專利名稱：具有介質(zhì)缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的印片設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種印片設(shè)備以及一種印片方法，其中，該印片設(shè)備包括一種介質(zhì)缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，該檢測(cè)系統(tǒng)用于檢測(cè)介質(zhì)的缺陷并且控制隨后在該介質(zhì)上的印片。
背景技術(shù)：
在諸如相紙之類的介質(zhì)的制造中，介質(zhì)上可能產(chǎn)生缺陷。在制造現(xiàn)場(chǎng)，在制造完成的介質(zhì)被切割成制成的卷以前可以在母片卷上檢查，并且可以在照片沖洗場(chǎng)所或者印片場(chǎng)所進(jìn)行手工檢查。
通常，在制造現(xiàn)場(chǎng)，檢測(cè)到的具有滿足某個(gè)尺寸標(biāo)準(zhǔn)的缺陷的介質(zhì)(諸如彩色相紙卷)被丟棄，且不傳遞到膠卷沖印裝置。大規(guī)模的膠卷沖洗可以利用4英寸×1800英尺的卷，且在卷的長(zhǎng)度的變化不可改變。該組合的效果意味著，當(dāng)在特制卷中出現(xiàn)單個(gè)缺陷時(shí)，整個(gè)特制卷都要作為廢料丟棄，因?yàn)樵摻橘|(zhì)中的缺陷將在制成的印片中出現(xiàn)，導(dǎo)致殘缺的圖像。該卷的所有其它印片是可以接受的。此外，某些介質(zhì)的缺陷可能具有這樣的特征，即，其在制成的印片中不明顯，可能使該卷的所有印片都可接受。因此，由于某些缺陷而丟棄整個(gè)特制卷會(huì)導(dǎo)致介質(zhì)的浪費(fèi)。
如果在制造現(xiàn)場(chǎng)沒有檢測(cè)缺陷，則必須在沖洗膠卷的場(chǎng)所檢測(cè)缺陷。通常，在沖洗膠卷的場(chǎng)所進(jìn)行手動(dòng)的檢查。這樣的檢查浪費(fèi)時(shí)間、效率低，且依賴于操作者的技能。

發(fā)明內(nèi)容
通過精確地定位介質(zhì)缺陷并且不在與這些缺陷相關(guān)的介質(zhì)幀上印片或者識(shí)別在報(bào)廢的幀上的印片并在清潔的介質(zhì)上進(jìn)行替代印片，由此本發(fā)明的系統(tǒng)和設(shè)備降低了不必要的浪費(fèi)。這在制造過程中避免了當(dāng)在該卷中發(fā)現(xiàn)單個(gè)缺陷時(shí)整個(gè)特制卷被丟棄。此后，通過避免在該缺陷上進(jìn)行印片或者通過重新印制該有缺陷的印片來(lái)控制印片。
本發(fā)明提供一種印片機(jī)或者印片設(shè)備，其與缺陷檢測(cè)系統(tǒng)通過接口連接，該缺陷檢測(cè)系統(tǒng)能夠精確地識(shí)別缺陷及該缺陷在介質(zhì)上的位置。使用本發(fā)明的印片機(jī)，制成的介質(zhì)可以被傳送到?jīng)_洗膠卷的場(chǎng)所，而不需要丟棄其上具有缺陷的介質(zhì)。本發(fā)明的印片機(jī)可以掃描該介質(zhì)，以檢測(cè)具體特征的缺陷，且在介質(zhì)上鄰近該缺陷處設(shè)置物理標(biāo)記或者以電子方式報(bào)告該缺陷的精確位置。由此，命令該印片機(jī)跳過該缺陷幀或者重新印制具有缺陷的圖像幀。在本發(fā)明的上述實(shí)施例中，該印片機(jī)與該缺陷掃描系統(tǒng)以及缺陷標(biāo)記器或者信號(hào)發(fā)出裝置通過接口連接。在本發(fā)明的另一變型中，該掃描系統(tǒng)可以在獨(dú)立的傳送系統(tǒng)(即，復(fù)卷機(jī))上獨(dú)立工作，并且標(biāo)記出缺陷的位置，以便該印片機(jī)可以檢測(cè)它。
