一種mipi lp信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于信號(hào)處理技術(shù)領(lǐng)域，更具體地，涉及一種MIPILP信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)及方法。
【背景技術(shù)】
[0002]目前MIPI屏為手機(jī)屏的主流屏，MIPI點(diǎn)屏?xí)r需要用到通道O的LP(LowPower，低功耗)信號(hào)下發(fā)開屏指令，而開屏指令下發(fā)成功與否直接關(guān)系到點(diǎn)屏能否成功；另一方面，LP信號(hào)還可用于擴(kuò)展顯示標(biāo)識(shí)數(shù)據(jù)(Extended Display Identificat1n Data，EDID)讀寫，LP信號(hào)是否通訊正常關(guān)系到EDID讀寫的正確性。
[0003]當(dāng)MIPI屏不能正常點(diǎn)亮或EDID讀寫的值與實(shí)際值不相符時(shí)，需要對(duì)LP信號(hào)進(jìn)行測(cè)試以尋找故障原因；傳統(tǒng)的方法是采用示波器對(duì)LP信號(hào)進(jìn)行人工測(cè)試，存在以下缺陷:
[0004](I)用示波器進(jìn)行信號(hào)測(cè)試，需要測(cè)試者手動(dòng)設(shè)置示波器，手動(dòng)捕獲目標(biāo)信號(hào)；
[0005](2)測(cè)試出正常信號(hào)后需要將波形圖逐張存取，數(shù)據(jù)量大時(shí)，需要存儲(chǔ)大量的波形圖片；
[0006](3)對(duì)于存儲(chǔ)的波形圖片，需要根據(jù)LP協(xié)議對(duì)LP信號(hào)進(jìn)行人工解碼，轉(zhuǎn)換成十六進(jìn)制的數(shù)值后與實(shí)際值進(jìn)行比對(duì)，由于數(shù)據(jù)量很大，人工解碼效率低，而且容易出錯(cuò)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的以上缺陷或改進(jìn)需求，本發(fā)明提供了一種MIPILP信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)及方法，其目的在于實(shí)現(xiàn)對(duì)MIPI LP信號(hào)測(cè)試、解碼以及解碼數(shù)據(jù)導(dǎo)入導(dǎo)出一體化，提高LP信號(hào)測(cè)試效率。
[0008]為實(shí)現(xiàn)本發(fā)明目的，按照本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種MIPILP信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)，包括信號(hào)接收單元、信號(hào)采集單元和信號(hào)傳輸單元；
[0009]其中，信號(hào)接收單元與測(cè)試探頭連接，對(duì)探頭探測(cè)到的信號(hào)進(jìn)行消除雜波和放大處理；
[0010]信號(hào)采集單元對(duì)上述處理后的信號(hào)進(jìn)行波形整形處理，并根據(jù)上層設(shè)置的采樣頻率對(duì)該單端信號(hào)進(jìn)行采樣，當(dāng)采樣數(shù)據(jù)達(dá)到設(shè)置的采樣深度后停止采樣；
[0011 ]信號(hào)傳輸單元具有上位機(jī)接口，通過(guò)該接口將上述采樣數(shù)據(jù)發(fā)送到外部上位機(jī)，上位機(jī)根據(jù)接收到的采樣數(shù)據(jù)繪制波形，并進(jìn)行數(shù)據(jù)解析。
[0012]優(yōu)選的，上述MIPILP信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)，其信號(hào)接收單元包括BNC接頭與信號(hào)處理電路;通過(guò)BNC接頭與外部測(cè)試探頭連接；
[0013]其信號(hào)處理電路包括依次連接的低通濾波電路、反饋放大電路和波形整形電路；低通濾波電路用于濾除頻率大于50MHz的信號(hào);所述反饋放大電路用于對(duì)輸入信號(hào)進(jìn)行放大處理;波形整形電路用于將MIPI LP信號(hào)進(jìn)行波形整形，將鋸齒波變換成方波后輸出。
[0014]優(yōu)選的，上述MIPILP信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)，其信號(hào)采集單元包括固化在一顆可編程邏輯器件上的配置模塊、數(shù)據(jù)采集模塊、信號(hào)觸發(fā)模塊和信號(hào)存儲(chǔ)模塊；
[0015]其中，配置模塊用于獲取上層配置數(shù)據(jù)，包括采樣頻率、采樣深度、觸發(fā)信號(hào)源和信號(hào)類型；
[0016]數(shù)據(jù)采集模塊對(duì)信號(hào)處理單元輸出的信號(hào)進(jìn)行波形整形處理，根據(jù)采樣頻率和采樣深度對(duì)該單端信號(hào)進(jìn)行采樣，并根據(jù)觸發(fā)信號(hào)源將采樣信號(hào)分配到信號(hào)觸發(fā)模塊；
[0017]信號(hào)觸發(fā)模塊用于將滿足觸發(fā)條件的采樣信號(hào)觸發(fā)后發(fā)送到信號(hào)存儲(chǔ)模塊；
[0018]上位機(jī)從信號(hào)存儲(chǔ)模塊獲取數(shù)據(jù)進(jìn)行波形繪制和數(shù)據(jù)解析。
[0019]優(yōu)選地，上述MIPILP信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)，其信號(hào)采集單元還包括FIFO緩存，F(xiàn)IFO緩存也固化在上述可編程邏輯器件上;信號(hào)存儲(chǔ)模塊通過(guò)FIFO緩存連接信號(hào)觸發(fā)模塊;FIFO緩存用于將信號(hào)觸發(fā)模塊輸出的信號(hào)緩存后發(fā)送到信號(hào)存儲(chǔ)模塊，起跨時(shí)鐘域數(shù)據(jù)交互作用。
