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無(wú)線終端的測(cè)試系統(tǒng)的制作方法

文檔序號(hào):12828737閱讀:213來(lái)源:國(guó)知局
無(wú)線終端的測(cè)試系統(tǒng)的制作方法與工藝

本發(fā)明涉及無(wú)線終端技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種無(wú)線終端的測(cè)試系統(tǒng)。



背景技術(shù):

隨著無(wú)線終端(如手機(jī)、平板電腦等)技術(shù)的發(fā)展,無(wú)線終端已經(jīng)進(jìn)入日常生活中的很多環(huán)節(jié)。無(wú)線終端的大批量生產(chǎn)的需求導(dǎo)致了對(duì)無(wú)線終端進(jìn)行快速測(cè)試的需求。因此一種能夠快速對(duì)無(wú)線終端進(jìn)行測(cè)試的射頻測(cè)試系統(tǒng)有待提出,以保質(zhì)保量地出產(chǎn)終端產(chǎn)品。

由于移動(dòng)無(wú)線通信終端的天線通常不是定向天線,而是向空間各個(gè)方向都有輻射,因此,根據(jù)ctia(美國(guó)無(wú)線通信和互聯(lián)網(wǎng)協(xié)會(huì))的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),將對(duì)無(wú)線終端的無(wú)線性能進(jìn)行的測(cè)試定義為ota(over-the-air,空間端口通信性能)測(cè)試。ota測(cè)試的基本思路是通過(guò)測(cè)試從無(wú)線終端在不同立體角輻射出來(lái)的能量來(lái)測(cè)定終端的總輻射功率trp(totalradiatedpower);同時(shí)通過(guò)在不同立體角測(cè)試出的終端接收靈敏度測(cè)定出終端的總接收靈敏度tis(totalisotropicsensitivity)。

目前,一種主要的測(cè)試方法是大圓切割法:將被測(cè)的移動(dòng)終端置于一個(gè)三維轉(zhuǎn)臺(tái)的中心,被測(cè)件隨著轉(zhuǎn)臺(tái)可以繞2個(gè)軸轉(zhuǎn)動(dòng)(分別與θ角和φ角對(duì)應(yīng)),采用一個(gè)測(cè)試天線,被測(cè)件和測(cè)試天線都設(shè)置在微波暗室中,被測(cè)件朝向測(cè)試天線的直射信號(hào)被測(cè)試天線接收,被測(cè)件向其他方向的輻射信號(hào)被微波暗室內(nèi)設(shè)置的吸波材料吸收,測(cè)試時(shí)根據(jù)測(cè)試需求,以預(yù)設(shè)的角度間隔轉(zhuǎn)動(dòng)被測(cè)件,每轉(zhuǎn)動(dòng)到一個(gè)位置就停下來(lái)進(jìn)行信號(hào)強(qiáng)度的測(cè)試;可以通過(guò)調(diào)整轉(zhuǎn)動(dòng)角度間隔來(lái)減少測(cè)量時(shí)間。將各個(gè)方向的輻射信號(hào)測(cè)量后,經(jīng)過(guò)積分等數(shù)據(jù)處理,生成測(cè)試結(jié)果。

另一種主要的測(cè)試方法是圓錐切割法:在球坐標(biāo)的θ角方向按照預(yù)設(shè)間距布設(shè)多個(gè)正交雙極化測(cè)試天線,而球坐標(biāo)的φ角方位則由轉(zhuǎn)臺(tái)完成。其測(cè)試過(guò)程如下:在φ角從0°轉(zhuǎn)動(dòng)到360°的步進(jìn)過(guò)程中,測(cè)試系統(tǒng)用電子開(kāi)關(guān)依次指向θ角的每一個(gè)探頭天線作該方向信號(hào)強(qiáng)度或靈敏度的測(cè)試。當(dāng)完成同樣方位、極化測(cè)試點(diǎn)數(shù)據(jù)采集后,經(jīng)過(guò)球面積分?jǐn)?shù)據(jù)處理,就可得出無(wú)線終端向自由空間輻射的總輻射功率trp或終端接收機(jī)總輻射靈敏度tis。

