專利名稱：一種射頻指標(biāo)測(cè)試方法及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及網(wǎng)絡(luò)通信技術(shù)，特別是一種射頻指標(biāo)測(cè)試方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
在TDD-LTE系統(tǒng)中，從單板測(cè)試到集成測(cè)試，需要測(cè)試的指標(biāo)一般有上行信號(hào)的信噪比(SNR, Signal to Noise Ratio)，無(wú)雜散動(dòng)態(tài)范圍(SFDR, Spurious Free Dynamic range)滿量程信號(hào)幅度，單音信號(hào)功率以及DDC濾波器特性等；下行信號(hào)的相鄰頻道泄漏比(ACLR，Adjacent Channel LeakageRatio,),山條值平均功率比(PAPR，Peak to Average Power Ratio)，駐波比(SWR, Voltage Standing Wave Ratio)，空口輸出功率等；另外為了定位問題需要采集一定時(shí)間段內(nèi)的上行信號(hào)和下行信號(hào)。圖1是現(xiàn)有技術(shù)中射頻指標(biāo)測(cè)試的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示，測(cè)試上行指標(biāo)時(shí)，需要使用邏輯分析儀等工具采集ADC或者DDC輸出的數(shù)據(jù)，再使用數(shù)據(jù)處理軟件進(jìn)行分析得到相關(guān)指標(biāo)；測(cè)試下行指標(biāo)時(shí)，對(duì)數(shù)字信號(hào)的數(shù)據(jù)采集使用邏輯分析儀，采集后使用 PC軟件進(jìn)行后處理，其他指標(biāo)只能使用頻譜分析儀進(jìn)行測(cè)量。在RRU單元內(nèi)部，F(xiàn)PGA完成上下行數(shù)據(jù)處理功能，發(fā)射通道完成發(fā)射通路模擬信號(hào)處理，接收通道完成接收通路模擬信號(hào)處理，濾波器模塊輸出信號(hào)到天線單元。測(cè)量時(shí)一般是在模擬信號(hào)輸出端口完成模擬信號(hào)測(cè)試，或者在FPGA內(nèi)部采集數(shù)字信號(hào)，進(jìn)行相關(guān)后處理?，F(xiàn)有技術(shù)中的測(cè)試方法在測(cè)試接收指標(biāo)時(shí)需要進(jìn)行多次數(shù)據(jù)采集和分析處理操作，操作儀器和軟件的時(shí)間占用了大部分測(cè)試時(shí)間。尤其在做溫度實(shí)驗(yàn)提取數(shù)據(jù)和生產(chǎn)測(cè)試階段，這種方法是非常耗費(fèi)人力和時(shí)間的?？梢娫诂F(xiàn)有技術(shù)中，對(duì)LTE系統(tǒng)中的射頻指標(biāo)的測(cè)試需要使用的測(cè)量?jī)x器多，成本高；而且測(cè)量完成后需要對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行的后處理復(fù)雜，耗費(fèi)大量的人力和時(shí)間，效率較低。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種射頻指標(biāo)測(cè)試方法，該方法能夠提高測(cè)試射頻指標(biāo)的效率。為達(dá)到上述目的，該方法是這樣實(shí)現(xiàn)的設(shè)置射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)，啟動(dòng)預(yù)定義的該射頻指標(biāo)對(duì)應(yīng)的測(cè)量函數(shù)；根據(jù)所設(shè)置的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)采集射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)；通過所述測(cè)量函數(shù)將采集到的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理；輸出處理后的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)。本發(fā)明還提供了一種射頻指標(biāo)測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)能夠提高測(cè)試射頻指標(biāo)的效率。一種射頻指標(biāo)測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括FPGA模塊、處理器模塊；其中，處理器模塊，用于根據(jù)所設(shè)置的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)，向FPGA模塊發(fā)送數(shù)據(jù)采集命令；用于接收FPGA模塊所采集到的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)，調(diào)用預(yù)定義的該射頻指標(biāo)對(duì)應(yīng)的測(cè)量函數(shù)進(jìn)行處理；FPGA模塊，用于接收處理器模塊發(fā)送的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集命令，對(duì)相應(yīng)的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)進(jìn)行采集，把采集到的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)發(fā)送給處理器模塊進(jìn)行處理。