在介質(zhì)上標(biāo)記該缺陷的位置的優(yōu)選方法涉及通過打孔從而在剛好位于缺陷位置之前的介質(zhì)的中心處形成一個(gè)孔來(lái)進(jìn)行標(biāo)記。使用該方法，該印片機(jī)會(huì)跳過該孔和缺陷幀，類似于其跳過標(biāo)記有孔的接合幀的方法。該中心孔不會(huì)與介質(zhì)上的其它位置上的穿孔相混淆。
因此，本發(fā)明提供一種印片設(shè)備，其包括缺陷掃描部分，其用于在所述印片設(shè)備內(nèi)的介質(zhì)通道中掃描未暴光的介質(zhì)，以便在所述介質(zhì)上檢測(cè)預(yù)定特征的缺陷；缺陷標(biāo)記器，其相對(duì)于所述介質(zhì)在所述印片設(shè)備中的行進(jìn)方向定位在所述掃描部分的下游，所述缺陷標(biāo)記器接收來(lái)自所述缺陷掃描部分的表示所述介質(zhì)中的缺陷的信號(hào)，并且在所述介質(zhì)上在檢測(cè)到的缺陷附近設(shè)置一物理標(biāo)記，以使所述物理標(biāo)記與包括所述缺陷的圖像幀相關(guān)聯(lián)；以及印片部分，其用于在所述介質(zhì)上印制圖像，所述印片部分適于檢查該介質(zhì)的所述物理標(biāo)記，并且跳過包括該物理標(biāo)記及其相關(guān)的缺陷的介質(zhì)的幀，以使所述印片部分只在其上沒有物理標(biāo)記或者缺陷的幀上印制圖像。
本發(fā)明還提供一種印片設(shè)備，其包括缺陷掃描部分，其用于在所述印片設(shè)備內(nèi)的介質(zhì)通道中掃描未暴光的介質(zhì)，以便在所述介質(zhì)上檢測(cè)預(yù)定特征的缺陷；缺陷標(biāo)記器，其相對(duì)于所述介質(zhì)在所述印片設(shè)備中的行進(jìn)方向定位在所述掃描部分的下游，所述缺陷標(biāo)記器接收來(lái)自所述缺陷掃描部分的表示所述介質(zhì)中的缺陷的信號(hào)，并且在所述介質(zhì)上在檢測(cè)到的缺陷附近設(shè)置一物理標(biāo)記，以使所述物理標(biāo)記與包括所述缺陷的圖像幀相關(guān)聯(lián)；以及印片部分，其用于在所述介質(zhì)上印制圖像，所述印片部分適于檢查該介質(zhì)的所述物理標(biāo)記，并且在所述圖像幀上印制圖像，其中在具有所述物理標(biāo)記及其相關(guān)缺陷的幀上印制的圖像在沒有缺陷的介質(zhì)上重新印片，并且具有缺陷的印片被丟棄。
本發(fā)明還涉及一種在介質(zhì)上印制圖像的方法，其包括的步驟為掃描介質(zhì)以便在該介質(zhì)上檢測(cè)具有預(yù)定特征的缺陷的精確位置；以及將關(guān)于檢測(cè)到的缺陷的信息以電子方式傳送到印片機(jī)的印片部分，并且使用該信息來(lái)控制在所述介質(zhì)上通過印片機(jī)進(jìn)行隨后的圖像印制，以便跳過具有缺陷的幀并且在沒有缺陷的幀上印制圖像。
本發(fā)明還涉及一種在介質(zhì)上印制圖像的方法，其包括的步驟為掃描介質(zhì)以便在該介質(zhì)上檢測(cè)具有預(yù)定特征的缺陷的精確位置；以及將關(guān)于檢測(cè)到的缺陷的信息以電子方式傳送到印片機(jī)的印片部分，并且使用該信息來(lái)重新印制在具有缺陷的幀上印制的圖像，同時(shí)追蹤并丟棄具有缺陷的印片。


圖1A示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明的印片機(jī)或者印片設(shè)備；圖1B進(jìn)一步示出了本發(fā)明的印片機(jī)或者印片設(shè)備；圖2是顯示介質(zhì)上鄰近缺陷的缺陷標(biāo)記的例子的透視圖；圖3是描述使用根據(jù)本發(fā)明的印片機(jī)或者印片設(shè)備的缺陷處理過程的流程圖；圖4示出了另一個(gè)實(shí)施例的透視圖，其中該缺陷檢測(cè)和標(biāo)記系統(tǒng)與該印片機(jī)或者印片設(shè)備分離；以及圖5示意性地示出了該印片機(jī)或者印片設(shè)備的另一個(gè)實(shí)施例，其中檢查暴光的介質(zhì)的缺陷。
