專利名稱：一種射頻指標(biāo)的測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及無(wú)線通信設(shè)備測(cè)試，特別涉及FDD (Frequency Division Duplexing, 頻分雙工)LTE (Long Term Evolution，長(zhǎng)期演進(jìn))基站的射頻指標(biāo)的測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
基站中的射頻單元(RRU)是所有無(wú)線通信系統(tǒng)必不可少的部分，其性能優(yōu)劣影響著整個(gè)系統(tǒng)，只有通過(guò)測(cè)試才能驗(yàn)證其性能是否達(dá)到了設(shè)計(jì)目標(biāo)。2011年11月3GPP (第三代合作伙伴計(jì)劃)組織已經(jīng)通過(guò)了 FDD LTE上行靈敏度指標(biāo)和某些阻塞干擾點(diǎn)(下行信號(hào)與干擾信號(hào)的二次/三次諧波落在上行帶內(nèi))需要在下行發(fā)射E-TM1. 1模式下進(jìn)行測(cè)試。實(shí)驗(yàn)室靈敏度測(cè)試環(huán)境如圖1，矢量信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生的上行信號(hào)經(jīng)過(guò)衰減器到達(dá)天線口，進(jìn)行靈敏度測(cè)試。靈敏度測(cè)試的詳細(xì)過(guò)程已在3GPP 36. 141協(xié)議中規(guī)定，這里就不再詳細(xì)說(shuō)明。阻塞測(cè)試環(huán)境如圖2，矢量信號(hào)發(fā)生器B端口產(chǎn)生的上行有用信號(hào)經(jīng)過(guò)衰減器和環(huán)形器到達(dá)天線口 ；矢量信號(hào)發(fā)生器A端口產(chǎn)生的上行干擾信號(hào)經(jīng)過(guò)衰減器和環(huán)形器到達(dá)天線口，進(jìn)行阻塞測(cè)試。阻塞測(cè)試的詳細(xì)過(guò)程已在3GPP 36. 141協(xié)議中規(guī)定，這里就不再詳細(xì)說(shuō)明。圖1和圖2是基站下行不輸出功率情況下，靈敏度和阻塞測(cè)試環(huán)境；如果基站下行滿功率發(fā)射情況下，靈敏度和阻塞指標(biāo)還是采用圖1和圖2的話，就存在以下問(wèn)題由于RRU的輸出功率一般都大于20W，測(cè)試環(huán)境需要用到衰減器和環(huán)形器。目前就業(yè)界器件水平而言衰減器的無(wú)源互調(diào)約-IlOdBc,環(huán)形器的無(wú)源互調(diào)指標(biāo)更差，如果TX(發(fā)射鏈路)滿功率發(fā)射，測(cè)試環(huán)境會(huì)產(chǎn)生大量的無(wú)源互調(diào)以及雜散，從而影響上行指標(biāo)。但這種指標(biāo)的惡化，并非RRU性能不佳引起，而是由于測(cè)試環(huán)境的不合理所導(dǎo)致，測(cè)試環(huán)境已經(jīng)不能真實(shí)的反映RRU的性能。針對(duì)3GPP TS36. 141協(xié)議中的block(阻塞)指標(biāo)，要求干擾信號(hào)的功率大于 +16dBm,同時(shí)還要求TX滿功率發(fā)射。如何搭建測(cè)試環(huán)境極為關(guān)鍵，既要保證TX下行信號(hào)對(duì)信號(hào)源不造成損壞，還要保證信號(hào)源送給RRU的干擾信號(hào)在天線口大于+16dBm，更要保證測(cè)試環(huán)境不能產(chǎn)生大的互調(diào)產(chǎn)物影響RRU射頻測(cè)試指標(biāo)。目前絕大多數(shù)的FDD LTE設(shè)備供應(yīng)商，上行射頻指標(biāo)和下行射頻指標(biāo)都是分時(shí)測(cè)試，效率較低。