1.一種全場(chǎng)光學(xué)相干層析方法，其特征在于，包括以下步驟：
S1，確定平面(12)，將待成像樣品(11)的頂部與平面(12)重合；其中，所述的平面(12)通過以下方法確定：從所述平面(12)上各點(diǎn)反射的探測(cè)光和從反射鏡(6)上對(duì)應(yīng)各點(diǎn)反射的參考光，在高速面陣相機(jī)(4)上的光程差小于光源(1)的相干長度，且所述的探測(cè)光和參考光在高速面陣相機(jī)(4)上進(jìn)行干涉；
S2，調(diào)整反射鏡(6)使其連續(xù)往返運(yùn)動(dòng)，并使得經(jīng)反射鏡(6)上各點(diǎn)反射的參考光和經(jīng)待成像樣品(11)上反射的探測(cè)光，在高速面陣相機(jī)(4)上的相位差在0～2π范圍內(nèi)連續(xù)變化；
S3，高速面陣相機(jī)(4)采集隨時(shí)間變化的信號(hào)，計(jì)算所述待成像樣品(11)處于平面(12)的斷層圖像；
S4，帶動(dòng)待成像樣品(11)沿Z軸方向向上平移，重復(fù)步驟S2～S3，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的不同斷層進(jìn)行成像。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的全場(chǎng)光學(xué)相干層析方法，其特征在于，步驟S2中，反射鏡(6)連續(xù)往返運(yùn)動(dòng)的振動(dòng)幅度為1～5個(gè)光源(1)的波長。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的全場(chǎng)光學(xué)相干層析方法，其特征在于，步驟S3中，根據(jù)高速面陣相機(jī)(4)所采集圖像上的每個(gè)像素所記錄的光強(qiáng)隨時(shí)間的漲落幅度，計(jì)算所述待成像樣品(11)處于平面(12)的斷層圖像。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的全場(chǎng)光學(xué)相干層析方法，其特征在于，步驟S3中，具體通過以下方式計(jì)算所述待成像樣品(11)處于平面(12)的斷層圖像：
連續(xù)采集N幅圖像，將所述N幅圖像的同一位置的像素點(diǎn)的灰度值按時(shí)間順序排列，組成信號(hào)序列，表示為S(x,y；n),其中，S(x,y；n)為連續(xù)采集的N幅圖像中的第n幅圖像，1≤n≤N，(x，y)表示高速面陣相機(jī)(4)感光面的空間位置；S(x,y；n)表示為，
式中，a1(x,y；n)表示來自于非平面(12)的反射光，a2(x,y；n)表示來自于平面(12)的反射光，b(x,y；n)表示來自于反射鏡(6)的反射光，θ(x,y；n)表示由于參考光和來自于平面(12)的探測(cè)光存在光程差而產(chǎn)生的相位；
通過下式，計(jì)算待成像樣品(11)處于平面(12)的斷層圖像：
式中，a2(x,y)為待成像樣品(11)處于平面(12)的斷層圖像上的像素的光強(qiáng)，MAX[]表示取極大值，LPF()表示低通濾波，diff()表示進(jìn)行差分計(jì)算。
5.實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1～4任一所述方法的一種全場(chǎng)光學(xué)相干層析裝置，其特征在于，包括：光源(1)、A透鏡(2)、分光鏡(3)、高速面陣相機(jī)(4)、B透鏡(5)、反射鏡(6)、壓電陶瓷(7)、計(jì)算機(jī)(8)、壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)器(9)和電動(dòng)平移臺(tái)(10)，所述的低相干光源(1)發(fā)出的低相干光經(jīng)A透鏡(2)擴(kuò)束，再經(jīng)分光鏡(3)分為兩部分，一部分為參考光，一部分為探測(cè)光；所述的探測(cè)光照射到待成像樣品(11)上，由待成像樣品(11)反射回來的光再經(jīng)過分光鏡(3)、B透鏡(5)進(jìn)入高速面陣相機(jī)(4)；所述的參考光照射到反射鏡(6)后，由反射鏡(6)反射回來的參考光再經(jīng)過分光鏡(3)、B透鏡(5)進(jìn)入高速面陣相機(jī)(4)，高速面陣相機(jī)(4)采集隨時(shí)間變化的信號(hào)并傳給計(jì)算機(jī)(8)，計(jì)算機(jī)(8)計(jì)算所述待成像樣品(11)處于平面(12)的斷層圖像；其中，壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)器(9)驅(qū)動(dòng)壓電陶瓷(7)帶動(dòng)反射鏡(6)連續(xù)往返運(yùn)動(dòng)，電動(dòng)平移臺(tái)(10)帶動(dòng)待成像樣品(11)沿Z軸方向向上平移。