具體實(shí)施例方式
現(xiàn)在參考圖1A和圖1B，其示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明的印片機(jī)或者印片設(shè)備2。印片機(jī)2包括示意性地由附圖標(biāo)記14示出的介質(zhì)通道，其延伸穿過印片機(jī)2。介質(zhì)通道14適于通過印片機(jī)2的不同部分來(lái)傳送介質(zhì)。印片機(jī)2可以是已知的印片機(jī)，其在相紙或者介質(zhì)上進(jìn)行暴光并印片。
如圖1A所示，印片機(jī)2包括入口30，以用于接收未暴光的相紙或者介質(zhì)4。相紙或者介質(zhì)4通過介質(zhì)通道14傳送到缺陷檢測(cè)器或者缺陷檢測(cè)部分6，其與印片機(jī)2通過接口來(lái)連接。缺陷檢測(cè)部分6可以是一個(gè)已知的掃描器或者攝像機(jī)，其掃描整幅的未暴光的介質(zhì)4。例如，如圖1B所示，缺陷檢測(cè)部分6可以包括裝配有鏡頭的視頻攝像機(jī)，其對(duì)照相介質(zhì)的幅面的整個(gè)幀進(jìn)行成像，以檢測(cè)其中的缺陷。作為另一選擇，缺陷檢測(cè)部分6可以包括IR(紅外)光發(fā)射器，其以不改變介質(zhì)對(duì)可見光的敏感度的方式對(duì)該照相介質(zhì)施加紅外光。
相對(duì)于缺陷檢測(cè)部分6，該掃描器或者攝像機(jī)掃描未暴光介質(zhì)4的所有幀，以便尋找具有具體特征的缺陷。也就是說(shuō)，允許某些缺陷通過，因?yàn)樗鼈冊(cè)谧罱K的印片中是不顯著的。這些的例子是輕微的表面粗糙度的變化、沒有強(qiáng)烈的顏色對(duì)比度的特別小的點(diǎn)缺陷、以及人眼不可見的輕劃傷。多個(gè)和重復(fù)的缺陷可以在制造現(xiàn)場(chǎng)預(yù)先丟棄，這樣該印片系統(tǒng)只需要處理偶然的缺陷。在印片機(jī)位置處進(jìn)行檢查的目的是消除會(huì)顯露在最終印片中的隨機(jī)單個(gè)介質(zhì)缺陷。
缺陷檢測(cè)部分6可以利用算法方法，其中，檢測(cè)該照相介質(zhì)的幅面的邊緣，并且應(yīng)用數(shù)字濾波器來(lái)增強(qiáng)任何缺陷。此后，可以產(chǎn)生二元圖像來(lái)確定任何亮點(diǎn)缺陷，并且/或者實(shí)施微粒分析來(lái)確定缺陷的尺寸和位置。如上所述，某些類型的缺陷不會(huì)在最終的印片中出現(xiàn)，因此不需要缺陷標(biāo)記。那些超過允許范圍或者超出允許限度的具體特征的缺陷被認(rèn)為是不能接受的缺陷，因此，適當(dāng)?shù)貥?biāo)記該缺陷的包括介質(zhì)的幀。
如圖1A所示，該介質(zhì)4的幅面在缺陷檢測(cè)部分6處掃描并且檢測(cè)出超出具體限度的任何缺陷以后，啟動(dòng)缺陷標(biāo)記器8。缺陷標(biāo)記器8可以是已知的打孔機(jī)(如圖1B所示)，從而在介質(zhì)上鄰近缺陷處形成一個(gè)物理標(biāo)記。該缺陷和標(biāo)記的例子在圖2中顯示，其中，介質(zhì)4包含一穿孔120，其鄰近的缺陷由110標(biāo)記。
在圖2中的例子中，附圖標(biāo)記100代表展開的卷或者進(jìn)給卷，而附圖標(biāo)記130代表纏繞卷或者繞緊卷。缺陷檢測(cè)部分6適于檢測(cè)介質(zhì)4上的缺陷110，且向缺陷標(biāo)記器8提供信號(hào)，以在鄰近缺陷110處形成穿孔120。
