本發(fā)明涉及光纖通信領(lǐng)域，特別涉及一種光路控制設(shè)備及ont(opticalnetworkterminal，光網(wǎng)絡(luò)終端)測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

ont內(nèi)的bosa(bi-directionalopticalsub-assembly，光發(fā)射接收組件)激光器產(chǎn)品在生產(chǎn)過程中需要對bosa激光器的發(fā)射和接收功能的相關(guān)參數(shù)進行調(diào)試和校準(zhǔn)。

目前，發(fā)射和接收功能的相關(guān)參數(shù)的調(diào)試分別由兩個工序來完成，而且只能完成其中一個工序后，再流轉(zhuǎn)到下一個工序，而這個過程中需要重新對產(chǎn)品接入電源、網(wǎng)線、光纖等，這樣的方式增加作業(yè)動作的重復(fù)，降低測試相關(guān)設(shè)備的利用率，尤其降低貴重設(shè)備(如光寬帶示波器等)的利用率，導(dǎo)致生產(chǎn)線平衡管控失控，降低生產(chǎn)效率。

另外，利用現(xiàn)有的工序來進行測試時，一位測試人員一般只能操作一個工序的測試，因此測試多個ont時需要投入的測試人員多，導(dǎo)致浪費人力成本及測試成本，而且降低人均產(chǎn)出效率。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是為了克服現(xiàn)有技術(shù)中測試ont內(nèi)的bosa激光器的發(fā)射和接收功能時，工序繁瑣，導(dǎo)致降低測試相關(guān)設(shè)備的利用率及生產(chǎn)效率的缺陷，提供一種光路控制設(shè)備及ont測試系統(tǒng)。

本發(fā)明是通過下述技術(shù)方案來解決上述技術(shù)問題：

一種光路控制設(shè)備，其特點在于，所述光路控制設(shè)備包括控制模塊、第一光路矩陣組件、第二光路矩陣組件、第三光路矩陣組件、n個olt(opticallineterminal，光線路終端)接口、n個ont接口、n個光功率計接口及光寬帶示波器接口，n為正整數(shù)，所述控制模塊分別與所述第一光路矩陣組件、所述第二光路矩陣組件及所述第三光路矩陣組件電連接；

每一個olt接口分別用于連接至可編程光衰減器，所述可編程光衰減器連接至olt，每一個ont接口分別用于連接至一個ont，所述第一光路矩陣組件分別與n個olt接口及n個ont接口之間形成光路，一個olt輸出的光信號通過所述可編程光衰減器及所述第一光路矩陣組件傳輸至對應(yīng)的ont；

每一個光功率計接口分別用于連接至一個光功率計，所述光寬帶示波器接口用于連接至光寬帶示波器，所述第一光路矩陣組件與所述第二光路矩陣組件之間形成光路，所述第二光路矩陣組件分別與所述第三光路矩陣組件及n個光功率計接口之間形成光路，所述第三光路矩陣組件與光寬帶示波器接口之間形成光路，一個ont輸出的光信號通過所述第二光路矩陣組件傳輸至對應(yīng)的光功率計，并且還通過所述第二光路矩陣組件及所述第三光路矩陣組件傳輸至所述光寬帶示波器；

所述控制模塊用于分別切換所述第一光路矩陣組件、所述第二光路矩陣組件及所述第三光路矩陣組件的各個光路輸出。

較佳地，所述光路控制設(shè)備還包括外殼，所述控制模塊、第一光路矩陣組件、第二光路矩陣組件及第三光路矩陣組件分別設(shè)置于所述外殼內(nèi)，n個olt接口、n個ont接口、n個光功率計接口及所述光寬帶示波器接口分別設(shè)置于所述外殼上。

較佳地，所述外殼的材質(zhì)為合成石。

較佳地，所述外殼上開設(shè)有凹槽，n個olt接口、n個ont接口、n個光功率計接口及所述光寬帶示波器接口分別設(shè)置于所述外殼上的凹槽內(nèi)。

較佳地，每一個olt接口、每一個ont接口、每一個光功率計接口及所述光寬帶示波器接口均采用光纖法蘭盤。

較佳地，所述光路控制設(shè)備還包括電源模塊、電流監(jiān)控模塊及電壓監(jiān)控模塊，所述電源模塊與所述控制模塊電連接，所述電流監(jiān)控模塊及所述電壓監(jiān)控模塊分別電連接至所述電源模塊與所述控制模塊之間，所述電源模塊用于向所述光路控制設(shè)備提供電源。

