本發(fā)明涉及通信技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種信號(hào)電路控制方法，同時(shí)本申請(qǐng)還涉及一種顯示裝置。

背景技術(shù)：

在現(xiàn)有的顯示裝置(如電視機(jī)、顯示器等)中，一般都會(huì)具備DEBUG(程序錯(cuò)誤排除)調(diào)試功能。DEBUG功能主要在以下兩種情況下會(huì)使用，其一，新產(chǎn)品開(kāi)發(fā)階段在需要對(duì)新產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試時(shí)，研發(fā)人員可以使用DEBUG功能對(duì)新開(kāi)發(fā)出來(lái)的產(chǎn)品進(jìn)行調(diào)試，以判斷新產(chǎn)品的功能是否存在漏洞；其二，產(chǎn)品故障維修階段，在產(chǎn)品出現(xiàn)故障，需要維修時(shí)，維修人員可以使用BEBUG功能產(chǎn)品得故障進(jìn)行定位，加快維修的速度。

在使用DEBUG功能時(shí)，需要通過(guò)DEBUG調(diào)試口將顯示裝置與上位機(jī)(一般為PC端)相連。在現(xiàn)有技術(shù)中，大多單獨(dú)在顯示裝置上設(shè)置耳機(jī)插座作為DEBUG調(diào)試口。上述DEBUG調(diào)試口的設(shè)置方法，使得現(xiàn)有的顯示裝置上往往存在兩個(gè)相同的耳機(jī)插座，一個(gè)作為顯示裝置上的耳機(jī)接口，另一個(gè)作為顯示裝置上的DEBUG調(diào)試口。

由于DEBUG調(diào)試功能一般只在新產(chǎn)品開(kāi)發(fā)階段和產(chǎn)品故障維修階段會(huì)使用，用戶在正常使用顯示裝置設(shè)備的過(guò)程中，根本不會(huì)使用到DEBUG調(diào)試功能；并且現(xiàn)有的DEBUG調(diào)試口采用耳機(jī)插座的形式，因此，完全有將顯示裝置上的耳機(jī)輸出接口以及BEBUG調(diào)試接口復(fù)用的可能。若將耳機(jī)輸出接口與BEBUG調(diào)試接口復(fù)用，將在顯示裝置上減少一個(gè)耳機(jī)插座，從而可降低顯示裝置的生產(chǎn)成本。

發(fā)明人在實(shí)現(xiàn)本申請(qǐng)的過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中在將耳機(jī)輸出接口與BEBUG調(diào)試接口復(fù)用的過(guò)程中，至少存在以下問(wèn)題：

倘若耳機(jī)輸出接口與BEBUG調(diào)試接口復(fù)用，則此時(shí)耳機(jī)的音頻信號(hào)電路與DEBUG調(diào)試模塊的串口調(diào)試電路將同時(shí)通過(guò)復(fù)合耳機(jī)插座輸出，以上兩個(gè)電路之間可能會(huì)存在相互的干擾，使得信號(hào)輸出質(zhì)量下降，甚至影響耳機(jī)功能和DEBUG調(diào)試功能的正常使用。

因此，在將耳機(jī)輸出接口與BEBUG調(diào)試接口復(fù)用時(shí)，如何將耳機(jī)的音頻信號(hào)電路與DEBUG調(diào)試模塊的串口調(diào)試電路隔離，進(jìn)而降低二者之間輸出信號(hào)的相互影響，成為本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的技術(shù)問(wèn)題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明提供了一種信號(hào)電路控制方法，用以解決在將耳機(jī)輸出接口與BEBUG調(diào)試接口復(fù)用時(shí)，如何將耳機(jī)的音頻信號(hào)電路與DEBUG調(diào)試模塊的串口調(diào)試電路隔離，進(jìn)而降低二者之間輸出信號(hào)的相互影響的問(wèn)題，該方法應(yīng)用于包含開(kāi)關(guān)控制電路以及信號(hào)控制電路的顯示裝置中，所述開(kāi)關(guān)控制電路位于所述顯示裝置的耳機(jī)模塊與信號(hào)輸出插座之間的信號(hào)電路上，所述信號(hào)控制電路分別與所述開(kāi)關(guān)控制電路以及所述顯示裝置的主板芯片相連，所述信號(hào)輸出插座與所述顯示裝置的DEBUG調(diào)試模塊相連，所述方法至少包括：

在接收到用戶輸入的開(kāi)啟耳機(jī)模式信號(hào)時(shí)，所述顯示裝置將所述DEBUG調(diào)試模塊調(diào)整為高阻狀態(tài)輸出，并向所述信號(hào)控制電路輸出高電平信號(hào)，以使所述信號(hào)控制電路將所述開(kāi)關(guān)控制電路導(dǎo)通；

在接收到所述用戶輸入的開(kāi)啟BEBUG調(diào)試模式信號(hào)時(shí)，所述顯示裝置將所述DEBUG調(diào)試模塊調(diào)整為低阻狀態(tài)輸出，并向所述信號(hào)控制電路輸出低電平信號(hào)，以使所述信號(hào)控制電路將所述開(kāi)關(guān)控制電路截?cái)唷?/p>

