專利名稱:雙位霍爾開關(guān)集成電路靠模檢測(cè)裝置的制作方法
本發(fā)明是用于紗錠成型控制的一種檢測(cè)裝置。
在已有技術(shù)中，紗錠成型控制的檢測(cè)通常采用一位光電式，通過靠模板移動(dòng)時(shí)對(duì)光束的遮擋與否來控制靠模板和與靠模板連在一起的鋼令板的換向，以控制紗線的卷繞成形。但這種檢測(cè)裝置在換向失靈時(shí)，不能立即向主控制回路發(fā)出信號(hào)停車，不能反映靠模板的移動(dòng)方向，可靠性差，故障率較高，增加了原料和電力的消耗，降低了產(chǎn)品的成品率。
本發(fā)明的目的是提供一種雙位霍爾開關(guān)集成電路靠模檢測(cè)裝置，以克服上述檢測(cè)裝置的缺陷。使檢測(cè)裝置在靠模板和鋼令板換向失靈時(shí)，不僅可以立即向主控制回路發(fā)出信號(hào)及時(shí)停車，并能同時(shí)反映出靠模板的移動(dòng)方向，以能及時(shí)發(fā)現(xiàn)和排除故障。并且使檢測(cè)裝置中的檢測(cè)器具有抗油污污染、溫度性能好、使用壽命長(zhǎng)的特點(diǎn)，提高檢測(cè)裝置的可靠性。
本發(fā)明所提供的雙位霍爾開關(guān)集成電路靠模檢測(cè)裝置主要包括一個(gè)可以水平往復(fù)移動(dòng)并且可以上升移動(dòng)的靠模板(6)，如圖1所示。在靠模板(6)的一面有一個(gè)位置固定的用于檢測(cè)靠模板徑向方向兩側(cè)邊緣的由雙位霍爾開關(guān)集成電路所構(gòu)成的檢測(cè)器，如圖2所示。該檢測(cè)器由兩只霍爾開關(guān)集成電路并排安裝在一起，在兩只霍爾開關(guān)集成電路芯片(7)和(8)的一面設(shè)有為檢測(cè)器調(diào)試用的預(yù)置磁場(chǎng)。如圖3所示，在靠模板(6)的另一面兩側(cè)邊緣處粘有若干為檢測(cè)器提供補(bǔ)償磁場(chǎng)的磁鋼(9)。
下面結(jié)合附圖詳細(xì)說明本發(fā)明的一個(gè)最佳實(shí)施例。
圖1是本發(fā)明所提供的紗錠成型控制示意圖。
圖2是本發(fā)明所提供的雙位霍爾開關(guān)集成電路檢測(cè)器的正視圖。
圖3是本發(fā)明所提供的雙位霍爾開關(guān)集成電路檢測(cè)器的俯視圖。
圖4是本發(fā)明所提供的雙位霍爾開關(guān)集成電路靠模檢測(cè)裝置的工作原理圖。
圖1描述了采用雙位霍爾開關(guān)集成電路靠模檢測(cè)裝置的紗錠成型控制的工作過程。圖中的筒管(1)以一定轉(zhuǎn)速按圖中箭頭所示的方向旋轉(zhuǎn)，鋼令板(2)在液壓系統(tǒng)推動(dòng)下可上下移動(dòng)。當(dāng)鋼令板(2)移動(dòng)方向?yàn)橄蛏蠒r(shí)，則通過連桿(3)絲杠(4)和螺母(5)帶動(dòng)梯形靠模板(6)向左側(cè)移動(dòng)，當(dāng)靠模板(6)移動(dòng)到左側(cè)假想線的位置時(shí)，其靠模板(6)的一側(cè)正好位于兩個(gè)霍爾開關(guān)集成電路芯片(7)和(8)之間，這時(shí)雙位霍爾開關(guān)集成電路檢測(cè)器向主控制回路發(fā)出信號(hào)，主控制回路根據(jù)這個(gè)信號(hào)立即改變液壓系統(tǒng)的推動(dòng)方向，使鋼令板(2)向下移動(dòng)，帶動(dòng)靠模板(6)向右移動(dòng)；當(dāng)其移動(dòng)到右邊假想線位置時(shí)，靠模板(6)的另一側(cè)正好位于兩個(gè)霍爾開關(guān)集成電路芯片(7)和(8)之間，這時(shí)雙位霍爾開關(guān)集成電路檢測(cè)器又一次向主控制回路發(fā)出信號(hào)，主控制回路根據(jù)這個(gè)信號(hào)立即改變液壓系統(tǒng)的推動(dòng)方向，使鋼令板(2)向上移動(dòng)，這樣就實(shí)現(xiàn)了鋼令板(2)的垂直往復(fù)移動(dòng)和靠模板(6)的水平往復(fù)移動(dòng)。同時(shí)靠模板(6)本身有一個(gè)向上的緩慢移動(dòng)，使鋼令板(2)的上下動(dòng)程越來越小，筒管(1)上就卷繞出截面為梯形的管紗。
