一種射頻功放的測(cè)試數(shù)據(jù)管理方法及系統(tǒng)的制作方法
【專利說(shuō)明】
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)管理技術(shù)，特別是涉及射頻功放的測(cè)試數(shù)據(jù)管理的方法和系統(tǒng)。【【背景技術(shù)】】
[0002]科學(xué)技術(shù)日新月異的發(fā)展大大推動(dòng)了各類測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展。用戶對(duì)于測(cè)試系統(tǒng)的要求已拋棄了單一測(cè)試功能的需求，向更多元化功能邁進(jìn)，測(cè)試技術(shù)趨向于智能化，集成化，網(wǎng)絡(luò)化。網(wǎng)絡(luò)化測(cè)試使檢測(cè)技術(shù)的網(wǎng)絡(luò)化成為可能，這種測(cè)試網(wǎng)絡(luò)將節(jié)點(diǎn)連接控制室內(nèi)的儀器儀表和控制裝置組成有機(jī)的測(cè)試系統(tǒng)，各控制裝置負(fù)責(zé)采集數(shù)據(jù)并進(jìn)行處理，然后將數(shù)據(jù)通過(guò)網(wǎng)絡(luò)傳送到網(wǎng)絡(luò)主機(jī)服務(wù)器。由主機(jī)進(jìn)行保存，綜合，分析，判斷，從而進(jìn)行遠(yuǎn)程管理。
[0003]由于射頻功放的工作條件復(fù)雜，為保證射頻功放的產(chǎn)品質(zhì)量，必須對(duì)射頻功放進(jìn)行測(cè)試，以充分了解射頻功放產(chǎn)品的性能是否達(dá)到技術(shù)指標(biāo)。用于生產(chǎn)應(yīng)用的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，產(chǎn)生成百上千萬(wàn)的測(cè)試數(shù)據(jù)，為了能夠精確評(píng)估產(chǎn)品性能，先進(jìn)的測(cè)試系統(tǒng)需要對(duì)大量的數(shù)據(jù)進(jìn)行管理，包含合適的數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)，對(duì)測(cè)試工程提供精確的支持。
[0004]目前一般功放測(cè)試系統(tǒng)數(shù)據(jù)管理單一，存在明顯的缺陷和局限。主要表現(xiàn)在數(shù)據(jù)冗余度大，不同時(shí)間測(cè)試的測(cè)試數(shù)據(jù)重復(fù)存儲(chǔ)，在對(duì)功放重新測(cè)試時(shí)，目前為將所有測(cè)試項(xiàng)目重新測(cè)試，導(dǎo)致第一次測(cè)試合格的項(xiàng)目或者產(chǎn)品重復(fù)測(cè)試，浪費(fèi)了測(cè)試時(shí)間，使得測(cè)試效率降低。
【
【發(fā)明內(nèi)容】
】
[0005]基于此，有必要針對(duì)功放測(cè)試系統(tǒng)數(shù)據(jù)管理單一問(wèn)題，提供一種測(cè)試效率高數(shù)據(jù)冗余小的射頻功放的測(cè)試方法。
[0006]一種射頻功放的測(cè)試數(shù)據(jù)管理方法，包括步驟:建立與數(shù)據(jù)庫(kù)的連接，從數(shù)據(jù)庫(kù)載入射頻功放的產(chǎn)品信息和測(cè)試參數(shù)，所述測(cè)試參數(shù)包括測(cè)試項(xiàng)目、測(cè)試條件以及測(cè)試指標(biāo)；根據(jù)所述產(chǎn)品信息、測(cè)試項(xiàng)目以及測(cè)試條件對(duì)功放進(jìn)行測(cè)試，并獲取第一測(cè)試數(shù)據(jù)；通過(guò)根據(jù)測(cè)試指標(biāo)判斷第一測(cè)試數(shù)據(jù)是否合格形成第一測(cè)試結(jié)論，將產(chǎn)品信息