技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及一種CT設(shè)備的光路異常檢測(cè)方法，所述CT設(shè)備包括用于產(chǎn)生射線的射線源；以及用于檢測(cè)射線的探測(cè)器，所述方法包括以下步驟：沿著所述CT設(shè)備的光路進(jìn)行檢測(cè)掃描以獲得檢測(cè)掃描數(shù)據(jù)，所述光路為在掃描時(shí)所述射線從所述射線源到所述探測(cè)器所經(jīng)過(guò)的路徑；根據(jù)檢測(cè)掃描的數(shù)據(jù)建立所述光路的狀態(tài)特征指標(biāo)；以及分析所述狀態(tài)特征指標(biāo)以判斷所述光路是否異常。本發(fā)明通過(guò)使CT設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)掃描，對(duì)得到的檢測(cè)掃描數(shù)據(jù)進(jìn)行分析即可判斷光路部件是否處于正常狀態(tài)。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明不需要人工的檢查或者借助輔助設(shè)備，更為方便。

技術(shù)研發(fā)人員：李兵;江一峰
受保護(hù)的技術(shù)使用者：上海聯(lián)影醫(yī)療科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2015.12.30
技術(shù)公布日：2017.07.07