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一種口腔種植修復空間分析用折疊測量尺的制作方法

文檔序號:11295610閱讀:1325來源:國知局
一種口腔種植修復空間分析用折疊測量尺的制造方法與工藝

本實用新型涉及一種口腔種植修復空間分析用折疊測量尺,屬于口腔醫(yī)療器械技術領域。



背景技術:

種植牙因其可獲得與天然牙相似的功能、結構以及美觀效果,已經(jīng)逐漸成為缺牙患者的首選修復方式。種植技術被廣泛應用于臨床治療中,大量種植病例涌現(xiàn),同時亦出現(xiàn)大量問題。此時,人們開始重視種植體風險控制及處理,種植治療原則也由原來的“以外科為導向的種植義齒修復”轉為“以修復為導向的種植義齒修復”。種植牙包括骨內的種植體和上部的修復體結構,種植體植入骨內的三維位置由修復體模擬天然牙的位置確定,不良的種植體三維位置及不良的修復體設計將對骨結合與軟組織的長期穩(wěn)定產(chǎn)生負面效應。為了降低手術及修復并發(fā)癥等負面效應的發(fā)生,幫助實現(xiàn)以修復為導向的種植體植入,必須進行術前及上部修復前的口內空間分析及模型空間分析。術前口內空間分析及模型空間分析包括:患者最大種植手術操作空間的測量,缺牙區(qū)的咬合空間(相當于種植體上部表面與對頜牙列在最廣泛接觸時的垂直距離,提供給基臺以及其上方的修復體的可使用的全部高度)及缺牙間隙的測量,從而為種植體的選擇及位置確定提供依據(jù)。上部修復前的口內分析及模型分析包括:咬合空間測量及種植體的穿齦深度(種植體上部表面到牙齦緣的距離)測量,從而為上部修復體的設計提供依據(jù)。

目前口腔臨床醫(yī)生常采取目測的方法進行口內分析,此種方法誤差較大,對臨床醫(yī)生的經(jīng)驗依賴性大,常常忽視對患者開口度及咬合空間的檢查,導致后期修復困難等一系列問題。而模型分析則是通過對牙列進行取模、石膏灌注制備出牙列模型,再對牙列模型的待修復部位使用直尺進行測量。由于牙列模型的待修復部位形態(tài)不規(guī)則,使用直尺進行測量操作難度大,測量精度低,準確性差,對測出的數(shù)據(jù)需依靠術者經(jīng)驗進行二次處理,才能得出種植體擬植入位置及上部修復體的形狀、結構及參數(shù),過程較為繁瑣。



技術實現(xiàn)要素:

本實用新型的目的是提供一種口腔種植修復空間分析用折疊測量尺,用該折疊測量尺進行口腔種植修復空間分析,其操作簡單、使用方便、分析測出的數(shù)據(jù)精度高、誤差小、能更準確、快速的得出種植體的種類及種植位置,及上部修復體的形狀、結構和參數(shù)。

本實用新型為實現(xiàn)其發(fā)明目的采取的技術方案是:一種口腔種植修復空間分析用折疊測量尺,其組成是:主尺的上部和副尺的上部鉸接,其特征在于:

所述的主尺呈倒“凸”字形、總長為43mm;主尺的上部寬度為7mm;主尺的下部寬度為1.5mm,長度為11mm;

所述的主尺的上部正面從下至上標注有長度刻度,長度刻度的起始點距主尺上部下端的距離為1mm;

所述的主尺的下部正面從下向上,標注有表示穿齦深度的深度刻度,深度刻度的起始點為主尺下部的下端,且深度刻度的3-4mm區(qū)間標記為紅色;

所述的副尺總長為33mm、寬度為7mm的直尺,副尺下部的兩側均向外凸出1.5mm形成側凸起,側凸起的下端距副尺下端的距離為8mm,且側凸起的下端與主尺的上部的下端處于同一水平線上;副尺的右下部位開有矩形缺口,在矩形缺口上方形成長4mm的中下部,在矩形缺口的左側形成長4mm、寬5mm的下下部。本實用新型的使用方法是:

1)術前口內分析:

(1.1)患者最大種植手術操作空間的測量:

常規(guī)種植手術:將主尺、副尺展開,并用手捏住主尺下端,囑患者最大張口,將副尺豎立于患者缺牙區(qū),比測患者的最大開口高度。若患者大張口時,副尺一端垂直抵緊患者缺牙區(qū),另一端不被對頜牙齒阻擋,說明開口高度大于副尺全長33mm,則患者的最大種植手術操作空間滿足進行常規(guī)種植手術的要求;否則,最大種植手術操作空間不足,患者不適宜進行常規(guī)種植手術。

數(shù)字化導板種植手術:將主尺、副尺展開,用手捏住副尺下端,囑患者大張口,將主尺豎立于患者缺牙區(qū),比測患者的最大開口高度,若患者大張口時,主尺一端可垂直接觸患者缺牙區(qū),另一端不被對頜牙齒阻擋,說明開口高度大于主尺全長43mm,則患者的最大種植手術操作空間滿足進行數(shù)字化導板種植手術的要求,否則,開口高度不足,患者不適宜進行數(shù)字化導板種植手術。

(1.2)單顆缺牙的缺牙間隙測量:副尺下端分為三個寬度,分別為側凸起處的10mm,中下部的7mm,下端部的5mm。囑患者大張口,將主尺、副尺展開,并用手捏住主尺、副尺的鉸接處,使用副尺下部比測缺牙區(qū)兩鄰牙近缺隙側鄰面最凸點間距離,若側凸起處可通過,則表示其寬度大于等于磨牙平均寬度10mm,優(yōu)先選擇大直徑種植體(>4.5mm);若側凸起處不可通過,而中下部可通過,則表示其寬度為7mm-10mm的前磨牙寬度,優(yōu)先選擇標準直徑(3.5~4.5mm)種植體;若中下部不可通過,而下端部可通過,則表示其寬度為5mm-7mm的下前牙寬度,優(yōu)先選擇小直徑(≤3.5mm)種植體。若下端部不可通過,則表示缺牙間隙過窄<5mm,不宜進行種植修復。

(1.3)多顆牙連續(xù)缺失的種植體數(shù)量及位置確定:將主尺副尺折疊并攏后使用,將副尺凸起處下端靠于天然牙近缺隙側鄰面,使用主尺單元正面的刻度尺比對測量種植體中心的距離。再進行分析,參考數(shù)據(jù)如下:種植體中心與天然牙近缺隙側鄰面之間理想距離:R(種植體半徑)+2mm,種植體中心與天然牙近缺隙側鄰面之間最小距離:R+1.5mm,兩種植體中心之間最小距離:R1+R2+3mm。

(1.4)頜間距離檢查:囑患者上下牙處于最廣泛、最緊密的接觸,將主尺、副尺展開,并用手捏住主尺、副尺的鉸接處,使用副尺下部進行比測:若中下部可通過,則說明此時頜間距離大于7mm,粘接固位和螺絲固位均可選擇;若中下部不可通過,下端部可通過,則說明此時頜間距離大于5mm,小于7mm,優(yōu)先選擇螺絲固位;若下端部不能通過,則說明此時頜間距離小于5mm,修復空間太少無法放置基臺和制作修復體,不宜進行種植修復。

2)術前模型分析:

(2.1)單顆缺牙的缺牙間隙測量:制取患者研究模型后,在模型上重復步驟(1.2)。

(2.2)多顆牙連續(xù)缺失的種植體數(shù)量及位置確定:制取患者研究模型后,在模型上重復步驟(1.3)。

(2.3)頜間距離檢查:制取患者研究模型后,將上下頜模型咬合且上下牙處于最廣泛、最緊密的接觸,此時重復步驟(1.4)。

3)上部修復前口內分析:

(3.1)咬合間隙檢查:患者進行種植修復取模前,重復步驟(1.4)。

4)上部修復前模型分析:

(4.1)穿齦深度測量:制取患者的最終模型,將主尺、副尺展開,并用手捏住主尺、副尺的鉸接處,將主尺下端的深度刻度測量模型上種植體上部表面到牙齦緣的距離。該數(shù)值可對應基臺選擇的穿齦深度。若距離在紅色區(qū)域以內,則可以使用成品基臺,超出該區(qū)域則需制作個性化基臺。

與現(xiàn)有技術相比,本實用新型的有益效果是:

一、采用主尺和副尺直接比對判斷患者最大開口高度,簡單準確的獲得手術時最大高度操作空間,避免目測誤差導致開口高度不足造成手術器械受阻,手術無法完成的后果。

二、采用副尺的側凸起下方的中下部和下端部比測能否通過缺牙區(qū)頜間高度,簡單、直接的進行咬合空間檢查,有效避免因咬合空間不足而無法完成上部修復的問題;并能且給基臺固位方式(螺絲固位或粘接固位)的選擇提供準確、可靠的依據(jù);

三、采用副尺的側凸起、中下部及下端部比測能否通過缺牙區(qū)間隙,簡單、直接的進行術前的單牙缺牙間隙分析,采用主尺上部的長度刻度術前進行多顆牙缺牙區(qū)的比測,輔助術者進行種植體分布及型號的選擇。

三、操作醫(yī)生可以根據(jù)主尺下端沒入牙齦的深度,確定基臺的穿齦深度,并且,距離深度刻度尺最下端的3-4mm(理想深度)處由紅色區(qū)域構成,從而能根據(jù)沒入模型牙齦處的顏色,直接判斷是否需要制作個性化基臺,無需仔細辨識具體刻度,使其操作更簡單。

總之,本實用新型折疊尺通過特殊結構、形狀、鉸接在一起的主副尺,可通過尺上某一部位或多個部位的直接比對,實現(xiàn)多種口腔種植修復空間的口內及模型分析,較之目測或用普通直尺測量,其操作更簡單、方便,快速的得出種植體的種類及種植位置,及上部修復體的形狀、結構和參數(shù)。測量分析結果準確可靠,明顯的提高口腔種植的成功率。

附圖說明

圖1為本實用新型實施例折疊狀態(tài)的正面結構示意圖。

圖2為本實用新型實施例折疊狀態(tài)的背面結構示意圖。

圖3為實用新型實施例的展開狀態(tài)的背面示意圖。

具體實施方式:

圖1-3示出,本實用新型的一種具體實施方式是,一種口腔種植修復空間分析用折疊測量尺,其組成是:主尺1的上部1a和副尺2的上部鉸接,其特征在于:

所述的主尺1呈倒“凸”字形、總長為43mm;主尺1的上部1a寬度為7mm;主尺1的下部1b寬度為1.5mm,長度為11mm;

所述的主尺1的上部1a正面從下至上標注有長度刻度4,長度刻度4的起始點距主尺1上部1a下端的距離為1mm;

所述的主尺1的下部1b正面從下向上,標注有表示穿齦深度的深度刻度3,深度刻度3的起始點為主尺1下部1b的下端,且深度刻度3的3-4mm區(qū)間標記為紅色;

所述的副尺2總長為33mm、寬度為7mm的直尺,副尺2下部的兩側均向外凸出1.5mm形成側凸起2a,側凸起2a的下端距副尺2下端2c的距離為8mm,且側凸起2a的下端與主尺1的上部1a的下端處于同一水平線上;副尺2的右下部位開有矩形缺口,在矩形缺口上方形成長4mm的中下部2b,在矩形缺口的左側形成長4mm、寬5mm的下下部2c。

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