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種射頻指標(biāo)的測(cè)試系統(tǒng)，以實(shí)現(xiàn)上下行指標(biāo)同時(shí)測(cè)試，大幅提高測(cè)試效率。為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種射頻指標(biāo)的測(cè)試系統(tǒng)，包括多工器、 射頻單元(RRU)、測(cè)試儀和信號(hào)源，其中，所述多工器的公共端口與RRU的一天線端口連接，
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所述多工器中的一個(gè)或多個(gè)帶通濾波器接口通過(guò)第一衰減器連接到測(cè)試儀，用于測(cè)試下行信號(hào)射頻指標(biāo)；所述信號(hào)源的第一輸出口直接與多工器中的第一帶阻濾波器接口連接，用于輸出上行干擾信號(hào)，所述信號(hào)源的第二輸出口通過(guò)第二衰減器與多工器中的第二帶阻濾波器接口連接，用于輸出上行有用信號(hào)，進(jìn)而測(cè)試上行信號(hào)射頻指標(biāo)。進(jìn)一步地，上述系統(tǒng)還具有下面特點(diǎn)所述下行信號(hào)射頻指標(biāo)包括下行信號(hào)的功率、矢量誤差、占用帶寬和頻率誤差中的一個(gè)或多個(gè)；所述上行信號(hào)射頻指標(biāo)包括上行信號(hào)的靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍、臨道選擇性、信道內(nèi)選擇性和互調(diào)指標(biāo)中的一個(gè)或多個(gè)。為了解決上述問(wèn)題，本發(fā)明還提供一種射頻指標(biāo)的測(cè)試系統(tǒng)，包括多工器、RRU 和信號(hào)源，其中，所述多工器的公共端口與RRU的一天線端口連接，所述信號(hào)源的第一輸出口直接與所述多工器中的第一帶阻濾波器接口連接，用于輸出大于預(yù)定功率且不落在下行信號(hào)頻段內(nèi)的上行干擾信號(hào)；所述信號(hào)源的第二輸出口通過(guò)衰減器與所述多工器中的第二帶阻濾波器接口連接，用于輸出上行有用信號(hào)，所述系統(tǒng)，用于進(jìn)行在下行信號(hào)達(dá)到額定功率的情況下的阻塞指標(biāo)測(cè)試。為了解決上述問(wèn)題，本發(fā)明還提供一種射頻指標(biāo)的測(cè)試系統(tǒng)，包括多工器、RRU 和信號(hào)源，其中，所述多工器的公共端口與RRU的一天線端口連接，所述信號(hào)源的第一輸出口與所述多工器中的一帶通濾波器接口連接，用于輸出大于預(yù)定功率且落在下行信號(hào)頻段內(nèi)的上行干擾信號(hào)；所述信號(hào)源的第二輸出口通過(guò)衰減器與所述多工器中的一帶阻濾波器接口連接， 用于輸出上行有用信號(hào)，所述系統(tǒng)，用于進(jìn)行在下行信號(hào)達(dá)到額定功率的情況下的阻塞指標(biāo)測(cè)試。為了解決上述問(wèn)題，本發(fā)明還提供一種射頻指標(biāo)的測(cè)試系統(tǒng)，包括多工器、RRU 和測(cè)試儀，其中，所述多工器的公共端口與RRU的一天線端口連接，所述多工器中的一帶阻濾波器接口與所述測(cè)試儀連接，用于進(jìn)行下行雜散信號(hào)測(cè)