優(yōu)選的，所述信號(hào)控制電路包含有第一三極管和第二三極管；

所述開(kāi)關(guān)控制電路包含有第一開(kāi)關(guān)單元和第二開(kāi)關(guān)單元。

優(yōu)選的，所述第一三極管的基極與所述顯示裝置的主板芯片相連，所述第一三極管的集電極與所述顯示裝置的電源輸出接口相連，所述第一三極管的發(fā)射極接地；

所述第二三極管的基極與所述第一三極管的集電極相連，所述第二三極管的集電極與所述耳機(jī)模塊的負(fù)電壓輸出接口相連，所述第二三極管的發(fā)射極與所述顯示裝置的電源輸出接口相連；

所述第一開(kāi)關(guān)單元位于所述信號(hào)電路的第一信號(hào)線上，所述第一開(kāi)關(guān)單元與所述第二三極管的集電極相連；

所述第二開(kāi)關(guān)單元位于所述信號(hào)電路的第二信號(hào)線上，所述第二開(kāi)關(guān)單元與所述第二三極管的集電極相連。

優(yōu)選的，所述第一開(kāi)關(guān)單元包含第一MOS管和第二MOS管；

所述第二開(kāi)關(guān)單元包含第三MOS管和第四MOS管。

優(yōu)選的，所述第一MOS管的漏極與所述耳機(jī)模塊相連，所述第一MOS管的源極與所述第二MOS管的源極相連，所述第一MOS管的柵極與所述第二三極管的集電極相連；

所述第二MOS管的漏極與所述信號(hào)輸出插座相連，所述第二MOS管的源極與所述第一MOS管的源極相連，所述第二MOS管的柵極與所述第二三極管的集電極相連；

所述第三MOS管的漏極與所述耳機(jī)模塊相連，所述第三MOS管的源極與所述第四MOS管的源極相連，所述第三MOS管的柵極與所述第二三極管的集電極相連；

所述第四MOS管的漏極與所述信號(hào)輸出插座相連，所述第四MOS管的源極與所述第三MOS管的源極相連，所述第四MOS管的柵極與所述第二三極管的集電極相連。

相應(yīng)的，本申請(qǐng)?zhí)岢鲆环N顯示裝置，包含開(kāi)關(guān)控制電路以及信號(hào)控制電路，所述開(kāi)關(guān)控制電路位于所述顯示裝置的耳機(jī)模塊與信號(hào)輸出插座之間的信號(hào)電路上，所述信號(hào)控制電路分別與所述開(kāi)關(guān)控制電路以及所述顯示裝置的主板芯片相連，所述信號(hào)輸出插座與所述顯示裝置的DEBUG調(diào)試模塊相連，所述顯示裝置還包括：

第一控制模塊，在接收到用戶輸入的開(kāi)啟耳機(jī)模式信號(hào)時(shí)，將所述DEBUG調(diào)試模塊調(diào)整為高阻狀態(tài)輸出，并向所述信號(hào)控制電路輸出高電平信號(hào)，以使所述信號(hào)控制電路將所述開(kāi)關(guān)控制電路導(dǎo)通；

第二控制模塊，在接收到所述用戶輸入的開(kāi)啟BEBUG調(diào)試模式信號(hào)時(shí)，將所述DEBUG調(diào)試模塊調(diào)整為低阻狀態(tài)輸出，并向所述信號(hào)控制電路輸出低電平信號(hào)，以使所述信號(hào)控制電路將所述開(kāi)關(guān)控制電路截?cái)唷?/p>

優(yōu)選的，所述信號(hào)控制電路包含有第一三極管和第二三極管；

所述開(kāi)關(guān)控制電路包含有第一開(kāi)關(guān)單元和第二開(kāi)關(guān)單元。

優(yōu)選的，所述第一三極管的基極與所述顯示裝置的主板芯片相連，所述第一三極管的集電極與所述顯示裝置的電源輸出接口相連，所述第一三極管的發(fā)射極接地；

所述第二三極管的基極與所述第一三極管的集電極相連，所述第二三極管的集電極與所述耳機(jī)模塊的負(fù)電壓輸出接口相連，所述第二三極管的發(fā)射極與所述顯示裝置的電源輸出接口相連；

所述第一開(kāi)關(guān)單元位于所述信號(hào)電路的第一信號(hào)線上，所述第一開(kāi)關(guān)單元與所述第二三極管的集電極相連；

所述第二開(kāi)關(guān)單元位于所述信號(hào)電路的第二信號(hào)線上，所述第二開(kāi)關(guān)單元與所述第二三極管的集電極相連。

優(yōu)選的，所述第一開(kāi)關(guān)單元包含第一MOS管和第二MOS管；

所述第二開(kāi)關(guān)單元包含第三MOS管和第四MOS管。

優(yōu)選的，所述第一MOS管的漏極與所述耳機(jī)模塊相連，所述第一MOS管的源極與所述第二MOS管的源極相連，所述第一MOS管的柵極與所述第二三極管的集電極相連；