在缺陷標(biāo)記器8使用例如一個(gè)孔的物理標(biāo)記標(biāo)記了介質(zhì)的包括缺陷的幀以后，介質(zhì)4沿著介質(zhì)通道14繼續(xù)行進(jìn)到印片機(jī)2中的印片或者暴光部分10。印片或者暴光部分10包括傳感器(例如，圖1B中所示的附圖標(biāo)記230)，該傳感器在暴光之前掃描介質(zhì)，以便檢查任何缺陷標(biāo)記(諸如穿孔120)。在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，印片部分10跳過那些包括缺陷的幀，并且印片部分10跳過諸如物理孔的缺陷標(biāo)記，更具體地說(shuō)，在那些包括缺陷或者缺陷標(biāo)記的幀上不印制圖像。在本發(fā)明的結(jié)構(gòu)中，因?yàn)檫@些標(biāo)記只位于那些包括缺陷的幀上，所以缺陷標(biāo)記在沿著該介質(zhì)的隨機(jī)位置處出現(xiàn)。
對(duì)于介質(zhì)4的給定卷的檢查過程在圖3的流程圖中描述。首先將介質(zhì)4供給到印片機(jī)2(步驟300)，且定位在第一圖像幀之前。然后，該介質(zhì)前進(jìn)到下一個(gè)圖像幀(步驟310)。然后，測(cè)試該介質(zhì)來(lái)看是否已經(jīng)到達(dá)該介質(zhì)卷的端部(360)。如果已經(jīng)到達(dá)了該介質(zhì)的端部，該過程停止(步驟370)。如果沒有到達(dá)介質(zhì)的端部，通過缺陷檢測(cè)工位6來(lái)掃描該幀(步驟320)。然后，分析該被掃描的幀的缺陷(步驟330)。如果檢測(cè)到不能接受的缺陷(步驟340)，則啟動(dòng)缺陷標(biāo)記器8(步驟341)。如上所述，缺陷標(biāo)記器8適于在介質(zhì)上鄰近缺陷處設(shè)置物理標(biāo)記(步驟342)。此后，印片部分10中的傳感器可以檢測(cè)到該物理標(biāo)記，且該印片部分可以通過使介質(zhì)前進(jìn)到下一幀來(lái)跳過該缺陷區(qū)域(步驟310)。如果沒有檢測(cè)到缺陷(步驟340)，則正常使用該介質(zhì)幀(步驟350)。然后通過前進(jìn)到下一幀來(lái)重復(fù)該過程(步驟310)。
在本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例中，印片部分10將在介質(zhì)的所有幀上印制圖像。此后，印片機(jī)2可包括檢測(cè)器12(圖1A)，該檢測(cè)器檢測(cè)那些包括缺陷標(biāo)記的印制后的圖像幀，此外還包括使用每個(gè)標(biāo)記幀來(lái)檢測(cè)缺陷幀的機(jī)器邏輯部分，以便重新印片。在該點(diǎn)，這些圖像將會(huì)通過通道18被送回，以在印片部分10處重新印片(圖1A)。
本發(fā)明的又一個(gè)特征中，該掃描系統(tǒng)可以在獨(dú)立的傳送系統(tǒng)上單獨(dú)工作，如圖4所示，而不是使該掃描器和缺陷標(biāo)記器與印片機(jī)2通過接口連接，如圖1A所示。在替代實(shí)施例中，掃描和缺陷標(biāo)記器以如前所述的方式標(biāo)記出缺陷的位置。當(dāng)介質(zhì)4從展開卷100展開時(shí)，其通過缺陷檢測(cè)工位6掃描。當(dāng)檢測(cè)到缺陷時(shí)，缺陷標(biāo)記器8就在介質(zhì)上鄰近缺陷位置處設(shè)置標(biāo)記。然后，該介質(zhì)在繞緊卷130上繞緊，且重復(fù)該過程直到到達(dá)該卷的端部。此后，該介質(zhì)卷被供給到印片機(jī)，且印片部分可以跳過那些包括缺陷標(biāo)記及其相關(guān)的缺陷的幀。作為又一選擇，圖像可以印制在每一幀上，此后，掃描該介質(zhì)，以確定被印制在具有缺陷標(biāo)記和缺陷的幀上的圖像。然后，這些圖像以如上所述的方式被重新印制。
