1.一種光學(xué)斷層掃描裝置，其特征在于，包括一發(fā)光單元、一偵測(cè)單元、一承載件及一驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)；
所述發(fā)光單元設(shè)置在一待測(cè)物的表面上，并發(fā)出入射光線至所述待測(cè)物的表面下的組織中；
所述偵測(cè)單元設(shè)置在所述待測(cè)物上并接受該待測(cè)物表面下的組織對(duì)所述入射光線所擴(kuò)散出的擴(kuò)散光線，以產(chǎn)生該待測(cè)物表面下的組織的感測(cè)訊息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)斷層掃描裝置，其特征在于，該掃描裝置還包括一定位單元。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)斷層掃描裝置，其特征在于，該掃描裝置還包括一驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)斷層掃描裝置，其特征在于，所述偵測(cè)單元以所述發(fā)光單元為中心圍繞該發(fā)光單元移動(dòng)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)斷層掃描裝置，其特征在于，所述承載件具有一透光孔，并持續(xù)轉(zhuǎn)動(dòng)以使該透光孔以所述發(fā)光單元為中心圍繞著該發(fā)光單元移動(dòng)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或5任一項(xiàng)所述的光學(xué)斷層掃描裝置，其特征在于，所述偵測(cè)單元設(shè)置在所述發(fā)光單元上方，通過(guò)所述透光孔接收所述待測(cè)物的表面下組織對(duì)入射光線所擴(kuò)散的擴(kuò)散光線。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光學(xué)斷層掃描裝置，其特征在于，所述承載件上還設(shè)置有一凸透鏡。