但是目前測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)量速度較慢,又由于要求測(cè)試天線和被測(cè)件之間的距離大于遠(yuǎn)場(chǎng)距離,以使待測(cè)件處于測(cè)試天線的平面波照射,這就導(dǎo)致測(cè)量系統(tǒng)的體積龐大,制造成本高,且適用范圍小,不利于無(wú)線終端的大規(guī)模品質(zhì)檢測(cè)。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明旨在至少在一定程度上解決相關(guān)技術(shù)中的技術(shù)問(wèn)題之一。為此,本發(fā)明的一個(gè)目的在于提出一種無(wú)線終端的測(cè)試系統(tǒng),簡(jiǎn)化了測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu),減小系統(tǒng)尺寸,具有測(cè)試結(jié)果重復(fù)性誤差小、測(cè)試結(jié)果穩(wěn)定,測(cè)試效率高、成本低等優(yōu)點(diǎn)。

為達(dá)上述目的,根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例提出了一種無(wú)線終端的測(cè)試系統(tǒng),包括:被測(cè)件,所述被測(cè)件是無(wú)線終端;屏蔽箱體,所述屏蔽箱體內(nèi)壁包括反射部和吸收部,所述反射部至少表面為金屬,用于對(duì)所述無(wú)線終端發(fā)射的無(wú)線信號(hào)進(jìn)行全反射,所述吸收部設(shè)有吸波材料,用于吸收無(wú)線電波;測(cè)試天線,用于和所述被測(cè)件進(jìn)行無(wú)線通信;吸收屏,所述吸收屏的材質(zhì)為吸波材料,所述吸收屏設(shè)置在所述被測(cè)件與所述測(cè)試天線之間,用于吸收無(wú)線電波;以及所述被測(cè)件,所述測(cè)試天線以及所述反射部的位置關(guān)系對(duì)應(yīng)同一個(gè)橢球體,其中,所述被測(cè)件和所述測(cè)試天線分別設(shè)置在所述橢球體的兩個(gè)焦點(diǎn)上,所述反射部設(shè)置在所述橢球體的橢球面上。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的無(wú)線終端的測(cè)試系統(tǒng),通過(guò)橢球形反射面將被測(cè)件發(fā)射的多個(gè)方向的輻射信號(hào)匯聚到測(cè)試天線,使多個(gè)方向的輻射信號(hào)在測(cè)試天線處達(dá)到同相相位的疊加、功率合成,從而可以一次測(cè)得被測(cè)件發(fā)射的多個(gè)方向輻射信號(hào)的功率之和,相對(duì)于傳統(tǒng)方法所用的測(cè)試系統(tǒng)來(lái)說(shuō),操作更簡(jiǎn)單,測(cè)試速度更快,避免了多次重復(fù)測(cè)試操作,測(cè)試結(jié)果重復(fù)性誤差小、測(cè)試結(jié)果穩(wěn)定,并且由于待測(cè)件不需要處于測(cè)試天線的平面波照射,因此,二者之間的距離可以小于傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)中所需的遠(yuǎn)場(chǎng)距離,從而簡(jiǎn)化了測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu),減小系統(tǒng)尺寸,尤其適用于無(wú)線終端性能在生產(chǎn)線的快速通信性能檢測(cè)。

另外,根據(jù)本發(fā)明上述實(shí)施例的無(wú)線終端的測(cè)試系統(tǒng)還可以具有如下附加的技術(shù)特征:

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述被測(cè)件設(shè)置在所述橢球體的第一焦點(diǎn),所述測(cè)試天線設(shè)置在所述橢球體的第二焦點(diǎn),經(jīng)過(guò)所述橢球體長(zhǎng)軸上第一頂點(diǎn)到所述第二焦點(diǎn)之間的任意點(diǎn)作垂直于所述橢球體長(zhǎng)軸的平面,并將所述橢球面中從所述第一頂點(diǎn)到所述平面之間的部分作為所述反射部,將所述屏蔽箱體內(nèi)壁除所述反射部以外的部分作為所述吸收部,其中,所述第一頂點(diǎn)為所述橢球體的長(zhǎng)軸的端點(diǎn),且所述第一頂點(diǎn)與所述第一焦點(diǎn)之間的距離小于所述橢球體長(zhǎng)軸長(zhǎng)度的一半。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述被測(cè)件設(shè)置在所述橢球體的第一焦點(diǎn),所述測(cè)試天線設(shè)置在所述橢球體的第二焦點(diǎn),經(jīng)過(guò)所述橢球體長(zhǎng)軸上第一頂點(diǎn)到所述第二焦點(diǎn)之間的第 一任意點(diǎn)作垂直于所述橢球體長(zhǎng)軸的第一平面,經(jīng)過(guò)所述橢球體長(zhǎng)軸上第一頂點(diǎn)到所述第一焦點(diǎn)之間的第二任意點(diǎn)作垂直于所述橢球體長(zhǎng)軸的第二平面,并將所述橢球面中所述第一平面與所述第二平面之間的部分作為所述反射面,將所述屏蔽箱體內(nèi)壁除所述反射部以外的部分作為所述吸收部,其中,所述第一頂點(diǎn)為所述橢球體的長(zhǎng)軸的端點(diǎn),且所述第一頂點(diǎn)與所述第一焦點(diǎn)之間的距離小于所述橢球體長(zhǎng)軸長(zhǎng)度的一半,所述第一任意點(diǎn)與所述第一頂點(diǎn)之間的距離大于所述第二任意點(diǎn)與所述第一頂點(diǎn)之間的距離。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,其中,所述第一平面到所述第一焦點(diǎn)的距離與所述第二平面到所述第一焦點(diǎn)的距離相等;或者所述第一平面到所述第一焦點(diǎn)所在的垂直于所述長(zhǎng)軸的平面的球面距離與所述第二平面到所述第一焦點(diǎn)所在的垂直于所述長(zhǎng)軸的平面的球面距離相等。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述第一平面到所述第二平面的球面距離大于測(cè)試頻段中最小頻率所對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)的一倍。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述反射部為所述屏蔽箱體的內(nèi)壁。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述吸收屏設(shè)置在所述橢球體的兩個(gè)焦點(diǎn)連線的中點(diǎn)處。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述吸收屏為圓形或多邊形,且所述吸收屏外接圓的直徑不小于λ/2,其中,所述λ為測(cè)試頻段中最小頻率所對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述系統(tǒng)還包括:測(cè)試儀表,所述測(cè)試儀表與所述測(cè)試天線相連,用于檢測(cè)所述測(cè)試天線接收的無(wú)線信號(hào),和/或所述測(cè)試天線發(fā)射的無(wú)線信號(hào)。

附圖說(shuō)明

本發(fā)明上述的和/或附加的方面和優(yōu)點(diǎn)從下面結(jié)合附圖對(duì)實(shí)施例的描述中將變得明顯和容易理解,其中,

圖1為根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的無(wú)線終端的測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖2為根據(jù)本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例的無(wú)線終端的測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖3為根據(jù)本發(fā)明一個(gè)具體實(shí)施例的無(wú)線終端的測(cè)試系統(tǒng)的立體結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

下面詳細(xì)描述本發(fā)明的實(shí)施例,所述實(shí)施例的示例在附圖中示出,其中自始至終相同或類似的標(biāo)號(hào)表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過(guò)參考附圖描述的實(shí)施例是示例性的,旨在用于解釋本發(fā)明,而不能理解為對(duì)本發(fā)明的限制。

下面參考附圖描述根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的無(wú)線終端的測(cè)試系統(tǒng)。

圖1為根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的無(wú)線終端的測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