所述第二MOS管的漏極與所述信號(hào)輸出插座相連，所述第二MOS管的源極與所述第一MOS管的源極相連，所述第二MOS管的柵極與所述第二三極管的集電極相連；

所述第三MOS管的漏極與所述耳機(jī)模塊相連，所述第三MOS管的源極與所述第四MOS管的源極相連，所述第三MOS管的柵極與所述第二三極管的集電極相連；

所述第四MOS管的漏極與所述信號(hào)輸出插座相連，所述第四MOS管的源極與所述第三MOS管的源極相連，所述第四MOS管的柵極與所述第二三極管的集電極相連。

通過(guò)應(yīng)用本申請(qǐng)的方法，在接收到用戶輸入的開(kāi)啟耳機(jī)模式信號(hào)時(shí)，顯示裝置將DEBUG調(diào)試模塊調(diào)整為高阻狀態(tài)輸出，同時(shí)向信號(hào)控制電路輸出高電平信號(hào)，以使所述信號(hào)控制電路將所述開(kāi)關(guān)控制電路導(dǎo)通；在接收到用戶輸入的開(kāi)啟BEBUG調(diào)試模式信號(hào)時(shí)，顯示裝置將DEBUG調(diào)試模塊調(diào)整為低阻狀態(tài)輸出，同時(shí)向信號(hào)控制電路輸出低電平信號(hào)，以使信號(hào)控制電路將開(kāi)關(guān)控制電路截?cái)?。從而，在開(kāi)啟耳機(jī)功能時(shí)，隔離了串口調(diào)試電路對(duì)音頻信號(hào)電路的影響；在開(kāi)啟DEBUG調(diào)試功能時(shí)，隔離了音頻信號(hào)電路對(duì)串口調(diào)試電路的影響。進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了將耳機(jī)輸出接口與BEBUG調(diào)試接口復(fù)用，降低顯示裝置的生產(chǎn)成本。

附圖說(shuō)明

圖1本申請(qǐng)?zhí)岢龅囊环N信號(hào)電路控制方法的流程示意圖；

圖2本申請(qǐng)具體實(shí)施例提出的一種實(shí)現(xiàn)DEBUG調(diào)試口與耳機(jī)口復(fù)用的電路原理圖；

圖3本申請(qǐng)?zhí)岢龅囊环N顯示裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

如背景技術(shù)所述，用戶在正常使用顯示裝置的過(guò)程中，根本不會(huì)用到顯示裝置的DEBUG調(diào)試功能，并且現(xiàn)有的DEBUG調(diào)試口采用耳機(jī)插座的形式，因此存在將耳機(jī)輸出接口與BEBUG調(diào)試接口復(fù)用的可能?，F(xiàn)有技術(shù)在將耳機(jī)輸出接口與BEBUG調(diào)試接口復(fù)用過(guò)程中，存在最大的問(wèn)題是無(wú)法將耳機(jī)的音頻信號(hào)電路與DEBUG調(diào)試模塊的串口調(diào)試電路隔離，使得二者之間輸出的信號(hào)存在相互的影響，造成信號(hào)輸出質(zhì)量下降，甚至?xí)绊懚鷻C(jī)功能和DEBUG調(diào)試功能的正常使用。

因此，為了將耳機(jī)模塊的音頻信號(hào)電路與DEBUG調(diào)試模塊的串口調(diào)試電路隔離，降低二者之間輸出信號(hào)的影響，本申請(qǐng)?zhí)岢鲆环N信號(hào)電路控制方法，在顯示裝置的耳機(jī)模塊與信號(hào)輸出插座之間的信號(hào)電路上設(shè)置開(kāi)關(guān)控制電路，并通過(guò)信號(hào)控制電路控制開(kāi)關(guān)控制電路的狀態(tài)。信號(hào)控制電路與顯示裝置的主板芯片相連，并根據(jù)主板芯片輸出的信號(hào)對(duì)開(kāi)關(guān)控制電路的開(kāi)關(guān)狀態(tài)進(jìn)行調(diào)整。在接收到用戶輸入的開(kāi)啟耳機(jī)模式信號(hào)時(shí)，主板芯片將DEBUG調(diào)試模塊調(diào)整為高阻狀態(tài)輸出，同時(shí)向信號(hào)控制電路輸出低電平信號(hào)以使所述信號(hào)控制電路將所述開(kāi)關(guān)控制電路導(dǎo)通；在接收到用戶輸入的開(kāi)啟BEBUG調(diào)試模式信號(hào)時(shí)，主板芯片將DEBUG調(diào)試模塊調(diào)整為低阻狀態(tài)輸出，同時(shí)信號(hào)控制電路輸出高電平信號(hào)，以使信號(hào)控制電路將開(kāi)關(guān)控制電路截?cái)唷亩?，在開(kāi)啟耳機(jī)功能時(shí)，隔離了串口調(diào)試電路對(duì)音頻信號(hào)電路的影響；在開(kāi)啟DEBUG調(diào)試功能時(shí)，隔離了音頻信號(hào)電路對(duì)串口調(diào)試電路的影響。

如圖1所示為本申請(qǐng)?zhí)岢龅囊环N信號(hào)電路控制方法的流程示意圖，需要說(shuō)明的是，該方法應(yīng)用于包含開(kāi)關(guān)控制電路以及信號(hào)控制電路的顯示裝置中。開(kāi)關(guān)控制電路位于顯示裝置的耳機(jī)模塊與信號(hào)輸出插座之間的信號(hào)電路上。信號(hào)輸出插座還與顯示裝置的DEBUG調(diào)試模塊相連。信號(hào)控制電路分別與開(kāi)關(guān)控制電路以及顯示裝置的主板芯片相連。具體地，該方法至少包括以下步驟：

S101，在接收到用戶輸入的開(kāi)啟耳機(jī)模式信號(hào)時(shí)，顯示裝置將DEBUG調(diào)試模塊調(diào)整為高阻狀態(tài)輸出，并向信號(hào)控制電路輸出高電平信號(hào)，以使信號(hào)控制電路將開(kāi)關(guān)控制電路導(dǎo)通。

