本發(fā)明涉及IEC61850通信協(xié)議測(cè)試領(lǐng)域，具體地，涉及基于IEC61850標(biāo)準(zhǔn)的智能變電站IED設(shè)備一致性測(cè)試。

背景技術(shù)：

IEC 61850標(biāo)準(zhǔn)是電力系統(tǒng)自動(dòng)化領(lǐng)域的全球通用標(biāo)準(zhǔn)。通過標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)現(xiàn)，實(shí)現(xiàn)了智能變電站的工程運(yùn)作標(biāo)準(zhǔn)化，使得智能變電站的工程實(shí)施變得規(guī)范、統(tǒng)一和透明。不論是哪個(gè)系統(tǒng)集成商建立的智能變電站工程都可以通過SCD文件了解整個(gè)變電站的結(jié)構(gòu)和布局，對(duì)于智能化變電站發(fā)展具有不可替代的作用。

但是在實(shí)際工程中，由于各個(gè)廠家對(duì)協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)理解的不一致，實(shí)現(xiàn)方法不同，導(dǎo)致出廠設(shè)備并不能完全符合IEC 61850標(biāo)準(zhǔn)，從而給實(shí)際的互操作性帶來了問題。因此，IEC 61850的一致性測(cè)試是確保同一廠家或不同廠家的IED之間能夠相互操作的關(guān)鍵，也是IED開發(fā)過程中的重要環(huán)節(jié)，而IEC 61850的第10部分IEC 61850-10也對(duì)一致性標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)提出了嚴(yán)格的測(cè)試要求。根據(jù)IEC 61850-10的規(guī)定，一致性測(cè)試主要包括數(shù)據(jù)模型測(cè)試、配置文件測(cè)試和抽象通信服務(wù)接口(abstract communication service interface,ACSI)模型和服務(wù)映射測(cè)試等。

目前，國內(nèi)進(jìn)行IEC 61850一致性測(cè)試的第三方機(jī)構(gòu)主要有開普實(shí)驗(yàn)室(國家繼電保護(hù)及自動(dòng)化質(zhì)檢中心)和荷蘭KEMA公司。其中KEMA公司針對(duì)IED通信分析測(cè)試開發(fā)的IEC 61850一致性測(cè)試平臺(tái)是全球公認(rèn)的權(quán)威測(cè)試工具，該軟件基于IEC61850-10編寫用例，所有用例采用VB編寫并完全開源，用戶可根據(jù)自己的需求進(jìn)行修改實(shí)現(xiàn)二次開發(fā)的目的，但目前還存在以下問題：(1)測(cè)試用例不包含硬件設(shè)備的調(diào)用接口，自動(dòng)化程度不足，被測(cè)智能設(shè)備和測(cè)試軟件系統(tǒng)之間沒有形成完全閉環(huán)，測(cè)試過程中需要測(cè)試人員手動(dòng)變化多種物理量，影響了測(cè)試的效率。(2)目前該軟件采用的PC機(jī)共端口模擬MMS和GOOSE服務(wù)，不符合國內(nèi)MMS和GOOSE分層分板卡的架構(gòu)。(3)該軟件涵蓋大部分服務(wù)的測(cè)試用例，尚不能支持日志、SV和國內(nèi)規(guī)范。

綜上所述，本申請(qǐng)發(fā)明人在實(shí)現(xiàn)本申請(qǐng)發(fā)明技術(shù)方案的過程中，發(fā)現(xiàn)上述技術(shù)至少存在如下技術(shù)問題：

在現(xiàn)有技術(shù)中，現(xiàn)有的IEC 61850一致性測(cè)試系統(tǒng)存在被測(cè)設(shè)備和測(cè)試系統(tǒng)之間沒有形成完全閉環(huán)，測(cè)試自動(dòng)化水平和效率較低的技術(shù)問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明提供了一種IEC61850通信協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)一致性測(cè)試系統(tǒng)，解決了現(xiàn)有的IEC 61850一致性測(cè)試系統(tǒng)存在被測(cè)設(shè)備和測(cè)試系統(tǒng)之間沒有形成完全閉環(huán)，測(cè)試自動(dòng)化水平和效率較低的技術(shù)問題，實(shí)現(xiàn)了被測(cè)設(shè)備和測(cè)試系統(tǒng)之間的閉環(huán)測(cè)試，測(cè)試自動(dòng)化水平和效率較高的技術(shù)效果。