如圖1所示,根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的無(wú)線終端的測(cè)試系統(tǒng),包括:屏蔽箱體1(圖1中未示出)、被測(cè)件200、測(cè)試天線300和吸收屏400。其中,屏蔽箱體1內(nèi)壁包括反射部102和吸收部103。

具體地,被測(cè)件200是無(wú)線終端,可向反射部102發(fā)射無(wú)線信號(hào)。其中,被測(cè)件200可為手機(jī)、平板電腦、個(gè)人數(shù)字助理等硬件設(shè)備。

本發(fā)明的實(shí)施例中,可通過(guò)控制器控制被測(cè)件200發(fā)送無(wú)線信號(hào)。

屏蔽箱體1內(nèi)壁的反射部102用于對(duì)無(wú)線終端發(fā)射的無(wú)線信號(hào)進(jìn)行全反射,吸收部103設(shè)有吸波材料,用于吸收無(wú)線電波。

其中,反射部103可為平板形、錐形或夾層復(fù)合結(jié)構(gòu)。通過(guò)吸收部103可吸收入射到屏蔽箱體1內(nèi)壁的無(wú)線電波,減少屏蔽箱內(nèi)部的反射,從而提高測(cè)試的精度。

反射部102至少表面為金屬。也就是說(shuō),反射部102可為金屬材料,如銅、鋁等,或?qū)ζ渌馁|(zhì)(如塑料、玻璃鋼等)進(jìn)行表面金屬化得到的材料。

測(cè)試天線300用于和被測(cè)件200進(jìn)行無(wú)線通信。也就是說(shuō),測(cè)試天線300可根據(jù)不同的測(cè)試目標(biāo)向被測(cè)件200射無(wú)線信號(hào)或者接收被測(cè)件200發(fā)射的無(wú)線信號(hào)。具體地,當(dāng)對(duì)被測(cè)件進(jìn)行接收測(cè)試時(shí),則測(cè)試天線用于發(fā)射無(wú)線信號(hào);當(dāng)對(duì)被測(cè)件進(jìn)行發(fā)射測(cè)試時(shí),則測(cè)試天線用于接收無(wú)線信號(hào)。

在本發(fā)明的實(shí)施例中,被測(cè)件200、測(cè)試天線300以及反射部102的位置關(guān)系對(duì)應(yīng)同一個(gè)橢球體,其中,被測(cè)件200和測(cè)試天線300分別設(shè)置在橢球體的兩個(gè)焦點(diǎn)上,反射部102設(shè)置在橢球體的橢球面上。其中,反射部102設(shè)置在橢球面上是指反射部102與其設(shè)置位置處的橢球面重合。下面以被測(cè)件200所在的焦點(diǎn)為第一焦點(diǎn),測(cè)試天線300所在的焦點(diǎn)為第二焦點(diǎn)為例進(jìn)行說(shuō)明。

應(yīng)當(dāng)理解,在實(shí)際測(cè)試中并不在系統(tǒng)中設(shè)置一個(gè)橢球體。上述橢球體為虛擬的橢球體,僅用于對(duì)被測(cè)件200、測(cè)試天線300和反射部102的位置關(guān)系進(jìn)行描述,以明確三者的位置關(guān)系。

吸收屏400設(shè)置在被測(cè)件200與測(cè)試天線300之間,用于吸收無(wú)線電波。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,吸收屏400可設(shè)置在上述橢球體的兩個(gè)焦點(diǎn)連線的中點(diǎn)處。

被測(cè)件200向測(cè)試天線300方向發(fā)射的無(wú)線信號(hào)不經(jīng)過(guò)反射可直接發(fā)射到測(cè)試天線300,此部分不經(jīng)過(guò)反射的信號(hào)可被稱為直射信號(hào)。由于直射信號(hào)與反射信號(hào)所經(jīng)過(guò)的傳播路徑不同,則由傳播路徑引起的相位差也可能不同,因此,直射信號(hào)與反射信號(hào)在到達(dá)測(cè)試天線300時(shí)會(huì)因?yàn)橄辔徊煌赡墚a(chǎn)生抵消或者部分疊加的效果,從而不一定能達(dá)到同相疊加、功率合成的目的。因此,為了避免此種影響,在本發(fā)明的實(shí)施例中,在被測(cè)件200 與測(cè)試天線300之間的直線上設(shè)置了吸收屏400,用于吸收無(wú)線電波,從而,可通過(guò)吸收屏400吸收(或阻擋)被測(cè)件200到測(cè)試天線300的直射無(wú)線信號(hào)。