在顯示裝置中，DEBUG調(diào)試模塊的輸出狀態(tài)有高阻狀態(tài)輸出和低阻狀態(tài)輸出兩種輸出模式。當(dāng)DEBUG調(diào)試模塊的輸出狀態(tài)為高阻狀態(tài)時(shí)，則說(shuō)明并未啟用DEBUG調(diào)試模塊，此時(shí)DEBUG調(diào)試模塊的串口調(diào)試電路無(wú)信號(hào)輸出，不會(huì)對(duì)音頻信號(hào)電路造成影響。當(dāng)DEBUG調(diào)試模塊的輸出狀態(tài)為低阻狀態(tài)時(shí)，則說(shuō)明啟用了DEBUG調(diào)試模塊，此時(shí)DEBUG調(diào)試模塊的串口調(diào)試電路有信號(hào)輸出，會(huì)對(duì)音頻信號(hào)電路造成影響。

在本申請(qǐng)的實(shí)施例中，顯示裝置首先判斷接收到信號(hào)的類型，并根據(jù)接收到信號(hào)的類型相應(yīng)的開(kāi)啟耳機(jī)模式或者DEBUG調(diào)試模式。

在接收到用戶輸入的開(kāi)啟耳機(jī)模式信號(hào)時(shí)，說(shuō)明需要進(jìn)入耳機(jī)輸出模式，此時(shí)顯示裝置通過(guò)主板芯片對(duì)DEBUG調(diào)試模塊的IO口進(jìn)行調(diào)試，使其變?yōu)楦咦栎敵鰻顟B(tài)，從而消除了DEBUG調(diào)試模塊對(duì)音頻信號(hào)的影響。

通過(guò)對(duì)DEBUG調(diào)試模塊輸出狀態(tài)的調(diào)整，能夠準(zhǔn)確地控制是否輸出DEBUG調(diào)試信號(hào)到信號(hào)輸出插座。此外，在本申請(qǐng)中還需要控制是否將耳機(jī)信號(hào)輸出到信號(hào)輸出插座。

為了準(zhǔn)確地控制是否將耳機(jī)信號(hào)輸出到信號(hào)輸出插座，在本申請(qǐng)的實(shí)施例中，在顯示裝置中設(shè)置開(kāi)關(guān)控制電路和信號(hào)控制電路。開(kāi)關(guān)控制電路位于顯示裝置的耳機(jī)模塊與信號(hào)輸出插座之間的信號(hào)電路上，用于控制信號(hào)電路的導(dǎo)通/截止?fàn)顟B(tài)。當(dāng)開(kāi)關(guān)控制電路導(dǎo)通時(shí)，信號(hào)電路處于導(dǎo)通的狀態(tài)，此時(shí)信號(hào)電路能夠得到正常的使用，耳機(jī)信號(hào)能夠到達(dá)信號(hào)輸出插座。當(dāng)開(kāi)關(guān)控制電路截止時(shí)，信號(hào)電路處于截止的狀態(tài)，此時(shí)信號(hào)電路不能夠得到正常的使用，耳機(jī)信號(hào)不能夠到達(dá)信號(hào)輸出插座。

信號(hào)控制電路分別與開(kāi)關(guān)控制電路與主板芯片相連，用于控制開(kāi)關(guān)控制電路的導(dǎo)通/截止?fàn)顟B(tài)。當(dāng)接收到主板芯片輸出的高電平信號(hào)時(shí)，信號(hào)控制電路會(huì)將開(kāi)關(guān)控制電路導(dǎo)通；當(dāng)接收到主板芯片輸出的低電平信號(hào)時(shí)，信號(hào)控制電路會(huì)將開(kāi)關(guān)控制電路截?cái)唷?/p>

所以，主芯片在將DEBUG調(diào)試模塊調(diào)整為高阻狀態(tài)輸出的同時(shí)，還會(huì)向信號(hào)控制電路輸出低電平信號(hào)。在接收到低電平信號(hào)時(shí)，信號(hào)控制電路將開(kāi)關(guān)控制電路導(dǎo)通。此時(shí)，耳機(jī)信號(hào)能夠到達(dá)信號(hào)輸出插座，耳機(jī)模塊啟用。

通過(guò)以上的方法，在需要啟用耳機(jī)模塊時(shí)，主板芯片將DEBUG調(diào)試模塊調(diào)整為高阻狀態(tài)輸出，此時(shí)DEBUG調(diào)試模塊的串口調(diào)試電路無(wú)信號(hào)輸出，不會(huì)對(duì)音頻信號(hào)電路造成影響。同時(shí)，向信號(hào)控制電路輸出高電平信號(hào)，以使信號(hào)控制電路將開(kāi)關(guān)控制電路導(dǎo)通，此時(shí)耳機(jī)模塊的信號(hào)電路能夠得到正常的使用，耳機(jī)信號(hào)能夠到達(dá)信號(hào)輸出插座。從而在啟用耳機(jī)模塊時(shí)，耳機(jī)模塊能夠進(jìn)行正常的信號(hào)輸出，并且輸出的信號(hào)不會(huì)受到BEBUG調(diào)試模塊的影響。