由上述可知，本發(fā)明的技術(shù)方案，采集不同的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)，通過預(yù)定義的與該射頻指標(biāo)對(duì)應(yīng)的測(cè)量函數(shù)進(jìn)行計(jì)算，輸出的計(jì)算結(jié)果就是所需的射頻指標(biāo)。本發(fā)明的技術(shù)方案測(cè)量方便，節(jié)省人力成本，并且能夠提高測(cè)試射頻指標(biāo)的效率和測(cè)量精度。


圖1是現(xiàn)有技術(shù)中射頻指標(biāo)測(cè)試的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本發(fā)明中一種射頻指標(biāo)測(cè)試方法的流程圖；圖3是本發(fā)明中一種射頻指標(biāo)測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4是本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中的測(cè)量SNR指標(biāo)的流程圖。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明公開了一種射頻指標(biāo)測(cè)試方法及系統(tǒng)，本方明的技術(shù)方案能夠提高測(cè)試射頻指標(biāo)的效率和測(cè)量精度。為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述。圖2是本發(fā)明中一種射頻指標(biāo)測(cè)試方法的流程圖。如圖2所示，步驟201，設(shè)置射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)，啟動(dòng)預(yù)定義的該射頻指標(biāo)對(duì)應(yīng)的測(cè)量函數(shù)；步驟202，根據(jù)所設(shè)置的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)采集射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)；步驟203，通過所述測(cè)量函數(shù)將采集到的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理；步驟204，輸出處理后的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)。在步驟201中，所要設(shè)置的數(shù)據(jù)采集參數(shù)包括設(shè)置所要采集的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)類型，如ADC數(shù)據(jù)或DAC數(shù)據(jù)；采集該射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)的采集時(shí)間點(diǎn)，如每隔IOms采集一次數(shù)據(jù)；采集該射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)的采樣率，如184. 32Msps。在本發(fā)明中采集射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)時(shí)，可以采用自動(dòng)周期進(jìn)行采集的方式，也可以采用手動(dòng)觸發(fā)測(cè)量進(jìn)行采集的方式，或者其他的根據(jù)實(shí)際情況設(shè)定的數(shù)據(jù)采集方式。在本發(fā)明的一種實(shí)施例中，將上所述的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)預(yù)先設(shè)置好，當(dāng)需要使用該射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)時(shí)，可以直接調(diào)用該參數(shù)，減少因?yàn)闇y(cè)量不同的射頻指標(biāo)，而重新設(shè)定所述射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)的時(shí)間，提高測(cè)試的效率。在步驟202中，將所要檢測(cè)的射頻指標(biāo)的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)后，采集該數(shù)字信號(hào)。