試ο為了解決上述問(wèn)題，本發(fā)明還提供一種射頻指標(biāo)的測(cè)試系統(tǒng)，包括多工器、RRU、 測(cè)試儀和信號(hào)源，其中，所述多工器的公共端口與RRU的一天線端口連接，所述多工器中的一帶通濾波器接口與一環(huán)形器連接，所述環(huán)形器通過(guò)第一衰減器連接到測(cè)試儀；所述信號(hào)源的第一輸出口與所述環(huán)形器連接，用于輸出上行干擾信號(hào)；所述信號(hào)源的第二輸出口通過(guò)衰減器與所述多工器中的一帶阻濾波器接口連接， 用于輸出上行有用信號(hào)，所述系統(tǒng)用于進(jìn)行下行發(fā)射互調(diào)測(cè)試。綜上，本發(fā)明提供的射頻指標(biāo)的測(cè)試系統(tǒng)，能夠?qū)崿F(xiàn)上下行指標(biāo)同時(shí)測(cè)試，可以解決TX額定功率下進(jìn)行block指標(biāo)測(cè)試、排除測(cè)試環(huán)境對(duì)RRU性能的影響以及提高測(cè)試效率。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)中的測(cè)試靈敏度的測(cè)試系統(tǒng)的示意圖；圖2為現(xiàn)有技術(shù)中的測(cè)試阻塞的測(cè)試系統(tǒng)的示意圖；圖3(a)-3(d)、圖5(a)為本發(fā)明實(shí)施例的射頻指標(biāo)的測(cè)試系統(tǒng)的示意圖；圖4、圖5(b)為本發(fā)明實(shí)施例的多工器的示意圖。
具體實(shí)施例方式為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，下文中將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。需要說(shuō)明的是，在不沖突的情況下，本申請(qǐng)中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互任意組合。本發(fā)明實(shí)施例的測(cè)試系統(tǒng)利用多工器來(lái)搭建測(cè)試環(huán)境，多工器實(shí)現(xiàn)的功能如圖 4所示，它由一系列的帶通濾波器、帶阻濾波器以及T型結(jié)按照一定的級(jí)聯(lián)方式組成，完成的主要功能為公共端口(Portl)到Port2為TX信號(hào)的帶通濾波器，通行下行信號(hào)； Portl到Port3和Port4為TX信號(hào)的帶阻濾波器，阻止下行信號(hào)，但是可通行上行信號(hào)，在 DC-4GHZ (除去TX頻段)間其它頻段信號(hào)可以無(wú)衰減的通過(guò)。利用多工器來(lái)搭建測(cè)試環(huán)境比采用分離式器件更加簡(jiǎn)單，并且能保證測(cè)試環(huán)境的無(wú)源互調(diào)產(chǎn)物小于-llOcffim。為了進(jìn)一步說(shuō)明本發(fā)明，下面結(jié)合附圖和實(shí)例進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。實(shí)施例1進(jìn)行上下行指標(biāo)同時(shí)測(cè)試的測(cè)試系統(tǒng)如圖3(a)所示，本實(shí)施例的測(cè)試系統(tǒng)的構(gòu)成如下一多工器的下上行信號(hào)通行的公共端口(Portl)與eRRU(演進(jìn)型RRU)的一天線端口連接，多工器的帶通濾波器接口(PorU)與一衰減器連接，該衰減器與一頻譜儀連接， 多工器的兩帶阻濾波器接口(Port3和Port4)分別與一矢量信號(hào)發(fā)生器的兩輸出端口連接。圖中的EPC為核心網(wǎng))、eBBU為基站資源池、OMC為操作維護(hù)中心。本實(shí)施例中，基站的下行信號(hào)通過(guò)三工器的Portl到Port2，在經(jīng)過(guò)衰減器到頻譜儀；矢量信號(hào)發(fā)生器A端口產(chǎn)生的上行有用信號(hào)經(jīng)過(guò)衰減器，再經(jīng)過(guò)三工器的Port3到 Portl，然后到天線口 ；矢量信號(hào)發(fā)生器B端口產(chǎn)生的上行干擾信號(hào)經(jīng)過(guò)三工器的Port4到 Port 1，再到天線口。