在本申請(qǐng)的優(yōu)選實(shí)施例中，信號(hào)控制電路包含有第一三極管和第二三極管。并且，第一三極管的基極與顯示裝置的主板芯片相連，第一三極管的集電極與顯示裝置的電源輸出接口相連，第一三極管的發(fā)射極接地。第二三極管的基極與第一三極管的集電極相連，第二三極管的集電極與耳機(jī)模塊的負(fù)電壓輸出接口相連，第二三極管的發(fā)射極與顯示裝置的電源輸出接口相連。

第一三極管的基極與顯示裝置的主板芯片相連，因此用于接收主板芯片發(fā)送的信號(hào)。第一三極管的集電極與顯示裝置的電源輸出接口相連，因此此處能夠輸出高電壓(同時(shí)為正電壓)。第二三極管的集電極與耳機(jī)模塊的負(fù)電壓輸出接口相連，因此此處能夠輸出負(fù)電壓。第二三極管的發(fā)射極與顯示裝置的電源輸出接口相連，因此此處能夠輸出高電壓(同時(shí)為正電壓)。

開(kāi)關(guān)控制電路包含有第一開(kāi)關(guān)單元和第二開(kāi)關(guān)單元。并且，第一開(kāi)關(guān)單元位于耳機(jī)模塊信號(hào)電路的第一信號(hào)線上，第一開(kāi)關(guān)單元與第二三極管的集電極相連。第二開(kāi)關(guān)單元位于耳機(jī)模塊信號(hào)電路的第二信號(hào)線上，第二開(kāi)關(guān)單元與第二三極管的集電極相連。

需要說(shuō)明的是，上述信號(hào)控制電路用于控制開(kāi)關(guān)控制電路的導(dǎo)通/截止?fàn)顟B(tài)。并且具體的控制流程如下：當(dāng)主板芯片向第一三極管的基極輸出高電平信號(hào)時(shí)，第一三極管將處于導(dǎo)通的狀態(tài)。由于第一三極管被導(dǎo)通，并且其發(fā)射極接地，因此，此時(shí)第一三極管輸出到第二三極管基極處的電壓為零，第二三極管導(dǎo)通。第二三極管導(dǎo)通后，其發(fā)射極處的高電壓將會(huì)通過(guò)第二三極管的基極分別加載到第一開(kāi)關(guān)單元和第二開(kāi)關(guān)單元上。當(dāng)加載到開(kāi)關(guān)單元上的電壓為高電壓(同時(shí)為正電壓)時(shí)，開(kāi)關(guān)單元將會(huì)處于導(dǎo)通的狀態(tài)。

當(dāng)主板芯片向第一三極管的基極輸出低電平信號(hào)時(shí)，第一三極管將處于截止的狀態(tài)。由于第一三極管截止，并且其集電極與顯示裝置的電源輸出接口相連，此時(shí)電源輸出接口輸出的高電壓可以通過(guò)第一三極管的集電極加載到第二三極管上，使得第二三極管截止。第二三極管截止后，其發(fā)射極處的高電壓將無(wú)法到達(dá)基極。并且，由于第二三極管的集電極與耳機(jī)模塊的負(fù)電壓輸出接口相連，因此此時(shí)耳機(jī)模塊的負(fù)電壓輸出接口將通過(guò)第二三極管的集電極分別向第一開(kāi)關(guān)單元和第二開(kāi)關(guān)單元上加載負(fù)電壓。當(dāng)加載到開(kāi)關(guān)單元上的電壓為負(fù)電壓時(shí)，將會(huì)處于截止的狀態(tài)。

通過(guò)上述的優(yōu)選實(shí)施例，信號(hào)控制電路能夠根據(jù)主板芯片的電壓信號(hào)，向第一開(kāi)關(guān)單元和第二開(kāi)關(guān)單元加載不同的電壓。從而實(shí)現(xiàn)了對(duì)開(kāi)關(guān)單元導(dǎo)通/截止的控制。

需要說(shuō)明的是，上述信號(hào)控制電路的組成方式，只是本申請(qǐng)中的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施方式，在基于本申請(qǐng)的構(gòu)思下，本領(lǐng)域技術(shù)人員還可以采用其他信號(hào)控制電路的組成方式，這并不會(huì)影響到本申請(qǐng)的保護(hù)范圍。

對(duì)于顯示裝置而言，其耳機(jī)模塊的輸出信號(hào)為交流信號(hào)，包括有正向信號(hào)和返向信號(hào)。因此，在截?cái)喽鷻C(jī)信號(hào)時(shí)，需要同時(shí)截?cái)鄡蓚€(gè)方向的信號(hào)，才能夠避免耳機(jī)信號(hào)對(duì)DEBUG調(diào)試模塊輸出的影響。

為了能夠同時(shí)截?cái)嗾蛐盘?hào)和返向信號(hào)，在本申請(qǐng)的優(yōu)選實(shí)施例中，使用MOS管(優(yōu)選的型號(hào)為：2N7002N-channel MOSFET)作為開(kāi)關(guān)控制電路組成元件。MOS管，是金屬(metal)—氧化物(oxide)—半導(dǎo)體(semiconductor)場(chǎng)效應(yīng)晶體管，是電壓控制元件。當(dāng)其柵極的電壓遠(yuǎn)大于源極的電壓時(shí)，MOS管導(dǎo)通；當(dāng)其柵極的電壓等于或小于源極的電壓時(shí)，MOS管截止。并且，由于內(nèi)部寄生二極管作用，電流從源級(jí)到漏極是導(dǎo)通的。

