專利名稱：超短光纖中布里淵散射高精度測量系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種超短光纖中布里淵散射高精度測量系統(tǒng)，具體是涉及的一種基于受激布里淵散射的探測系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
受激布里淵散射(StimulatedBrillouin Scattering)可以描述為兩束光在介質(zhì)中(如石英光纖)產(chǎn)生的非線性作用。當(dāng)兩束相向光束(泵浦光
^與探測光1、)在光纖中相遇，并且兩束光的頻率滿足布里淵頻移，就會(huì)發(fā)生能量交換。受激布里淵散射的過程如

圖1，兩束光泵浦光&、探測光巧在光纖中相向相遇，當(dāng)巧的頻率減去&的頻率滿足布里淵頻移的時(shí)候，即1— = %時(shí)，由于受激布里淵散射效應(yīng)，巧的能量
轉(zhuǎn)移到V2 , V2光產(chǎn)生布里淵散射的增益，即’ 2光被放大，A被衰減。布里淵頻移由以下公式來衡量
權(quán)利要求
1.一種超短光纖中布里淵散射高精度測量系統(tǒng)，其特征在于該系統(tǒng)的構(gòu)成包括激光器 (2)，在該激光器(2)的輸出方向接光纖耦合器(3)的輸入端，該光纖耦合器(3)的一個(gè)輸出端依次經(jīng)第一偏振控制器(4)、光纖隔離器(5)、探測光纖(6)接環(huán)形器(9)的一端；所述的光纖耦合器(3)的另一個(gè)輸出端依次經(jīng)第二偏振控制器(13)接單邊帶調(diào)制器(7)的一個(gè)輸入端，該單邊帶調(diào)制器(7)的輸出端經(jīng)光纖放大器(8)接所述的環(huán)形器(9)的另一輸入端，該環(huán)形器(9)的輸出端經(jīng)光電探測器(10)接鎖相放大器(11)的第一輸入端，該鎖相放大器(11)的輸出端接數(shù)據(jù)采集處理系統(tǒng)(12)，一個(gè)方波信號發(fā)生器(14)分別與所述的單邊帶調(diào)制器(7)的第二輸入端和所述的鎖相放大器(11)的第二輸入端相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超短光纖中布里淵散射高精度測量系統(tǒng)，其特征在于，所述的單邊帶調(diào)制器(7)為雙Mach—khnder型單邊帶調(diào)制器，通過所述的方波信號發(fā)生器 (14)，使泵浦光進(jìn)行上下邊頻周期交替變換，使得探測光前半個(gè)周期處于布里淵增益過程， 后半個(gè)周期處于布里淵損耗過程。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超短光纖中布里淵散射高精度測量系統(tǒng)，其特征在于所述的光纖放大器(8)是兩級放大的摻鉺光纖放大器(EDFA)，第一級放大器是小信號放大器，第二級放大器是大信號放大器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超短光纖中布里淵散射高精度測量系統(tǒng)，其特征在于所述的激光器(2)為保偏光纖輸出激光器，所述的光纖耦合器(3)為保偏光纖耦合器，所述的光纖隔離器(5)為保偏光纖隔離器，所述的環(huán)形器(9)為保偏環(huán)形器。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超短光纖中布里淵散射高精度測量系統(tǒng)，其特征在于所述的激光器(2)為1550nm的半導(dǎo)體激光器。
全文摘要
一種超短光纖中布里淵散射高精度測量系統(tǒng)，包括激光器,在激光器的輸出方向接光纖耦合器的輸入端，光纖耦合器的一個(gè)輸出端依次經(jīng)第一偏振控制器、光纖隔離器、探測光纖接環(huán)形器的一端；光纖耦合器的另一個(gè)輸出端依次經(jīng)第二偏振控制器接單邊帶調(diào)制器的一個(gè)輸入端，單邊帶調(diào)制器的輸出端經(jīng)光纖放大器接環(huán)形器的另一輸入端，環(huán)形器的輸出端經(jīng)光電探測器接鎖相放大器的第一輸入端，鎖相放大器的輸出端接數(shù)據(jù)采集處理系統(tǒng)，一個(gè)方波信號發(fā)生器分別與單邊帶調(diào)制器的第二輸入端和鎖相放大器的第二輸入端相連。同時(shí)利用受激布里淵散射增益和受激布里淵散射損耗兩個(gè)過程，提高了整段傳感光纖上探測的靈敏度，避免了端面反射等干擾信號的影響，降低了成本。
文檔編號H04B10/08GK102307061SQ20111024733
公開日2012年1月4日 申請日期2011年8月26日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月26日
發(fā)明者吳龜靈, 沈建國, 鄒衛(wèi)文, 金重九, 陳建平 申請人:上海交通大學(xué)