專利名稱:導(dǎo)管移動光電檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本實用新型涉及一種用于檢測房顫導(dǎo)管消融手術(shù)模擬系統(tǒng)中導(dǎo)管的移動情況的設(shè)備,尤其涉及一種導(dǎo)管移動光電檢測裝置。
背景技術(shù):
心房顫動簡稱房顫,是最常見的持續(xù)性心律失常,房顫時心房激動的頻率達300 600次/分,心跳頻率往往快而且不規(guī)則,有時候可以達到100 160次/分,不僅比正常人心跳快得多,而且絕對不整齊,心房失去有效的收縮功能。房顫導(dǎo)管消融手術(shù)是目前常見的房顫治療手段,其適用于絕大多數(shù)房顫患者,具有創(chuàng)傷小,病人易于接受的特點。為了進一步研究和完善房顫導(dǎo)管消融手術(shù),提高房顫導(dǎo)管消融初學(xué)者的技術(shù)水平,提高房顫導(dǎo)管消融的成功率,降低與手術(shù)有關(guān)的并發(fā)癥風(fēng)險,目前很多市場上已出現(xiàn)很多用于訓(xùn)練 的房顫導(dǎo)管消融手術(shù)模擬系統(tǒng)。這種房顫導(dǎo)管消融手術(shù)模擬系統(tǒng)中通常設(shè)有導(dǎo)管檢測裝置,傳統(tǒng)的導(dǎo)管檢測裝置通過機械摩擦的方式來檢測,導(dǎo)管和檢測器的表面情況對檢測的一致性影響很大,導(dǎo)致檢測精度比較低。
實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于提供一種導(dǎo)管移動光電檢測裝置,以準(zhǔn)確檢測導(dǎo)管的位移。為達到上述目的,本實用新型提供了一種導(dǎo)管移動光電檢測裝置,包括發(fā)光管,其發(fā)射的激光照射在導(dǎo)管上;聚光鏡,其將所述發(fā)光管反射到其上的反射激光進行聚光并輸出;光電檢測器,其連續(xù)檢測所述聚光鏡輸出的聚光后的反射激光,根據(jù)該聚光后的反射激光獲取所述導(dǎo)管的點陣圖像,對比所述導(dǎo)管前后相鄰兩幀的點陣圖像得到其相對位移變化數(shù)據(jù);單片機,其通過SPI接口從所述光電檢測器接收所述相對位移變化數(shù)據(jù),根據(jù)所述相對位移變化數(shù)據(jù)解析求出所述導(dǎo)管在其位移方向上的位移點陣數(shù);PC機,其通過串口從所述單片機接收所述位移方向上的位移點陣數(shù),根據(jù)所述位移方向上的位移點陣數(shù)計算出所述導(dǎo)管的徑向位移和或軸向位移。本實用新型的導(dǎo)管移動光電檢測裝置,所述光電檢測器包括型號為ADNS7550的光電檢測芯片及其外圍電路。本實用新型的導(dǎo)管移動光電檢測裝置,所述單片機包括型號為STC12C5A08S2的單片機芯片及其外圍電路,所述單片機芯片的第I、第2、第3和第44管腳,分別對應(yīng)與所述光電檢測芯片的第3、第4、第5和第6管腳相連。本實用新型的導(dǎo)管移動光電檢測裝置,所述串口包括由型號為MAX3232ESE的串口轉(zhuǎn)換芯片及其外圍電路構(gòu)成的RS232接口,所述串口轉(zhuǎn)換芯片的第11和第12管腳,分別對應(yīng)與所述單片機芯片的第7和第5管腳相連。[0013]本實用新型的導(dǎo)管移動光電檢測裝置包括發(fā)光管,其發(fā)射的激光照射在導(dǎo)管上;聚光鏡,其將發(fā)光管反射到其上的反射激光進行聚光并輸出;光電檢測器,其連續(xù)檢測聚光鏡輸出的聚光后的反射激光,根據(jù)該聚光后的反射激光獲取導(dǎo)管的點陣圖像,對比導(dǎo)管前后相鄰兩幀的點陣圖像得到其相對位移變化數(shù)據(jù);單片機,其通過SPI接口從光電檢測器接收相對位移變化數(shù)據(jù),根據(jù)相對位移變化數(shù)據(jù)解析求出導(dǎo)管在其位移方向上的位移點陣數(shù);PC機,其通過串口從單片機接收位移方向上的位移點陣數(shù),根據(jù)位移方向上的位移點陣數(shù)計算出導(dǎo)管的徑向位移和或軸向位移,與現(xiàn)有的機械摩擦式位移檢測相比,其準(zhǔn)確度和精度得到了提聞。
圖I為本實用新型的導(dǎo)管移動光電檢測裝置結(jié)構(gòu)示意圖;圖2為本實用新型的導(dǎo)管移動光電檢測裝置的主電路原理圖。
具體實施方式
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以下結(jié)合附圖對本實用新型的具體實施方式
