本發(fā)明涉及通信及天線技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種提高天線測試精度的方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

現(xiàn)有的組裝線天線測試工站通常采用單耦合板的測試方式，因為治具的精度，天線方向性及耦合板大小等因素，天線測試的標準要求容限只能做到+/-5db(dB---功率相對值單位)。其中，當天線彈片接觸不良，彈片損壞或天線漏裝均會導致天線性能惡化至少15db，因此+/-5db的容限可以有效的甄別上述不良。

但現(xiàn)有的單耦合板的測試方式存在如下問題：如果天線貼偏位或者天線周邊器件接地不良，又或者金屬電池蓋作為天線，有時僅導致2～3db的性能惡化；例如：手機金屬電池蓋作為整機的天線，其中電池蓋的接地彈片不導通或接地阻抗差異大，將導致天線性能也隨之惡化,但惡化程度較小。電池蓋接地彈片接地不通時天線性能數(shù)據(jù)如表1所示，電池蓋接地彈片接地良好時天線性能數(shù)據(jù)如表2所示：

表1：

表2：

因此，現(xiàn)有的單耦合板測試方式不足以甄別上述不良。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的主要目的在于公開一種提高天線測試精度的方法及系統(tǒng)，以提高天線測試精度。

為達上述目的，本發(fā)明公開一種提高天線測試精度的方法，包括：

在屏蔽信號的治具中部署至少兩個耦合器，建立各耦合器與測試儀之間的連接；

確定金機的標準值，并通過與所述耦合器數(shù)量一致的多次測試采集所述金機在所述治具中不同移動偏差下的各耦合器的測試值，根據(jù)所述測試值建立聯(lián)立方程組求解各耦合板的權(quán)值；

將待測試天線終端產(chǎn)品放入所述治具中，根據(jù)各耦合器的測試值和相應權(quán)值判斷所述天線終端產(chǎn)品的天線性能。

優(yōu)選的，上述耦合器的數(shù)量為3，分別部署于上述治具內(nèi)部空間的上下及左右方向?？蛇x的，上述各耦合板通過單刀三擲開關(guān)與上述測試儀通過射頻線纜連接；上述測試儀表包括但不限于功率測試儀。其中，在測試前，通常還包括：建立控制射頻信號發(fā)射及相關(guān)數(shù)據(jù)測試的測控主機與上述測試儀及上述待測試天線終端產(chǎn)品或上述金機的通信連接，其中，上述測控主機與上述測試儀之間通過通用接口總線連接，上述測控主機與上述待測試天線終端產(chǎn)品或上述金機之間以USB線連接；且上述待測試天線終端產(chǎn)品或上述金機與上述耦合器通過空中接口連接。

為達上述目的，本發(fā)明實施例還公開一種提高天線測試精度的系統(tǒng)，包括：

測控主機，用于與測試儀及待測試天線終端產(chǎn)品或金機建立通信連接以控制射頻信號發(fā)射及相關(guān)數(shù)據(jù)測試；以及

在屏蔽信號的治具中部署的至少兩個耦合器，各耦合器與測試儀之間通過射頻線纜連接，以便于通過與所述耦合器數(shù)量一致的多次測試采集所述金機在所述治具中不同移動偏差下的各耦合器的測試值，根據(jù)所述測試值建立聯(lián)立方程組求解各耦合板的權(quán)值，進而以供將待測試天線終端產(chǎn)品放入所述治具中，根據(jù)各耦合器的測試值和相應權(quán)值判斷所述天線終端產(chǎn)品的天線性能；且所述待測試天線終端產(chǎn)品或所述金機與所述耦合器通過空中接口連接。

同理，在上述系統(tǒng)中，優(yōu)選的，上述耦合器的數(shù)量為3，分別部署于上述治具內(nèi)部空間的上下及左右方向。可選的，上述各耦合板通過單刀三擲開關(guān)與上述測試儀通過射頻線纜連接；上述測試儀表包括但不限于功率測試儀；上述測控主機與上述測試儀之間通過通用接口總線連接；上述測控主機與上述待測試天線終端產(chǎn)品或上述金機之間以USB線連接。

綜上，本發(fā)明公開的提高天線測試精度的方法及系統(tǒng)，可根據(jù)天線輻射方向性選擇合適的耦合器數(shù)量及部署位置，可以將天線測試的標準要求容限做到+/-2db；從而提高了天線測試精度。因此，本發(fā)明公開的提高天線測試精度的方法及系統(tǒng)可以廣泛應用于WCDMA，CDMA，GSM，LTE，WIFI以及藍牙等制式的手機和相關(guān)移動設備的測試。

附圖說明

為了更清楚地說明本申請實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明中記載的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發(fā)明實施例公開的一種提高天線測試精度的系統(tǒng)的框架圖；