針對(duì)上述問題，在綜合已有一致性測(cè)試技術(shù)的基礎(chǔ)上，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N兼顧功能驗(yàn)證和協(xié)議測(cè)試，并且可由用戶自行根據(jù)實(shí)際需要進(jìn)行自定義測(cè)試操作的IEC 61850一致性閉環(huán)測(cè)試系統(tǒng)將會(huì)極大的提升智能變電站IEC 61850測(cè)試的效率及可靠性。該測(cè)試系統(tǒng)的軟件測(cè)試平臺(tái)執(zhí)行于PC系統(tǒng)，由于PC的實(shí)時(shí)性和處理能力限制，無法直接與被測(cè)設(shè)備通信，因而需要引入配套的一致性測(cè)試硬件平臺(tái)，一致性測(cè)試硬件平臺(tái)主要用于與被測(cè)設(shè)備進(jìn)行GOOSE和SV報(bào)文通信，并協(xié)助一致性測(cè)試軟件平臺(tái)進(jìn)行某些測(cè)試項(xiàng)目必須的激勵(lì)輸出。

本申請(qǐng)?zhí)峁┮环NIEC 61850標(biāo)準(zhǔn)一致性測(cè)試系統(tǒng)，對(duì)被測(cè)裝置的通信一致性以及測(cè)試儀自身的配置信息的一致性進(jìn)行檢查。測(cè)試系統(tǒng)可以兼顧功能驗(yàn)證和協(xié)議測(cè)試，并可由用戶根據(jù)需要自定義測(cè)試操作。

本申請(qǐng)中的測(cè)試系統(tǒng)包含PC端的一致性軟件測(cè)試平臺(tái)和一致性硬件測(cè)試平臺(tái)兩部分。執(zhí)行測(cè)試時(shí)，軟件測(cè)試平臺(tái)執(zhí)行算例，通過以太網(wǎng)絡(luò)將可直接完成部分送至受測(cè)IED，將需要輔助進(jìn)行的算例部分用內(nèi)部協(xié)議送至硬件測(cè)試平臺(tái)通過解析SCD文件，進(jìn)行SCD文件的解析拆分后送至受測(cè)IED。受測(cè)IED的GOOSE和SV信息通過以太網(wǎng)絡(luò)模塊進(jìn)入硬件測(cè)試平臺(tái)，硬件測(cè)試平臺(tái)運(yùn)行測(cè)試邏輯程序后通過以太網(wǎng)絡(luò)將結(jié)果輸出至軟件平臺(tái)，從而完成一次典型的一致性閉環(huán)測(cè)試。一致性測(cè)試系統(tǒng)的閉環(huán)框圖如圖1所示。

PC端一致性軟件測(cè)試平臺(tái)搭建在Windows操作系統(tǒng)上，由Qt環(huán)境、測(cè)試用例庫、Python腳本、IEC 61850通信庫、內(nèi)部通信庫組成。采用Qt、Python語言、動(dòng)態(tài)庫DLL等技術(shù)來完成相關(guān)一致性測(cè)試任務(wù)。Python腳本是一種面向?qū)ο蟆⒔忉屝陀?jì)算機(jī)程序設(shè)計(jì)語言，用于完成對(duì)測(cè)試用例的規(guī)則編寫。Qt是跨平臺(tái)的C++圖形用戶界面應(yīng)用程序框架，實(shí)現(xiàn)Python腳本的編輯和執(zhí)行。測(cè)試用例涵蓋連接服務(wù)、控制服務(wù)、定值服務(wù)、報(bào)告服務(wù)、文件服務(wù)、GOOSE服務(wù)等，并首次引入了SV發(fā)布和訂閱的測(cè)試用例，填補(bǔ)了業(yè)內(nèi)相關(guān)應(yīng)用的空白。PC端軟件測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)如圖2所示。

軟件測(cè)試平臺(tái)主要實(shí)現(xiàn)以下的功能：

(1)通信仿真器。軟件平臺(tái)可模擬IEC61850客戶端向被測(cè)設(shè)備發(fā)送各種類型的請(qǐng)求報(bào)文，測(cè)試過程中，可根據(jù)要求選擇執(zhí)行部分或全部測(cè)試用例，記錄和處理被測(cè)設(shè)備的反饋信息，輸出透明測(cè)試信息，自動(dòng)根據(jù)預(yù)定邏輯給出結(jié)果分析。