圖2和圖3描述了雙位霍爾開關(guān)集成電路靠模檢測(cè)裝置的具體結(jié)構(gòu)，圖2中的(6)是靠模板，在靠模板(6)的一面兩側(cè)邊緣對(duì)稱各粘有為檢測(cè)器工作時(shí)提供補(bǔ)償磁場(chǎng)的8塊磁鋼(9)(磁鋼的塊數(shù)可根據(jù)磁鋼塊大小和形狀確定)。如圖所示，在靠模板(6)的另一面是檢測(cè)器部分。圖2和圖3中的(10)是印刷線路板，在印刷線路板(10)上靠近靠模板(6)的一端并排安裝兩只霍爾開關(guān)集成電路芯片(7)和(8)。如圖3所示，在兩只芯片(7)和(8)的一面各裝有一個(gè)便于檢測(cè)器調(diào)試用的預(yù)置磁場(chǎng)。預(yù)置磁場(chǎng)由雙管非導(dǎo)磁套筒(11)、磁鋼(12)和(13)以及鋼螺釘(14)和(15)組成。套筒(11)粘在印刷線路板(10)上。磁鋼(12)和(13)分別裝入套筒(11)的兩套管內(nèi)，鋼螺釘(14)和(15)配在套筒(11)的底部。旋動(dòng)鋼螺釘(14)和(15)可帶動(dòng)磁鋼(12)和(13)沿套筒(11)的軸線方向前后移動(dòng)。通過調(diào)節(jié)磁鋼(12)和(13)與芯片(7)和(8)之間的距離來調(diào)節(jié)芯片(7)和(8)處的預(yù)置磁場(chǎng)的強(qiáng)弱。在印刷線路板(10)上，還裝有兩只發(fā)光二極管(16)、(17)和兩只電阻(18)和(19)，分別與兩只霍爾開關(guān)集成電路芯片(7)和(8)的引線連接，作為霍爾開關(guān)集成電路芯片(7)和(8)的邏輯狀態(tài)的指示?；魻栭_關(guān)集成電路芯片(7)和(8)的電信號(hào)和工作電源通過多芯電纜與外部主控制回路連接。印刷線路板(10)通過螺釘(20)、(21)、(22)和(23)裝在移動(dòng)支架(24)上。調(diào)節(jié)螺釘(25)與移動(dòng)支架(24)的連接，可調(diào)節(jié)霍爾開關(guān)集成電路芯片(7)和(8)測(cè)試端面與靠模板(6)之間的間隙，以確定最佳工作位置。位置確定后，可通過螺釘(26)和(27)將移動(dòng)支架(24)鎖緊在固定支架(28)上。
圖4描述了本發(fā)明所提供的雙位霍爾開關(guān)集成電路靠模檢測(cè)裝置幾種不同的工作狀態(tài)。當(dāng)靠模板(6)移到霍爾開關(guān)集成電路芯片(7)或(8)處時(shí)，靠模板(6)上的磁力線穿過霍爾開關(guān)集成電路芯片(7)或(8)。使霍爾開關(guān)集成電路芯片(7)或(8)的邏輯狀態(tài)為“1”；當(dāng)靠模板(6)離開霍爾開關(guān)集成電路芯片(7)或(8)時(shí)，磁力線消失，霍爾開關(guān)集成電路芯片(7)或(8)的邏輯狀態(tài)為“0”。把兩個(gè)霍爾開關(guān)集成電路芯片(7)和(8)各自的邏輯狀態(tài)組合起來，看成是檢測(cè)器的邏輯狀態(tài)，則有4種不同的組合邏輯狀態(tài)，5種不合的工作狀態(tài)。如圖4所示，5種工作狀態(tài)從上至下依次的邏輯狀態(tài)為“00”、“01”、“10”、“11”和“00”?！?1”狀態(tài)為鋼令板(2)移動(dòng)到了動(dòng)程的最下端，應(yīng)換向，向上移動(dòng)，如圖1所示。同時(shí)靠模板(6)改變方向，向左移動(dòng)；“10”狀態(tài)為鋼令板(2)移動(dòng)到了動(dòng)程的最上端，應(yīng)換向，向下移動(dòng)，靠模板(6)應(yīng)改變方向，向右移動(dòng)；“11”狀態(tài)為鋼令板(2)和靠模板(6)移動(dòng)過程中的狀態(tài)；“00”狀態(tài)為靠模板(6)和鋼令板(2)越位狀態(tài)。