處理器件使用壽命。
[0046]探頭過濾各部件功能說明:
[0047]1、閉鎖螺釘
[0048]配合O型圈2-2使用。用于阻止通過濾芯過濾后的樣氣泄露到空氣中，也防止外界空氣由于氣體內(nèi)負(fù)壓倒流入腔體對測量數(shù)據(jù)造成影響。
[0049]2、O 型圈
[0050]配合閉鎖螺釘2-1使用。用于阻止通過濾芯過濾后的樣氣泄露到空氣中，也防止外界空氣由于氣體內(nèi)負(fù)壓倒流入腔體對測量數(shù)據(jù)造成影響。其材質(zhì)為耐高溫、耐化學(xué)腐蝕的氟橡膠。
[0051]3、螺釘
[0052]用于旋緊安裝有探頭過濾濾芯的鎖緊架。
[0053]4、墊圈
[0054]防止螺釘2-3由于用力過大穿過固定環(huán)2-5。
[0055]5、固定環(huán)
[0056]6、密封圈
[0057]用于阻止通過濾芯過濾后的樣氣泄露到空氣中，也防止外界空氣由于氣體內(nèi)負(fù)壓倒流入腔體對測量數(shù)據(jù)造成影響。其材質(zhì)為耐高溫、耐化學(xué)腐蝕的氟橡膠。
[0058]7、底座
[0059]鏤空設(shè)計，用于將過濾后的樣氣集中到探槍取樣口通過采樣復(fù)合管引致系統(tǒng)預(yù)處理。
[0060]8、密封圈
[0061]用于阻止未經(jīng)過濾芯過濾后的樣氣直接進(jìn)入取樣口將帶有雜質(zhì)的樣氣引致預(yù)處理造成設(shè)備癱瘓，也防止在進(jìn)行腔內(nèi)反吹時由于密封不好造成將堵塞的濾芯無法吹開。其材質(zhì)為耐高溫、耐化學(xué)腐蝕的氟橡膠。
[0062]9、濾芯密封墊
[0063]為一層薄濾紙，主要用于密封濾芯上下兩端與金屬接觸面，防止樣氣中細(xì)小顆粒通過縫隙進(jìn)入采樣管路造成管路堵塞。
[0064]10、高精度碳化硅鍍膜過濾濾芯
[0065]50 μ的碳化硅鍍膜過濾濾芯，其抗氧化性強(qiáng)、耐磨性能好、硬度高、熱穩(wěn)定性好、高溫強(qiáng)度大、熱膨脹系數(shù)小、熱導(dǎo)率大以及抗熱震和耐化學(xué)腐蝕被廣泛的應(yīng)用于工業(yè)和化工領(lǐng)域。主要用于初級過濾樣氣中的雜質(zhì)，減小預(yù)處理器件負(fù)擔(dān)延長其使用壽命。
[0066]11、濾芯密封墊
[0067]為一層薄濾紙，主要用于密封濾芯上下兩端與金屬接觸面，防止樣氣中細(xì)小顆粒通過縫隙進(jìn)入采樣管路造成管路堵塞。
[0068]12、鎖緊架
[0069]用于固定和緊固過濾濾芯。
[0070]該過濾組件安裝步驟如下:
[0071]1、將濾芯密封墊II 2-11安裝于鎖緊架2-12底部；
[0072]2、將鍍膜過濾濾芯2-10穿在鎖緊架2-12的固定桿上(注意鍍膜過濾濾芯2_10的下部要鑲嵌于鎖緊架2-12中)；
[0073]3、將濾芯密封墊I 2-9穿在鎖緊架2-12固定桿上緊貼鍍膜過濾濾芯2_10)端安放；
[0074]4、將密封圈I 2-8由底座2-7下方套入到相應(yīng)安裝位置，將密封圈II 2-6由底座2-7上方套入到相應(yīng)的安裝槽中；
[0075]5、將鎖緊架2-12由底座2-7的背部穿出(安裝時要使鍍膜過濾濾芯2_10的上部鑲嵌于底座2-7中)；
[0076]6、將固定環(huán)2-5由底座2-7上方放入到相應(yīng)安裝孔內(nèi)；
[0077]7、將墊圈2-4放入底座2-7中相應(yīng)位置，置于固定環(huán)2_5上方；
[0078]8、用相應(yīng)內(nèi)六方扳手將螺釘2-3旋緊在鎖緊架2-12的安裝桿上；
[0079]9、將O型圈2-2由閉鎖螺釘2-1下方套入到相應(yīng)安裝位置；
[0080]10、將閉鎖螺釘2-1用適當(dāng)扳手旋緊于底座2-7上相應(yīng)位置；
[0081]11、將組裝好后的過濾組件與探槍拆裝把手相連接；
[0082]12、手握探槍安裝把手將過濾組件放于探槍腔體內(nèi)；
[0083]13、順時針旋轉(zhuǎn)探槍拆裝把手將過濾組件壓入探槍腔體內(nèi)，使密封圈與腔體緊貼。
[0084]以上對本實(shí)用新型實(shí)施例所提供的技術(shù)方案進(jìn)行了詳細(xì)介紹，本文中應(yīng)用了具體個例對本實(shí)用新型實(shí)施例的原理以及實(shí)施方式進(jìn)行了闡述，以上實(shí)施例的說明只適用于幫助理解本實(shí)用新型實(shí)施例的原理；同時，對于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例，在【具體實(shí)施方式】以及應(yīng)用范圍上均會有改變之處，綜上所述，本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對本實(shí)用新型的限制。