本實(shí)施例中，多工器的Portl到Port2為TX信號(hào)的帶通濾波器，允許下行信號(hào)無(wú)衰減的通過(guò)；Portl到Port3/Port4為TX信號(hào)的帶阻濾波器，阻止下行信號(hào)通過(guò)，只允許上行信號(hào)無(wú)衰減的通過(guò)，利用多工器將上行和下行分成了獨(dú)立的兩路信號(hào)。本實(shí)施例中，利用頻譜儀從Port2測(cè)試下行信號(hào)的功率、EVM (Error Vector Magnitude，矢量誤差))、占用帶寬、頻率誤差；利用信號(hào)源(如圖3(a)中的矢量信號(hào)發(fā)生器)從Port3和Port4測(cè)試上行靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍、ACS (Adjacent Channel klectivity，臨道選擇性)、ICS (In-channel selectivity，信道內(nèi)選擇性)、互調(diào)指標(biāo)。本實(shí)施例的系統(tǒng)利用多工器將上行和下行分成了獨(dú)立的兩路信號(hào)，可以進(jìn)行上行指標(biāo)和下行指標(biāo)的獨(dú)立測(cè)試。相比于分時(shí)測(cè)試，測(cè)試效率大幅度提高，極大的降低了人力成本。利用該測(cè)試環(huán)境可以完成下行和上行全部指標(biāo)測(cè)試，使得測(cè)試附件的費(fèi)用投入大大降低。實(shí)施例2，干擾信號(hào)落在TX頻段外時(shí)，測(cè)試TX額定功率下的block指標(biāo)的測(cè)試系統(tǒng)，如圖3(a)所示。本實(shí)施例中，使TX信號(hào)達(dá)到額定功率，信號(hào)源發(fā)出大于預(yù)定功率，且不落在TX頻段內(nèi)的干擾信號(hào)，來(lái)進(jìn)行在下行信號(hào)達(dá)到額定功率的情況下的阻塞指標(biāo)測(cè)試。本實(shí)施例中，可以通過(guò)調(diào)節(jié)衰減器，使得進(jìn)入頻譜儀的功率在允許的范圍內(nèi)，這樣 TX額定功率不會(huì)造成頻譜儀損壞。由于多工器中TX信號(hào)的阻帶，TX額定功率無(wú)法通過(guò)Portl到Port3和Port4造成信號(hào)源損壞，所以TX大功率信號(hào)不會(huì)進(jìn)入信號(hào)源。本實(shí)施例中，可以使信號(hào)源發(fā)出大于+16dBm且不落在TX頻段內(nèi)的干擾信號(hào)，干擾信號(hào)經(jīng)過(guò)多工器的Port4到Portl，這些器件的線損為IdB左右，常用信號(hào)源的輸出功率最大為+20dBm左右，那么到達(dá)天線端口的干擾功率約為+19dB。實(shí)施例3，干擾信號(hào)落在TX頻段內(nèi)時(shí)，測(cè)試TX額定功率下的block指標(biāo)的測(cè)試系統(tǒng)，如圖3(b)所示，本實(shí)施例的測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)如下一多工器的下上行信號(hào)通行的端口(Portl)與RRU的一天線端口連接，多工器的帶通濾波器接口(PorU)與一環(huán)形器連接，環(huán)形器與衰減器連接，該衰減器與一頻譜儀連接，矢量信號(hào)發(fā)生器的一端口(A)通過(guò)衰減器與多工器的一帶阻濾波器接口(Port3)，矢量信號(hào)發(fā)生器的另一端口(B)與所述環(huán)形器連接，多工器的另一帶阻濾波器接口(Port4)接一匹配負(fù)載。