開(kāi)關(guān)控制電路的具體的電路組成為第一開(kāi)關(guān)單元包含第一MOS管和第二MOS管；第二開(kāi)關(guān)單元包含第三MOS管和第四MOS管。

并且，各MOS管接入電路的方式如下：

第一MOS管的漏極與耳機(jī)模塊相連，第一MOS管的源極與第二MOS管的源極相連，第一MOS管的柵極與第二三極管的集電極相連；

第二MOS管的漏極與信號(hào)輸出插座相連，第二MOS管的源極與第一MOS管的源極相連，第二MOS管的柵極與第二三極管的集電極相連；

第三MOS管的漏極與耳機(jī)模塊相連，第三MOS管的源極與第四MOS管的源極相連，第三MOS管的柵極與第二三極管的集電極相連；

第四MOS管的漏極與信號(hào)輸出插座相連，第四MOS管的源極與第三MOS管的源極相連，第四MOS管的柵極與第二三極管的集電極相連。

需要說(shuō)明的是，在上述的連接方式中，每條信號(hào)線上均有兩個(gè)MOS管，并且這兩個(gè)MOS管接入電路的方向恰好相反，因此在需要切斷耳機(jī)信號(hào)輸出時(shí)，同一信號(hào)線上的兩個(gè)MOS管，正好能夠?qū)蓚€(gè)方向上的電流截止。

通過(guò)上述的優(yōu)選實(shí)施例，通過(guò)在每條信號(hào)線上接入兩個(gè)方向相反的MOS管，實(shí)現(xiàn)了對(duì)信號(hào)電路上的交流信號(hào)進(jìn)行截止。

S102，在接收到用戶輸入的開(kāi)啟BEBUG調(diào)試模式信號(hào)時(shí)，顯示裝置將DEBUG調(diào)試模塊調(diào)整為低阻狀態(tài)輸出，并向信號(hào)控制電路輸出低電平信號(hào)，以使信號(hào)控制電路將開(kāi)關(guān)控制電路截?cái)唷?/p>

在本申請(qǐng)的實(shí)施例中，在接收到用戶輸入的開(kāi)啟BEBUG調(diào)試模式信號(hào)時(shí)，則說(shuō)明需要進(jìn)入BEBUG調(diào)試模式，此時(shí)通過(guò)主板芯片對(duì)DEBUG調(diào)試模塊的IO口進(jìn)行調(diào)試，使其變?yōu)榈妥栎敵鰻顟B(tài)，以開(kāi)啟BEBUG調(diào)試功能。

主芯片在將DEBUG調(diào)試模塊調(diào)整為高阻狀態(tài)輸出的同時(shí)，還會(huì)向信號(hào)控制電路輸出低電平信號(hào)。在接收到低電平信號(hào)時(shí)，信號(hào)控制電路將開(kāi)關(guān)控制電路截?cái)?。此時(shí)，耳機(jī)信號(hào)不能夠到達(dá)信號(hào)輸出插座，不會(huì)對(duì)DEBUG模塊的信號(hào)輸出造成影響。

通過(guò)以上的方法，在需要啟用DEBUG調(diào)試模塊時(shí)，主板芯片將DEBUG調(diào)試模塊調(diào)整為低阻狀態(tài)輸出，此時(shí)DEBUG調(diào)試模塊的串口調(diào)試電路啟用，DEBUG調(diào)試功能開(kāi)啟。同時(shí)，向信號(hào)控制電路輸出低電平信號(hào)，以使信號(hào)控制電路將開(kāi)關(guān)控制電路截?cái)?，此時(shí)DEBUG調(diào)試模塊的信號(hào)電路能夠得到正常的使用，DEBUG調(diào)試信號(hào)能夠到達(dá)信號(hào)輸出插座。從而在啟用DEBUG調(diào)試模塊時(shí)，DEBUG調(diào)試模塊能夠進(jìn)行正常的信號(hào)輸出，并且輸出的信號(hào)不會(huì)受到耳機(jī)模塊的影響。

通過(guò)以上流程的描述可知，在接收到用戶輸入的開(kāi)啟耳機(jī)模式信號(hào)時(shí)，顯示裝置將DEBUG調(diào)試模塊調(diào)整為高阻狀態(tài)輸出，同時(shí)向信號(hào)控制電路輸出高電平信號(hào)，以使所述信號(hào)控制電路將所述開(kāi)關(guān)控制電路導(dǎo)通；在接收到用戶輸入的開(kāi)啟BEBUG調(diào)試模式信號(hào)時(shí)，顯示裝置將DEBUG調(diào)試模塊調(diào)整為低阻狀態(tài)輸出，同時(shí)向信號(hào)控制電路輸出低電平信號(hào)，以使信號(hào)控制電路將開(kāi)關(guān)控制電路截?cái)?。從而，在開(kāi)啟耳機(jī)功能時(shí)，隔離了串口調(diào)試電路對(duì)音頻信號(hào)電路的影響；在開(kāi)啟DEBUG調(diào)試功能時(shí)，隔離了音頻信號(hào)電路對(duì)串口調(diào)試電路的影響。進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了將耳機(jī)輸出接口與BEBUG調(diào)試接口復(fù)用，降低顯示裝置的生產(chǎn)成本。

為了進(jìn)一步闡述本發(fā)明的技術(shù)思想，現(xiàn)結(jié)合具體的應(yīng)用場(chǎng)景，對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行說(shuō)明。