根據(jù)所設(shè)置的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)采集射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)。在TDD系統(tǒng)中，需要對(duì)帶時(shí)間點(diǎn)的射頻指標(biāo)的進(jìn)行測(cè)試，本發(fā)明中的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集，能夠采集一個(gè)數(shù)據(jù)幀之內(nèi)的任意時(shí)間點(diǎn)的數(shù)據(jù)，采集該射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)的采集時(shí)間點(diǎn)通過幀信號(hào)的計(jì)時(shí)產(chǎn)生；另外，本發(fā)明還能夠采集任意載波的數(shù)據(jù)，適用于單載波和多載波的系統(tǒng)。在步驟203中，將采集到的所述射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)通過與該射頻指標(biāo)對(duì)應(yīng)的測(cè)量函數(shù)進(jìn)行處理。本發(fā)明還提供了一則實(shí)施例，該實(shí)施例中的射頻指標(biāo)為SNR，則步驟203具體為采集指定采集點(diǎn)的ADC類型的數(shù)據(jù)，在所采集到的數(shù)據(jù)中獲取最大信號(hào)功率的頻點(diǎn)和功率Ptl ；在所采集到的數(shù)據(jù)中獲取該采集點(diǎn)的有效頻點(diǎn)的信號(hào)中前六次諧波和直流信號(hào)功率？工；在所采集到的數(shù)據(jù)中獲取除有效頻點(diǎn)的信號(hào)外其他信號(hào)的功率I32 ；調(diào)用與SNR相對(duì)應(yīng)的測(cè)量函數(shù)SNR = IOX Iog10 (P0/ (P2-P1))，計(jì)算得到射頻指標(biāo)SNR的值。本發(fā)明還提供了一個(gè)射頻指標(biāo)為輸出信號(hào)功率的實(shí)施例，具體為實(shí)時(shí)檢測(cè)輸出信號(hào)功率，與預(yù)設(shè)的額定輸出功率進(jìn)行比較，根據(jù)對(duì)比結(jié)果調(diào)整發(fā)送增益控制。本發(fā)明中將采集到的不同采樣位置的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)與該位置的預(yù)設(shè)值對(duì)比，判斷上下行通道的工作狀況。具體為，將不同采樣位置所采集到的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)，與該采樣位置在正常工作狀態(tài)下所采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比；通過該對(duì)比結(jié)果判斷上下行通道的工作狀態(tài)。所述預(yù)設(shè)值即該采樣位置在正常工作狀態(tài)下的閾值。如果所采集到射頻指標(biāo)超出了正常工作狀態(tài)下的閾值，即能判斷該射頻指標(biāo)所在的上行通道或下行通道出現(xiàn)了問題。本發(fā)明還公開了一種射頻指標(biāo)測(cè)試系統(tǒng)，該射頻指標(biāo)測(cè)試系統(tǒng)包括FPGA模塊、處理器模塊；處理器模塊，用于根據(jù)所設(shè)置的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)，向FPGA模塊發(fā)送數(shù)據(jù)采集命令；用于接收FPGA模塊所采集到的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)，調(diào)用預(yù)定義的該射頻指標(biāo)對(duì)應(yīng)的測(cè)量函數(shù)進(jìn)行處理；FPGA模塊，用于接收處理器模塊發(fā)送的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集命令，對(duì)相應(yīng)的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)進(jìn)行采集，把采集到的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)發(fā)送給處理器模塊進(jìn)行處理。其中，在對(duì)某一射頻指標(biāo)進(jìn)行測(cè)量時(shí)，根據(jù)該射頻指標(biāo)所對(duì)應(yīng)的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)，啟用預(yù)定義的該射頻指標(biāo)對(duì)應(yīng)的測(cè)量函數(shù)；向FPGA模塊發(fā)送采集該射頻指標(biāo)的命令；FPGA模塊根據(jù)所接收的處理器模塊發(fā)送的采集該射頻指標(biāo)的命令后，對(duì)上述射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)進(jìn)行采集操作；將所采集到的所述射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)發(fā)送給處理器模塊；處理器模塊調(diào)用與該射頻指標(biāo)對(duì)應(yīng)的測(cè)量函數(shù)進(jìn)行計(jì)算，將計(jì)算后得到的結(jié)果輸出。