)明做進一步詳細描述。
如圖3所示，引線1連接信號總線2和端子部3，根據(jù)電阻率公式R二P *L/W，其中L表示 透明電極的長度，W表示透明電極的寬度，P表示電阻率。如果要使相鄰的奇偶信號線電阻 相等，則可以通過改變接觸ITO的寬度的做法達到接觸電阻的一致。根據(jù)工藝上的良率和實 際可能的尺寸設計如圖3形式的引入線。Ll為奇線引入部分的引線的長度，L2為偶線引入部 分的引線的長度，Wl為奇線引入部分的引線的寬度，W2為偶線引入部分的引線的寬度，其中 Wl， Ll， W2， L2滿足如下關系
W1/L1=W2/L2。
權利要求
1. 一種液晶顯示器陣列測試檢查電路的引線，所述引線(1)連接信號總線(2)和端子部(3)，其特征在于，L1為信號總線奇線引入部分的引線的長度，L2為信號總線偶線引入部分的引線的長度，W1為信號總線奇線引入部分的引線的寬度，W2為信號總線偶線引入部分的引線的寬度，滿足W1/L1＝W2/L2。
2. 如權利要求l所述的液晶顯示器陣列測試檢査電路的引線，其特征是，所述引線 (1)由透明電極制造。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種液晶顯示器陣列測試檢查電路的引線，該引線連接信號總線和端子部，L1為信號總線奇線引入部分的引線的長度，L2為信號總線偶線引入部分的引線的長度，W1為信號總線奇線引入部分的引線的寬度，W2為信號總線偶線引入部分的引線的寬度，滿足W1/L1＝W2/L2。由于測試電路從信號總線到端子部的引線通過一定的寬長比原則來設計，所以采用本發(fā)明的技術方案后，測試電路從信號總線到端子部的引線電阻保持一致，從而提高陣列測試的準確度。
文檔編號G09G3/00GK101382566SQ20071004557
公開日2009年3月11日 申請日期2007年9月4日 優(yōu)先權日2007年9月4日
發(fā)明者鋒 秦 申請人:上海廣電Nec液晶顯示器有限公司