(2)與硬件平臺(tái)交互。軟件平臺(tái)可通過內(nèi)部通信協(xié)議與硬件平臺(tái)通信，可控制硬件平臺(tái)，完成GOOSE、SV、硬接點(diǎn)的輸入輸出；同時(shí)支持解析硬件平臺(tái)推送的GOOSE、SV判斷結(jié)果。

(3)MMS報(bào)文獲取分析。軟件平臺(tái)通過調(diào)用免費(fèi)的WinPcap的編程接口，可實(shí)現(xiàn)測(cè)試用例在開始執(zhí)行時(shí)啟動(dòng)捕獲，結(jié)束執(zhí)行時(shí)停止捕獲，從而獲取整個(gè)執(zhí)行過程的MMS報(bào)文。報(bào)文可存儲(chǔ)為pcap格式，支持Wireshark等網(wǎng)絡(luò)分析工具進(jìn)行解析分析。

硬件測(cè)試平臺(tái)采用一種繼電保護(hù)測(cè)試儀，主要用于與被測(cè)設(shè)備進(jìn)行GOOSE和SV報(bào)文通信，并協(xié)助一致性測(cè)試軟件平臺(tái)進(jìn)行某些測(cè)試項(xiàng)目必須的激勵(lì)輸出，并將受測(cè)設(shè)備的相關(guān)輸出信息回送一致性測(cè)試軟件平臺(tái)，從而對(duì)智能變電站進(jìn)行可靠、高效率的IEC 61850一致性測(cè)試。

硬件測(cè)試平臺(tái)包括中央處理單元、對(duì)時(shí)單元、光輸出/輸入單元和模擬輸出/輸入單元；

所述中央處理單元主要負(fù)責(zé)模擬部分輸入輸出、工控機(jī)通訊、光數(shù)字部分輸入輸出和對(duì)時(shí)；

所述對(duì)時(shí)單元用于矯正連接的不同設(shè)備的測(cè)試時(shí)間，保證測(cè)試同步；

所述光輸出/輸入單元用于解析被測(cè)設(shè)備模型文件，收發(fā)被測(cè)設(shè)備的GOOSE、SV報(bào)文，可靈活方便地選用不同型號(hào)接口；

所述模擬輸出/輸入單元實(shí)現(xiàn)小電壓電流輸出，以及8對(duì)開入量和8對(duì)開出量，負(fù)責(zé)從開入開出轉(zhuǎn)接模塊接收遙信量信息和開入開出信息，運(yùn)行運(yùn)行外部軟件平臺(tái)推送的測(cè)試算例邏輯，并將測(cè)試結(jié)果回送至外部軟件平臺(tái)。

更進(jìn)一步的技術(shù)方案是，所述中央處理單元主要由DSP+FPGA和ADSP+FGPA兩個(gè)處理模塊構(gòu)成，其中所述DSP+FPGA模塊包括DSP處理器TMS320F2812和FPGA陣列XC3S500E，主要負(fù)責(zé)模擬部分輸入輸出、給ADSP+FPGA模塊發(fā)工作指令以及和工控機(jī)通訊；ADSP+FPGA模塊包括DSP處理器BF518和FPGA陣列XC3S500E，主要負(fù)責(zé)光數(shù)字部分輸入輸出和對(duì)時(shí)，兩個(gè)模塊的通訊通過雙口RAMCY7C025AV實(shí)現(xiàn)。

更進(jìn)一步的技術(shù)方案是，所述對(duì)時(shí)單元主要由GPS模塊、IRIG-B碼IEEE1588模塊和DSP處理器BF518構(gòu)成，其中所述GPS模塊是通過串口通訊連接在DSP處理器TMS320F2812和IRIG-B碼IEEE1588模塊之間，所述DSP處理器BF518通過雙口RAM CY7C025AV與DSP處理器TMS320F2812相連接，所述IRIG-B碼IEEE1588模塊和DSP處理器BF518均與FPGA陣列XC3S500E連接。所述IRIG-B碼對(duì)時(shí)模塊的時(shí)間解析由FPGA陣列XC3S500E內(nèi)部處理產(chǎn)生時(shí)間信息，所述IRIG-B碼IEEE1588模塊通過以太網(wǎng)與DSP處理器BF518連接,由DSP處理器BF518獲取時(shí)間信息。