上述所設(shè)置的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)，可以預(yù)先設(shè)置好，存放在EEPROM中，當(dāng)需要使用該射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)時(shí)，直接調(diào)用該參數(shù)。該預(yù)先設(shè)置數(shù)據(jù)采集參數(shù)可以減少每次測(cè)量不同的射頻指標(biāo)參數(shù)而重新設(shè)定射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)的時(shí)間。圖3是本發(fā)明中一種射頻指標(biāo)測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；如圖3所示，該射頻測(cè)試系統(tǒng)包括處理器模塊312，F(xiàn)PGA模塊301 ；其中FPGA模塊301包括ADC接口模塊、DAC接口模塊、與DAC接口模塊相連的數(shù)字預(yù)失真模塊305、與數(shù)字預(yù)失真模塊相連的峰值因子消減模塊306、與峰值因子消減模塊相連的數(shù)字上變頻模塊307、與ADC接口模塊相連的數(shù)字下變頻模塊303 JR接口模塊308與數(shù)字上變頻模塊相連307 JR接口模塊309與數(shù)字下變頻模塊303相連，操作維護(hù)接口模塊311、信號(hào)采集模塊310 ；如圖3所示，上行的數(shù)據(jù)流ADC輸出數(shù)據(jù)進(jìn)入FPGA模塊301 ；在經(jīng)過數(shù)據(jù)下變頻模塊303進(jìn)行混頻以及多級(jí)抽取濾波，得到基帶信號(hào)通過頂接口模塊309，輸出到頂；下行的數(shù)據(jù)流JR接口模塊308接收來自頂?shù)男盘?hào)，通過數(shù)字上變頻模塊307進(jìn)行多級(jí)內(nèi)插濾波，再經(jīng)過峰值因子消減模塊306和數(shù)字預(yù)失真模塊305，通過DAC接口模塊304輸出到 DAC0其中數(shù)字下變頻模塊303和數(shù)字上變頻模塊307各由η個(gè)有限長(zhǎng)單位沖擊相應(yīng)濾波器依次級(jí)聯(lián)構(gòu)成。操作維護(hù)接口模塊311，用于接收處理器模塊312發(fā)送的數(shù)據(jù)采集命令，將所接收到的數(shù)據(jù)采集命令轉(zhuǎn)送給信號(hào)采集模塊310 ；信號(hào)采集模塊310，用于接收操作維護(hù)接口模塊311轉(zhuǎn)發(fā)的數(shù)據(jù)采集命令，根據(jù)該數(shù)據(jù)采集命令對(duì)所對(duì)應(yīng)的模塊的輸出信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)采集操作。
信號(hào)采集模塊310，在測(cè)試模擬通道的模擬信號(hào)時(shí)，將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)進(jìn)行測(cè)量，通過測(cè)試數(shù)字信號(hào)，來計(jì)算出模擬信號(hào)的指標(biāo)。在本發(fā)明的實(shí)施例中，在TDD系統(tǒng)中，需要采集帶時(shí)間點(diǎn)坐標(biāo)的數(shù)據(jù)，信號(hào)采集模塊310能夠采集一個(gè)數(shù)據(jù)幀之內(nèi)的任意時(shí)間點(diǎn)的數(shù)據(jù)，其中，采集時(shí)間點(diǎn)根據(jù)系統(tǒng)幀信號(hào)計(jì)時(shí)產(chǎn)生，因?yàn)樵诓煌南到y(tǒng)中，如TDD，F(xiàn)DD，由于系統(tǒng)的幀結(jié)構(gòu)不同，信號(hào)采集模塊310根據(jù)處理器模塊312所配置的預(yù)先設(shè)置的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集不同參數(shù)找到有效信號(hào)，進(jìn)行采集。在單載波或多載波系統(tǒng)中，信號(hào)采集模塊310能夠采集任意載波的數(shù)據(jù)。處理器模塊312在對(duì)各個(gè)射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理時(shí)，需要根據(jù)不同采樣模塊的發(fā)送速率完成采樣率的轉(zhuǎn)換；例如，信號(hào)采集模塊310采集各個(gè)射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)時(shí)，由于不同采樣位置的信號(hào)的輸出速率不同，需要將上述采樣位置的信號(hào)輸出速率與信號(hào)采集模塊 310的信號(hào)采集速率的倍數(shù)參數(shù)發(fā)送給處理器模塊312，處理器模塊312根據(jù)采樣速率的倍數(shù)參數(shù)計(jì)算各個(gè)射頻指標(biāo)。