較佳地，所述光路控制設(shè)備還包括顯示模塊，所述顯示模塊設(shè)置于所述外殼上，所述顯示模塊與所述控制模塊電連接。

較佳地，所述控制模塊包括mcu(microcontrollerunit，微控制單元)；和/或，

所述控制模塊還用于通過rs232接口(一種異步傳輸標(biāo)準(zhǔn)接口)與電腦電連接。

較佳地，n低于或等于24。

一種ont測試系統(tǒng)，其特點在于，所述ont測試系統(tǒng)包括電腦、olt、可編程光衰減器、n個ont、n個光功率計、光寬帶示波器及如上述的光路控制設(shè)備；

所述電腦與所述控制模塊電連接，所述olt與所述可編程光衰減器連接，所述可編程光衰減器分別與n個olt接口連接，每一個ont分別與一個ont接口連接，每一個光功率計分別與一個光功率計接口連接，所述光寬帶示波器與所述光寬帶示波器接口連接。

在符合本領(lǐng)域常識的基礎(chǔ)上，上述各優(yōu)選條件，可任意組合，即得本發(fā)明各較佳實例。

本發(fā)明的積極進步效果在于：

本發(fā)明將測試ont內(nèi)的bosa激光器的發(fā)射和接收功能的兩個工序有效合并在一個工序，簡化了作業(yè)動作，從而提高了測試相關(guān)設(shè)備的利用率，尤其是提高了貴重設(shè)備的利用率，減少對貴重設(shè)備投入成本，提高了生產(chǎn)效率，并且實現(xiàn)一位測試人員來控制及測試多個ont，從而節(jié)省了人力成本及測試成本，提高了人均產(chǎn)出效率，同時為工廠實現(xiàn)自動化測試鋪墊基礎(chǔ)。

附圖說明

圖1為本發(fā)明較佳實施例的光路控制設(shè)備的立體圖。

圖2為本發(fā)明較佳實施例的光路控制設(shè)備的主視圖。

圖3為本發(fā)明較佳實施例的光路控制設(shè)備內(nèi)部的模塊示意圖。

圖4為本發(fā)明較佳實施例的ont測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式

下面通過實施例的方式進一步說明本發(fā)明，但并不因此將本發(fā)明限制在所述的實施例范圍之中。

如圖1至圖3所示，本實施例提供的光路控制設(shè)備包括外殼101、電源模塊201、電壓監(jiān)控模塊202、電流監(jiān)控模塊203、控制模塊204、顯示模塊104、第一光路矩陣組件206、第二光路矩陣組件207、第三光路矩陣組件208、8個olt接口209、8個ont接口210、8個光功率計接口211及光寬帶示波器接口212，電源模塊、電壓監(jiān)控模塊202、電流監(jiān)控模塊203、控制模塊204、第一光路矩陣組件206、第二光路矩陣組件207及第三光路矩陣組件208分別設(shè)置于外殼101內(nèi)，在本實施例中，并不具體限定各個接口的數(shù)量，均可根據(jù)實際情況來進行調(diào)整，但是考慮到各個部件的承載量及保證所述光路控制設(shè)備的正常運作，每種類型的接口的數(shù)量不宜超過24個。

具體參考圖1及圖2所示，外殼101上開設(shè)有凹槽102，8個olt接口、8個ont接口、8個光功率計接口及光寬帶示波器接口分別設(shè)置于外殼101上的凹槽102內(nèi)，從而有效地防止了光纖連接器碰撞，每一個olt接口、每一個ont接口、每一個光功率計接口及所述光寬帶示波器接口均采用光纖法蘭盤103，在圖1及圖2中并未具體標(biāo)出各類接口，均可根據(jù)用戶的實際情況來設(shè)計排列，顯示模塊104設(shè)置于外殼101上除凹槽102之外的區(qū)域上，顯示模塊104用于實時顯示所述光路控制設(shè)備的運作狀況，如供電狀態(tài)、光路輸出切換狀態(tài)等，均可根據(jù)用戶實際情況來定制顯示，在本實施例中，外殼101的材質(zhì)為合成石，當(dāng)然并不具體限定外殼的材質(zhì)，并且外殼通過螺絲來穩(wěn)固結(jié)構(gòu)，防止松懈。

具體參考圖3所示，圖3中通過實線來示出電路，通過虛線來示出光路，電源模塊201與控制模塊204電連接，電流監(jiān)控模塊202及電壓監(jiān)控模塊203分別電連接至電源模塊201與控制模塊204之間，電源模塊201用于向所述光路控制設(shè)備提供電源，電流監(jiān)控模塊202及電壓監(jiān)控模塊203分別用于監(jiān)控電源模塊的電壓及電流，從而保證提供穩(wěn)定的電源，控制模塊204分別與顯示模塊104、第一光路矩陣組件206、第二光路矩陣組件207及第三光路矩陣組件208電連接，控制模塊204包括mcu，控制模塊204用于通過rs232接口與電腦電連接，控制模塊204還用于分別切換第一光路矩陣組件206、第二光路矩陣組件207及第三光路矩陣組件208的各個光路輸出，第一光路矩陣組件、第二光路矩陣組件、第三光路矩陣組件均采用ttl(timetolive，生存時間)電平控制。