本實(shí)施例中，基站的下行信號(hào)通過(guò)三工器的Portl到Port2，在經(jīng)過(guò)環(huán)形器，然后經(jīng)過(guò)衰減器到頻譜儀；矢量信號(hào)發(fā)生器A端口產(chǎn)生的上行有用信號(hào)經(jīng)過(guò)衰減器，再經(jīng)過(guò)三工器的Port3到Portl，然后到天線口 ；矢量信號(hào)發(fā)生器B端口產(chǎn)生的上行干擾信號(hào)經(jīng)過(guò)環(huán)形器，再經(jīng)過(guò)三工器的Port2到Portl，再到天線口。本實(shí)施例中，使TX信號(hào)達(dá)到額定功率，信號(hào)源發(fā)出大于預(yù)定功率，且落在TX頻段內(nèi)的干擾信號(hào)，來(lái)進(jìn)行在下行信號(hào)達(dá)到額定功率的情況下的阻塞指標(biāo)測(cè)試。圖3(b)中雖然用到了無(wú)源互調(diào)較差的環(huán)形器，但環(huán)形器產(chǎn)生的RX(接收通道)頻段無(wú)源互調(diào)產(chǎn)物會(huì)被多工器Portl到Port2的TX帶通濾波器抑制掉，不會(huì)對(duì)RX指標(biāo)測(cè)試造成影響。本實(shí)施例中，干擾信號(hào)落在多工器Portl到Port2的TX帶通濾波器和Portl到 Port4的阻帶濾波器的過(guò)渡帶上時(shí)，對(duì)圖4中的多工器Portl到Port2的TX帶通濾波可以左右各外擴(kuò)相應(yīng)的帶寬(例如由于目前帶阻濾波器的過(guò)渡帶約為6M左右，那么TX帶通濾波器可以左右各外擴(kuò)6M，這樣Portl到Port2的TX帶通濾波器和Portl到Port4的TX帶阻濾波器互補(bǔ)起來(lái)完成整個(gè)頻段干擾點(diǎn)的測(cè)試。本發(fā)明實(shí)施例的FDD LTE上下行射頻指標(biāo)同時(shí)測(cè)試的方法和系統(tǒng)，解決FDD LTE RRU上行block指標(biāo)在TX額定功率下無(wú)法測(cè)試的問(wèn)題及測(cè)試環(huán)境無(wú)源互調(diào)干擾過(guò)大導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確的問(wèn)題，使測(cè)試結(jié)果更準(zhǔn)確，能在實(shí)驗(yàn)室測(cè)試中充分反應(yīng)RRU的真實(shí)性能；同時(shí)系統(tǒng)可以進(jìn)行上下行指標(biāo)同時(shí)測(cè)試，從而大幅提高了測(cè)試效率，降低了人力和資源投入；該測(cè)試環(huán)境降低了對(duì)高性能測(cè)試附件的依賴，尤其是排除了對(duì)低互調(diào)的衰減器以及環(huán)形器的依賴；該項(xiàng)系統(tǒng)測(cè)試環(huán)境十分簡(jiǎn)單，有利用研發(fā)階段簡(jiǎn)單有效的定位問(wèn)題。實(shí)施例4，進(jìn)行下行雜散信號(hào)測(cè)試的測(cè)試系統(tǒng)如圖3(c)所示，將圖3(a)中多工器的Port2和Port4接上匹配負(fù)載變成圖3 (c)，可以利用圖3 (c)進(jìn)行下行雜散信號(hào)測(cè)試，下行雜散具體測(cè)試過(guò)程在3GPP 36. 141協(xié)議中已經(jīng)規(guī)定，這里就不做詳細(xì)的描述。可以將圖3(a)中多工器去掉，在天線口直接接衰減器變成圖3(d)，可以利用圖 3(d)進(jìn)行下行 ACLR(Adjacent Channel Leakage power Ratio，臨道泄露比)、 SEM(spurious emission Mask，功率輻射模板)測(cè)試。也可以在圖3(a)多工器的Port2加入環(huán)形器并且在Port4接上匹配負(fù)載變成圖3(b)，可以利用圖3(b)進(jìn)行下行發(fā)射互調(diào)測(cè)試，下行發(fā)射互調(diào)測(cè)試過(guò)程已經(jīng)在3GPP 36. 141協(xié)議中規(guī)定，這里就不再詳細(xì)說(shuō)明。