本發(fā)明還可以用于LTE系統(tǒng)中上行通道或下行通道的故障檢測(cè)；如圖3所示，信號(hào)采集模塊310采集各個(gè)模塊的輸出信號(hào)，通過操作維護(hù)接口模塊311發(fā)送給處理器模塊 312，處理器模塊312將得到的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)與該射頻指標(biāo)的預(yù)設(shè)值進(jìn)行對(duì)比，判斷上下行通道的工作狀況。具體為將采集到的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)與該射頻指標(biāo)在正常工作狀態(tài)下的閾值相比較，如果該射頻指標(biāo)超出了閾值則說明該射頻指標(biāo)所表示的上行通道或下行通道出現(xiàn)了問題，還可以依此來判斷板卡一致性；如果板塊的一致性好，所測(cè)得的相應(yīng)的射頻指標(biāo)在所預(yù)設(shè)的閾值內(nèi)；反之如果板塊的一致性不好，所測(cè)得的相應(yīng)的射頻指標(biāo)在超出預(yù)設(shè)的閾值。處理器模塊312通過實(shí)時(shí)檢測(cè)輸出信號(hào)功率，與額定功率進(jìn)行比較，調(diào)整發(fā)送增益控制，達(dá)到輸出功率恒定。這種方法比使用溫度曲線計(jì)算發(fā)送增益的具有更高的精度。本發(fā)明中對(duì)所述射頻指標(biāo)的測(cè)量方式可以采樣自動(dòng)周期或者手動(dòng)觸發(fā)測(cè)量的方式。圖4是本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中的測(cè)量SNR指標(biāo)的流程圖；如圖4所示，步驟401，將射頻指標(biāo)SNR的數(shù)據(jù)類型為ADC數(shù)據(jù)，設(shè)置采集SNR的采集時(shí)間點(diǎn)為 IOms,即每隔IOms采集一次數(shù)據(jù)；設(shè)置信號(hào)采集模塊310的采樣速率為184. 32Msps。步驟402，處理器模塊312調(diào)用計(jì)算射頻指標(biāo)SNR的測(cè)量函數(shù)。步驟403，F(xiàn)PGA根據(jù)處理器模塊312發(fā)送的數(shù)據(jù)采集命令，采集8192點(diǎn)ADC接口模塊302的輸出數(shù)據(jù)。步驟404，處理器模塊312讀取所采集到的8192點(diǎn)的ADC接口模塊302的輸出數(shù)據(jù)，將上述的數(shù)據(jù)進(jìn)行FFT運(yùn)算，即將所采集到的時(shí)域信號(hào)轉(zhuǎn)變成頻域信號(hào)。步驟405，處理器模塊312在所采集到的輸出信號(hào)中獲取最大信號(hào)功率的頻點(diǎn)和功率PO ；步驟406，處理器模塊312在所采集到的輸出信號(hào)中獲取有效頻點(diǎn)的信號(hào)中前六次諧波和直流信號(hào)功率Pl ；步驟407，處理器模塊312在所采集到的輸出信號(hào)中獲取除有效頻點(diǎn)的信號(hào)外其他信號(hào)的功率P2 ；步驟408，處理器模塊312調(diào)用與SNR相對(duì)應(yīng)的測(cè)量函數(shù)SNR = 10X Iog10(P0/ (P2-P1))，計(jì)算得到射頻指標(biāo)SNR的值；
步驟409，輸出SNR的值以及頻點(diǎn)的信息。上述采集ADC接口模塊302的輸出信號(hào)時(shí)，所采集的點(diǎn)越多，計(jì)算結(jié)果會(huì)越精確， 但使用的資源越大，本發(fā)明中采集的8192點(diǎn)根據(jù)復(fù)用現(xiàn)有資源，不增加多余開銷。上述有效頻點(diǎn)在射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)中設(shè)置，是指的該系統(tǒng)工作的頻點(diǎn)。本發(fā)明還可以在溫度實(shí)驗(yàn)中測(cè)量接收通道單音信號(hào)功率中使用，在采集單音信號(hào)功率時(shí)，周期性采集單音信號(hào)的數(shù)據(jù)，處理器模塊根據(jù)所采集到的單音信號(hào)數(shù)據(jù)計(jì)算單音信號(hào)功率。不需要額外的人員的參與，節(jié)省勞動(dòng)力，提高了效率。本發(fā)明還提供駐波比檢測(cè)功能，所述駐波比檢測(cè)通過采集數(shù)字域上的駐波比的信號(hào)進(jìn)行計(jì)算，得到的駐波比的測(cè)量結(jié)果比在模擬通道上的得到的結(jié)果具有更高的精度。