本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例在圖5中描述。在該實(shí)施例中，介質(zhì)4通過介質(zhì)通道14穿過入口30供給到印片機(jī)2，然后，該介質(zhì)由印片部分10暴光。由于該暴光的介質(zhì)還沒有通過圖片處理器進(jìn)行顯影，該印制的圖像是不可見的，且該介質(zhì)可以由缺陷檢測(cè)工位6檢查。當(dāng)發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)，該受影響的圖像或者多個(gè)圖像可以通過通道18被送回，以便在印片部分10處重新印片。
因此，本發(fā)明的系統(tǒng)和方法的實(shí)施例中，缺陷檢測(cè)部分6適于掃描介質(zhì)來(lái)檢測(cè)缺陷的精確位置。一旦檢測(cè)到，相對(duì)于檢測(cè)到的缺陷的信息可以以電子方式傳送到印片機(jī)的印片部分，以隨后控制圖像的印片，(a)通過跳過具有缺陷的幀并在沒有缺陷的幀上印制圖像，或者(b)通過使用該信息來(lái)重新印制那些在具有缺陷的幀上印制的圖像，同時(shí)追蹤和丟棄具有缺陷的印片。
如上所述，使用本發(fā)明的系統(tǒng)和方法可以在包括在允許限度范圍內(nèi)的缺陷的介質(zhì)上進(jìn)行印片。例如，小的、低對(duì)比度的缺陷是可接受的，而大的、高對(duì)比度的缺陷是不可接受的。這樣的缺陷可以通過諸如尺寸、形狀或者對(duì)比度的特征來(lái)區(qū)分。
利用包含少量缺陷的介質(zhì)卷的能力有助于降低介質(zhì)浪費(fèi)。此外，可以通過使用如上所述的印片機(jī)2，可以省去在介質(zhì)制造庫(kù)房中的介質(zhì)檢查步驟或者過程。使用本發(fā)明的印片機(jī)2，當(dāng)由掃描器和缺陷標(biāo)記器組合的印片機(jī)消耗介質(zhì)時(shí)，該介質(zhì)自動(dòng)被檢查，隨后考慮到其上具有缺陷標(biāo)記的幀來(lái)控制印片。在制造現(xiàn)場(chǎng)，省去了介質(zhì)檢查是實(shí)際的，然而，要求缺陷出現(xiàn)的頻率低。
關(guān)于本發(fā)明的介質(zhì)，其最好是非磁性的介質(zhì)，因此，相對(duì)于在印片機(jī)中形成該標(biāo)記并檢測(cè)該標(biāo)記來(lái)說(shuō)，使用該物理標(biāo)記(即穿孔)是優(yōu)選的。該標(biāo)記可以是介質(zhì)的中心孔、介質(zhì)邊緣的凹口、或者是在缺陷標(biāo)記工位用噴墨或者激光施加的彩色標(biāo)記。應(yīng)當(dāng)注意，這些缺陷標(biāo)記是預(yù)定特征的隨機(jī)出現(xiàn)的標(biāo)記。
權(quán)利要求
1.一種印片設(shè)備(2)，其包括缺陷掃描部分，其用于在所述印片設(shè)備內(nèi)的介質(zhì)通道(14)中掃描未暴光的介質(zhì)(4)，以便在所述介質(zhì)上檢測(cè)預(yù)定特征的缺陷；缺陷標(biāo)記器(8)，其相對(duì)于所述介質(zhì)在所述印片設(shè)備中的行進(jìn)方向定位在所述掃描部分的下游，所述缺陷標(biāo)記器接收來(lái)自所述缺陷掃描部分的表示所述介質(zhì)中的缺陷的信號(hào)，并且在所述介質(zhì)上在檢測(cè)到的缺陷附近設(shè)置一物理標(biāo)記，以使所述物理標(biāo)記與包括所述缺陷的圖像幀相關(guān)聯(lián)；以及印片部分(10)，其用于在所述介質(zhì)上印制圖像，所述印片部分適于檢查該介質(zhì)的所述物理標(biāo)記，并且跳過包括該物理標(biāo)記及其相關(guān)的缺陷的介質(zhì)的幀，以使所述印片部分只在其上沒有物理標(biāo)記或者相關(guān)缺陷的幀上印制圖像。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的印片設(shè)備，其特征在于所述物理標(biāo)記是在所述介質(zhì)中的穿孔。