、測(cè)試參數(shù)、第一測(cè)試數(shù)據(jù)和第一測(cè)試結(jié)論組建為第一測(cè)試數(shù)組，將第一測(cè)試數(shù)組存入臨時(shí)數(shù)據(jù)表中；根據(jù)所述第一測(cè)試數(shù)組中不合格的第一測(cè)試數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目和產(chǎn)品信息對(duì)相應(yīng)射頻功放重新測(cè)試，獲取第二測(cè)試數(shù)據(jù)和第二測(cè)試結(jié)論并組建第二測(cè)試數(shù)組；將第二測(cè)試數(shù)組中的第二測(cè)試數(shù)據(jù)和第二測(cè)試結(jié)論替換第一測(cè)試數(shù)組中相同產(chǎn)品信息和測(cè)試項(xiàng)目所對(duì)應(yīng)的第一測(cè)試數(shù)據(jù)和第一測(cè)試結(jié)論，將替換后的第一測(cè)試數(shù)組作為最終測(cè)試數(shù)組，并將該最終測(cè)試數(shù)組保存到最終數(shù)據(jù)表中。
[0007]相應(yīng)地，本發(fā)明還提供一種射頻功放的測(cè)試數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)，其特征在于，包括:連接模塊，用于建立與數(shù)據(jù)庫(kù)的連接，從數(shù)據(jù)庫(kù)中載入射頻功放的產(chǎn)品信息和測(cè)試參數(shù)，所述測(cè)試參數(shù)包括測(cè)試項(xiàng)目、測(cè)試條件以及測(cè)試指標(biāo)；測(cè)試模塊，用于根據(jù)所述產(chǎn)品信息、測(cè)試項(xiàng)目以及測(cè)試條件對(duì)功放進(jìn)行測(cè)試，并獲取第一測(cè)試數(shù)據(jù)；判斷模塊，用于通過(guò)根據(jù)測(cè)試指標(biāo)判斷第一測(cè)試數(shù)據(jù)是否合格形成第一測(cè)試結(jié)論，將產(chǎn)品信息、測(cè)試參數(shù)、第一測(cè)試數(shù)據(jù)和第一測(cè)試結(jié)論組建為第一測(cè)試數(shù)組，將第一測(cè)試數(shù)組存入臨時(shí)數(shù)據(jù)表中；重測(cè)模塊，用于根據(jù)所述第一測(cè)試數(shù)組中不合格的第一測(cè)試數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目和產(chǎn)品信息對(duì)相應(yīng)射頻功放重新測(cè)試，獲取第二測(cè)試數(shù)據(jù)和第二測(cè)試結(jié)論并組建第二測(cè)試數(shù)組；合并模塊，用于將第二測(cè)試數(shù)組中的第二測(cè)試數(shù)據(jù)和第二測(cè)試結(jié)論替換第一測(cè)試數(shù)組中相同產(chǎn)品信息和測(cè)試項(xiàng)目所對(duì)應(yīng)的第一測(cè)試數(shù)據(jù)和第一測(cè)試結(jié)論，將替換后的第一測(cè)試數(shù)組作為最終測(cè)試數(shù)組，并將該最終測(cè)試數(shù)組保存到最終數(shù)據(jù)表中。
[0008]本發(fā)明首先通過(guò)建立與數(shù)據(jù)庫(kù)的連接，載入射頻功放的產(chǎn)品信息和測(cè)試參數(shù)，然后根據(jù)所述產(chǎn)品信息和測(cè)試參數(shù)對(duì)功放進(jìn)行測(cè)試，并獲取第一測(cè)試數(shù)據(jù)，在獲取了第一測(cè)試數(shù)據(jù)之后，根據(jù)測(cè)試指標(biāo)判斷測(cè)試數(shù)據(jù)是否合格形成測(cè)試結(jié)論，篩選出測(cè)試結(jié)論中不合格的測(cè)試項(xiàng)目，然后對(duì)篩選出的測(cè)試項(xiàng)目重新測(cè)試，獲得第二測(cè)試結(jié)果，然后將第二測(cè)試結(jié)果合并入第一測(cè)試結(jié)果，代替第一測(cè)試結(jié)果中測(cè)試結(jié)論中不合格的測(cè)試項(xiàng)目，最后將替換后的第一測(cè)試數(shù)組作為最終測(cè)試數(shù)組并保存該最終測(cè)試數(shù)組。