綜上所述，本發(fā)明公開的技術(shù)方案，通過將需要測(cè)試的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換數(shù)字信號(hào)后， 對(duì)該數(shù)字信號(hào)進(jìn)行測(cè)試，提高了測(cè)試射頻指標(biāo)測(cè)量精度；本發(fā)明中，處理器模塊調(diào)用與所測(cè)試的射頻指標(biāo)對(duì)應(yīng)的測(cè)量函數(shù)計(jì)算該射頻指標(biāo)，不必在使用更多的儀器，節(jié)省了時(shí)間和勞動(dòng)力，提高了測(cè)量射頻指標(biāo)的效率；本發(fā)明通過對(duì)輸出功率的實(shí)時(shí)檢測(cè)來調(diào)整發(fā)送增益控制，達(dá)到輸出功率的自動(dòng)校準(zhǔn)；本發(fā)明中通過對(duì)上下行通道的各個(gè)模塊的輸出信號(hào)的測(cè)試， 完成對(duì)上下行通道故障的檢測(cè)。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明保護(hù)的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種射頻指標(biāo)測(cè)試方法，其特征在于，該方法包括設(shè)置射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)，啟動(dòng)預(yù)定義的該射頻指標(biāo)對(duì)應(yīng)的測(cè)量函數(shù)； 根據(jù)所設(shè)置的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)采集射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)； 通過所述測(cè)量函數(shù)將采集到的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理； 輸出處理后的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述設(shè)置射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)包括 設(shè)置所要采集的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)類型、采集該射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)的采集時(shí)間點(diǎn)、采集該射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)的采樣率。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所設(shè)置的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)采集射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)包括將所要檢測(cè)的射頻指標(biāo)的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)后，采集該數(shù)字信號(hào)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所設(shè)置的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)采集射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)包括將采集到的不同采樣位置的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)與該位置的預(yù)設(shè)值對(duì)比，判斷上下行通道的工作狀況。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述射頻指標(biāo)是信噪比SNR， 所述通過測(cè)量函數(shù)將采集到的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理包括采集指定采集點(diǎn)的ADC類型的數(shù)據(jù)，在所采集到的數(shù)據(jù)中獲取最大信號(hào)功率的頻點(diǎn)和功率P0 ；在所采集到的數(shù)據(jù)中獲取該采集點(diǎn)的有效頻點(diǎn)的信號(hào)中前六次諧波和直流信號(hào)功率Pi；在所采集到的數(shù)據(jù)中獲取除有效頻點(diǎn)的信號(hào)外其他信號(hào)的功率P2 ；調(diào)用與SNR相對(duì)應(yīng)的測(cè)量函數(shù)SNR = IOX Iog10(P0/ (P2-P1))，計(jì)算得到射頻指標(biāo)SNR的值。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述射頻指標(biāo)是輸出功率； 所述根據(jù)所設(shè)置的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)采集射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)包括實(shí)時(shí)檢測(cè)輸出信號(hào)功率，與預(yù)設(shè)的額定輸出功率進(jìn)行比較，根據(jù)對(duì)比結(jié)果調(diào)整發(fā)送增益控制。