在“01”或“10”狀態(tài)時(shí)，如果換向失靈，靠模板(6)和鋼令板(2)將繼續(xù)移動(dòng)下去，則會(huì)造成越位故障，管紗成型即遭破壞。這時(shí)檢測(cè)器的下一個(gè)邏輯狀態(tài)則為“00”，檢測(cè)器立即向主控制回路發(fā)出“00”狀態(tài)的信號(hào)，使主控制回路發(fā)出命令立即停車。根據(jù)“00”狀態(tài)前是“01”還是“10”狀態(tài)，可以判斷出靠模板(6)的移動(dòng)方向，即鋼令板(2)的移動(dòng)方向，或者判斷出是上換向失靈還是下?lián)Q向失靈，從而推斷出故障所在范圍，以便維修。
本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是本發(fā)明所提供的雙位霍爾開關(guān)集成電路靠模檢測(cè)裝置由于采用了雙位信號(hào)檢測(cè)原理，因此比已有技術(shù)一位光電式檢測(cè)裝置增加了兩種檢測(cè)功能。其一是對(duì)靠模板越位的檢測(cè)可使主控制回路能立即控制停車，以便及時(shí)排除故障，降低原料的消耗；其二是可以鑒別靠模板的移動(dòng)方向，和微型計(jì)算機(jī)配合使用，實(shí)現(xiàn)智能控制。本發(fā)明提供的檢測(cè)裝置中的檢測(cè)器具有構(gòu)造簡(jiǎn)單堅(jiān)固、抗油污污染、溫度性能好、抗干擾能力強(qiáng)和壽命長(zhǎng)的特點(diǎn)。其可靠性大大提高。由于本檢測(cè)裝置采用了雙位式工作原理以及檢測(cè)器采用了半導(dǎo)體磁敏器件，所以故障率大大降低，節(jié)約了維修費(fèi)用，降低了工人的勞動(dòng)強(qiáng)度，提高了生產(chǎn)效率。用本發(fā)明提供的檢測(cè)裝置每取代一只一位光電式檢測(cè)裝置，每年可多收益一萬元人民幣，其成本約為一位光電式的一半。
權(quán)利要求
1.一種用于紗錠成型控制的檢測(cè)裝置。它包括一個(gè)可以水平往復(fù)移動(dòng)并且可上升移動(dòng)的靠模板。其特征在于在靠模板的一面有一個(gè)位置固定的用于檢測(cè)靠模板徑向方向兩側(cè)邊緣的由雙位霍爾開關(guān)集成電路所構(gòu)成的檢測(cè)器。檢測(cè)器上并排安裝兩只霍爾開關(guān)集成電路，在兩只霍爾開關(guān)集成電路的一面設(shè)有為檢測(cè)器調(diào)試用的可調(diào)節(jié)的預(yù)置磁場(chǎng)。在靠模板的另一面兩側(cè)粘有若干為檢測(cè)器提供補(bǔ)償磁場(chǎng)的磁鋼。
專利摘要
一種用于紗錠成型控制的檢測(cè)裝置。該裝置包括一個(gè)可移動(dòng)的靠模板和一個(gè)由雙位霍爾開關(guān)集成電路構(gòu)成的檢測(cè)器。這種檢測(cè)裝置具有4種邏輯狀態(tài)，比已有技術(shù)增加了兩種檢測(cè)功能?？朔艘延屑夹g(shù)中不能檢測(cè)靠模板越位和移動(dòng)方向的缺陷，可以及時(shí)排除機(jī)器故障。該裝置和微型計(jì)算機(jī)配合使用可實(shí)現(xiàn)智能控制。本實(shí)用新型所述的檢測(cè)器具有抗油污污染、溫度性能好、壽命長(zhǎng)的特點(diǎn)，可靠性比已有技術(shù)大大提高。其成本約為已有技術(shù)的一半。
文檔編號(hào)D01H13/14GK86204873SQ86204873
公開日1987年5月6日 申請(qǐng)日期1986年7月1日
發(fā)明者李軍, 王文威, 羅林蔚, 王長(zhǎng)安 申請(qǐng)人:中國(guó)紡織總公司設(shè)計(jì)研究所導(dǎo)出引文BiBTeX, EndNote, RefMan