每一個olt接口209分別用于連接至可編程光衰減器，所述可編程光衰減器連接至olt，每一個ont接口210分別用于連接至一個ont，第一光路矩陣組件分別與8個olt接口及8個ont接口之間形成光路，一個olt輸出的光信號通過所述可編程光衰減器及第一光路矩陣組件傳輸至對應(yīng)的ont。

每一個光功率計接口211分別用于連接至一個光功率計，光寬帶示波器接口212用于連接至光寬帶示波器，第一光路矩陣組件與第二光路矩陣組件之間形成光路，第二光路矩陣組件分別與第三光路矩陣組件及8個光功率計接口之間形成光路，第三光路矩陣組件與光寬帶示波器接口之間形成光路，一個ont輸出的光信號通過第二光路矩陣組件傳輸至對應(yīng)的光功率計，并且還通過第二光路矩陣組件及第三光路矩陣組件傳輸至所述光寬帶示波器。

如圖4所示，本實施例還提供一種ont測試系統(tǒng)，所述ont測試系統(tǒng)包括電腦304、olt303、可編程光衰減器302、8個ont305、8個光功率計306、光寬帶示波器307及如上述的光路控制設(shè)備301，電腦304通過rs232接口與控制模塊204電連接，olt303與可編程光衰減器302連接，可編程光衰減器302分別與8個olt接口209連接，每一個ont305分別與一個ont接口210連接，每一個光功率計306分別與一個光功率計接口211連接，光寬帶示波器307與光寬帶示波器接口212連接，在圖4中，僅示意性的示出一個olt接口209、一個ont305、一個ont接口210、一個光功率計306及一個光功率計接口211。

下面具體說明所述ont測試系統(tǒng)的測試過程。

每一個ont的測試過程均相似，因此舉例說明其中一個ont的測試過程。當(dāng)調(diào)試ont內(nèi)的bosa激光器的接收功能的相關(guān)參數(shù)時，olt輸出的第一光信號通過可編程光衰減器進行衰減后傳輸至olt接口，所述第一光信號再通過olt接口與第一光路矩陣組件之間的光路傳輸至第一光路矩陣組件，第一光路矩陣組件將所述第一光信號通過第一光路矩陣組件與對應(yīng)的ont接口之間的光路傳輸至ont接口，最終傳輸至對應(yīng)的ont，從而完成對接收功能的相應(yīng)的調(diào)試。當(dāng)調(diào)試ont內(nèi)的bosa激光器的發(fā)射功能的相關(guān)參數(shù)時，ont輸出的第二光信號(即bosa激光器發(fā)射的光)傳輸至ont接口，再通過ont接口與第一光路矩陣組件之間的光路傳輸至第一光路矩陣組件，第一光路矩陣組件將所述第二光信號傳輸至第二光路矩陣組件，第二光路矩陣組件將所述第二光信號分別傳輸至第三光路矩陣組件及對應(yīng)的光功率計接口，光功率計接口將接收到的所述第二光信號最終傳輸至對應(yīng)的光功率計，第三光路矩陣組件還將接收到的所述第二光信號傳輸至光寬帶示波器接口，光寬帶示波器接口將接收到的所述第二光信號最終傳輸至光寬帶示波器，從而完成對發(fā)射功能的相應(yīng)的調(diào)試。測試人員可通過電腦對控制模塊發(fā)送控制指令，控制模塊接收控制指令后完成相應(yīng)的功能，例如，切換第一光路矩陣組件、第二光路矩陣組件及第三光路矩陣組件的各個光路輸出，從而實現(xiàn)一位測試人員對多個ont的測試。

在本實施例中，將測試ont內(nèi)的bosa激光器的發(fā)射和接收功能的兩個工序有效合并在一個工序，簡化了作業(yè)動作，從而提高了測試相關(guān)設(shè)備的利用率，尤其是提高了貴重設(shè)備的利用率，減少對貴重設(shè)備投入成本，提高了生產(chǎn)效率，并且實現(xiàn)一位測試人員來控制及測試多個ont，從而節(jié)省了人力成本及測試成本，提高了人均產(chǎn)出效率，同時為工廠實現(xiàn)自動化測試鋪墊基礎(chǔ)。

雖然以上描述了本發(fā)明的具體實施方式，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，這僅是舉例說明，本發(fā)明的保護范圍是由所附權(quán)利要求書限定的。本領(lǐng)域的技術(shù)人員在不背離本發(fā)明的原理和實質(zhì)的前提下，可以對這些實施方式做出多種變更或修改，但這些變更和修改均落入本發(fā)明的保護范圍。