在圖3 (a)的基礎(chǔ)上做適當(dāng)?shù)淖兓?，就可以?shí)現(xiàn)FDD LTE 3GPP TS36. 141協(xié)議中所有的射頻指標(biāo)的測(cè)試。本發(fā)明實(shí)施例中的測(cè)試環(huán)境大幅度簡(jiǎn)化了 TS36. 141附錄中的測(cè)試環(huán)境；并且比TS36. 141附錄中的測(cè)試環(huán)境，更具有實(shí)際可執(zhí)行性。實(shí)施例4，支持異頻RRU同時(shí)測(cè)試的測(cè)試系統(tǒng)如圖5所示一多工器的下上行信號(hào)通行的端口(Portl)與RRU的一天線端口連接，多工器的下行信號(hào)通行的端口(Port2和 Port5)分別與衰減器連接，該衰減器分別與頻譜儀連接，多工器的兩上行信息通行的端口 (Port3和Port4)分別與一矢量信號(hào)發(fā)生器的兩輸出端口連接。本實(shí)施例中的多工器的Portl到Port2為TXl的帶通濾波器，可以從Port2測(cè)試 TXl的下行帶內(nèi)指標(biāo)測(cè)試(例如，功率、EVM等指標(biāo))；本實(shí)施例中的多工器的Portl到Port5為TX2的帶通濾波器，可以從Port5測(cè)試 TX2的下行帶內(nèi)指標(biāo)測(cè)試(例如，功率、EVM等指標(biāo))；本實(shí)施例中的多工器的Port3和Port4到Portl為TXl和TX2的帶阻濾波器，可以從Port3和Port4測(cè)試RXl和RX2的上行射頻指標(biāo)。在圖5的基礎(chǔ)上做適當(dāng)?shù)淖兓部梢酝瓿善渌笜?biāo)的測(cè)試(如按照?qǐng)D3的變化思路)。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解上述方法中的全部或部分步驟可通過(guò)程序來(lái)指令相關(guān)硬件完成，所述程序可以存儲(chǔ)于計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中，如只讀存儲(chǔ)器、磁盤或光盤等?？蛇x地，上述實(shí)施例的全部或部分步驟也可以使用一個(gè)或多個(gè)集成電路來(lái)實(shí)現(xiàn)。相應(yīng)地，上述實(shí)施例中的各模塊/單元可以采用硬件的形式實(shí)現(xiàn)，也可以采用軟件功能模塊的形式實(shí)現(xiàn)。本發(fā)明不限制于任何特定形式的硬件和軟件的結(jié)合。以上僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，當(dāng)然，本發(fā)明還可有其他多種實(shí)施例，在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種射頻指標(biāo)的測(cè)試系統(tǒng)，包括多工器、射頻單元(RRU)、測(cè)試儀和信號(hào)源，其中， 所述多工器的公共端口與RRU的一天線端口連接，所述多工器中的一個(gè)或多個(gè)帶通濾波器接口通過(guò)第一衰減器連接到測(cè)試儀，用于測(cè)試下行信號(hào)射頻指標(biāo)；所述信號(hào)源的第一輸出口直接與多工器中的第一帶阻濾波器接口連接，用于輸出上行干擾信號(hào)，所述信號(hào)源的第二輸出口通過(guò)第二衰減器與多工器中的第二帶阻濾波器接口連接，用于輸出上行有用信號(hào)，進(jìn)而測(cè)試上行信號(hào)射頻指標(biāo)。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所述下行信號(hào)射頻指標(biāo)包括下行信號(hào)的功率、矢量誤差、占用帶寬和頻率誤差中的一個(gè)或多個(gè)；所述上行信號(hào)射頻指標(biāo)包括上行信號(hào)的靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍、臨道選擇性、信道內(nèi)選擇性和互調(diào)指標(biāo)中的一個(gè)或多個(gè)。