[0020]優(yōu)選的，上述MIPILP信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)，其信號(hào)采集單元還包括DDR，DDR也固化在上述可編程邏輯器件上;上位機(jī)通過(guò)DDR連接信號(hào)存儲(chǔ)模塊。
[0021]為實(shí)現(xiàn)本發(fā)明目的，按照本發(fā)明的另一個(gè)方面，提供了一種MIPILP信號(hào)測(cè)試方法，具體如下:
[0022](I)獲取上層配置命令，并根據(jù)配置命令配置信號(hào)采集模塊;其中，上層配置命令包括采樣頻率、采樣深度、觸發(fā)信號(hào)源以及信號(hào)類型；
[0023](2)根據(jù)觸發(fā)信號(hào)源，將采集到的待觸發(fā)信號(hào)分配到信號(hào)觸發(fā)模塊；
[0024](3)檢測(cè)滿足觸發(fā)條件的待觸發(fā)信號(hào)，將其觸發(fā)后分配到信號(hào)存儲(chǔ)單元；
[0025](4)信號(hào)存儲(chǔ)單元將上述信號(hào)存入DDR;
[0026](5)從DDR中提取數(shù)據(jù)，進(jìn)行波形還原和數(shù)據(jù)解析；
[0027](6)將解析獲得的數(shù)據(jù)導(dǎo)出，采用二進(jìn)制或十六進(jìn)制文件存儲(chǔ)。
[0028]優(yōu)選地，上述MIPILP信號(hào)測(cè)試方法，導(dǎo)出的數(shù)據(jù)可在本地或異地還原成信號(hào)波形。
[0029]總體而言，通過(guò)本發(fā)明所構(gòu)思的以上技術(shù)方案與現(xiàn)有技術(shù)相比，能夠取得下列有益效果:
[0030](I)本發(fā)明提供的MIPI LP信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)，具有采樣頻率可調(diào)整，采樣深度可設(shè)置的特點(diǎn)；
[0031](2)本發(fā)明提供的MIPI LP信號(hào)測(cè)試方法及系統(tǒng)，在測(cè)試中可同步地解碼并將測(cè)試解碼獲得的數(shù)據(jù)導(dǎo)出，在外部上位機(jī)的輔助下繪制波形并進(jìn)行數(shù)據(jù)解析；其實(shí)時(shí)解碼功能，可極大提尚測(cè)試效率；
[0032](3)本發(fā)明提供的MIPI LP信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)，可以將測(cè)試解碼獲得的數(shù)據(jù)導(dǎo)出并存儲(chǔ)，形成文本;通過(guò)將存儲(chǔ)的文本還原成波形，實(shí)現(xiàn)本地測(cè)試;還可將文本在異地還原成波形，適用于兩地協(xié)作測(cè)試開發(fā)的工作模式；
[0033](4)本發(fā)明提供的MIPI LP信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)，具有上位機(jī)接口；在應(yīng)用中，可直接與上位機(jī)連接，利用上位機(jī)輔助進(jìn)行界面控制，操作方便；只需要將被測(cè)信號(hào)接入探頭，然后對(duì)上層進(jìn)行設(shè)置即可進(jìn)行測(cè)試，操作簡(jiǎn)便，降低了測(cè)試難度。
【附圖說(shuō)明】
[0034]圖1是實(shí)施例提供的MIPILP信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用于測(cè)試的系統(tǒng)框圖；
[0035]圖2是實(shí)施例提供的MIPILP信號(hào)測(cè)試方法中的信號(hào)采集流程示意圖；
[0036]圖3是實(shí)施例中彳目號(hào)處理電路不意圖；
[0037]圖4是實(shí)施例提供的MIPILP信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用示意圖；
[0038]圖5是實(shí)施例提供的MIPILP信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)波形異地還原的應(yīng)用示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0039]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。此外，下面所描述的本發(fā)明各個(gè)實(shí)施方式中所涉及到的技術(shù)特征只要彼此之間未構(gòu)成沖突就可以相互組合。
[0040]實(shí)施例提供的MIPILP信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)包括依次連接的信號(hào)接收單元、信號(hào)采集單元和信號(hào)傳輸單元;其應(yīng)用于測(cè)試的系統(tǒng)框圖如圖1所示；
[0041]信號(hào)接收單元通過(guò)測(cè)試探頭與待測(cè)模組連接，對(duì)探頭探測(cè)到的信號(hào)進(jìn)行消除雜波和放大處理;信號(hào)采集單元對(duì)處理后的信號(hào)進(jìn)行波形整形處理，并根據(jù)上層設(shè)置的采樣頻率對(duì)該單端信號(hào)進(jìn)行采樣，當(dāng)采樣數(shù)據(jù)達(dá)到設(shè)置的采樣深度后停止采樣;信號(hào)傳輸單元將采樣數(shù)據(jù)發(fā)送到上位機(jī)，上位機(jī)根據(jù)接收到的采樣數(shù)據(jù)繪制波形，并進(jìn)行數(shù)據(jù)解析，將解析獲得的數(shù)據(jù)以二進(jìn)制或十六進(jìn)制格式保存；
[0042]實(shí)施例中，信號(hào)采集單元包括固化于一顆可編程邏輯器件上的配置模塊、數(shù)據(jù)采集模塊