圖2是本發(fā)明實施例公開的一種提高天線測試精度的方法的流程圖。

具體實施方式

下面通過附圖和實施例，對本發(fā)明實施例的技術(shù)方案做進一步的詳細描述。

實施例一

本實施例公開一種提高天線測試精度的系統(tǒng)及相應的方法。如圖1所示，系統(tǒng)包括：

作為測控主機的電腦，用于與測試儀及待測試天線終端產(chǎn)品或金機建立通信連接以控制射頻信號發(fā)射及相關(guān)數(shù)據(jù)測試；以及

在屏蔽信號的治具中部署的至少兩個耦合器，各耦合器與測試儀之間通過射頻線纜(RF Cable)連接，以便于通過與耦合器數(shù)量一致的多次測試采集金機在治具中不同移動偏差下的各耦合器的測試值，根據(jù)測試值建立聯(lián)立方程組求解各耦合板的權(quán)值，進而以供將待測試天線終端產(chǎn)品放入治具中，根據(jù)各耦合器的測試值和相應權(quán)值判斷天線終端產(chǎn)品的天線性能；且待測試天線終端產(chǎn)品或金機與耦合器通過空中接口(Air interface)連接。如圖所示，上述耦合器的數(shù)量為3(分別為耦合器1/2/3)，優(yōu)選的，其分別部署于上述治具內(nèi)部空間的上下及左右方向?？蛇x的，上述各耦合板通過單刀三擲開關(guān)與上述測試儀通過射頻線纜連接，上述測控主機與上述測試儀之間通過通用接口總線(GPIB cable)連接；上述測控主機與上述待測試天線終端產(chǎn)品或上述金機之間以USB線(USB cable)連接。

與圖1所示系統(tǒng)相對應的提高天線測試精度的方法如圖2所示，包括：

步驟S1、在屏蔽信號的治具中部署至少兩個耦合器，建立各耦合器與測試儀之間的連接。

步驟S2、確定金機的標準值，并通過與耦合器數(shù)量一致的多次測試采集金機在治具中不同移動偏差下的各耦合器的測試值，根據(jù)測試值建立聯(lián)立方程組求解各耦合板的權(quán)值。

步驟S3、將待測試天線終端產(chǎn)品放入治具中，根據(jù)各耦合器的測試值和相應權(quán)值判斷天線終端產(chǎn)品的天線性能。

其中，在測試前，通常還包括：建立控制射頻信號發(fā)射及相關(guān)數(shù)據(jù)測試的測控主機與上述測試儀及上述待測試天線終端產(chǎn)品或上述金機的通信連接，其中，上述測控主機與上述測試儀之間通過通用接口總線連接，上述測控主機與上述待測試天線終端產(chǎn)品或上述金機之間以USB線連接；且上述待測試天線終端產(chǎn)品或上述金機與上述耦合器通過空中接口連接。

借助上述系統(tǒng)及方法，以測試儀表為功率測試儀，待測試天線終端產(chǎn)品以手機為例，對測試過程做進一步描述：

1、將待測手機放在耦合板上，耦合板通過射頻線纜與測試儀表連接。其中，耦合器1和耦合器2部署于治具上端的左右兩側(cè)，以補償手機在治具中左右偏移導致的測試誤差；耦合器3部署于治具的下端，以補償上下偏移導致的誤差。Switch為單刀三擲的開關(guān)，用于切換耦合器，以分別測試3個耦合器的功率。

2、電腦與測試儀表通過GPIB cable(通用接口總線)相連，來與儀表相互通訊和控制。

3、待測手機通過USB線與電腦連接。

4、通過電腦上的測試工具，控制手機發(fā)射射頻信號，然后儀表測試得到金機的相關(guān)數(shù)據(jù)。

以GSM900為例，假設p1，p2，p3分別為三個耦合器的功率，引入權(quán)值a、b、c，金機的功率標準值，可得a*p1+b*p2+c*p3＝32.5；其中a、b、c未知，需要求解得到。求解過程包括：

若手機左移治具精度的最大量，三個coupler測到的功率分別為p1l、p2l、p3l。

若手機右移治具精度的最大量，三個coupler測到的功率分別為p1r、p2r、p3r。

若手機下移治具精度的最大量，三個coupler測到的功率分別為p1d、p2d、p3d。

可以聯(lián)立方程組，求解得到a、b、c。

a*p1l+b*p2l+c*p3l＝32.5；

a*p1r+b*p2r+c*p3r＝32.5；

a*p1d+b*p2d+c*p3d＝32.5。

5、后續(xù)天線測試時，計算a*p1+b*p2+c*p3的值，并檢查與標準要求32.5dbm相差多少，以此甄別良品及判斷是否測試失敗，從而將天線測試的標準要求容限做到+/-2db。

藉此，作為上述實施例的一種變形，如果天線左右移動對測試結(jié)果不敏感可以選用上下2個耦合器；如果天線上下移動對測試結(jié)果不敏感可以選用左右2個耦合器。其中，更多的耦合器數(shù)量，金機校準測試次數(shù)會增加，3個耦合器即可補償手機在一個平面內(nèi)的任意方向的移動偏差。

綜上，本發(fā)明公開的提高天線測試精度的方法及系統(tǒng)，可根據(jù)天線輻射方向性選擇合適的耦合器數(shù)量及部署位置，可以將天線測試的標準要求容限做到+/-2db；從而提高了天線測試精度。因此，本發(fā)明公開的提高天線測試精度的方法及系統(tǒng)可以廣泛應用于WCDMA，CDMA，GSM，LTE，WIFI以及藍牙等制式的手機和相關(guān)移動設備的測試。

最后應說明的是：以上實施例僅用以說明本發(fā)明實施例的技術(shù)方案，而非對其限制；盡管參照前述實施例對本發(fā)明實施例進行了詳細的說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應當理解：其依然可以對前述各實施例所記載的技術(shù)方案進行修改，或者對其中部分技術(shù)特征進行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明實施例各實施例技術(shù)方案的精神和范圍。