由于被測(cè)件200到測(cè)試天線300的直射信號(hào)被吸收屏400吸收,在本發(fā)明的實(shí)施例中不再考慮直射信號(hào)的影響。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,吸收屏400的材質(zhì)可為吸波材料。進(jìn)一步地,吸收屏400可為圓形或多邊形,且吸收屏400外接圓的直徑不小于λ/2,其中,λ為測(cè)試頻段中最小頻率所對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)。需要說(shuō)明的是,如果吸收屏400為圓形,則其外接圓即其本身,也就是說(shuō),如果吸收屏400為圓形,則吸收屏400的直徑不小于λ/2。從而吸收屏400即可對(duì)絕大部分直射信號(hào)進(jìn)行吸收。此外,吸收屏400的直徑或外接圓直徑也不應(yīng)設(shè)置得過(guò)大,以免妨礙反射信號(hào)的路徑。

其中,吸收屏400可以為平板形、錐形或夾層復(fù)合結(jié)構(gòu)。

由此,通過(guò)合理設(shè)置吸收屏400的位置和尺寸,可避免被測(cè)件200向測(cè)試天線300方向發(fā)射的直射信號(hào)通過(guò)衍射到達(dá)測(cè)試天線300從而干擾測(cè)試結(jié)果。

本發(fā)明實(shí)施例中,無(wú)線終端發(fā)射的無(wú)線信號(hào)可以是電磁波信號(hào)。根據(jù)橢球面反射的物理原理可知,從一個(gè)焦點(diǎn)發(fā)送的電磁波信號(hào)經(jīng)過(guò)橢球面的反射后會(huì)入射到另一個(gè)焦點(diǎn),且橢球面上任意一點(diǎn)到橢球的兩個(gè)焦點(diǎn)的距離和為一固定值。因此,無(wú)線終端發(fā)射的電磁波信號(hào)經(jīng)反射部102后會(huì)反射至測(cè)試天線300,且從無(wú)線終端發(fā)射的多個(gè)電磁波信號(hào)經(jīng)過(guò)反射部102反射后入射到測(cè)試天線300所經(jīng)過(guò)的傳播路徑的長(zhǎng)度是相同的。從而傳播路徑引起上述多個(gè)電磁波信號(hào)的相位差是相同的,測(cè)試天線300接收到的無(wú)線信號(hào)可以實(shí)現(xiàn)同相疊加。

此外,由于位于第一焦點(diǎn)的被測(cè)件200有一定的面積分布,該分布面積經(jīng)反射部102反射后的能量被匯聚在第二焦點(diǎn)周圍的一定區(qū)域的橫截平面,故測(cè)試天線300需要有一定的面積分布才能更有效的接收匯聚的電磁波能量。也就是說(shuō),測(cè)試天線300可根據(jù)被測(cè)件200的大小設(shè)置為按照一定平面分布。

下面通過(guò)圖1和圖2對(duì)本發(fā)明中反射部102的設(shè)置進(jìn)行說(shuō)明。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,如圖1所示,被測(cè)件200設(shè)置在橢球體的第一焦點(diǎn),測(cè)試天線300設(shè)置在橢球體的第二焦點(diǎn),經(jīng)過(guò)橢球體長(zhǎng)軸上第一頂點(diǎn)到第二焦點(diǎn)之間的任意點(diǎn)作垂直于橢球體長(zhǎng)軸的平面,并將橢球面中從第一頂點(diǎn)到平面之間的部分作為反射部102,將屏蔽箱體1內(nèi)壁除反射部102以外的部分作為反射部103,其中,第一頂點(diǎn)為所述橢球體的長(zhǎng)軸的端點(diǎn),且第一頂點(diǎn)與第一焦點(diǎn)之間的距離小于橢球體長(zhǎng)軸長(zhǎng)度的一半。