更進(jìn)一步的技術(shù)方案是，所述光輸出/輸入單元主要由均與FT3、光纖以太網(wǎng)集成管理模塊相連接的125M的AFBR5803光電轉(zhuǎn)換模塊和50M的AFBR1414光電轉(zhuǎn)換模塊組成，所述FT3和網(wǎng)絡(luò)報(bào)文模塊分別與DSP處理器BF518、FPGA陣列XC3S500E相連接，所述AFBR5803用于以太網(wǎng)電信號(hào)產(chǎn)生光模塊輸出的以太網(wǎng)光信息，所述AFBR1414用于采集器或FT3的電信號(hào)產(chǎn)生光模塊輸出的串口光信息。

更進(jìn)一步的技術(shù)方案是，所述模擬輸出/輸入單元是由4通道16位的LTC2704D/A轉(zhuǎn)換器和弱信號(hào)放大電路模塊組成，所述4通道16位的LTC2704D/A轉(zhuǎn)換器由FPGA陣列XC3S500E驅(qū)動(dòng)，所述4通道16位的LTC2704D/A轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)的信號(hào)源再通過弱信號(hào)放大電路模塊產(chǎn)生0-7V的交流信號(hào)。

本申請(qǐng)?zhí)峁┑囊粋€(gè)或多個(gè)技術(shù)方案，至少具有如下技術(shù)效果或優(yōu)點(diǎn)：

(1)通過軟件平臺(tái)，硬件平臺(tái)和被測(cè)試IED相結(jié)合的方式實(shí)現(xiàn)了IEC 61850的閉環(huán)測(cè)試，并且采用跨平臺(tái)語言和腳本語言的技術(shù)支撐數(shù)百個(gè)測(cè)試用例并使用戶能按照自身實(shí)際需求在測(cè)試平臺(tái)上開發(fā)新的測(cè)試用例；

(2)用戶根據(jù)自身實(shí)際需求開發(fā)的新測(cè)試用例與數(shù)百個(gè)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試用例的結(jié)合有助于提高對(duì)受測(cè)設(shè)備的IEC 61850一致性測(cè)試的可靠性與靈活性，并有助于提高測(cè)試的自動(dòng)化水平和效率。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對(duì)本發(fā)明實(shí)施例的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明實(shí)施例的限定；

圖1是本申請(qǐng)中一致性測(cè)試系統(tǒng)閉環(huán)框圖；

圖2是本申請(qǐng)中一致性軟件測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是本申請(qǐng)中一致性硬件測(cè)試平臺(tái)的結(jié)構(gòu)框圖。

具體實(shí)施方式

本發(fā)明提供了一種IEC61850通信協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)一致性測(cè)試系統(tǒng)，解決了現(xiàn)有的IEC 61850一致性測(cè)試系統(tǒng)存在被測(cè)設(shè)備和測(cè)試系統(tǒng)之間沒有形成完全閉環(huán)，測(cè)試自動(dòng)化水平和效率較低的技術(shù)問題，實(shí)現(xiàn)了被測(cè)設(shè)備和測(cè)試系統(tǒng)之間的閉環(huán)測(cè)試，測(cè)試自動(dòng)化水平和效率較高的技術(shù)效果。

為了能夠更清楚地理解本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)，下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步的詳細(xì)描述。需要說明的是，在相互不沖突的情況下，本申請(qǐng)的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。

在下面的描述中闡述了很多具體細(xì)節(jié)以便于充分理解本發(fā)明，但是，本發(fā)明還可以采用其他不同于在此描述范圍內(nèi)的其他方式來實(shí)施，因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍并不受下面公開的具體實(shí)施例的限制。

實(shí)施例一：

一種IEC 61850通信協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)一致性測(cè)試系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括：軟件測(cè)試平臺(tái)和硬件測(cè)試平臺(tái)，其中，執(zhí)行測(cè)試時(shí)，軟件測(cè)試平臺(tái)執(zhí)行算例，通過以太網(wǎng)絡(luò)將能夠直接測(cè)試的算例傳輸至受測(cè)IED設(shè)備；將需要輔助進(jìn)行的算例傳輸至硬件測(cè)試平臺(tái)處理，處理完成后傳輸至受測(cè)IED設(shè)備；受測(cè)IED設(shè)備的GOOSE和SV信息通過以太網(wǎng)絡(luò)模塊進(jìn)入硬件測(cè)試平臺(tái)，硬件測(cè)試平臺(tái)將進(jìn)入的信息處理后通過以太網(wǎng)絡(luò)將結(jié)果輸出至軟件測(cè)試平臺(tái)，完成一次一致性閉環(huán)測(cè)試。

