1.一種信息處理方法，其特征在于，應(yīng)用于第一設(shè)備，所述方法包括：
檢測所述第一設(shè)備的第一參數(shù)，所述第一參數(shù)表征了所述第一設(shè)備表面靜電粒子的分布狀態(tài)；
基于所述第一參數(shù)分析得到所述第一設(shè)備與第二設(shè)備接觸；
依據(jù)所述第一設(shè)備表面的靜電粒子，建立所述第一設(shè)備與所述第二設(shè)備之間的數(shù)據(jù)傳輸通道。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一參數(shù)分析得到所述第一設(shè)備與第二設(shè)備接觸，包括：
分析所述第一設(shè)備的第一參數(shù)，得到所述第一設(shè)備表面靜電粒子從第一分布狀態(tài)變化為第二分布狀態(tài)，靜電粒子在第一分布狀態(tài)與靜電粒子在第二分布狀態(tài)不同；
基于所述第一設(shè)備表面靜電粒子為第二分布狀態(tài)，確定所述第一設(shè)備與第二設(shè)備接觸。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一設(shè)備表面靜電粒子為第二分布狀態(tài)，確定所述第一設(shè)備與第二設(shè)備接觸，包括：
分析所述第一設(shè)備的第一參數(shù)，得到所述第一設(shè)備的第一區(qū)域的表面靜電粒子為第二分布狀態(tài)；
將所述第一區(qū)域確定為與所述第二設(shè)備接觸的區(qū)域。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述依據(jù)所述第一設(shè)備表面的靜電粒子，建立所述第一設(shè)備與所述第二設(shè)備之間的數(shù)據(jù)傳輸通道，包括：
基于所述第一設(shè)備的第一區(qū)域中的靜電粒子，建立所述第一設(shè)備與所述第二設(shè)備之間的數(shù)據(jù)傳輸通道。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，還包括：
獲取待傳輸數(shù)據(jù)；
基于所述數(shù)據(jù)傳輸通道傳輸至第二設(shè)備。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述獲取待傳輸數(shù)據(jù)，包括：
依據(jù)所述第一區(qū)域的坐標(biāo)范圍，獲取所述第一區(qū)域顯示內(nèi)容的數(shù)據(jù)信息，并將所述數(shù)據(jù)信息作為待傳輸數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述數(shù)據(jù)傳輸通道，將所述待傳輸數(shù)據(jù)傳輸至第二設(shè)備，包括：
依據(jù)預(yù)設(shè)的數(shù)據(jù)編譯方式編碼所述待傳輸數(shù)據(jù)，得到第一數(shù)據(jù)，所述第一數(shù)據(jù)的格式與所述數(shù)據(jù)傳輸通道的格式匹配；
基于所述數(shù)據(jù)傳輸通道將所述第一數(shù)據(jù)發(fā)送至第二設(shè)備，以使得所述第二設(shè)備依據(jù)預(yù)設(shè)的數(shù)據(jù)解碼方式解碼所述第一數(shù)據(jù)，得到所述待傳輸數(shù)據(jù)。
8.一種電子設(shè)備，其特征在于，所述電子設(shè)備作為第一設(shè)備應(yīng)用，包括：
檢測器，用于檢測所述第一設(shè)備的第一參數(shù)，所述第一參數(shù)表征了所述第一設(shè)備表面靜電粒子的分布狀態(tài)；
處理器，用于基于所述第一參數(shù)分析得到所述第一設(shè)備與第二設(shè)備接觸；依據(jù)所述第一設(shè)備表面的靜電粒子，建立所述第一設(shè)備與所述第二設(shè)備之間的數(shù)據(jù)傳輸通道。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的電子設(shè)備，其特征在于，所述處理器用于：
分析所述第一設(shè)備的第一參數(shù)，得到所述第一設(shè)備表面靜電粒子從第一分布狀態(tài)變化為第二分布狀態(tài)，靜電粒子在第一分布狀態(tài)與靜電粒子在第二分布狀態(tài)不同；
基于所述第一設(shè)備表面靜電粒子為第二分布狀態(tài)，確定所述第一設(shè)備與第二設(shè)備接觸。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的電子設(shè)備，其特征在于，所述處理器用于：
分析所述第一設(shè)備的第一參數(shù)，得到所述第一設(shè)備的第一區(qū)域的表面靜電粒子為第二分布狀態(tài)；
將所述第一區(qū)域確定為與所述第二設(shè)備接觸的區(qū)域。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的電子設(shè)備，其特征在于，所述處理器用于：
基于所述第一設(shè)備的第一區(qū)域中的靜電粒子，建立所述第一設(shè)備與所述第二設(shè)備之間的數(shù)據(jù)傳輸通道。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的電子設(shè)備，其特征在于，所述處理器還用于：
獲取待傳輸數(shù)據(jù)；
基于所述數(shù)據(jù)傳輸通道傳輸至第二設(shè)備。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的電子設(shè)備，其特征在于，所述處理器用于：
依據(jù)所述第一區(qū)域的坐標(biāo)范圍，獲取所述第一區(qū)域顯示內(nèi)容的數(shù)據(jù)信息，并將所述數(shù)據(jù)信息作為待傳輸數(shù)據(jù)。
14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的電子設(shè)備，其特征在于，所述處理器用于：
依據(jù)預(yù)設(shè)的數(shù)據(jù)編譯方式編碼所述待傳輸數(shù)據(jù)，得到第一數(shù)據(jù)，所述第一數(shù)據(jù)的格式與所述數(shù)據(jù)傳輸通道的格式匹配；
基于所述數(shù)據(jù)傳輸通道將所述第一數(shù)據(jù)發(fā)送至第二設(shè)備，以使得所述第二設(shè)備依據(jù)預(yù)設(shè)的數(shù)據(jù)解碼方式解碼所述第一數(shù)據(jù)，得到所述待傳輸數(shù)據(jù)。
15.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：
檢測單元，用于檢測所述第一設(shè)備的第一參數(shù)，所述第一參數(shù)表征了所述第一設(shè)備表面靜電粒子的分布狀態(tài)；
分析單元，用于基于所述第一參數(shù)分析得到所述第一設(shè)備與第二設(shè)備接觸；
處理單元，用于依據(jù)所述第一設(shè)備表面的靜電粒子，建立所述第一設(shè)備與所述第二設(shè)備之間的數(shù)據(jù)傳輸通道。