7.一種射頻指標(biāo)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)包括FPGA模塊、處理器模塊；其中， 處理器模塊，用于根據(jù)所設(shè)置的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)，向FPGA模塊發(fā)送數(shù)據(jù)采集命令；用于接收FPGA模塊所采集到的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)，調(diào)用預(yù)定義的該射頻指標(biāo)對(duì)應(yīng)的測(cè)量函數(shù)進(jìn)行處理；FPGA模塊，用于接收處理器模塊發(fā)送的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集命令，對(duì)相應(yīng)的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)進(jìn)行采集，把采集到的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)發(fā)送給處理器模塊進(jìn)行處理。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述FPGA模塊包括ADC接口模塊、DAC 接口模塊、與DAC接口模塊相連的數(shù)字預(yù)失真模塊、與數(shù)字預(yù)失真模塊相連的峰值因子消減模塊、與峰值因子消減模塊相連的數(shù)字上變頻模塊、與ADC接口模塊相連的數(shù)字下變頻模塊、2個(gè)頂接口模塊其中一個(gè)與數(shù)字上變頻模塊另一個(gè)與數(shù)字下變頻模塊相連，操作維護(hù)接口模塊、信號(hào)采集模塊；其中，操作維護(hù)接口模塊，用于接收處理器模塊發(fā)送的數(shù)據(jù)采集命令，將所接收到的數(shù)據(jù)采集命令轉(zhuǎn)送給信號(hào)采集模塊；信號(hào)采集模塊，用于接收操作維護(hù)接口模塊轉(zhuǎn)發(fā)的數(shù)據(jù)采集命令，根據(jù)該數(shù)據(jù)采集命令對(duì)所對(duì)應(yīng)模塊的輸出信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)采集操作。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述射頻指標(biāo)是SNR包括信號(hào)采集模塊采集ADC接口模塊所有的輸出信號(hào)，通過操作維護(hù)接口模塊發(fā)送給處理器模塊；處理器模塊在所采集到的輸出信號(hào)中獲取最大信號(hào)功率的頻點(diǎn)和功率PO ；處理器模塊在所采集到的輸出信號(hào)中獲取有效頻點(diǎn)的信號(hào)中前六次諧波和直流信號(hào)功率Pl ；處理器模塊在所采集到的輸出信號(hào)中獲取除有效頻點(diǎn)的信號(hào)外其他信號(hào)的功率P2 ；處理器模塊調(diào)用與SNR相對(duì)應(yīng)的測(cè)量函數(shù)SNR =IOX Iog10(P0/ (P2-P1))，計(jì)算得到射頻指標(biāo)SNR的值。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述處理器模塊，用于將信號(hào)采集模塊采集到的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理后，與該射頻指標(biāo)的預(yù)設(shè)值進(jìn)行對(duì)比，判斷上下行通道的工作狀況。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種射頻指標(biāo)測(cè)試方法及系統(tǒng)，該方法包括設(shè)置射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)，啟動(dòng)預(yù)定義的該射頻指標(biāo)對(duì)應(yīng)的測(cè)量函數(shù)；根據(jù)所設(shè)置的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)采集參數(shù)采集射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)；通過所述測(cè)量函數(shù)將采集到的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理；輸出處理后的射頻指標(biāo)的數(shù)據(jù)。本發(fā)明的技術(shù)方案能夠提高測(cè)試射頻指標(biāo)的效率和測(cè)量精度。
文檔編號(hào)H04B17/00GK102164014SQ20111010266
公開日2011年8月24日 申請(qǐng)日期2011年4月22日 優(yōu)先權(quán)日2011年4月22日
發(fā)明者李愛紅, 楊建華, 湯國(guó)東 申請(qǐng)人:新郵通信設(shè)備有限公司