如圖2所示為本申請(qǐng)?zhí)岢龅囊环N實(shí)現(xiàn)DEBUG調(diào)試口與耳機(jī)口復(fù)用的電路原理圖。由圖可知，DEBUG調(diào)試模塊的輸出信號(hào)線與耳機(jī)的輸出信號(hào)線同時(shí)與信號(hào)輸出端口連接。此電路同時(shí)包含有信號(hào)控制電路和開(kāi)關(guān)控制電路。

信號(hào)控制電路包含有第一三極管和第二三極管。并且，第一三極管的基極與顯示裝置的主板芯片相連，第一三極管的集電極與顯示裝置的電源輸出接口相連，第一三極管的發(fā)射極接地。第二三極管的基極與第一三極管的集電極相連，第二三極管的集電極與耳機(jī)模塊的負(fù)電壓輸出接口相連，第二三極管的發(fā)射極與顯示裝置的電源輸出接口相連。

開(kāi)關(guān)控制電路由四個(gè)N道溝MOS管組成，每個(gè)MOS管的柵極均與第二三極管的集電極相連，并且每條耳機(jī)信號(hào)線上正好有兩個(gè)接入方向相反的MOS管。

基于以上的電路原理圖，在本申請(qǐng)中具體的操作流程如下：

(1)當(dāng)選擇用戶界面(耳機(jī)模式)時(shí)，主芯片(GPIO_SWITCH)引腳向第一三極管輸出高電平信號(hào)，通過(guò)第一三極管的驅(qū)動(dòng)，使得第二三極管導(dǎo)通，從而mos管為VCC(12V)電壓，四個(gè)N溝道MOS管導(dǎo)通，音頻信號(hào)從DRV632輸出端(網(wǎng)絡(luò)編號(hào)：LO1L_PA，LO1R_PA)經(jīng)過(guò)MOS管至DEBUG耳機(jī)復(fù)用插座，同事串口調(diào)試IO口,通過(guò)主芯片叫IO口改為高阻狀態(tài)輸出，隔離對(duì)音頻信號(hào)的影響，此時(shí)耳機(jī)功能開(kāi)啟。

(2)當(dāng)選擇DEBUG界面(DEBUG調(diào)試模式)時(shí)，主芯片(GPIO_SWITCH)引腳向第一三極管輸出低電平，通過(guò)第一三極管的驅(qū)動(dòng)，使得第二三極管導(dǎo)通，從而mos管為-3.3V電壓，四個(gè)N溝道MOS管截止，音頻信號(hào)被MOS管截止無(wú)法到達(dá)DEBUG耳機(jī)復(fù)用插座，隔離對(duì)串口信號(hào)的影響，此時(shí)串口電平直接輸出至DEBUG耳機(jī)復(fù)用插座，調(diào)試功能開(kāi)啟。

通過(guò)以上具體實(shí)施方式的描述可知，在接收到用戶輸入的開(kāi)啟耳機(jī)模式信號(hào)時(shí)，顯示裝置將DEBUG調(diào)試模塊調(diào)整為高阻狀態(tài)輸出，同時(shí)向信號(hào)控制電路輸出高電平信號(hào)，以使所述信號(hào)控制電路將所述開(kāi)關(guān)控制電路導(dǎo)通；在接收到用戶輸入的開(kāi)啟BEBUG調(diào)試模式信號(hào)時(shí)，顯示裝置將DEBUG調(diào)試模塊調(diào)整為低阻狀態(tài)輸出，同時(shí)向信號(hào)控制電路輸出低電平信號(hào)，以使信號(hào)控制電路將開(kāi)關(guān)控制電路截?cái)?。從而，在開(kāi)啟耳機(jī)功能時(shí)，隔離了串口調(diào)試電路對(duì)音頻信號(hào)電路的影響；在開(kāi)啟DEBUG調(diào)試功能時(shí)，隔離了音頻信號(hào)電路對(duì)串口調(diào)試電路的影響。進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了將耳機(jī)輸出接口與BEBUG調(diào)試接口復(fù)用，降低顯示裝置的生產(chǎn)成本。

為了達(dá)到以上技術(shù)目的，如圖3所示為本申請(qǐng)?zhí)岢龅囊环N顯示裝置，包含開(kāi)關(guān)控制電路以及信號(hào)控制電路，所述開(kāi)關(guān)控制電路位于所述顯示裝置的耳機(jī)模塊與信號(hào)輸出插座之間的信號(hào)電路上，所述信號(hào)控制電路分別與所述開(kāi)關(guān)控制電路以及所述顯示裝置的主板芯片相連，所述信號(hào)輸出插座與所述顯示裝置的DEBUG調(diào)試模塊相連，所述顯示裝置還包括：

第一控制模塊301，在接收到用戶輸入的開(kāi)啟耳機(jī)模式信號(hào)時(shí)，將所述DEBUG調(diào)試模塊調(diào)整為高阻狀態(tài)輸出，并向所述信號(hào)控制電路輸出高電平信號(hào)，以使所述信號(hào)控制電路將所述開(kāi)關(guān)控制電路導(dǎo)通；

第二控制模塊302，在接收到所述用戶輸入的開(kāi)啟BEBUG調(diào)試模式信號(hào)時(shí)，將所述DEBUG調(diào)試模塊調(diào)整為低阻狀態(tài)輸出，并向所述信號(hào)控制電路輸出低電平信號(hào)，以使所述信號(hào)控制電路將所述開(kāi)關(guān)控制電路截?cái)唷?/p>