也就是說(shuō),定義橢球體上離第一焦點(diǎn)較近的長(zhǎng)軸頂點(diǎn)為第一頂點(diǎn),橢球體上離第二焦點(diǎn)較近的長(zhǎng)軸頂點(diǎn)為第二頂點(diǎn)。過(guò)橢球體長(zhǎng)軸上第一頂點(diǎn)到第二焦點(diǎn)之間的任意點(diǎn)作垂直于橢球體長(zhǎng)軸的虛擬平面,將該平面與橢球面的交線定義為反射第二邊界。則反射部102 為橢球面從第一頂點(diǎn)到反射第二邊界之間的部分,吸收部103為屏蔽箱體1內(nèi)壁除反射部102以外的部分。

其中,吸收部103可以位于該虛擬橢球面上,也可以為其他形狀。舉例來(lái)說(shuō),吸收部103的形狀可以為長(zhǎng)方體的一部分,從而便于加工,且便于設(shè)置吸波材料。

由此,通過(guò)設(shè)置反射第二邊界的位置與反射部103配合可有效地避免二次反射。

在本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例中,如圖2所示,被測(cè)件200設(shè)置在橢球體的第一焦點(diǎn),測(cè)試天線300設(shè)置在橢球體的第二焦點(diǎn),經(jīng)過(guò)橢球體長(zhǎng)軸上第一頂點(diǎn)到第二焦點(diǎn)之間的第一任意點(diǎn)作垂直于橢球體長(zhǎng)軸的第一平面,經(jīng)過(guò)橢球體長(zhǎng)軸上第一頂點(diǎn)到第一焦點(diǎn)之間的第二任意點(diǎn)作垂直于橢球體長(zhǎng)軸的第二平面,并將橢球面中第一平面與第二平面之間的部分作為反射面,將屏蔽箱體1內(nèi)壁除反射部102以外的部分作為反射部103,其中,第一頂點(diǎn)與第一焦點(diǎn)之間的距離小于橢球體長(zhǎng)軸長(zhǎng)度的一半,第一任意點(diǎn)與第一頂點(diǎn)之間的距離大于第二任意點(diǎn)與第一頂點(diǎn)之間的距離。

也就是說(shuō),過(guò)橢球體長(zhǎng)軸上第一頂點(diǎn)附近的點(diǎn)(位于第一頂點(diǎn)與第一焦點(diǎn)之間)作垂直于橢球體長(zhǎng)軸的虛擬平面,該平面與橢球面的交線定義為反射第一邊界。則反射部102為反射第一邊界到圖1中定義的反射第二邊界的平頂橢球面部分,吸收部103為屏蔽箱體1內(nèi)壁除反射部102以外的部分。應(yīng)當(dāng)說(shuō)明的是,上述反射第一邊界距第一頂點(diǎn)的距離比反射第二邊界距第一頂點(diǎn)的距離近。

由此,通過(guò)反射第一邊界的設(shè)置使反射部102為平頂橢球反射面。由于背向金屬反射面的存在會(huì)導(dǎo)致測(cè)試天線300和被測(cè)件200的天線失配,而平頂橢球反射面可減小這種效應(yīng)所帶來(lái)的測(cè)試不準(zhǔn)度的負(fù)面影響。此外,將平頂處設(shè)置為反射部103可進(jìn)一步提高測(cè)試的可重復(fù)性。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,第一平面到第二平面的球面距離大于測(cè)試頻段中最小頻率所對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)的一倍。

圖3為根據(jù)本發(fā)明一個(gè)具體實(shí)施例的無(wú)線終端的測(cè)試系統(tǒng)的立體結(jié)構(gòu)示意圖。該實(shí)施例是基于圖2所示的方式設(shè)置的反射部102。

