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帶有混合CDS的CMOS圖像傳感器列級ADC的制作方法

文檔序號:12810131閱讀:1917來源:國知局
帶有混合CDS的CMOS圖像傳感器列級ADC的制作方法與工藝

本發(fā)明涉及微電子學的模擬集成電路設計領域,尤其涉及一種用于cmos圖像傳感器中混合cds的列級adc。



背景技術:

cmos圖像傳感器已經(jīng)被廣泛應用到諸如數(shù)字照相機,汽車安全記錄儀以及醫(yī)療設備等應用中。傳統(tǒng)cis結構示意圖如圖1,通常包括像素,相關雙采樣(cds),模數(shù)轉換器(adc)和一些數(shù)字處理模塊等等。在這些模塊中,adc是將模擬的像素電壓值轉換為數(shù)字值的重要模塊。從adc的分類來看,存在芯片級adc,列級adc,像素級adc。通常,綜合速度,芯片面積以及功耗的多個方面考慮,列級adc被廣泛應用。但是,由于每列adc不可能完全一致,會產(chǎn)生很大的列級固定模式噪聲(fpn)。因此。模擬cds電路通常用于消除這一噪聲。模擬cds電路雖然結構簡單,速度快,但是由于電容的不匹配,時鐘饋通等因素卻很難提高它的精度。因此,可以采用將模擬cds和數(shù)字cds結合的方法來有效的消除這一誤差,從而提高其精度。

但是,在采用數(shù)字cds的adc中,由于要完成對像素的復位信號與曝光信號的兩次量化,再將量化的數(shù)字碼值做差,來消除列級的一些非理想因素,這樣會大大降低adc的量化速度。因此,為了迎合cmos圖像傳感器中高的幀頻的需要,本文提出了一種采用將數(shù)字/模擬混合cds(h-cds)的量化方式與兩步單斜adc相結合的方法。



技術實現(xiàn)要素:

為克服現(xiàn)有技術的不足,本發(fā)明旨在提出一種采用h-cds的兩步單斜adc的實現(xiàn)方式,滿足cmos圖像傳感器對讀出電路的高速度,低噪聲的要求。本發(fā)明采用的技術方案是,帶有混合cds的cmos圖像傳感器列級adc,包括比較器,鎖存器,計數(shù)器,電容c1、c2、c3和開關sadc1、sadc2、s1、s2和sf,像素輸出通過開關s1連接到電容c1、電容c3的上極板,電容c3的下極板接地,電容c1的下極板連接到比較器的同相輸入端;并且,比較器的同相輸入端通過開關s2與比較器的輸出端相連接,比較器的反相輸入端通過開關sf連接到斜坡信號,同時,反相輸入端又通過電容c2和開關sadc1連接到參考電壓,電容c2的上極板與比較器的反相輸入端相連,下極板通過開關sadc2連接到斜坡信號,比較器的輸出端連接到鎖存器的輸入端,鎖存器的輸出端連接到計數(shù)器的輸入端。

在一個具體實例中:

首先,像素輸出復位信號,開關s1和s2閉合,開關sadc1,sadc2,以及開關sf斷開,比較器進行自歸零操作;然后,對像素復位信號的粗量化階段開始:開關s1,s2斷開,開關sadc1,sf閉合,開關sadc2斷開,將斜坡發(fā)生器輸出的粗量化斜坡信號連接到比較器的同相輸入端,同時,也是電容c2的上極板,參考電壓vramp連接到電容c2的下極板;然后,斜坡信號電壓值由vramp開始下降,此時,計數(shù)器高3位開始計數(shù),然后,斜坡信號一直下降到參考電壓vrefl1,在此過程中,當粗量化斜坡電壓值下降到小于像素復位信號電壓值時,比較器輸出變?yōu)檫壿嫷碗娖?,此時,開關sf斷開,并且,計數(shù)器高3位停止計數(shù),至此,對像素復位信號的粗量化階段結束;然后,對像素復位信號的細量化階段開始:開關s1,s2,sadc1,sf斷開,開關sadc2閉合,將斜坡發(fā)生器輸出的細量化斜坡信號連接到電容c2的下極板,c2的上極板連接到比較器的同相輸入端,然后,細量化斜坡信號由vramp+δc開始下降,此時,計數(shù)器的低7位開始計數(shù).然后,細量化斜坡信號一直下降到參考電壓vramp,在此過程中,當細量化斜坡電壓值下降到小于像素復位信號電壓值時,計數(shù)器的低7位停止計數(shù),至此,完成了對像素復位信號的細量化操作,對像素復位信號進行量化過程中,計數(shù)器進行向下計數(shù)操作,然后,開始對像素曝光信號的量化操作:關s1,s2斷開,開關sadc1,sf閉合,開關sadc2斷開,將斜坡發(fā)生器輸出的粗量化斜坡信號連接到比較器的同相輸入端,同時,也是電容c2的上極板,參考電壓vramp連接到電容c2的下極板,然后,斜坡信號電壓值由vramp開始下降,此時,計數(shù)器高3位開始計數(shù),然后,斜坡信號一直下降到參考電壓vrefl2,在此過程中,當粗量化斜坡電壓值下降到小于像素曝光信號電壓值時,比較器輸出變?yōu)檫壿嫷碗娖剑淮藭r,開關sf斷開,并且,計數(shù)器高3位停止計數(shù),至此,對像素曝光信號的粗量化階段結束,然后,對像素曝光信號的細量化階段開始:開關s1,s2,sadc1,sf斷開,開關sadc2閉合,將斜坡發(fā)生器輸出的細量化斜坡信號連接到電容c2的下極板,c2的上極板連接到比較器的同相輸入端,然后,細量化斜坡信號由vramp+δc開始下降,此時,計數(shù)器的低7位開始計數(shù).然后,細量化斜坡信號一直下降到參考電壓vramp,在此過程中,當細量化斜坡電壓值下降到小于像素曝光信號電壓值時,計數(shù)器的低7位停止計數(shù),至此,完成了對像素曝光信號的細量化操作,對像素曝光信號進行量化過程中,計數(shù)器進行向上計數(shù)操作,至此,就完成了對像素曝光信號的細量化操作,此時,計數(shù)器的數(shù)字碼值就是對像素曝光信號和像素復位信號兩次量化的差值,至此,完成了數(shù)字cds與模擬cds的操作,以及模擬到數(shù)字的轉換。

本發(fā)明的特點及有益效果是:

通過將h-cds量化方法與兩步單斜adc相結合,不僅有效的提高了adc的量化速度,而且,極大地減弱了列級fpn的影響,滿足了cmos圖像傳感器中對讀出電路的高速,低噪聲的要求。

附圖說明:

圖1傳統(tǒng)cmos圖像傳感器結構示意圖。

圖2采用h-cds列級adc電路結構示意圖。

圖3采用h-cds兩步單斜adc工作原理示意圖。

具體實施方式

本發(fā)明的技術方案是,采用h-cds的兩步單斜列級adc電路結構框圖如圖2。它包括了比較器,鎖存器,計數(shù)器,電容c1,c2,c3和開關sadc1,sadc2,s1,s2,和sf。像素輸出通過開關s1連接到電容c1,c3的上極板。電容c3的下極板接地,電容c1的下極板連接到比較器的同相輸入端。并且,比較器的同相輸入端通過開關s2與比較器的輸出端相連接。比較器的反相輸入端通過開關sf連接到斜坡信號,同時,反相輸入端又通過電容c2和開關sadc1連接到參考電壓。電容c2的上極板與比較器的反相輸入端相連,下極板通過開關sadc2連接到斜坡信號。比較器的輸出端連接到鎖存器的輸入端,鎖存器的輸出端連接到計數(shù)器的輸入端。其工作原理圖和電路時序圖如圖3。其工作方式如下:首先,像素輸出復位信號,開關s1和s2閉合,開關sadc1,sadc2,以及開關sf斷開,比較器進行自歸零操作。然后,對像素復位信號的粗量化階段開始:開關s1,s2斷開,開關sadc1,sf閉合,開關sadc2斷開,將斜坡發(fā)生器輸出的粗量化斜坡信號連接到比較器的同相輸入端,同時,也是電容c2的上極板。參考電壓vramp連接到電容c2的下極板。然后,斜坡信號電壓值由vramp開始下降,此時,計數(shù)器高3位開始計數(shù)。然后,斜坡信號一直下降到參考電壓vrefl1。在此過程中,當粗量化斜坡電壓值下降到小于像素復位信號電壓值時,比較器輸出變?yōu)檫壿嫷碗娖健4藭r,開關sf斷開,并且,計數(shù)器高3位停止計數(shù)。至此,對像素復位信號的粗量化階段結束。然后,對像素復位信號的細量化階段開始:開關s1,s2,sadc1,sf斷開,開關sadc2閉合。將斜坡發(fā)生器輸出的細量化斜坡信號連接到電容c2的下極板,c2的上極板連接到比較器的同相輸入端。然后,細量化斜坡信號由vramp+δc開始下降,此時,計數(shù)器的低7位開始計數(shù).然后,細量化斜坡信號一直下降到參考電壓vramp。在此過程中,當細量化斜坡電壓值下降到小于像素復位信號電壓值時,計數(shù)器的低7位停止計數(shù)。至此,完成了對像素復位信號的細量化操作。對像素復位信號進行量化過程中,計數(shù)器進行向下計數(shù)操作。然后,開始對像素曝光信號的量化操作:關s1,s2斷開,開關sadc1,sf閉合,開關sadc2斷開,將斜坡發(fā)生器輸出的粗量化斜坡信號連接到比較器的同相輸入端,同時,也是電容c2的上極板。參考電壓vramp連接到電容c2的下極板。然后,斜坡信號電壓值由vramp開始下降,此時,計數(shù)器高3位開始計數(shù)。然后,斜坡信號一直下降到參考電壓vrefl2。在此過程中,當粗量化斜坡電壓值下降到小于像素曝光信號電壓值時,比較器輸出變?yōu)檫壿嫷碗娖?。此時,開關sf斷開,并且,計數(shù)器高3位停止計數(shù)。至此,對像素曝光信號的粗量化階段結束。然后,對像素曝光信號的細量化階段開始:開關s1,s2,sadc1,sf斷開,開關sadc2閉合。將斜坡發(fā)生器輸出的細量化斜坡信號連接到電容c2的下極板,c2的上極板連接到比較器的同相輸入端。然后,細量化斜坡信號由vramp+δc開始下降,此時,計數(shù)器的低7位開始計數(shù).然后,細量化斜坡信號一直下降到參考電壓vramp。在此過程中,當細量化斜坡電壓值下降到小于像素曝光信號電壓值時,計數(shù)器的低7位停止計數(shù)。至此,完成了對像素曝光信號的細量化操作。對像素曝光信號進行量化過程中,計數(shù)器進行向上計數(shù)操作。至此,就完成了對像素曝光信號的細量化操作。此時,計數(shù)器的數(shù)字碼值就是對像素曝光信號和像素復位信號兩次量化的差值,至此,完成了數(shù)字cds與模擬cds的操作,以及模擬到數(shù)字的轉換。

圖2是列級adc的結構示意圖。它包括一個差分輸入,單端輸出的比較器,鎖存器和計數(shù)器。比較器的反相輸入端與像素輸出信號相連,比較器的同相輸入端與斜坡信號發(fā)生器的輸出端相連,并且,斜坡信號發(fā)生器由每列adc共享。在對像素復位信號進行粗量化操作時,斜坡發(fā)生器的輸出電壓范圍是由vramp至vrefl1,其中共經(jīng)歷4個臺階,每個臺階高度為δc1=(vramp-vrefl1)/4,此時,計數(shù)器的高3位實行向下計數(shù)操作。在對像素曝光信號進行細量化操作時,斜坡發(fā)生器的輸出電壓范圍是由vramp+δc1至vramp,其中,共經(jīng)歷128個臺階,每個臺階高度為δc1/128。此時,計數(shù)器的低7位實行向下計數(shù)操作。在對像素曝光信號進行粗量化操作時,斜坡發(fā)生器的輸出電壓范圍是由vramp至vrefl2,其中共經(jīng)歷8個臺階,每個臺階高度為δc2=(vramp-vrefl1)/8。此時,計數(shù)器的高3位實行向上計數(shù)操作。在對像素曝光信號進行細量化操作時,斜坡發(fā)生器的輸出電壓范圍是由vramp+δc2至vramp,其中,共經(jīng)歷128個臺階,每個臺階高度為δc2/128。此時,計數(shù)器的低7位實行向上計數(shù)操作。其中,δc1=δc2。

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