在具體的應(yīng)用場(chǎng)景中，所述信號(hào)控制電路包含有第一三極管和第二三極管；

所述開(kāi)關(guān)控制電路包含有第一開(kāi)關(guān)單元和第二開(kāi)關(guān)單元。

在具體的應(yīng)用場(chǎng)景中，所述第一三極管的基極與所述顯示裝置的主板芯片相連，所述第一三極管的集電極與所述顯示裝置的電源輸出接口相連，所述第一三極管的發(fā)射極接地；

所述第二三極管的基極與所述第一三極管的集電極相連，所述第二三極管的集電極與所述耳機(jī)模塊的負(fù)電壓輸出接口相連，所述第二三極管的發(fā)射極與所述顯示裝置的電源輸出接口相連；

所述第一開(kāi)關(guān)單元位于所述信號(hào)電路的第一信號(hào)線上，所述第一開(kāi)關(guān)單元與所述第二三極管的集電極相連；

所述第二開(kāi)關(guān)單元位于所述信號(hào)電路的第二信號(hào)線上，所述第二開(kāi)關(guān)單元與所述第二三極管的集電極相連。

在具體的應(yīng)用場(chǎng)景中，所述第一開(kāi)關(guān)單元包含第一MOS管和第二MOS管；

所述第二開(kāi)關(guān)單元包含第三MOS管和第四MOS管。

在具體的應(yīng)用場(chǎng)景中，所述第一MOS管的漏極與所述耳機(jī)模塊相連，所述第一MOS管的源極與所述第二MOS管的源極相連，所述第一MOS管的柵極與所述第二三極管的集電極相連；

所述第二MOS管的漏極與所述信號(hào)輸出插座相連，所述第二MOS管的源極與所述第一MOS管的源極相連，所述第二MOS管的柵極與所述第二三極管的集電極相連；

所述第三MOS管的漏極與所述耳機(jī)模塊相連，所述第三MOS管的源極與所述第四MOS管的源極相連，所述第三MOS管的柵極與所述第二三極管的集電極相連；

所述第四MOS管的漏極與所述信號(hào)輸出插座相連，所述第四MOS管的源極與所述第三MOS管的源極相連，所述第四MOS管的柵極與所述第二三極管的集電極相連。

通過(guò)以上具體設(shè)備的描述可知，在接收到用戶輸入的開(kāi)啟耳機(jī)模式信號(hào)時(shí)，顯示裝置將DEBUG調(diào)試模塊調(diào)整為高阻狀態(tài)輸出，同時(shí)向信號(hào)控制電路輸出高電平信號(hào)，以使所述信號(hào)控制電路將所述開(kāi)關(guān)控制電路導(dǎo)通；在接收到用戶輸入的開(kāi)啟BEBUG調(diào)試模式信號(hào)時(shí)，顯示裝置將DEBUG調(diào)試模塊調(diào)整為低阻狀態(tài)輸出，同時(shí)向信號(hào)控制電路輸出低電平信號(hào)，以使信號(hào)控制電路將開(kāi)關(guān)控制電路截?cái)?。從而，在開(kāi)啟耳機(jī)功能時(shí)，隔離了串口調(diào)試電路對(duì)音頻信號(hào)電路的影響；在開(kāi)啟DEBUG調(diào)試功能時(shí)，隔離了音頻信號(hào)電路對(duì)串口調(diào)試電路的影響。進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了將耳機(jī)輸出接口與BEBUG調(diào)試接口復(fù)用，降低顯示裝置的生產(chǎn)成本。

通過(guò)以上的實(shí)施方式的描述，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到本發(fā)明可以通過(guò)硬件實(shí)現(xiàn)，也可以借助軟件加必要的通用硬件平臺(tái)的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)?；谶@樣的理解，本發(fā)明的技術(shù)方案可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來(lái)，該軟件產(chǎn)品可以存儲(chǔ)在一個(gè)非易失性存儲(chǔ)介質(zhì)(可以是CD-ROM，U盤(pán)，移動(dòng)硬盤(pán)等)中，包括若干指令用以使得一臺(tái)計(jì)算機(jī)設(shè)備(可以是個(gè)人計(jì)算機(jī)，服務(wù)器，或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本發(fā)明各個(gè)實(shí)施場(chǎng)景所述的方法。

本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解附圖只是一個(gè)優(yōu)選實(shí)施場(chǎng)景的示意圖，附圖中的模塊或流程并不一定是實(shí)施本發(fā)明所必須的。

本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解實(shí)施場(chǎng)景中的裝置中的模塊可以按照實(shí)施場(chǎng)景描述進(jìn)行分布于實(shí)施場(chǎng)景的裝置中，也可以進(jìn)行相應(yīng)變化位于不同于本實(shí)施場(chǎng)景的一個(gè)或多個(gè)裝置中。上述實(shí)施場(chǎng)景的模塊可以合并為一個(gè)模塊，也可以進(jìn)一步拆分成多個(gè)子模塊。

上述本發(fā)明序號(hào)僅僅為了描述，不代表實(shí)施場(chǎng)景的優(yōu)劣。

以上公開(kāi)的僅為本發(fā)明的幾個(gè)具體實(shí)施場(chǎng)景，但是，本發(fā)明并非局限于此，任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員能思之的變化都應(yīng)落入本發(fā)明的保護(hù)范圍。