本發(fā)明在對(duì)射頻功放重新測(cè)試時(shí)，只測(cè)試不合格的測(cè)試項(xiàng)目，避免了對(duì)合格的測(cè)試項(xiàng)目重復(fù)測(cè)試的問(wèn)題，從而節(jié)約了測(cè)試時(shí)間，提高射頻功放的測(cè)試效率。另外，將重新測(cè)試獲取的第二測(cè)試數(shù)組合并入第一測(cè)試數(shù)組，而不是獨(dú)立存儲(chǔ)第二測(cè)試數(shù)組，避免了同一產(chǎn)品的測(cè)試數(shù)組重復(fù)存儲(chǔ)的問(wèn)題，從而降低測(cè)試結(jié)果的冗余。
【【附圖說(shuō)明】】
[0009]圖1為本發(fā)明一種射頻功放的測(cè)試數(shù)據(jù)管理方法流程圖；
[0010]圖2為本發(fā)明一種射頻功放的測(cè)試數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖。
【【具體實(shí)施方式】】
[0011]為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。
[0012]請(qǐng)參閱圖1，其是本發(fā)明一種射頻功放的測(cè)試數(shù)據(jù)管理方法流程圖。一種射頻功放的測(cè)試數(shù)據(jù)管理方法，包括步驟:
[0013]S101:建立與數(shù)據(jù)庫(kù)的連接，從數(shù)據(jù)庫(kù)載入射頻功放的產(chǎn)品信息和測(cè)試參數(shù)，所述測(cè)試參數(shù)包括測(cè)試項(xiàng)目、測(cè)試條件以及測(cè)試指標(biāo)；
[0014]獲取用戶輸入的服務(wù)器名、數(shù)據(jù)庫(kù)名、數(shù)據(jù)庫(kù)用戶名和密碼，只有在服務(wù)器名、數(shù)據(jù)庫(kù)名、數(shù)據(jù)庫(kù)用戶名和密碼都正確的情況下才可成功建立與數(shù)據(jù)庫(kù)的連接。
[0015]建立與數(shù)據(jù)庫(kù)的連接之后，從數(shù)據(jù)庫(kù)載入射頻功放的產(chǎn)品信息和測(cè)試參數(shù)。所述產(chǎn)品信息包括產(chǎn)品的模塊名稱，進(jìn)一步地，還可包括物料編碼，低頻頻點(diǎn)，中頻頻點(diǎn)，高頻頻點(diǎn)，額定功率，標(biāo)稱增益，信號(hào)穩(wěn)定時(shí)間，工作制式，載波類型，功放類型，功率讀取方式等。所述測(cè)試參數(shù)包括測(cè)試項(xiàng)目，測(cè)試條件，測(cè)試指標(biāo)等。
[0016]所述測(cè)試項(xiàng)目包括增益,增益平坦度,增益線形度，ALC(Auto Level Control,輸出電平控制)功率，ALC波動(dòng)，ALC功能，ACPR(Adjacent Carrier Power Rat1,鄰道泄漏功率抑制比)以及帶外雜散等。
[0017]S102:根據(jù)所述產(chǎn)品信息、測(cè)試項(xiàng)目以及測(cè)試條件對(duì)功放進(jìn)行測(cè)試，并獲取第一測(cè)試數(shù)據(jù)；
[0018]通過(guò)控制信號(hào)源產(chǎn)生GSM，WCDMA, LTE，CDMA2000等制式射頻信號(hào)，并將所述射頻信號(hào)輸入到射頻功放，并通過(guò)將射頻功放的輸出端連接到頻譜儀，功率計(jì)，網(wǎng)絡(luò)分析儀等測(cè)試儀器對(duì)射頻功放進(jìn)行不同測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試。