進行詳細描述參考圖I所示,本實施例的導(dǎo)管移動光電檢測裝置包括發(fā)光管1,其發(fā)射的激光照射在導(dǎo)管2上;聚光鏡3,其將發(fā)光管I反射到其上的反射激光進行聚光并輸出;光電檢測器4,其連續(xù)檢測聚光鏡3輸出的聚光后的反射激光,根據(jù)該聚光后的反射激光獲取導(dǎo)管2的點陣圖像,對比導(dǎo)管2前后相鄰兩幀的點陣圖像得到其相對位移變化數(shù)據(jù),即將所獲取的點陣圖像轉(zhuǎn)變成電信號,這些電信號由該光電檢測器4內(nèi)部的DSP處理完成;單片機5,其通過SPI接口從光電檢測器4接收所述相對位移變化數(shù)據(jù),根據(jù)相對位移變化數(shù)據(jù)解析求出導(dǎo)管2在其位移方向上的位移點陣數(shù);PC機6,其通過串口從單片機5接收位移方向上的位移點陣數(shù),根據(jù)位移方向上的位移點陣數(shù)計算出導(dǎo)管2的徑向位移和或軸向位移。假設(shè)光電檢測器4可以獲取26*26的點陣圖像,其實際上相當(dāng)于一個小小的數(shù)碼相機,使用一個微小的CMOS成像元件每秒鐘掃描數(shù)千張分辨率可達1600DPI的圖像,如果后一幀點陣圖像相對于前一幀點陣圖像向左移動了 3個位移點陣數(shù),向上移動了 6個位移點陣數(shù),則PC機6可計算出導(dǎo)管2向左移動了 3*25. 4/1600=0. 047625mm,向上移動了6*25. 4/1600=0. 09525mm。當(dāng)然,本實施例的導(dǎo)管移動光電檢測裝置同樣適用于房顫導(dǎo)管消融手術(shù)模擬系統(tǒng)中鞘管移動檢測。結(jié)合圖2所示,上述實施例的導(dǎo)管移動光電檢測裝置中的光電檢測器4可以選擇型號為ADNS7550的光電檢測芯片及其外圍電路,單片機5可以選擇型號為STC12C5A08S2的單片機芯片及其外圍電路,串口可以選擇由型號為MAX3232ESE的串口轉(zhuǎn)換芯片及其外圍電路構(gòu)成的RS232接口,其中,單片機芯片的第I、第2、第3和第44管腳,分別對應(yīng)與光電檢測芯片的第3、第4、第5和第6管腳相連,而串口轉(zhuǎn)換芯片的第11和第12管腳,分別對應(yīng)與單片機芯片的第7和第5管腳相連,從而為實現(xiàn)上述功能提供硬件支持。以上的實施例僅僅是對本實用新型的優(yōu)選實施方式進行描述,并非對本實用新型的范圍進行限定,在不脫離本實用新型設(shè)計精神的前提下,本領(lǐng)域普通工程技術(shù)人員對本實用新型的技術(shù)方案作出的各種變形和改進,均應(yīng)落入本實用新型的權(quán)利要求書確定的保護范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種導(dǎo)管移動光電檢測裝置,其特征在于,包括 發(fā)光管(I ),其發(fā)射的激光照射在導(dǎo)管(2)上; 聚光鏡(3),其將所述發(fā)光管(I)反射到其上的反射激光進行聚光并輸出; 光電檢測器(4),其連續(xù)檢測所述聚光鏡(3)輸出的聚光后的反射激光,根據(jù)該聚光后的反射激光獲取所述導(dǎo)管(2)的點陣圖像,對比所述導(dǎo)管(2)前后相鄰兩幀的點陣圖像得到其相對位移變化數(shù)據(jù); 單片機(5),其通過SPI接口從所述光電檢測器(4)接收所述相對位移變化數(shù)據(jù),根據(jù)所述相對位移變化數(shù)據(jù)解析求出所述導(dǎo)管(2)在其位移方向上的位移點陣數(shù); PC機(6),其通過串口從所述單片機(5)接收所述位移方向上的位移點陣數(shù),根據(jù)所述位移方向上的位移點陣數(shù)計算出所述導(dǎo)管(2)的徑向位移和或軸向位移。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的導(dǎo)管移動光電檢測裝置,其特征在于,所述光電檢測器(4)包括型號為ADNS7550的光電檢測芯片及其外圍電路。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的導(dǎo)管移動光電檢測裝置,其特征在于,所述單片機(5)包括型號為STC12C5A08S2的單片機芯片及其外圍電路,所述單片機芯片的第I、第2、第3和第44管腳,分別對應(yīng)與所述光電檢測芯片的第3、第4、第5和第6管腳相連。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的導(dǎo)管移動光電檢測裝置,其特征在于,所述串口包括由型號為MAX3232ESE的串口轉(zhuǎn)換芯片及其外圍電路構(gòu)成的RS232接口,所述串口轉(zhuǎn)換芯片的第11和第12管腳,分別對應(yīng)與所述單片機芯片的第7和第5管腳相連。
專利摘要本實用新型公開了一種導(dǎo)管移動光電檢測裝置,包括發(fā)光管,其發(fā)射的激光照射在導(dǎo)管上;聚光鏡,其將發(fā)光管反射到其上的反射激光進行聚光并輸出;光電檢測器,其連續(xù)檢測聚光鏡輸出的聚光后的反射激光,根據(jù)該聚光后的反射激光獲取導(dǎo)管的點陣圖像,對比導(dǎo)管前后相鄰兩幀的點陣圖像得到其相對位移變化數(shù)據(jù);單片機,其通過SPI接口從光電檢測器接收相對位移變化數(shù)據(jù),根據(jù)相對位移變化數(shù)據(jù)解析求出導(dǎo)管在其位移方向上的位移點陣數(shù);PC機,其通過串口從單片機接收位移方向上的位移點陣數(shù),根據(jù)位移方向上的位移點陣數(shù)計算出導(dǎo)管的徑向位移和或軸向位移,與現(xiàn)有機械摩擦式位移檢測相比,其準(zhǔn)確度和精度得到了提高。
文檔編號G01B11/02GK202511757SQ2012200950
公開日2012年10月31日 申請日期2012年3月14日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月14日
發(fā)明者董建增 申請人:北京安效技術(shù)有限公司, 董建增