其中，在本申請(qǐng)實(shí)施例中，所述軟件測(cè)試平臺(tái)搭建在Windows操作系統(tǒng)上，軟件測(cè)試平臺(tái)由Qt環(huán)境、測(cè)試用例庫、Python腳本、IEC 61850通信庫、內(nèi)部通信庫組成。

其中，在本申請(qǐng)實(shí)施例中，所述軟件測(cè)試平臺(tái)用于模擬通信仿真器：軟件測(cè)試平臺(tái)模擬IEC 61850客戶端向被測(cè)設(shè)備發(fā)送各種類型的請(qǐng)求報(bào)文，測(cè)試過程中，根據(jù)要求選擇執(zhí)行部分或全部測(cè)試用例，記錄和處理被測(cè)設(shè)備的反饋信息，輸出透明測(cè)試信息，自動(dòng)根據(jù)預(yù)定邏輯給出結(jié)果分析。

其中，在本申請(qǐng)實(shí)施例中，所述軟件測(cè)試平臺(tái)用于與硬件測(cè)試平臺(tái)交互：軟件測(cè)試平臺(tái)通過內(nèi)部通信協(xié)議與硬件測(cè)試平臺(tái)通信，控制硬件測(cè)試平臺(tái)，完成GOOSE、SV、硬接點(diǎn)的輸入輸出；同時(shí)支持解析硬件測(cè)試平臺(tái)推送的GOOSE、SV判斷結(jié)果。

其中，在本申請(qǐng)實(shí)施例中，所述軟件測(cè)試平臺(tái)用于進(jìn)行MMS報(bào)文獲取分析：軟件測(cè)試平臺(tái)通過調(diào)用WinPcap的編程接口，實(shí)現(xiàn)測(cè)試用例在開始執(zhí)行時(shí)啟動(dòng)捕獲，結(jié)束執(zhí)行時(shí)停止捕獲，從而獲取整個(gè)執(zhí)行過程的MMS報(bào)文。

其中，在本申請(qǐng)實(shí)施例中，所述硬件測(cè)試平臺(tái)具體為繼電保護(hù)測(cè)試儀：用于與被測(cè)設(shè)備進(jìn)行GOOSE和SV報(bào)文通信，并協(xié)助軟件測(cè)試平臺(tái)進(jìn)行測(cè)試項(xiàng)目所需的激勵(lì)輸出，并將受測(cè)設(shè)備的相關(guān)輸出信息回送軟件測(cè)試平臺(tái)。

其中，在本申請(qǐng)實(shí)施例中，所述硬件測(cè)試平臺(tái)包括：

中央處理單元、對(duì)時(shí)單元、光輸出/輸入單元和模擬輸出/輸入單元；

中央處理單元：用于模擬輸入輸出、工控機(jī)通訊、光數(shù)字部分輸入輸出和對(duì)時(shí)；

對(duì)時(shí)單元：用于矯正連接的不同設(shè)備的測(cè)試時(shí)間，保證測(cè)試同步；

光輸出/輸入單元：用于解析被測(cè)設(shè)備模型文件，收發(fā)被測(cè)設(shè)備的GOOSE、SV報(bào)文；

模擬輸出/輸入單元：用于實(shí)現(xiàn)電壓電流輸出，用于從開入開出轉(zhuǎn)接模塊接收遙信量信息和開入開出信息，運(yùn)行軟件測(cè)試平臺(tái)推送的測(cè)試算例邏輯，并將測(cè)試結(jié)果回送至軟件測(cè)試平臺(tái)。

其中，在本申請(qǐng)實(shí)施例中，所述中央處理單元由DSP+FPGA和ADSP+FGPA兩個(gè)處理模塊組成；其中，DSP+FPGA模塊包括DSP處理器和FPGA陣列，用于模擬部分輸入輸出、給ADSP+FPGA模塊發(fā)工作指令以及和工控機(jī)通訊；ADSP+FPGA模塊包括DSP處理器和FPGA陣列，用于光數(shù)字部分輸入輸出和對(duì)時(shí)。

其中，在本申請(qǐng)實(shí)施例中，所述對(duì)時(shí)單元由GPS模塊、IEEE1588模塊和DSP處理器組成；其中，所述GPS模塊通過串口通訊連接在DSP處理器和IEEE1588模塊之間；所述DSP處理器通過雙口RAM CY7C025AV與DSP處理器連接；所述IEEE1588模塊和DSP處理器均與FPGA陣列連接；對(duì)時(shí)單元的時(shí)間解析由FPGA陣列內(nèi)部處理產(chǎn)生時(shí)間信息，IEEE1588模塊通過以太網(wǎng)與DSP處理器連接,由DSP處理器獲取時(shí)間信息。