[0019]為了在測(cè)試過(guò)程中保護(hù)射頻功放和儀表設(shè)備，若射頻功放出現(xiàn)異常情況，根據(jù)異常的嚴(yán)重程度，作出不同的處理。如果射頻功放聯(lián)機(jī)異常，則會(huì)即時(shí)中止操作并關(guān)閉信號(hào)。如果測(cè)試儀器通信異常，則會(huì)終止測(cè)試。
[0020]每個(gè)測(cè)試項(xiàng)目完成測(cè)試后，獲取第一測(cè)試數(shù)據(jù)。
[0021]S103:通過(guò)根據(jù)測(cè)試指標(biāo)判斷第一測(cè)試數(shù)據(jù)是否合格形成第一測(cè)試結(jié)論，將產(chǎn)品信息、測(cè)試參數(shù)、第一測(cè)試數(shù)據(jù)和第一測(cè)試結(jié)論組建為第一測(cè)試數(shù)組，將第一測(cè)試數(shù)組存入臨時(shí)數(shù)據(jù)表中；
[0022]獲取第一測(cè)試數(shù)據(jù)之后，通過(guò)將第一測(cè)試數(shù)據(jù)和測(cè)試指標(biāo)對(duì)比，判斷第一測(cè)試數(shù)據(jù)是否滿足測(cè)試指標(biāo)，若第一測(cè)試數(shù)據(jù)滿足測(cè)試指標(biāo)則判定第一測(cè)試數(shù)據(jù)合格，若第一測(cè)試數(shù)據(jù)不滿足測(cè)試指標(biāo)則判定第一測(cè)試數(shù)據(jù)不合格，并依據(jù)判定結(jié)果形成第一測(cè)試結(jié)論。例如，當(dāng)?shù)谝粶y(cè)試數(shù)據(jù)合格時(shí)，則第一測(cè)試結(jié)論為“true”、“pass”或者其他特定的數(shù)值，當(dāng)?shù)谝粶y(cè)試數(shù)據(jù)不合格時(shí)，則第一測(cè)試結(jié)論為“false”或者其他特定的數(shù)值。
[0023]將產(chǎn)品信息、測(cè)試參數(shù)、第一測(cè)試數(shù)據(jù)和第一測(cè)試結(jié)論組建為第一測(cè)試數(shù)組，然后將所述第一測(cè)試數(shù)組存入臨時(shí)數(shù)據(jù)表中。
[0024]S104:根據(jù)所述第一測(cè)試數(shù)組中不合格的第一測(cè)試數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目和產(chǎn)品信息對(duì)相應(yīng)射頻功放重新測(cè)試，獲取第二測(cè)試數(shù)據(jù)和第二測(cè)試結(jié)論并組建第二測(cè)試數(shù)組；
[0025]從臨時(shí)數(shù)據(jù)表中篩選出第一測(cè)試結(jié)論為不合格的第一測(cè)試結(jié)果，獲取不合格的第一測(cè)試結(jié)果所對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目和產(chǎn)品信息，并根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目按照上述步驟對(duì)相應(yīng)射頻功放進(jìn)行重新測(cè)試。
[0026]重新測(cè)試完成后，獲取第二測(cè)試結(jié)果，根據(jù)測(cè)試指標(biāo)判斷第二測(cè)試數(shù)據(jù)是否合格以形成第二測(cè)試結(jié)論，將產(chǎn)品信息、測(cè)試參數(shù)、第二測(cè)試數(shù)據(jù)以及第二測(cè)試結(jié)論組建為第二測(cè)試數(shù)組。
[0027]S105:將第二測(cè)試數(shù)組中的第二測(cè)試數(shù)據(jù)和第二測(cè)試結(jié)論替換第