3.一種射頻指標(biāo)的測(cè)試系統(tǒng)，包括多工器、RRU和信號(hào)源，其中，所述多工器的公共端口與RRU的一天線端口連接，所述信號(hào)源的第一輸出口直接與所述多工器中的第一帶阻濾波器接口連接，用于輸出大于預(yù)定功率且不落在下行信號(hào)頻段內(nèi)的上行干擾信號(hào)；所述信號(hào)源的第二輸出口通過(guò)衰減器與所述多工器中的第二帶阻濾波器接口連接，用于輸出上行有用信號(hào)，所述系統(tǒng)，用于進(jìn)行在下行信號(hào)達(dá)到額定功率的情況下的阻塞指標(biāo)測(cè)試。
4.一種射頻指標(biāo)的測(cè)試系統(tǒng)，包括多工器、RRU和信號(hào)源，其中，所述多工器的公共端口與RRU的一天線端口連接，所述信號(hào)源的第一輸出口與所述多工器中的一帶通濾波器接口連接，用于輸出大于預(yù)定功率且落在下行信號(hào)頻段內(nèi)的上行干擾信號(hào)；所述信號(hào)源的第二輸出口通過(guò)衰減器與所述多工器中的一帶阻濾波器接口連接，用于輸出上行有用信號(hào)，所述系統(tǒng)，用于進(jìn)行在下行信號(hào)達(dá)到額定功率的情況下的阻塞指標(biāo)測(cè)試。
5.一種射頻指標(biāo)的測(cè)試系統(tǒng)，包括多工器、RRU和測(cè)試儀，其中，所述多工器的公共端口與RRU的一天線端口連接，所述多工器中的一帶阻濾波器接口與所述測(cè)試儀連接，用于進(jìn)行下行雜散信號(hào)測(cè)試。
6.一種射頻指標(biāo)的測(cè)試系統(tǒng)，包括多工器、RRU、測(cè)試儀和信號(hào)源，其中，所述多工器的公共端口與RRU的一天線端口連接，所述多工器中的一帶通濾波器接口與一環(huán)形器連接，所述環(huán)形器通過(guò)第一衰減器連接到測(cè)試儀；所述信號(hào)源的第一輸出口與所述環(huán)形器連接，用于輸出上行干擾信號(hào)；所述信號(hào)源的第二輸出口通過(guò)衰減器與所述多工器中的一帶阻濾波器接口連接，用于輸出上行有用信號(hào)，所述系統(tǒng)用于進(jìn)行下行發(fā)射互調(diào)測(cè)試。
全文摘要
本發(fā)明提供的射頻指標(biāo)的測(cè)試系統(tǒng)，包括多工器、射頻單元(RRU)、測(cè)試儀和信號(hào)源，其中，所述多工器的公共端口與RRU的一天線端口連接，所述多工器中的一個(gè)或多個(gè)帶通濾波器接口通過(guò)第一衰減器連接到測(cè)試儀，用于測(cè)試下行信號(hào)射頻指標(biāo)；所述信號(hào)源的第一輸出口直接與多工器中的第一帶阻濾波器接口連接，用于輸出上行干擾信號(hào)，所述信號(hào)源的第二輸出口通過(guò)第二衰減器與多工器中的第二帶阻濾波器接口連接，用于輸出上行有用信號(hào)，進(jìn)而測(cè)試上行信號(hào)射頻指標(biāo)。通過(guò)本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)上下行指標(biāo)同時(shí)測(cè)試，可以解決TX額定功率下進(jìn)行block指標(biāo)測(cè)試、排除測(cè)試環(huán)境對(duì)RRU性能的影響以及提高測(cè)試效率。
文檔編號(hào)H04B17/00GK102571239SQ201210011328
公開日2012年7月11日 申請(qǐng)日期2012年1月13日 優(yōu)先權(quán)日2012年1月13日
發(fā)明者余飛, 劉彬, 張?zhí)禊i, 張志鋒, 成軍平, 田宏, 邵立群 申請(qǐng)人:中興通訊股份有限公司