如圖3所示,該測(cè)試系統(tǒng)無(wú)線終端的測(cè)試系統(tǒng)包括:屏蔽箱體1、被測(cè)件200、測(cè)試天線300、吸收屏400和支撐件500。其中,屏蔽箱體1內(nèi)壁包括屏蔽箱門101、反射部102和吸收部103。

具體地,屏蔽箱體1包括屏蔽箱門101,屏蔽箱門101設(shè)置在圖2中的第二平面所在位置處。其中,屏蔽箱門101內(nèi)壁設(shè)置為反射部103,設(shè)置有吸波材料。

支撐件500用于支撐被測(cè)件200和吸收屏400,以使其各自在對(duì)應(yīng)的位置。

其中,支撐件500可為透波材料,或者為非金屬材質(zhì),從而能夠避免因使用金屬材質(zhì)的支撐件500而反射無(wú)線信號(hào)造成的干擾和誤差,以免對(duì)測(cè)試造成干擾。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,第一平面到第一焦點(diǎn)的距離與第二平面到第一焦點(diǎn)的距離相等。舉例來(lái)說(shuō),如果被測(cè)件200為手機(jī)或平板電腦,可將手機(jī)或平板電腦水平放置于支撐件500上。第一平面到第一焦點(diǎn)的距離與第二平面到第一焦點(diǎn)的距離相等,即為第一平面到被測(cè)件200的距離與第二平面到被測(cè)件200的距離相等。

在本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例中,第一平面到第一焦點(diǎn)所在的垂直于長(zhǎng)軸的平面的球面距離與所述第二平面到所述第一焦點(diǎn)所在的垂直于所述長(zhǎng)軸的平面的球面距離相等。

從而通過(guò)上述第一平面與第二平面的位置關(guān)系,使得反射部102的位置正好位于被測(cè)件200的輻射能量主方向,被測(cè)件200輻射的能量大部分能夠被反射部102所聚焦反射,從而能夠提高測(cè)試系統(tǒng)的靈敏度和準(zhǔn)確性。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,反射部102可為屏蔽箱體1的內(nèi)壁,從而,將反射部102與屏蔽箱體合為一體,進(jìn)一步縮小了測(cè)試箱的體積。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,無(wú)線終端的測(cè)試系統(tǒng)還可包括測(cè)試儀表。

測(cè)試儀表與測(cè)試天線300相連,用于檢測(cè)測(cè)試天線300接收的無(wú)線信號(hào),和/或檢測(cè)所述測(cè)試天線300發(fā)射的無(wú)線信號(hào)。其中,檢測(cè)測(cè)試天線300接收的無(wú)線信號(hào)用于對(duì)被測(cè)件200進(jìn)行發(fā)射測(cè)試,檢測(cè)測(cè)試天線300發(fā)射的無(wú)線信號(hào)用于對(duì)被測(cè)件200進(jìn)行接收測(cè)試。具體地,測(cè)試儀表可檢測(cè)測(cè)試天線300接收或者發(fā)射的無(wú)線信號(hào)的功率,并根據(jù)進(jìn)行功率求和,以根據(jù)功率之和對(duì)被測(cè)件200進(jìn)行測(cè)試。

具體地,測(cè)試天線300通過(guò)連接電纜連接測(cè)試儀表,測(cè)試儀表用于檢測(cè)測(cè)試天線300獲取接收的無(wú)線信號(hào)的功率之和,并根據(jù)功率之和得到測(cè)試結(jié)果。

因?yàn)闊o(wú)線信號(hào)的接收、發(fā)射是互易的,同理上述描述也適用于被測(cè)件200接收測(cè)試,本領(lǐng)域一般技術(shù)人員很容易理解,在此不再贅述。