3.一種印片設(shè)備，其包括缺陷掃描部分，其用于在所述印片設(shè)備內(nèi)的介質(zhì)通道(14)中掃描未暴光的介質(zhì)(4)，以便在所述介質(zhì)上檢測(cè)預(yù)定特征的缺陷；缺陷標(biāo)記器(8)，其相對(duì)于所述介質(zhì)在所述印片設(shè)備中的行進(jìn)方向定位在所述掃描部分的下游，所述缺陷標(biāo)記器接收來(lái)自所述缺陷掃描部分的表示所述介質(zhì)中的缺陷的信號(hào)，并且在所述介質(zhì)上在檢測(cè)到的缺陷附近設(shè)置一物理標(biāo)記，以使所述物理標(biāo)記與包括所述缺陷的圖像幀相關(guān)聯(lián)；以及印片部分(10)，其用于在所述介質(zhì)上印制圖像，所述印片部分適于檢查該介質(zhì)的所述物理標(biāo)記，并且在所述圖像幀上印制圖像，其中在具有所述物理標(biāo)記及其相關(guān)缺陷的幀上印制的圖像在沒有缺陷的介質(zhì)上重新印片，并且具有缺陷的印片被丟棄。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的印片設(shè)備，其特征在于所述物理標(biāo)記是在所述介質(zhì)中的穿孔。
5.一種在介質(zhì)上印制圖像的方法，該方法包括的步驟為掃描介質(zhì)以便在該介質(zhì)上檢測(cè)具有預(yù)定特征的缺陷的位置；以及將關(guān)于檢測(cè)到的缺陷的信息以電子方式傳送到印片機(jī)的印片部分，并且使用該信息來(lái)控制在所述介質(zhì)上進(jìn)行隨后的圖像印制，以便跳過具有缺陷的幀并且在不包括缺陷的幀上印制圖像。
6.一種在介質(zhì)上印制圖像的方法，該方法包括的步驟為掃描介質(zhì)以便在該介質(zhì)上檢測(cè)具有預(yù)定特征的缺陷的位置；以及將關(guān)于檢測(cè)到的缺陷的信息以電子方式傳送到印片機(jī)的印片部分，并且使用該信息來(lái)重新印制在具有缺陷的幀上印制的圖像，同時(shí)追蹤并丟棄具有缺陷的印片。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種照相印片機(jī)(2)和一種印片的方法，其中該印片機(jī)與缺陷檢測(cè)或者掃描系統(tǒng)通過接口連接，該缺陷檢測(cè)或者掃描系統(tǒng)適于在印片機(jī)消耗相紙時(shí)檢查相紙的缺陷。在本發(fā)明的系統(tǒng)和方法中，當(dāng)檢測(cè)到缺陷時(shí)，該印片機(jī)能夠跳過該缺陷區(qū)域或者重新印制該受影響的圖像。當(dāng)檢測(cè)時(shí)，對(duì)于該缺陷，本發(fā)明提供了諸如打孔機(jī)的缺陷標(biāo)記器(8)，其在相紙上鄰近缺陷處設(shè)置物理標(biāo)記，或者提供能夠?qū)⑷毕莸木_位置傳送到印片部分的電子裝置。該孔或者電子信號(hào)被印片機(jī)識(shí)別，以使其跳過該有缺陷的幀或者重新印制圖像。
文檔編號(hào)B41F33/14GK1503051SQ200310116458
公開日2004年6月9日 申請(qǐng)日期2003年11月21日 優(yōu)先權(quán)日2002年11月21日
發(fā)明者T·F·卡藤巴奇, S·C·克洛滋, O·梅杰, T·K·溫克勒, T F 卡藤巴奇, 克洛滋, 溫克勒 申請(qǐng)人:伊斯曼柯達(dá)公司