其中，在本申請(qǐng)實(shí)施例中，光輸出/輸入單元由AFBR5803光電轉(zhuǎn)換模塊和AFBR1414光電轉(zhuǎn)換模塊組成，所述AFBR5803用于以太網(wǎng)電信號(hào)產(chǎn)生光模塊輸出的以太網(wǎng)光信息，所述AFBR1414用于采集器或FT3的電信號(hào)產(chǎn)生光模塊輸出的串口光信息；

模擬輸出/輸入單元由D/A轉(zhuǎn)換器和弱信號(hào)放大電路模塊組成，所述D/A轉(zhuǎn)換器由FPGA陣列驅(qū)動(dòng)，D/A轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)的信號(hào)源再通過弱信號(hào)放大電路模塊產(chǎn)生交流信號(hào)。

一次典型的一致性測(cè)試過程如下：一致性測(cè)試系統(tǒng)軟件平臺(tái)執(zhí)行算例，通過以太網(wǎng)絡(luò)將可直接完成部分送至被測(cè)IED，將需要輔助進(jìn)行的算例進(jìn)行分析執(zhí)行，將所需開入開出通過模擬輸出/輸入單元送至受測(cè)IED(若此算例執(zhí)行有此要求)。外部IED的GOOSE和SV信息通過光輸出/輸入單元進(jìn)入到中央處理單元，中央處理單元按照軟件設(shè)定分別處理各自對(duì)應(yīng)IED的GOOSE及SV信息。中央處理單元運(yùn)行測(cè)試邏輯程序，綜合判別光輸出/輸入單元上送的GOOSE、SV信息以及模擬輸出/輸入單元的上送信息，綜合這些信息進(jìn)行判定。中央處理單元完成一致性比對(duì)后，通過以太網(wǎng)絡(luò)將結(jié)果輸出至一致性測(cè)試軟件平臺(tái)，完成一次典型的一致性閉環(huán)測(cè)試。

圖1為一致性測(cè)試系統(tǒng)閉環(huán)框圖，圖2為一致性軟件測(cè)試平臺(tái)結(jié)構(gòu)圖，圖3為一致性硬件測(cè)試平臺(tái)的結(jié)構(gòu)框圖。新的一致性閉環(huán)測(cè)試系統(tǒng)將可以對(duì)受測(cè)IED進(jìn)行更全面的一致性測(cè)試，其測(cè)試范圍和能力將覆蓋整個(gè)IEC61850測(cè)試算例項(xiàng)，并可以根據(jù)用戶自行調(diào)整的算例，進(jìn)行其他相關(guān)兼容標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試和運(yùn)行，同時(shí)，使得一致性閉環(huán)測(cè)試系統(tǒng)同時(shí)對(duì)幾個(gè)受測(cè)設(shè)備進(jìn)行一致性自動(dòng)閉環(huán)測(cè)試成為了可能。

本申請(qǐng)?zhí)峁┑囊粋€(gè)或多個(gè)技術(shù)方案，至少具有如下技術(shù)效果或優(yōu)點(diǎn)：

(1)通過軟件平臺(tái)，硬件平臺(tái)和被測(cè)試IED相結(jié)合的方式實(shí)現(xiàn)了IEC61850的閉環(huán)測(cè)試，并且采用跨平臺(tái)語言和腳本語言的技術(shù)支撐數(shù)百個(gè)測(cè)試用例并使用戶能按照自身實(shí)際需求在測(cè)試平臺(tái)上開發(fā)新的測(cè)試用例；

(2)用戶根據(jù)自身實(shí)際需求開發(fā)的新測(cè)試用例與數(shù)百個(gè)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試用例的結(jié)合有助于提高對(duì)受測(cè)設(shè)備的IEC 61850一致性測(cè)試的可靠性與靈活性，并有助于提高測(cè)試的自動(dòng)化水平和效率。

盡管已描述了本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，但本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員一旦得知了基本創(chuàng)造性概念，則可對(duì)這些實(shí)施例作出另外的變更和修改。所以，所附權(quán)利要求意欲解釋為包括優(yōu)選實(shí)施例以及落入本發(fā)明范圍的所有變更和修改。

顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。