本發(fā)明實(shí)施例的無(wú)線終端的測(cè)試系統(tǒng),通過(guò)橢球形反射面將被測(cè)件發(fā)射的多個(gè)方向的輻射信號(hào)匯聚到測(cè)試天線,使多個(gè)方向的輻射信號(hào)在測(cè)試天線處達(dá)到同相相位的疊加、功率合成,從而可以一次測(cè)得被測(cè)件發(fā)射的多個(gè)方向輻射信號(hào)的功率之和,相對(duì)于傳統(tǒng)方法所用的測(cè)試系統(tǒng)來(lái)說(shuō),操作更簡(jiǎn)單,測(cè)試速度更快,避免了多次重復(fù)測(cè)試操作,測(cè)試結(jié)果重復(fù)性誤差小、測(cè)試結(jié)果穩(wěn)定,并且由于待測(cè)件不需要處于測(cè)試天線的平面波照射,因此,二者之間的距離可以小于傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)中所需的遠(yuǎn)場(chǎng)距離,從而簡(jiǎn)化了測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu),減小系統(tǒng)尺寸,尤其適用于無(wú)線終端性能在生產(chǎn)線的快速通信性能檢測(cè)。

在本發(fā)明的描述中,需要理解的是,術(shù)語(yǔ)“中心”、“縱向”、“橫向”、“長(zhǎng)度”、“寬度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“豎直”、“水平”、“頂”、“底”“內(nèi)”、“外”、 “順時(shí)針”、“逆時(shí)針”、“軸向”、“徑向”、“周向”等指示的方位或位置關(guān)系為基于附圖所示的方位或位置關(guān)系,僅是為了便于描述本發(fā)明和簡(jiǎn)化描述,而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構(gòu)造和操作,因此不能理解為對(duì)本發(fā)明的限制。

此外,術(shù)語(yǔ)“第一”、“第二”僅用于描述目的,而不能理解為指示或暗示相對(duì)重要性或者隱含指明所指示的技術(shù)特征的數(shù)量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隱含地包括至少一個(gè)該特征。在本發(fā)明的描述中,“多個(gè)”的含義是至少兩個(gè),例如兩個(gè),三個(gè)等,除非另有明確具體的限定。

在本發(fā)明中,除非另有明確的規(guī)定和限定,術(shù)語(yǔ)“安裝”、“相連”、“連接”、“固定”等術(shù)語(yǔ)應(yīng)做廣義理解,例如,可以是固定連接,也可以是可拆卸連接,或成一體;可以是機(jī)械連接,也可以是電連接;可以是直接相連,也可以通過(guò)中間媒介間接相連,可以是兩個(gè)元件內(nèi)部的連通或兩個(gè)元件的相互作用關(guān)系,除非另有明確的限定。對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言,可以根據(jù)具體情況理解上述術(shù)語(yǔ)在本發(fā)明中的具體含義。

在本發(fā)明中,除非另有明確的規(guī)定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接觸,或第一和第二特征通過(guò)中間媒介間接接觸。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或僅僅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或僅僅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本說(shuō)明書的描述中,參考術(shù)語(yǔ)“一個(gè)實(shí)施例”、“一些實(shí)施例”、“示例”、“具體示例”、或“一些示例”等的描述意指結(jié)合該實(shí)施例或示例描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)包含于本發(fā)明的至少一個(gè)實(shí)施例或示例中。在本說(shuō)明書中,對(duì)上述術(shù)語(yǔ)的示意性表述不必須針對(duì)的是相同的實(shí)施例或示例。而且,描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)可以在任一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例或示例中以合適的方式結(jié)合。此外,在不相互矛盾的情況下,本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以將本說(shuō)明書中描述的不同實(shí)施例或示例以及不同實(shí)施例或示例的特征進(jìn)行結(jié)合和組合。

盡管上面已經(jīng)示出和描述了本發(fā)明的實(shí)施例,可以理解的是,上述實(shí)施例是示例性的,不能理解為對(duì)本發(fā)明的限制,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在本發(fā)明的范圍內(nèi)可以對(duì)上述實(shí)施例進(jìn)行變化、修改、替換和變型。

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