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于CEMS系統(tǒng)監(jiān)測取樣的裝置，包括取樣探桿(8)，及設(shè)在取樣探桿(8)根端的取樣探桿護(hù)套(7)，取樣探桿(8)與取樣探桿護(hù)套(7)通過固定法蘭(5)固定，其特征在于:所述固定法蘭(5)的一端設(shè)有通過加熱護(hù)套(4)包覆的探頭過濾組件(10)，在加熱護(hù)套(4)包覆的探頭過濾組件(10)的一側(cè)設(shè)有濾芯底座固定件(9)，濾芯底座固定件(9)上設(shè)有采樣和探槍內(nèi)反吹口(2)和探槍外反吹口(3)，濾芯底座固定件(9)外側(cè)設(shè)有過濾單元拆裝把手(I)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于CEMS系統(tǒng)監(jiān)測取樣的裝置，其特征在于:所述探頭過濾組件(10)包括鍍膜過濾濾芯(2-10)，在鍍膜過濾濾芯(2-10)的一端設(shè)有鎖緊架(2-12)，另一端設(shè)有底座(2-7)，在底座(2-7)腔體內(nèi)設(shè)有與螺釘(2-3)和墊片(2_4)鑲裝的固定環(huán)(2-5)，在螺釘(2-3)端面由閉鎖螺釘(2-1)封裝。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于CEMS系統(tǒng)監(jiān)測取樣的裝置，其特征在于:所述鍍膜過濾濾芯(2-10)為碳化硅鍍膜濾芯。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于CEMS系統(tǒng)監(jiān)測取樣的裝置，其特征在于:所述鍍膜過濾濾芯(2-10)與鎖緊架(2-12)之間以及鍍膜過濾濾芯(2-10)與底座(2-7)之間分別設(shè)有濾芯密封墊。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于CEMS系統(tǒng)監(jiān)測取樣的裝置，其特征在于:所述鎖緊架(2-12)端設(shè)在與探頭過濾組件(10)內(nèi)側(cè)與固定法蘭(5)相對應(yīng)。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于CEMS系統(tǒng)監(jiān)測取樣的裝置，其特征在于:所述鎖緊架(2-12)通過閉鎖螺釘(2-1)封裝并與過濾單元拆裝把手(I)連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于CEMS系統(tǒng)監(jiān)測取樣的裝置，其特征在于:所述底座(2-7)的外圓周上由內(nèi)至外依次分布有內(nèi)密封圈(2-8)和外密封圈(2-6)，且外密封圈(2-6)和內(nèi)密封圈(2-8)以卡槽鑲嵌于底座(2-7)與濾芯底座固定件(9)之間。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于CEMS系統(tǒng)監(jiān)測取樣的裝置，其特征在于:所述探槍外反吹口(3)設(shè)于套在底座(2-7)上的濾芯底座固定件(9)上，且探槍外反吹口(3)與內(nèi)氣流槽相對應(yīng)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于CEMS系統(tǒng)監(jiān)測取樣的裝置，其特征在于:所述探槍內(nèi)反吹口(2)設(shè)于與探槍外反吹口(3)相鄰的濾芯底座固定件(9)上。
10.根據(jù)權(quán)利要求8或9所述的一種用于CEMS系統(tǒng)監(jiān)測取樣的裝置，其特征在于:所述探槍內(nèi)反吹口(2)與探槍外反吹口(3)在濾芯底座固定件(9)上均為透孔。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種用于CEMS系統(tǒng)監(jiān)測取樣的裝置，包括取樣探桿，及設(shè)在取樣探桿根端的取樣探桿護(hù)套，取樣探桿與取樣探桿護(hù)套通過固定法蘭固定，固定法蘭的一端設(shè)有通過加熱護(hù)套包覆的探頭過濾組件，在加熱護(hù)套的外側(cè)設(shè)有濾芯底座固定件，濾芯底座固定件上設(shè)有采樣和探槍內(nèi)反吹口和探槍外反吹口，濾芯底座固定件外側(cè)設(shè)有過濾單元拆裝把手。該探槍增加了腔內(nèi)外的雙反吹設(shè)計，從而大大減小了探槍易堵塞的概率，降低了維護(hù)成本；采用碳化硅鍍膜濾芯，其耐高溫、耐化學(xué)腐蝕特性延長，且過濾效果明顯增強(qiáng)；系統(tǒng)預(yù)處理器件負(fù)擔(dān)小，使其具有更長的使用壽命。其獨(dú)特的把手式拆裝設(shè)計和其多重密封設(shè)計為現(xiàn)場維護(hù)人員提供方便，保證了檢測數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
【IPC分類】G01N1-22
【公開號】CN204346772
【申請?zhí)枴緾N201420849972
【發(fā)明人】胡文清, 王永毅
【申請人】西安鼎研科技有限責(zé)任公司
【公開日】2015年5月20日
【申請日】2014年12月27日